標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16526-1996 封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法》這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了測量半導(dǎo)體器件封裝中引線間電容以及引線負(fù)載電容的具體操作流程、設(shè)備要求、測量條件及計算方法。然而，您提供的對比標(biāo)準(zhǔn)名稱不完整，無法直接進(jìn)行詳細(xì)的變更比較。通常，標(biāo)準(zhǔn)更新或修訂會涉及以下幾個方面：

  1. 技術(shù)內(nèi)容的更新：新標(biāo)準(zhǔn)可能會納入新的測量技術(shù)或方法，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)發(fā)展的需求，提高測試精度和效率。
  2. 測試設(shè)備與儀器的規(guī)范調(diào)整：隨著電子測量技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能會推薦或要求使用更先進(jìn)的測量設(shè)備，同時對設(shè)備的精度、校準(zhǔn)要求進(jìn)行更新。
  3. 測量程序與計算公式的優(yōu)化：為了提高測試結(jié)果的一致性和可重復(fù)性，新標(biāo)準(zhǔn)可能會對測試步驟進(jìn)行簡化或細(xì)化，并對計算公式進(jìn)行修訂。
  4. 術(shù)語與定義的明確：為消除理解歧義，新標(biāo)準(zhǔn)可能會對關(guān)鍵術(shù)語給出更精確的定義，或者根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行統(tǒng)一。
  5. 適用范圍的擴(kuò)展或限定：根據(jù)技術(shù)發(fā)展和市場需求，新標(biāo)準(zhǔn)可能會擴(kuò)大或縮小適用的產(chǎn)品類型或測試范圍。
  6. 環(huán)境和安全要求的增強(qiáng)：考慮到環(huán)境保護(hù)和操作安全，新標(biāo)準(zhǔn)可能會增加對測試環(huán)境控制、廢棄物處理及操作人員安全防護(hù)的要求。

由于缺乏具體的對比標(biāo)準(zhǔn)信息，以上僅是一般性的變更方向概述。如果您能提供完整的對比標(biāo)準(zhǔn)名稱，我可以進(jìn)一步分析兩者之間的具體變更內(nèi)容。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-09-09 頒布
  • 1997-05-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 16526-1996封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法_第1頁
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GB/T 16526-1996封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法_第3頁
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ICS31.200L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16526—1996封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法TestmethodJmeasuringthelead-to-leadandloadinggcapacitanceofpackageleads1996-09-09發(fā)布1997-05-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T16526-1996本標(biāo)準(zhǔn)等效采用半導(dǎo)體設(shè)備與材料國際組織(SEMI)的國際標(biāo)準(zhǔn)SEMIG24一89《測量封裝引線的引線間電容和負(fù)載電容》。本標(biāo)準(zhǔn)可用于集成電路各類封裝的引線間電容和引線負(fù)載電容的測量。本標(biāo)準(zhǔn)的第3章是由SEMIG24一89的第3章和第4章合并而成，條款作了相應(yīng)處理。同時刪除了SEMIG24—89中的表1，修正了圖2中的錯誤。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出、本標(biāo)準(zhǔn)由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海無線電七廠、西安微電子技術(shù)研究所.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：葉曾達(dá)、王先春。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)封裝引線間電容和引線負(fù)載電容方測百法GB/T16526-1996Testmethodmeasuringthelead-to-leadandloadingcapacitanceofpackageleads1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路封裝引線間電容和引線負(fù)載電容的測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路陶瓷、金屬、塑料封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測量設(shè)備和器材2.1電容儀保用加屏蔽的兩探針法·并配有兩根同軸電纜的電容儀，也可采用加屏蔽的四探針法的電容儀，但必須將四根探針在電纜端處改接成兩探針。兩種方法均要求用于屏蔽連接的絕緣線的線徑大于等于中1.0mm。除非具體設(shè)備另有規(guī)定，應(yīng)保持同軸電纜于最小長度(1m)。電容儀的準(zhǔn)確度為士2%.量程范圍為0～100pF。探針屏蔽必須連接在一起，連線長度應(yīng)盡量短,大約為2.5cm～5cm。2.2探針臺配有兩根同軸探針和一根普通探針的微動探針臺(推薦使用同軸探針的型號為44-FPC-6000,普通探針型號為〇ON-FPC-6000)。3測試程序3.1測引線間電容3.1.1置電容儀測試頻率選擇開關(guān)于1MHz,如果電容儀具有電纜長皮選擇開關(guān),則調(diào)節(jié)開關(guān)選擇適當(dāng)?shù)耐S電纜長度。3.1.2將封裝上所有最接近待測引線的引線連接在一起。例如對于68線陶瓷針柵陣列封裝待測引線周圍的8根引線要連接在一起.對于124線陶瓷針柵陣列封裝，待測引線周圍的12根引線要連接在一起;對所有的片式封裝，待測引線周圍的8根引線要連接在一起（見圖1)。如果封裝中有接電源的平面和(或）大功率電源母線，則它們的引線應(yīng)和上述的8根或12根引線連接在一起.3.1.3把屏蔽探針放在3.1.2所提到的8根或12根引線中任一引線的內(nèi)引出端,以保證這些引線不影響測量。3.1.4將兩根同軸探針分別暨于2個被測引線的內(nèi)引出端上方約3mm處。3.1.5調(diào)零程序：如果使用的儀器是自動調(diào)零的.則根據(jù)儀器說明書測量電容。如果使用的不是這類儀器，則必須在儀器調(diào)零后取讀數(shù)。3.1.6將探針垂直放下，于被測引線上，并讀取電容讀數(shù)。如果使用的是自動調(diào)零設(shè)備，則這一讀數(shù)就是要測的電容值，

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