標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17626.6-2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》相比于其前版《GB/T 17626.6-1998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
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適用范圍與分類:2008版標(biāo)準(zhǔn)對試驗對象的適用范圍和分類做了更明確的界定,以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展和產(chǎn)品種類的變化,提高了標(biāo)準(zhǔn)的適用性和準(zhǔn)確性。
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測試方法和技術(shù)要求:新版標(biāo)準(zhǔn)在測試方法上進(jìn)行了細(xì)化和完善,引入了更先進(jìn)的測量技術(shù)和分析手段,如改進(jìn)了測試信號的產(chǎn)生和調(diào)制方式,確保測試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。同時,對不同頻率范圍內(nèi)的騷擾抗擾度限值和測試條件進(jìn)行了調(diào)整,以反映當(dāng)前電子設(shè)備面臨的實際電磁環(huán)境。
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試驗配置與布置:標(biāo)準(zhǔn)對試驗場地、試驗設(shè)備的配置以及被試設(shè)備的布置要求進(jìn)行了優(yōu)化,提供了更具體的指導(dǎo),有助于實驗的一致性和可重復(fù)性。
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性能評估指標(biāo):增加了新的性能評估指標(biāo)和測試項目,以全面評價設(shè)備在射頻場感應(yīng)下的傳導(dǎo)騷擾抗擾能力,包括對瞬態(tài)響應(yīng)、穩(wěn)定狀態(tài)性能下降等方面的考量。
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安全與防護(hù)措施:2008版標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)化了在進(jìn)行電磁兼容測試過程中的安全要求和防護(hù)措施,確保試驗人員和設(shè)備的安全。
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術(shù)語和定義:更新并增補(bǔ)了相關(guān)術(shù)語和定義,使其與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌,便于國際交流與合作。
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標(biāo)準(zhǔn)引用與協(xié)調(diào)性:對引用的國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了更新,確保與國際電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)體系保持一致,提高了標(biāo)準(zhǔn)的國際兼容性。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.6-2017
- 2008-05-20 頒布
- 2009-01-01 實施
下載本文檔
GB/T 17626.6-2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度-免費下載試讀頁文檔簡介
犐犆犛33.100
犔06
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜17626.6—2008/犐犈犆6100046:2006
代替GB/T17626.6—1998
電磁兼容試驗和測量技術(shù)
射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
犈犾犲犮狋狉狅犿犪犵狀犲狋犻犮犮狅犿狆犪狋犻犫犻犾犻狋狔—犜犲狊狋犻狀犵犪狀犱
犿犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋狋犲犮犺狀犻狇狌犲狊—犐犿犿狌狀犻狋狔狋狅犮狅狀犱狌犮狋犲犱
犱犻狊狋狌狉犫犪狀犮犲狊,犻狀犱狌犮犲犱犫狔狉犪犱犻狅犳狉犲狇狌犲狀犮狔犳犻犲犾犱狊
(IEC6100046:2006,IDT)
20080520發(fā)布20090101實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
書
犌犅/犜17626.6—2008/犐犈犆6100046:2006
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
5試驗等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
6測量設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
7用于臺式和落地式設(shè)備的試驗配置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
8試驗程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
9測試結(jié)果的評估!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
10測試報告!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
附錄A(規(guī)范性附錄)關(guān)于鉗注入法的補(bǔ)充資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!20
A.1電流注入鉗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!20
A.2電磁(EM)鉗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!21
A.3試驗配置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!23
附錄B(資料性附錄)選擇適用頻率范圍的準(zhǔn)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!24
附錄C(資料性附錄)選擇試驗等級的指南!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!26
附錄D(資料性附錄)關(guān)于耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)的資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!27
D.1耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)的基本特性!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!27
D.2耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)的舉例!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!27
附錄E(資料性附錄)試驗信號發(fā)生器的規(guī)范!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!31
附錄F(資料性附錄)大尺寸被測設(shè)備的測試布置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!32
F.1介紹!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!32
F.2大尺寸被測設(shè)備的測試布置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!32
參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!34
書
犌犅/犜17626.6—2008/犐犈犆6100046:2006
前言
GB/T17626《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》目前包括以下部分:
GB/T17626.1—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論
GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.3—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.4—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
GB/T17626.5—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗
GB/T17626.6—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
GB/T17626.7—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和
測量儀器導(dǎo)則
GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗
GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗
GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗
GB/T17626.11—2008電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度
試驗
GB/T17626.12—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗
GB/T17626.13—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的
低頻抗擾度試驗
GB/T17626.14—2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗
GB/T17626.16—2007電磁兼容試驗與測量技術(shù)0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗
GB/T17626.17—2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗
GB/T17626.27—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗
GB/T17626.28—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗
GB/T17626.29—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和
電壓變化的抗擾度試驗
本部分是GB/T17626的第6部分。
本部分等同采用IEC6100046:2006(第2.2版本)《電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的
傳導(dǎo)騷擾抗擾度》。
本部分代替GB/T17626.6—1998《電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾
度》。
本部分與GB/T17626.6—1998主要差異在于:
1)修改了耦合和去耦裝置的受試設(shè)備端口上共模阻抗的校驗;
2)修改了耦合裝置的受試設(shè)備端口上輸出電平的設(shè)置;
3)修改了用于臺式和落地式設(shè)備的試驗配置;
4)增加了采用耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)注入的程序;
5)增加了當(dāng)滿足共模阻抗要求時的鉗注入的程序;
6)增加了直接注入的程序;
7)修改了測試結(jié)果的評估;
8)修改了測試報告的要求;
Ⅰ
犌犅/犜17626.6—2008/犐犈犆6100046:2006
9)修改了圖2b)、圖5和圖10;
10)增加了附錄F。
本部分的附錄A為規(guī)范性附錄,附錄B至附錄F為資料性附錄。
本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)提出并歸口。
本部分負(fù)責(zé)起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第三研究所。
本部分主要起草人:朱琳、林京平、曲林、徐嵬、魯博。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)歷次版本的發(fā)布情況為:
———GB/T17626.6—1998。
Ⅱ
犌犅/犜17626.6—2008/犐犈犆6100046:2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)
射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
1范圍
GB/T17626的本部分是關(guān)于電氣和電子設(shè)備對來自9kHz~80MHz頻率范圍內(nèi)射頻發(fā)射機(jī)電
磁騷擾的傳導(dǎo)抗擾度要求。設(shè)備至少通過一條連接電纜(如電源線、信號線、地線等)與射頻場相
耦合。
注:本部分規(guī)定的測量方法,用于測量傳導(dǎo)騷擾信號的影響。該信號是由與設(shè)備有關(guān)的電磁輻射感應(yīng)的,這些傳導(dǎo)
騷擾的模擬和測量對于定量地確定影響不是十分精確。而制定本方法的主要目的是對各類設(shè)備建立充分的
重現(xiàn)性的結(jié)果,以便定性地分析影響。
本部分的目的是當(dāng)電氣和電子電器設(shè)備受到由射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時,建立一個評估抗擾度性
能的公用參考。在GB/T17626的本部分中所規(guī)定的測試方法為評估設(shè)備或系統(tǒng)對定義的電磁現(xiàn)象的
抗擾度表述了一致的方法。
注:正如IEC導(dǎo)則107中所述的,這是為IEC產(chǎn)品委員會所用的EMC基礎(chǔ)出版物。也正如導(dǎo)則107聲明的,IEC
產(chǎn)品委員會負(fù)責(zé)確定是否采用本抗擾度標(biāo)準(zhǔn),如果采用,他們負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)臏y試
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