標準解讀

《GB/T 15245-2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法》相比于其前版《GB 15245-1994》，主要在以下幾個方面進行了更新與調(diào)整：

  1. 標準性質(zhì)的變化：從標準編號上的差異可以看出，《GB 15245-1994》升級為《GB/T 15245-2002》，其中“T”表示該標準為推薦性國家標準，意味著新版標準的應用不再是強制性的，給予了使用者更多的選擇空間。

  2. 技術內(nèi)容的更新：新版標準根據(jù)近年來電子探針分析技術的發(fā)展，對分析方法的準確度、精密度要求進行了修訂，引入了更先進的校正模型和數(shù)據(jù)分析方法，以適應更高精度的稀土氧化物成分分析需求。

  3. 樣品制備與處理：對樣品的預處理步驟進行了細化和優(yōu)化，提供了更加詳細的操作指導，包括樣品的鑲嵌、研磨、拋光等，以減少分析過程中的誤差來源，提高分析結果的可靠性。

  4. 測試條件與參數(shù)：針對電子探針儀器的測試條件，如加速電壓、束流、工作距離等，給出了更為具體和靈活的推薦值，反映了技術進步帶來的測試效率和精度的提升。

  5. 數(shù)據(jù)處理與校正：新增或修訂了數(shù)據(jù)處理方法，包括背景扣除、基體效應校正以及標準化處理等，以確保分析結果的準確性和可比性。同時，引入了現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)處理軟件應用指南，便于用戶高效分析數(shù)據(jù)。

  6. 質(zhì)量控制與驗證：加強了對分析過程中質(zhì)量控制的要求，明確了重復性限和再現(xiàn)性限的測定方法，以及如何通過標準物質(zhì)進行方法驗證，確保實驗室間結果的一致性。

  7. 術語與定義：更新并補充了相關專業(yè)術語和定義，使得標準的表述更加準確、清晰，便于讀者理解和執(zhí)行。

  8. 參考文獻與附錄：增補了最新的參考文獻和技術資料，為用戶提供更多技術支持和理論依據(jù)，并可能新增或修訂了附錄內(nèi)容，如典型稀土氧化物的標準譜圖庫，方便實際操作時對照使用。

這些變動旨在提升稀土氧化物電子探針定量分析的科學性、準確性和實用性，反映出技術進步對標準修訂的推動作用。


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  • 廢止
  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 2002-11-11 頒布
  • 2003-06-01 實施
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TCS.17.180.30133中華人民共和國國家標準GB/T15245—2002代替GB/T15245—1994稀土氧化物的電子探針定量分析方法Quantitativeanalysisofrareearthelement(REE)oxidesbyelectronprobemicroanalysis(EPMA)2002-11-11發(fā)布2003-06-01實施中華人民共和發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T15245-2002本標準代替GB/T15245—1994.本標準是對GB/T15245—1994的修訂。修訂的主要內(nèi)容包括：-對于稀土元素譜線的重疊和校正方法在附錄A中進行了專門敘述；將測量和重疊元素的波長在譜儀上的直接讀數(shù)轉換成波長值：增加了術語和定義部分；增加了資料性附錄“稀土元素譜線間的重疊校正系數(shù)”，（見附錄B)：增加了資料性附錄“稀土元素推薦使用的-粒子”（見附錄C)；-增加了參考文獻部分。本標準的附錄A為規(guī)范性附錄.附錄B和附錄C為資料性附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：桂林礦產(chǎn)地質(zhì)研究院本標準主要起草人：莊世杰。本標準于1994年10月首次發(fā)布。

GB/T15245-2002稀土氧化物的電子探針定量分析方法1范圍本標準規(guī)定了用X射線波長色散光譜儀進行稀土氧化物的定量電子探針分析方法本標準適用于對稀土氧化物組成體系的平面、拋光固體樣品的定量電子探針分析。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是香可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標準。GB/T4930電子探針分析標準樣品通用技術條件GB/T15074電子探針定量分析方法通則術語和定義下列術語和定義適用于本標準31稀土元素rareearthelements(REE)通常指元素周期表中的39號和57～71號元素3.2稀土氧化物rareearthoxides(REO)通常指元素周期表中的39號和57～71號元素和氧組成的化合物33重疊系數(shù)0verlapCoefficient在被分析試樣中·為了校正因某些元素的存在造成被分析元素真實含量改變而建立起來的試驗值（系數(shù)）。3.4本底background在定量電子探針分析中，因X射線連續(xù)譜的存在而使被分析元素特征X射線強度增高的部分，在求取被分析元素真實含量時應給予扣除3.5砂光片grainssection將顆粒樣品鑲嵌在導電或非導電的鑲嵌物中

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