標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 14032-1992 半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理》作為一項(xiàng)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，為半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)（PLL）的性能評(píng)估和測試提供了一套基本的指導(dǎo)原則。然而，您提供的對(duì)比要求中，《》部分似乎是空白，未指定與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此，直接對(duì)比該標(biāo)準(zhǔn)與其他特定標(biāo)準(zhǔn)的變更內(nèi)容無法完成。

若旨在理解《GB/T 14032-1992》本身的核心內(nèi)容和重要性，可以概述該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的關(guān)鍵點(diǎn)，但具體變更分析需要有明確的參照物。此標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)介紹了測試數(shù)字鎖相環(huán)時(shí)所應(yīng)遵循的方法論，包括但不限于測試環(huán)境的設(shè)置、測試信號(hào)的要求、關(guān)鍵參數(shù)的測量方法（如鎖定時(shí)間、相位噪聲、頻率穩(wěn)定性等），以及如何評(píng)估PLL的動(dòng)態(tài)響應(yīng)和穩(wěn)定性等。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實(shí)施
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GB/T 14032-1992半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理_第1頁
GB/T 14032-1992半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理_第2頁
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JDg621.382L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T14032-92半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發(fā)布1993-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理GB/T14032-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)(以下簡稱器件或數(shù)字鎖相環(huán))電參數(shù)測試方法的基本原數(shù)字鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測試可參照GB3834《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》。總要求若無特殊說明.測試期間，環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定1.2測試期間，施于被測器件的電參量應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定1.3試期間，應(yīng)避免外界干擾對(duì)測試精度的影響.測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定14被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時(shí)，不應(yīng)超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時(shí),應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的順序接通電源1.6；測試期間，被測器件應(yīng)連接器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的外圍電路和補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)。17若電參數(shù)值是由幾步測試的結(jié)果經(jīng)計(jì)算而確定時(shí)，這些測試的時(shí)間間隔應(yīng)盡可能短.1.8測試期間應(yīng)避免因靜電感應(yīng)而引起器件失效。2參數(shù)測試2.1動(dòng)態(tài)功耗廠.。2.1.1目的測試器件動(dòng)態(tài)工作時(shí)的功率。2.1.2測試原理圖P.測

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