核輻射探測(cè)器

著名的輻射探測(cè)器1927年，Wilson，發(fā)明云室；1948年，Blackett，發(fā)展云室用于輻射研究；1950年，Powell，發(fā)展核乳膠；1960年，Glaser，發(fā)明氣泡室；1968年，Alvarez，發(fā)展氣泡室；1992年，Charpak，發(fā)明并發(fā)展多絲正比室。氣體探測(cè)器核輻射引起的氣體電離初級(jí)電離：入射粒子與氣體分子或原子直接碰撞而導(dǎo)致的氣體電離；次級(jí)電離：直接電離所產(chǎn)生的電子或紫外光及X射線而導(dǎo)致的氣體電離。復(fù)合過程：正離子和電子或負(fù)離子復(fù)合成中性粒子的過程。氣體探測(cè)器氣體探測(cè)器的特點(diǎn)：探測(cè)器的靈敏體積大小和形狀幾乎不受限制；沒有輻射損傷或極易恢復(fù)；經(jīng)濟(jì)可靠。氣體探測(cè)器電離室脈沖電離室：記錄單個(gè)輻射粒子，主要用于測(cè)量重帶電粒子的能量和強(qiáng)度。電流電離室：記錄大量粒子平均效應(yīng)，主要用于測(cè)量X,g,b和中子的強(qiáng)度或通量。0d++++++++--------陽(yáng)極

陰極

-U0z氣體探測(cè)器脈沖波形

t0-DU-Nez/Cd-Ne/C氣體探測(cè)器正比計(jì)數(shù)器：脈沖幅度正比于入射粒子能量。電場(chǎng)強(qiáng)度：脈沖電壓：多絲正比計(jì)數(shù)器：具有很高的空間分辨和時(shí)間分辨本領(lǐng)-U02rarcR氣體探測(cè)器G-M計(jì)數(shù)管：記錄粒子個(gè)數(shù)氣體探測(cè)器閃爍探測(cè)器工作原理閃爍探測(cè)器閃爍體：閃爍探測(cè)器閃爍體的物理特性閃爍探測(cè)器光電倍增管閃爍探測(cè)器光電倍增管的光譜響應(yīng)閃爍探測(cè)器閃爍探測(cè)器半導(dǎo)體探測(cè)器工作原理半導(dǎo)體探測(cè)器金硅面壘探測(cè)器半導(dǎo)體探測(cè)器半導(dǎo)體探測(cè)器高純鍺半導(dǎo)體探測(cè)器徑跡探測(cè)器原子核乳膠Wilson云室氣泡室徑跡探測(cè)器固體徑跡探測(cè)器中子探測(cè)器直接探測(cè)：核反應(yīng)轉(zhuǎn)換：微通道板核輻射量度輻射強(qiáng)度：?jiǎn)挝粫r(shí)間在某一方向上通過的粒子數(shù)帶電粒子：電流單位通量：?jiǎn)挝粫r(shí)間通過單位面積上的粒子數(shù)探測(cè)器的本征效率：核輻射量度能譜：絕對(duì)分辨率：半峰寬（FWHM)相對(duì)分辨率：核輻射量度輻射劑量：?jiǎn)挝惑w積的物質(zhì)所接受的輻射能量劑量當(dāng)量：描述輻射所產(chǎn)生的實(shí)際效應(yīng)