標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南》是針對(duì)X射線光電子能譜(XPS)技術(shù)在表面化學(xué)分析中的應(yīng)用而制定的一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)旨在為使用XPS進(jìn)行材料表面成分及化學(xué)狀態(tài)分析提供指導(dǎo)性意見,確保測(cè)試過程的規(guī)范性和結(jié)果的一致性、準(zhǔn)確性。
標(biāo)準(zhǔn)首先介紹了XPS的基本原理及其在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中的重要地位。接著詳細(xì)描述了儀器設(shè)備的要求,包括對(duì)光源、能量分析器、檢測(cè)系統(tǒng)等關(guān)鍵部件性能參數(shù)的規(guī)定,以保證數(shù)據(jù)采集的質(zhì)量。同時(shí),對(duì)于樣品準(zhǔn)備也給出了具體建議,強(qiáng)調(diào)了樣品清潔度、均勻性等因素對(duì)最終結(jié)果的影響,并列舉了幾種常見類型的樣品處理方法。
在實(shí)驗(yàn)操作部分,《GB/T 30704-2014》規(guī)定了一系列標(biāo)準(zhǔn)化流程,涵蓋從開機(jī)前檢查到數(shù)據(jù)分析報(bào)告編寫整個(gè)過程。它不僅明確了不同條件下應(yīng)選擇何種掃描模式或設(shè)置哪些參數(shù),還特別指出如何通過調(diào)整實(shí)驗(yàn)條件來優(yōu)化信號(hào)強(qiáng)度與分辨率之間的平衡。此外,對(duì)于可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)偏差或異常情況,該標(biāo)準(zhǔn)也提供了相應(yīng)的解決策略。
關(guān)于數(shù)據(jù)分析,《GB/T 30704-2014》深入探討了峰位校正、背景扣除、譜峰擬合等多個(gè)環(huán)節(jié)的技術(shù)細(xì)節(jié)。其中,尤其重視元素定量分析時(shí)需考慮的因素,如相對(duì)靈敏度因子的選擇、多重散射效應(yīng)的修正等。通過這些內(nèi)容的學(xué)習(xí),使用者能夠更加準(zhǔn)確地解析復(fù)雜譜圖,從而獲得可靠的物質(zhì)組成信息。
最后,該標(biāo)準(zhǔn)還提到了質(zhì)量控制的重要性,建議實(shí)驗(yàn)室建立完善的內(nèi)部審核機(jī)制,定期參加能力驗(yàn)證活動(dòng),以此持續(xù)提升技術(shù)水平和服務(wù)質(zhì)量。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2014-06-09 頒布
- 2014-12-01 實(shí)施
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GB/T 30704-2014表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化學(xué)分析
X射線光電子能譜分析指南
Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—
Guidelinesforanalysis
(ISO10810:2010,IDT)
2014-06-09發(fā)布2014-12-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
目次
前言
…………………………Ⅰ
引言
…………………………Ⅱ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
符號(hào)和縮略語(yǔ)
4……………1
樣品分析概述
5……………2
樣品表征
6…………………3
概述
6.1…………………3
樣品形態(tài)
6.2……………4
材料類型
6.3……………5
樣品處理和安裝
6.4……………………6
樣品處理
6.5……………6
儀器核查
7…………………7
概述
7.1…………………7
儀器檢查
7.2……………7
儀器校準(zhǔn)
7.3……………8
儀器設(shè)定
7.4……………12
寬掃描譜
8…………………13
數(shù)據(jù)采集
8.1……………13
數(shù)據(jù)分析
8.2……………14
窄掃描
9……………………15
概述
9.1…………………15
數(shù)據(jù)采集
9.2……………15
數(shù)據(jù)分析
9.3……………15
測(cè)試報(bào)告
10………………18
參考文獻(xiàn)
……………………20
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析射線光電子能譜分析指南
ISO10810:2010《X》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下
:
檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求
———GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
表面化學(xué)分析詞匯
———GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)起草人趙志娟劉芬趙良仲章小余
:、、、。
Ⅰ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
引言
射線光電子能譜被廣泛用于材料的表面分析將所測(cè)芯能級(jí)結(jié)合能與各種元素的結(jié)合能
X(XPS)。
表對(duì)照來識(shí)別樣品中的元素除之外與純?cè)貞B(tài)的數(shù)據(jù)比較其化學(xué)態(tài)可以根據(jù)譜峰位移以
(H、He)。,
及其他參數(shù)的變化來確定元素的定量信息從所測(cè)光電子峰的強(qiáng)度中得到利用公式和儀器廠商提供
。。
的或本儀器測(cè)量的相對(duì)靈敏度因子以及合適的軟件可以計(jì)算所測(cè)表面層中各化學(xué)成分的含量
。
本標(biāo)準(zhǔn)是為了幫助射線光電子能譜儀的操作者進(jìn)行典型樣品的有效和有意義的分析
X。
Ⅱ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化學(xué)分析
X射線光電子能譜分析指南
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于射線光電子能譜儀的操作者分析典型樣品本標(biāo)準(zhǔn)幫助操作者完成整個(gè)分析過
X。
程包括樣品處理譜儀校準(zhǔn)和設(shè)定以及寬掃描譜和窄掃描譜的采集并給出了定量和準(zhǔn)備最終報(bào)告的
,,,
建議
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求
ISO/IEC17025(Generalrequirementsforthecompetenceof
testingandcalibrationlaboratories)
表面化學(xué)分析詞匯第一部分通用術(shù)語(yǔ)和譜學(xué)術(shù)語(yǔ)
ISO18115-1——:(Surfacechemical
analysis—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
ISO18115-1。
4符號(hào)和縮略語(yǔ)
下列符號(hào)和縮略語(yǔ)適用于本文件
。
俄歇電子能譜
AES(Augerelectronspectroscopy)
變角射線光電子能譜
ARXPSX(Angle-resolvedX-rayphotoelectronspectroscopy)
物質(zhì)的量咨詢委員會(huì)
CCQM(Consultativecommitteeforamountofsubstance)
有證標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)
CRM()(Certifiedreferencematerial)
有效衰減長(zhǎng)度
EAL(Effectiveattenuationlength)
溫馨提示
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