GB/T 2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序

ICS.29.020:19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.45-1997idtIEC68-2-61：1991電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestZ/ABDM：Climaticsequence1997-07-03發(fā)布1998-05-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T2423.45-1997次前言·IEC前言IEC引言目的2引用標(biāo)準(zhǔn)3定義4試驗設(shè)備5嚴(yán)酷等級6預(yù)處理7初始檢測成驗9歡復(fù)10）最后檢測…相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的資料…·附錄A(提示的附錄）規(guī)范編寫人員導(dǎo)則附錄B(提示的附錄）試驗實施導(dǎo)則……

GB/T2423.45-1997本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-61(1991年6月第1版)環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序》。本標(biāo)準(zhǔn)是為適應(yīng)國際電工委員會電子元件質(zhì)量評審體系（IECQ)的要求和需要而制定的。為了盡快適應(yīng)國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟交流，加速與國際慣例接軌，提高我國電工電子產(chǎn)品的國際競爭能力，等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)就具有極其重要的意義。與電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗密切有關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)主要有：GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB/T2422電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法系列標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗導(dǎo)則系列標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法系列標(biāo)準(zhǔn)之一。在本標(biāo)準(zhǔn)中提到的與IEC68-1和TEC68-2-1、1EC68-2-2、IEC68-2-30及IEC68-2-13等國際標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)有：GB2421-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境規(guī)程總則（等效采用IEC68-1:1985）GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法（等效采用IEC68-2-1）GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B；高溫試驗方法(等效采用IEC68-2-2GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗Db:交變濕熱試驗方法（等效采用IEC68-2-30）GB/T2423.21-91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（等效采用IEC68-2-13）本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B都是提示的附錄、本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國機械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口：本標(biāo)準(zhǔn)由機械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：謝建華。

GB/T2423.45-1997IEC前育1）IEC關(guān)于技術(shù)事項的正式?jīng)Q定或協(xié)議是由對該問題有特殊興趣的所有國家委員會派代表參加的技術(shù)委員會制訂的,它盡可能確切地表達(dá)國際對所討論問題的一致意見。2）這些決定或協(xié)議以推薦形式供國際使用，并在此意義上為各個國家委員會所接受。3）為了促進(jìn)國際統(tǒng)一,IEC希望所有國家委員會，在國情允許的范圍內(nèi)采用IC推薦標(biāo)準(zhǔn)的正文作為國家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何不一致之處，要盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中明確的指出、本國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-61由IEC第50技術(shù)委員會（環(huán)境試驗）制訂，本標(biāo)準(zhǔn)的正文以下列文件為基礎(chǔ)：六個月法投票報告50（CO）220450CO）230有關(guān)批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的全部投票資料可在上表的投票報告中找到。附錄A和附錄B僅供參考。

GB/T.2423.45-1997氣侯試驗順序,尤其是元件的氣候試驗順序，其意義已在IEC68-1中由“氣候順序”的內(nèi)容所表明（見第7章和附錄B的導(dǎo)則)。由于IEC電子元件質(zhì)最評審體系（IECQ)的重要性日益增大,因而有必要制訂一種比IEC68-1第7章的規(guī)定更精確的試驗順序，以保證良好的試驗再現(xiàn)性。本標(biāo)準(zhǔn)以IC68-1的第7章為基礎(chǔ)，詳盡地規(guī)定了產(chǎn)品類試驗樣品，主要是元件的氣候順序組合試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)還包含有供規(guī)范編寫人員和試驗人員用的兩項導(dǎo)則(提示的附錄)。?。涸囼瀂/ABDM是IEC68-1所定義的一種“組合試驗”,而不是JEC68-1所定義的“順序".由于在IEC68-1第7章中“順產(chǎn)”一詞的使用已獲得充分認(rèn)可，因此決定在本組合試驗所莎及的各種操作中維續(xù)使用“順序”一詞。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法GB/T2423.45--1997試驗Z/ABDM:氣候順序idtIEC68-2-61：1991EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestZ/ABDM：Climaticsequence1目的為確定試驗樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時)等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性捉供一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗方法。施加應(yīng)力的次序與試驗步驃轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定，以便加速并強化與自然氣候條件相同的分化機理。注：自然界環(huán)境條件的分類分級見IEC721-2和IEC721-3.當(dāng)劣化機理相同且滿足規(guī)定的試驗要求時，本標(biāo)準(zhǔn)也可作為編寫類似試驗方法的基礎(chǔ)在本試驗中，試驗樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗，并按IEC68-1附錄A規(guī)定的代號分類，只是第3組數(shù)字用于表示第5步：交變濕熱試驗Db的周期數(shù)(見IEC68-2-30第6章)。在本標(biāo)準(zhǔn)中，-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用557100/56、25/085756、40/085721等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替，如需要改變，有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗方法的每個步驛提供必須的資料(見第8章）本試驗常被安排在涉及機械應(yīng)力有關(guān)的其它試驗如端子強度試驗、可焊性試驗和振動試驗之后進(jìn)行，以作為確定試驗樣品的密封性是否損壞的方法。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。IEC和ISO的所有成員均保存有現(xiàn)行有效的國際標(biāo)準(zhǔn)目錄。IEC68-1:1988環(huán)境試驗第1部分：總則IEC68-2-1:1990環(huán)境試驗第2部分：試驗-一試驗A：低溫IEC68-2-2:1974環(huán)境試驗第2部分：試驗一試驗B:高溫IEC68-2-2A:1976第1次補充IEC68-2-13:1983環(huán)境試驗第2部分：試驗一試驗M:低氣壓IEC68-2-28:1980環(huán)境試驗第2部分：試驗一濕熱試