標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 16840.6-2012是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，專注于電氣火災(zāi)痕跡物證的技術(shù)鑒定方法，特別著重于掃描電子顯微鏡（SEM）微觀形貌分析法的應(yīng)用。該標(biāo)準(zhǔn)為電氣火災(zāi)調(diào)查提供了科學(xué)依據(jù)和技術(shù)手段，幫助確定起火原因、火災(zāi)發(fā)展過程及與電氣系統(tǒng)相關(guān)的故障點(diǎn)。

標(biāo)準(zhǔn)概覽

  1. 標(biāo)準(zhǔn)范圍：規(guī)定了利用掃描電子顯微鏡對(duì)電氣火災(zāi)現(xiàn)場(chǎng)殘留物進(jìn)行微觀形貌分析的方法，旨在通過觀察和分析火災(zāi)后電氣設(shè)備及線路的微觀結(jié)構(gòu)變化，如熔痕、燒蝕形態(tài)等，來判斷電氣故障類型及火災(zāi)起因。

  2. 術(shù)語和定義：明確了在SEM分析中涉及的關(guān)鍵術(shù)語，如掃描電子顯微鏡、微觀形貌、熔痕等，確保了專業(yè)術(shù)語使用的統(tǒng)一性和準(zhǔn)確性。

  3. 原理：概述了SEM的工作原理，即通過電子束掃描樣品表面，收集二次電子或背散射電子信息，形成高分辨率的微觀形貌圖像，用于揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)特征及其變化。

  4. 儀器與設(shè)備：詳細(xì)說明了進(jìn)行SEM分析所需儀器的性能要求和操作條件，包括掃描電子顯微鏡及其附件、樣品制備工具等，確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。

  5. 樣品采集與處理：規(guī)范了從火災(zāi)現(xiàn)場(chǎng)采集電氣痕跡物證的程序，以及樣品的預(yù)處理、固定、切割、鑲嵌、磨拋和鍍膜等步驟，以保證樣品適合SEM觀察。

  6. 分析步驟：具體描述了使用SEM進(jìn)行微觀形貌分析的操作流程，包括設(shè)置合適的放大倍數(shù)、工作距離、電壓等參數(shù)，進(jìn)行形貌觀察和拍照記錄，以及如何根據(jù)微觀特征識(shí)別電氣故障模式。

  7. 結(jié)果判定與解釋：提供了根據(jù)SEM圖像分析結(jié)果判定電氣火災(zāi)起因的方法，包括但不限于短路、過載、電弧放電等故障類型的微觀特征鑒別，有助于形成科學(xué)的鑒定結(jié)論。

  8. 質(zhì)量控制與安全：強(qiáng)調(diào)了在SEM分析過程中應(yīng)遵循的質(zhì)量控制措施和實(shí)驗(yàn)室安全規(guī)程，確保實(shí)驗(yàn)過程的可靠性和人員安全。

  9. 記錄與報(bào)告：要求詳細(xì)記錄實(shí)驗(yàn)過程、觀察結(jié)果和分析結(jié)論，并按照標(biāo)準(zhǔn)化格式編寫鑒定報(bào)告，以便于信息的交流和存檔。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2012-12-31 頒布
  • 2013-10-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 16840.6-2012電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法第6部分：SEM微觀形貌分析法_第1頁
GB/T 16840.6-2012電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法第6部分：SEM微觀形貌分析法_第2頁
GB/T 16840.6-2012電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法第6部分：SEM微觀形貌分析法_第3頁
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文檔簡(jiǎn)介

ICS1322020

C82..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T168406—2012

.

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

Technicaldeterminationmethodsforelectricalfireevidence—

Part6Micro-morholoicalanalsismethodusin

:pgyg

scanningelectronmicroscope

2012-12-31發(fā)布2013-10-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

GB/T16840.6—2012

*

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號(hào)

2(100013)

北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

/p>

年月第一版

20135

*

書號(hào)

:155066·1-46913

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T168406—2012

.

前言

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法由以下部分組成

GB/T16840《》:

第部分宏觀法

———1:;

第部分剩磁檢測(cè)法

———2:;

第部分俄歇分析法

———3:;

第部分金相分析法

———4:;

第部分電氣火災(zāi)物證識(shí)別和提取方法

———5:;

第部分微觀形貌分析法

———6:SEM。

本部分為的第部分

GB/T168406。

本部分依據(jù)給出的規(guī)則編寫

GB/T1.1—2009。

本部分由中華人民共和國(guó)公安部提出

。

本部分由全國(guó)消防標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)火災(zāi)調(diào)查分技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC113/SC11)。

本部分起草單位公安部沈陽消防研究所

:。

本部分主要起草人邸曼張明趙長(zhǎng)征夏大維齊梓博高偉吳瑩

:、、、、、、。

本部分為首次發(fā)布

。

Ⅰ

GB/T168406—2012

.

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法中掃描電子顯微鏡微觀形貌

GB/T16840(SEM)

分析法的術(shù)語和定義原理儀器設(shè)備試樣制備觀察部位和判據(jù)

、、、、。

本部分適用于火災(zāi)調(diào)查中應(yīng)用對(duì)火災(zāi)現(xiàn)場(chǎng)金屬熔化痕跡的微觀形貌分析根據(jù)熔痕的微觀

SEM,

形貌特征鑒別熔痕的熔化性質(zhì)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

分析儀器術(shù)語

GB/T13966

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法第部分宏觀法

GB/T16840.11:

3術(shù)語和定義

和中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T13966GB/T16840.1。

31

.

二次電子secondaryelectrons

樣品中原子的外層電子受入射電子的激發(fā)而發(fā)射到樣品以外的非彈性散射電子

。

32

.

二次電子成像secondaryelectronimage

二次電子被檢測(cè)器接收后成像

。

33

.

SEM的分辨本領(lǐng)solvingpowerforSEM

在二次電子圖像上測(cè)出能明顯分開的兩個(gè)物點(diǎn)之間的最小距離與放大倍率之比

。

34

.

放大倍率magnifyingpower

物體放大后的長(zhǎng)度與原實(shí)物的長(zhǎng)度的比值

。

35

.

有效放大倍率effectivemagnifyingpower

人眼的分辨率與儀器的分辨率的比值

。

36

.

熔痕meltedmark

在外界火焰或短路電弧高溫作用下在金屬表面特別是銅鋁導(dǎo)線上形成的圓狀凹坑狀瘤狀尖

,,、、、、

狀及其他不規(guī)則的微熔或全熔痕跡

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