初級SPC培訓(xùn)教程

初級SPC培訓(xùn)教程初級SPC培訓(xùn)教程初級SPC培訓(xùn)教程關(guān)于SPCSPC——StatisticalProcessControl既統(tǒng)計過程控制

定義：利用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進(jìn)行評估和監(jiān)察，建立并保持過程處于可接受的并且穩(wěn)定的水平，從而保證產(chǎn)品和服務(wù)符合規(guī)定要求的一種技術(shù)。統(tǒng)計過程控制的產(chǎn)生背景

二十世紀(jì)二十年代美國貝爾實驗室的休哈特(W.A.Shewhart)博士首創(chuàng)過程控制理論極其監(jiān)控過程的工具—控制圖形成SPC的基礎(chǔ)，后擴(kuò)展到任何可以應(yīng)用的數(shù)理統(tǒng)計方法。SPC興起是宣告『經(jīng)驗掛帥時代』的結(jié)束─在手工業(yè)時代：SPC無用武之地→經(jīng)驗取勝─當(dāng)經(jīng)驗可以整理，再加上設(shè)備、制程和系統(tǒng)時，那SPC的導(dǎo)入，就自然成熟了。SPC興起是宣告『品質(zhì)公共認(rèn)證時代』的來臨─1980年以前，客戶大都以自己的資源及方法，來認(rèn)定某些合格供應(yīng)商，造成買賣雙方的浪費(fèi)。─1980年以后，『GMP』及『ISO9000』的興起，因為重視產(chǎn)品生產(chǎn)的『制程』與『系統(tǒng)』，故更須有賴SPC來監(jiān)控『制程』與『系統(tǒng)』的一致性。統(tǒng)計過程控制的實施過程

經(jīng)由制程中去收集資料，而加以統(tǒng)計分析，并從分析中發(fā)覺制程的變異，并經(jīng)由問題分析以找出異常原因，立即采取改善措施，使制程恢復(fù)正常。再借由制程能力分析及標(biāo)準(zhǔn)化，以不斷提高制程能力?？刂茍D——實施統(tǒng)計過程控制的工具控制圖的結(jié)構(gòu)：下控制線：LCL（lowercontrolline)上控制線：UCL（uppercontrolline)中心線：CL（centralline)數(shù)據(jù)點序列控制圖的形成將記錄質(zhì)量特性的正態(tài)分布圖轉(zhuǎn)90度方向，使自變量增加的方向垂直向上，將平均值及上下偏差分別轉(zhuǎn)換為中心線與上下管制線，將特性計量數(shù)值按時間或抽樣序號順序標(biāo)記連線，既形成控制圖。正態(tài)分布“正態(tài)”分布是一種數(shù)據(jù)具有某些一致的特性的分布

這些特性對于我們理解后面采集數(shù)據(jù)的過程是非常有用的多數(shù)自然現(xiàn)象和人類行為的過程是呈正態(tài)分布的,或者可以看成正態(tài)分布

規(guī)格下線

UX規(guī)格上線

群體：N規(guī)格中心值：U平均數(shù)：X〈集中趨勢〉

控制圖原理區(qū)別造成質(zhì)量波動的偶然和異常因素，剔除異常因素，以達(dá)到控制質(zhì)量相對穩(wěn)定的目的。偶然因素及異常因素偶然因素：是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)態(tài)系統(tǒng)的偶然原因。只有過程變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出才可以預(yù)測。大量之微小原因所引起原料在一定範(fàn)圍內(nèi)之微小變異機(jī)械之微小振動儀器測定時，不十分精確之做法依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)的變化實際上，要除去制程上之機(jī)遇原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置異常因素：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成（整個）過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取措施,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。一個或少數(shù)幾個較大原因所引起使用規(guī)格外的原物料新手之操作人員不完全之機(jī)械調(diào)整未依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)所制訂之作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合理非機(jī)遇原因之變異，不但可以找出其原因，並且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀點上來說，是正確的精度過程控制中常用精度這個概念來反映質(zhì)量的波動（變異）程度。精度又可分為：準(zhǔn)確度(Accuracy)：反映系統(tǒng)誤差（異常因素造成的誤差）的影響程度；精密度(Precision)：反映偶然誤差（偶然因素造成的誤差）的影響程度；精確度(Uncertainty)：反映系統(tǒng)誤差和偶然誤差綜合的影響程度準(zhǔn)確度好精密度好系統(tǒng)誤差小偶然誤差小準(zhǔn)確度差精密度高系統(tǒng)誤差大偶然誤差小準(zhǔn)確度高精密度差系統(tǒng)誤差小偶然誤差大準(zhǔn)確度差精密度差系統(tǒng)誤差大偶然誤差大管制圖類別計量值管制圖

X─R(均值-極差控制圖)

X─S(均值-標(biāo)準(zhǔn)差控制圖)

Me─R(中位數(shù)-極差控制圖)

X─Rs(單值-移動極差控制圖)計數(shù)值管制圖

P(不合格品率控制圖)

np(不合格品數(shù)控制圖)

C(不合格數(shù)控制圖)

U(單位不合格數(shù)控制圖)均值-極差圖

---用于控制對象為長度、重量、強(qiáng)度、純度、時間、收率和生產(chǎn)量等計量值的場合，X圖用于觀察正態(tài)分布均值的變化；R圖用于觀察正態(tài)分布的分散情況或變異度的情況均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖

---同均值-極差圖，用標(biāo)準(zhǔn)差代替極差，R圖計算方便；但當(dāng)n>10時，s圖比R圖效率高；最終替代R圖●中位極差圖

---Me表示中位值?，F(xiàn)在由于計算機(jī)應(yīng)用普及，平均值計算不是問題，故已淘汰，被均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖替代。如何使用控制圖識別過程狀態(tài)在兩類錯誤中取得最小損失的平衡點用3原則確立管制線判定統(tǒng)計控制狀態(tài)——判異準(zhǔn)則判定技術(shù)控制狀態(tài)——過程能力指數(shù)兩類錯誤一.第一種錯誤:虛發(fā)警報(falsealarm)，概率記為α二.第二種錯誤:漏發(fā)警報(alarmmissing)，概率記為β三.減少兩種錯誤所造成的損失：●UCL、LCL距離間隔大，α減小β增大●UCL、LCL距離間隔小，α增大β減小mTUSLLSLα減小β增大αβ3原則是統(tǒng)計學(xué)上的術(shù)語，表示標(biāo)準(zhǔn)離差；是衡量一系列指標(biāo)或流程偏離期望程度的指標(biāo)；如果將穩(wěn)態(tài)下的樣本量值的平均值近似為期望值，則標(biāo)準(zhǔn)離差表示任何樣本量值及平均值的平均差異程度；95.45%99.73%68.27%-3-2-1X+1+2+3P(u-Xu+)=0.6827

P(u-2Xu+2)=0.9545

P(u-3Xu+3)=0.9973於uk之間的機(jī)率群體：N規(guī)格中心值：T平均數(shù)：X〈集中趨勢〉

標(biāo)準(zhǔn)偏差：〈離散趨勢〉被涵蓋在特定範(fàn)圍的機(jī)率

當(dāng)X=μ時1Sigma2Sigma3Sigma1Sigma2Sigma3Sigma68.26%95.45%99.73%%數(shù)據(jù)點的百分比UCLLCL時間我們測量的項目UCL=μ+3CL=μLCL=μ-3判異準(zhǔn)則兩類：●連續(xù)25點有點出界；連續(xù)35點有超過1點出界或連續(xù)100點有超過2點出界判異●界內(nèi)點排列不隨機(jī)判異

1、連續(xù)7點或更多點落在中心線同一側(cè)LCLUCLCLABCCBA2.連續(xù)7點遞增或遞減LCLUCLCLABCCBA3.連續(xù)14中相鄰點上下交替LCLUCLCLABCCBA4.連續(xù)3點中有2點落在中心線同一側(cè)的B區(qū)以外LCLUCLCLABCCBA5.連續(xù)5點中有4點落在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外LCLUCLCLABCCBA6.連續(xù)15點在C區(qū)中心線上下LCLUCLCLABCCBA7.連續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但無一區(qū)在C區(qū)中LCLUCLCLABCCBA過程能力指數(shù)Cp（CapabilityIndiesofProcess）：穩(wěn)定過程的能力指數(shù)穩(wěn)定過程中過程變差僅由偶然原因引起，Cp表示為穩(wěn)態(tài)下的質(zhì)量最小波動LCLUCL-4–3–2–101234Cp=1.67=0.6Cp=1.33=0.75Cp=1.00=1.0Cp=0.67=1.5表示過程加工的均勻性（穩(wěn)定性），即“質(zhì)量能力”，Cp越大，質(zhì)量特性的分布越“苗條”，質(zhì)量能力越強(qiáng)

表示質(zhì)量特性的精密度，Cp越大，精密度越高，特性離散程度越低不精密

精密????????????????定義為容差寬度除以過程能力

當(dāng)未知時可用，其中R表示平均極差，d2

為修正偏差的常數(shù)，T表示技術(shù)公差幅度(單邊規(guī)格)規(guī)格公差6個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=T6σCp=(雙邊規(guī)格)或規(guī)格上限-實績平均值3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=USL-X3σCp=實績平均值-規(guī)格下限3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=X-LSL3σCp=n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08等級Cp值A(chǔ)Cp>1.67B1.67>Cp>1.33C1.33>Cp>1.00D1.00>Cp>0.67ECp<0.67參考評價：A級：過程能力過高（應(yīng)視具體情況而定）。B級：過程能力充分，表示技術(shù)管理能力已經(jīng)很好，應(yīng)繼續(xù)維持。C級：過程能力充足，但技術(shù)管理能力較勉強(qiáng)，應(yīng)設(shè)法提高到B級。D級：過程能力不足，表示技術(shù)管理能力已很差，應(yīng)采取措施立即改善。E級：過程能力嚴(yán)重不足，表示應(yīng)采取緊急措施和全面檢查，必要時可停工整頓。關(guān)于Cpk表示修正分布中心及公差中心之后的過程能力指數(shù)Cpk=（1-K）Cp,K表示偏移度，即偏移的絕對值與技術(shù)公差幅度一半的比值表示過程中心μ與公差中心M的偏離情況，