標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17626.6-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》相比于其前版《GB/T 17626.6-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
-
適用范圍與分類(lèi):2017版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)設(shè)備和系統(tǒng)的分類(lèi)進(jìn)行了細(xì)化,并明確了不同類(lèi)別設(shè)備的測(cè)試要求,提高了標(biāo)準(zhǔn)的適用性和針對(duì)性。
-
測(cè)試方法和程序:更新了測(cè)試信號(hào)的生成方式,引入了更精確的測(cè)試儀器校準(zhǔn)方法和測(cè)試布置圖解,以確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。同時(shí),對(duì)測(cè)試等級(jí)的劃分進(jìn)行了優(yōu)化,使抗擾度測(cè)試更加科學(xué)合理。
-
限值和判據(jù):根據(jù)技術(shù)進(jìn)步和實(shí)際應(yīng)用需求,調(diào)整了部分頻率范圍內(nèi)的抗擾度限值,確保了產(chǎn)品在當(dāng)前電磁環(huán)境下的兼容性。新增或修訂了部分測(cè)試項(xiàng)目的判據(jù),使得評(píng)估產(chǎn)品的抗擾性能更為嚴(yán)格和全面。
-
術(shù)語(yǔ)和定義:為了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)更好地接軌,2017版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)和定義進(jìn)行了修訂或補(bǔ)充,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)際兼容性。
-
測(cè)量不確定度:增加了關(guān)于測(cè)量不確定度分析的內(nèi)容,指導(dǎo)使用者如何評(píng)估測(cè)試結(jié)果的不確定度,這對(duì)于準(zhǔn)確理解和解釋測(cè)試數(shù)據(jù)至關(guān)重要。
-
參考標(biāo)準(zhǔn)更新:引用了最新的國(guó)內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,確保了標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的先進(jìn)性和時(shí)效性。
-
附錄和說(shuō)明:修訂和增補(bǔ)了多個(gè)附錄內(nèi)容,提供了更詳細(xì)的測(cè)試配置示例、校準(zhǔn)方法和案例分析,便于使用者理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)要求。
這些變更反映了電磁兼容領(lǐng)域技術(shù)和認(rèn)識(shí)的發(fā)展,旨在提高產(chǎn)品的電磁兼容性,保障設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中的穩(wěn)定運(yùn)行。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2017-12-29 頒布
- 2018-07-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS3310020
L06..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T176266—2017/IEC61000-4-62013
.代替:
GB/T17626.6—2008
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—
Immunittoconducteddisturbancesinducedbradio-freuencfields
y,yqy
[IEC61000-4-6:2013,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:
Testingandmeasurementtechniques—Immunitytoconducted
disturbances,inducedbyradio-frequencyfields,IDT]
2017-12-29發(fā)布2018-07-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T176266—2017/IEC61000-4-62013
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
概述
4………………………2
試驗(yàn)等級(jí)
5…………………4
試驗(yàn)設(shè)備及電平調(diào)整
6……………………5
試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器
6.1……………………5
耦合去耦裝置
6.2/………………………6
耦合去耦裝置的端口上共模阻抗的驗(yàn)證
6.3/EUT…………………13
試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器的設(shè)置
6.4……………15
試驗(yàn)布置和注入方法
7……………………17
試驗(yàn)布置
7.1……………17
單個(gè)單元構(gòu)成的
7.2EUT……………17
多個(gè)單元組成的
7.3EUT……………18
選擇注入法和試驗(yàn)點(diǎn)的原則
7.4………………………19
使用注入
7.5CDN……………………21
當(dāng)滿(mǎn)足共模阻抗要求時(shí)的鉗注入應(yīng)用
7.6……………22
當(dāng)不滿(mǎn)足共模阻抗要求時(shí)的鉗注入應(yīng)用
7.7…………23
直接注入的應(yīng)用
7.8……………………24
試驗(yàn)步驟
8…………………24
試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)估
9…………………………25
試驗(yàn)報(bào)告
10………………25
附錄規(guī)范性附錄電磁鉗和去耦鉗
A()…………………26
附錄資料性附錄選擇適用頻率范圍的準(zhǔn)則
B()………36
附錄資料性附錄選擇試驗(yàn)等級(jí)的指南
C()……………38
附錄資料性附錄關(guān)于耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的資料
D()/……………………39
附錄資料性附錄試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器的規(guī)范
E()…………44
附錄資料性附錄大尺寸的試驗(yàn)布置
F()EUT………45
附錄資料性附錄試驗(yàn)電壓電平的測(cè)量不確定度
G()…………………48
附錄資料性附錄阻抗的測(cè)量
H()AE…………………58
附錄資料性附錄端口間注入
I()………………………62
附錄資料性附錄放大器的壓縮和非線性
J()…………64
參考文獻(xiàn)
……………………68
Ⅰ
GB/T176266—2017/IEC61000-4-62013
.:
前言
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)目前包括以下部分
GB/T17626《》:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論
———GB/T17626.1—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.2—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.3—2016;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.4—2008;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.5—2008();
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.6—2017;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測(cè)
———GB/T17626.7—2008、
量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.8—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.9—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.10—1998;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗
———GB/T17626.11—2008、
擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.12—2013;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信
———GB/T17626.13—2006、
號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.14—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范
———GB/T17626.15—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.17—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.18—2016;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾
———GB/T17626.20—2014(TEM)
度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法
———GB/T17626.21—2014;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)
———GB/T17626.24—2012HEMP
方法
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.27—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.28—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中
———GB/T17626.29—2006、
斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法
———GB/T17626.30—2012;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的
———GB/T17626.34—201216A
電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
、。
本部分為的第部分
GB/T176266。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾
GB/T17626.6—2008《
Ⅲ
GB/T176266—2017/IEC61000-4-62013
.:
度與相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下
》。GB/T17626.6—2008,:
修改了一些的使用
———CDN;
修改了電流鉗的校準(zhǔn)方法
———;
重新編輯了第章試驗(yàn)布置和注入方法
———7“”;
修改了附錄增加了去耦鉗等內(nèi)容
———A,;
新增附錄試驗(yàn)電壓電平的測(cè)量不確定度
———G;
增加了資料性附錄附錄和附錄
———H、IJ。
本部分使用翻譯法等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第版電磁兼容第
IEC61000-4-6:2013(4.0)《(EMC)4-6
部分試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
:》。
與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下
:
電工術(shù)語(yǔ)電磁兼容
———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT]
為符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的編制要求和中文的表達(dá)習(xí)慣以及更正中的幾處筆誤本部
IEC61000-4-6:2013,
分做了如下編輯性修改
:
原文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)電磁兼容第部分試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾
———“(EMC)4-6:
度改為電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
”“”
第章第段中來(lái)自射頻發(fā)射機(jī)發(fā)射的有意電磁場(chǎng)修改為來(lái)自射頻發(fā)射機(jī)發(fā)射的電磁
———51“”“
場(chǎng)
”;
中注的位置改在表之后
———6.213;
的注中若采用的規(guī)范更正為若采用的規(guī)范
———6.2.3.11“7.4.1”“7.7”;
附錄的注和注中附錄未考慮涉及的不確定度更正為附錄未考慮
———G1521“G7.4.1”“G7.7
涉及的不確定度
”;
增加一個(gè)參考文獻(xiàn)
———。
本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC246)。
本部分負(fù)責(zé)起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三研究所
:。
本部分主要起草人徐嵬丁少華林京平張曉剛付兆豐
:、、、、。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T17626.6—1998、GB/T17626.6—2008。
Ⅳ
GB/T176266—2017/IEC61000-4-62013
.:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
1范圍
的本部分是關(guān)于電氣和電子設(shè)備對(duì)來(lái)自頻率范圍內(nèi)射頻發(fā)射機(jī)
GB/T17626150kHz~80MHz
電磁騷擾的傳導(dǎo)抗擾度要求該設(shè)備至少通過(guò)一條連接電纜如電源線信號(hào)線地線等與射頻場(chǎng)相
。(、、)
耦合
。
注1的本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法用來(lái)評(píng)估由電磁輻射感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾信號(hào)對(duì)設(shè)備產(chǎn)生的影響這些傳
:GB/T17626。
導(dǎo)騷擾的模擬和測(cè)量對(duì)于定量地測(cè)定其影響不是十分精確而制定此試驗(yàn)方法的主要目的是為了在不同場(chǎng)地
,
得到具有足夠重復(fù)性的試驗(yàn)結(jié)果以便量化分析其影響
,。
本部分的目的是當(dāng)電氣電子設(shè)備受到由射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時(shí)建立評(píng)價(jià)設(shè)備抗擾度性能的通
、,
用參考的本部分所規(guī)定的試驗(yàn)方法描述了評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)抵抗由射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷
。GB/T17626
擾的符合性方法
。
注2如[1]所述本部分是供有關(guān)專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)使用的基礎(chǔ)通用出版物同時(shí)在
:GB/Z18509,()EMC。
[1]中規(guī)定有關(guān)專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定此抗擾度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是否適用如適用他們有責(zé)任
GB/Z18509,
溫馨提示
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