標準解讀

GB/T 17554.3-2006 是一項中國國家標準，全稱為《識別卡 測試方法 第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備》。該標準主要規(guī)定了帶觸點集成電路卡（通常指常見的IC卡）及其與之配套使用的接口設備的測試方法和要求，旨在確保這些卡和設備在功能、性能和互操作性方面達到統(tǒng)一的標準，促進兼容性和可靠性。

標準內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：明確了本部分標準適用的對象，即帶有觸點的集成電路卡（ICC）以及與這些卡交互的讀寫器或其他接口設備。標準不涉及卡片的物理特性測試，這些內(nèi)容在其他部分中規(guī)定。

  2. 規(guī)范性引用文件：列出了執(zhí)行本標準時需要參考的其他相關標準文檔，這些文檔提供了測試所需的基礎定義、試驗條件和方法等。

  3. 術語和定義：為確保理解一致，界定了在標準中使用的關鍵術語和概念。

  4. 測試環(huán)境：描述了進行測試時應滿足的環(huán)境條件，包括溫度、濕度、電磁兼容性等，以確保測試結(jié)果的準確性和可重復性。

  5. 測試要求與方法：

    • 電氣特性測試：包括電壓、電流、信號傳輸速度等電氣參數(shù)的測試方法。
    • 協(xié)議一致性測試：確保IC卡與讀寫器之間的通信遵循既定的協(xié)議標準，如ISO/IEC 7816系列標準。
    • 功能測試：檢驗卡片的讀、寫、擦除、安全認證等基本功能是否正常。
    • 耐用性與可靠性測試：通過模擬長期使用或惡劣條件下的操作，評估卡片及接口設備的壽命和穩(wěn)定性，如插拔測試、靜電放電測試等。

  6. 測試報告：規(guī)定了測試完成后應編制的報告格式和內(nèi)容，包括測試項目、結(jié)果、觀察到的異常情況及結(jié)論等，以便于評估和記錄。

實施意義：

此標準為制造商、測試實驗室及用戶提供了統(tǒng)一的測試指導和評價基準，有助于提升帶觸點集成電路卡及其接口設備的產(chǎn)品質(zhì)量，促進不同廠商產(chǎn)品間的互換性和兼容性，保障信息安全和交易的順利進行。通過遵循該標準，可以有效減少市場上的技術壁壘，加速技術應用與推廣。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-03-14 頒布
  • 2006-07-01 實施
?正版授權
GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備_第1頁
GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備_第2頁
GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備_第3頁
GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備_第4頁
GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備_第5頁
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文檔簡介

ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標準GB/T17554.3-2006識別卡測試方法第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備ldentificationcards-Testmethods-Part3:Integratedcircuit(s）cardswithcontactsandrelatedinterfacedevices(ISO/IEC10373-3:2001.MOD)2006-03-14發(fā)布2006-07-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T17554.3一2006前言花圍2規(guī)范性引用文件3術語和定義····4測試方法的默認條款4.1側(cè)試環(huán)境4.2預處理4.3默認容差4.4總度量的不確定性4.5電氣測量的約定4.6投備4.7各類測試方法和與之相關的基本標準，帶觸點的集成電路卡物理特性的測試方法5135.1觸點的尺寸和位置…………135.2靜電……觸點的表面電阻·5.35.4觸點表面輪廊…6，帶觸點的集成電路卡電氣特性的測試方法6.1VCC觸點6.26.3CLK觸點RST觸點6.4186.5VPP觸點帶觸點的集成電路卡邏輯操作的測試方法·727.1復位應答（ATR)2「=0協(xié)議7.27.3T=1協(xié)議8接口設備(IFD)物理和電氣特性的測試方法8.1觸點激活……….VCC觸點8.28.3I/〇觸點…………CLK觸點8.4RST觸點8.533VPP觸點8.68.7觸點?；睢ぁFD邏輯操作測試方法35復位應答（ATR)9.1?.2T=0協(xié)議36

GB/T17554.3-20069,3T=1協(xié)議38附錄Λ(資料性附錄）附加測試方法A.1機械強度44Ａ.1.1三輪測試44A.1.2點壓力測試46.2IFD--IFD對于無效PCB的響應A.2.1儀器47A.2.2規(guī)程A.2.3測試報告47

GB/T17554.3—2006GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分：-第1部分：一般特性測試第第2部分：磁條卡第第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備第4部分：無觸點集成電路卡第5部分：光記憶卡第6部分：接近式卡第7部分：鄰近式卡本部分為GB/T17554的第3部分。修改采用國際標準1SO/IEC10373-3:2001《識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備》(英文版)。本部分與ISO/IEC10373-3:2001相比增加和修改了下列內(nèi)容：a）增加了4.6.2.2*參數(shù)定義”；b）附錄A中增加了A.1.2*點壓力測試”；）附錄A因增加A.1.2.其編號作了編輯性修改根據(jù)新版識別卡帶觸點的集成電路卡物理特性標準做了以上修改本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所歸口本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所。本部分主要起草人：馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩、劉華茂

GB/T17554.3—2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備1范圍本部分定義了帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備特性的測試方法,，該方法與GB/T16649給出的定義相適應。每一測試方法交叉引用一個或多個基礎標準，這些基礎標準可以是GB/T14916.也可以是一個或多個定義了應用在識別卡應用的信息存儲技術的補充標準。?。航邮諛藴什话诒静糠种?，而是在以上提及的國家標準中。本部分只定義了帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備特性的測試方法：GB/T17554.1定義了為一種或多種卡技術所共用的測試方法；其他部分則定義了各個專項技術的測試方法。本部分中描述的若干測試方法可單獨進行。規(guī)定的卡不要求順序地通過所有測試本部分中規(guī)定的測試方法基干GB/T16649中的定義保用本部分中描述的測試方法確認合格的集成電路卡（ICC)和接口設備（IFD),不排除在實際使用時出現(xiàn)失效。本部分不包含可靠性測試的內(nèi)容。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17554的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T14916-2006識別卡物理特性(ISO/IEC7810:1995.IDT)GB/T16649.1-2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第1部分：物理特性(ISO/IEC7816-1:1998,MOD）GB/T16649.2-2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置（ISO/IEC7816-2:1999.IDT）GB/T16649.3-2006識別卡帶觸點的集成電路卡第3部分：電信號和傳輸協(xié)議（ISO/IEC7816-3:1997.1DT)第1部分：一GB/T17554.1-2006識別卡側(cè)試方法-般特性測試（ISO/IEC10373-1：1998MOD）GIB548A一1996微電子器件實驗方法和程序：方法3015靜電放電靈敏度的分類ISO/IEC7816-4:1995識別卡帶觸點的集成電路卡第4部分：交換

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