標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》相較于之前的版本《GB/T 2423.3-1993》和《GB/T 2423.9-2001》,在內(nèi)容上進(jìn)行了更新與調(diào)整。具體變化包括:
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標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的變化:新版本按照ISO/IEC導(dǎo)則第2部分的要求重新組織了文件結(jié)構(gòu),使之更加符合國際標(biāo)準(zhǔn)的編寫規(guī)范。
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術(shù)語定義更加明確:對于一些關(guān)鍵術(shù)語如“恒定濕熱”等給出了更為準(zhǔn)確的定義或解釋,有助于消除理解上的歧義。
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技術(shù)參數(shù)調(diào)整:針對濕度控制精度、溫度波動(dòng)范圍等方面的技術(shù)要求有所提高,以更好地模擬實(shí)際使用條件下可能遇到的情況。
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增加了試驗(yàn)程序細(xì)節(jié)描述:新版標(biāo)準(zhǔn)對如何進(jìn)行試驗(yàn)、所需設(shè)備條件以及測試過程中需要注意的問題提供了更詳細(xì)的指導(dǎo)信息,使得操作更具可執(zhí)行性。
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引入新的評估方法:除了傳統(tǒng)的性能檢測外,還建議采用其他形式的質(zhì)量評價(jià)手段來綜合判斷產(chǎn)品在經(jīng)過恒定濕熱處理后的狀態(tài)變化情況。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.3-2016
- 2006-12-19 頒布
- 2007-09-01 實(shí)施
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GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/Tr2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001代替GB/T2423.3-1993.GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)Environmentaltestingforelectricandelectronicproduets-Part2Testingmethod-TestCab:Dampheat.steadystate(IEC60068-2-78:2001,Environmentaltesting--Part2-78:Tests-TestCab:Dampheat.steadystate,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001次前言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4試驗(yàn)箱5嚴(yán)醋等級6初始檢測7條件試驗(yàn)8中中間檢測9恢復(fù)最后檢測·11相關(guān)規(guī)范中給出的信息附錄A(資料性附錄)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的結(jié)構(gòu)
GB/T2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001前GB/T2423.3-2006為GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第3部分本部分等同采用IEC60068-2-78:2001《環(huán)境試驗(yàn)第2-78部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》(英文版)本部分刪除了IEC60068-2-78:2001中的"前言“的內(nèi)容。本部分代替GB/T2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》及GB/T2423.9—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》。主要變動(dòng)如下:)本部分將原標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》及GB/T2423.9—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》這兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)合并為一標(biāo)準(zhǔn),即GB/T2423.3—2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab.恒定濕熱試驗(yàn)》2本部分在對試驗(yàn)箱的要求中明確規(guī)定短期的溫度波動(dòng)要保持在士0.5K范圍內(nèi)以保持所要求的濕度條件:3)本部分對試驗(yàn)箱的濕度容差統(tǒng)一規(guī)定為士3%;本部分比原來的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)增加了推薦的持續(xù)時(shí)間:5)本部分增加了附錄A。本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院本部分的主要起草人:王玲。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T2423.3—1981、GB/T2423.3—1993GB/T2423.9-1989、GB/T2423.9-2001.
GB/T2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)1范圍(B/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、財(cái)存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級,如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品本部分適用于小型設(shè)備及元件,同時(shí)也適用于與試驗(yàn)箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備,這種聯(lián)接需要一定的裝配時(shí)間。在安裝期間,可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。2范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法武驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)(idtIEC60068-2-2:1974)概述在本試驗(yàn)中.將樣品置于同為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴(yán)酷等級,并持續(xù)到規(guī)定的時(shí)間。由于散熱樣品的影響,可能引起試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗(yàn)條件不同,則這兩個(gè)參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進(jìn)行測量(參見GB/T2421—1999中的4.4及4.6.2)。4試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱及其測量系統(tǒng)應(yīng)滿足如下要求:工作空間內(nèi)應(yīng)裝有監(jiān)測溫、濕度條件的傳感器。對于散熱樣品的穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn),傳感器在工作空間內(nèi)的安放位置應(yīng)按GB/T2421—1999的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行;工作空間內(nèi)的溫度和相對濕度應(yīng)在考慮到放人樣品的影響時(shí),其值仍在規(guī)定的容差范圍內(nèi)變化。第5章所給出的溫度容差考電了測量的絕對誤差及溫度漸變;對于散熱樣品,樣品附近的溫度和相對濕度由于受到樣品本身的影響,與GB/T2421一1999中所規(guī)定的位置測得的數(shù)據(jù)不同;凝結(jié)水應(yīng)連續(xù)排出試驗(yàn)箱外,未經(jīng)凈化的水不能重復(fù)使用;C)d武驗(yàn)箱內(nèi)壁和頂部的凝結(jié)水不應(yīng)滴落到試驗(yàn)樣品上:e)試
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