X射線熒光分析

1X熒光成分分析xrayFluorescenceSpectroscope(XRF)

2某些物質被一定波長的光照射時，會在一定時間內發(fā)射出波長比入射光長的光，如果這個時間比較短，這種光就稱為熒光。熒光由一種能發(fā)熒光的礦物

螢石(fluosrite)而得名。除了紫外光和可見光可能激發(fā)熒光外，其它的光如紅外光、X射線也可能激發(fā)出熒光，因此除紫外熒光或可見熒光外，還有紅外熒光、X射線熒光等。31方法特點

2分析原理

3儀器構成

4WDS-XRF

5EDS-XRF

6定量分析第二部分.X熒光成分分析41方法特點（1）第二部分.X熒光成分分析

XRF是一種最有效的無損成分分析手段之一。優(yōu)點：(1)速度快，一般測定一種元素(定量)需10－100秒；(2)可檢測固態(tài)、粉末、液態(tài)樣品，以及晶質、非 晶質等樣品的化學成分；(3)非破壞性測試，不損傷樣品(但對于某些高分子 物質，如有機物，則會引起顏色變化)；(4)是一種物理分析方法，分析元素范圍F9－U92， 分析的濃度范圍1ppm－100%；51方法特點（2）第二部分.X熒光成分分析優(yōu)點：(5)制樣簡單，板狀樣品把被照射面加工成平面即可，粉末樣品經粉碎、壓片即可；(6)系表面分析，一般測定深度為0.1mm范圍，另外也是表面整體分析，即分析整個照射面范圍內的元素種類和含量；61方法特點(3)第二部分.X熒光成分分析缺點：(1)難以作絕對分析，因此定量分析時需參照標準物質進行；(2)原子序數低的元素，其檢出限及測定誤差都相對較大。71方法特點（4）第二部分.X熒光成分分析儀器外觀：依據光源系統的不同、探測方式的不同，儀器的大小、形狀有一定差異。81方法特點（5）第二部分.X熒光成分分析光源：X射線光源：白色X射線。即具有各種波長的X射線，可分析前面所列范圍的所有元素。放射性同位素光源：放射出的射線亦在X射線范圍，但能量是固定的。因此只能分析部分元素。儀器的體積可以很小，最新型的相當于一個計算器的大小。同步輻射光源：光源的能量更大，對后續(xù)的二次射線檢測很有利，所以分析精度更高，但儀器造價很昂貴。92分析原理（1）第二部分.X熒光成分分析102分析原理（2）第二部分.X熒光成分分析113儀器構成（1）第二部分.X熒光成分分析波長色散型XRF：WAVELENGTHDISPERSIVEXRF(WDS-XRF)通過分析樣品在入射X射線作用下產生的二次X射線(熒光射線)的波長，來定性或定量分析樣品的元素組成及含量。能量色散型XRF:

ENERGY-DISPERSIVEXRF（EDS－XRF）通過分析樣品在入射X射線作用下產生的二次X射線(熒光射線)的能量，來定性或定量分析樣品的元素組成及含量。

124WDS-XRF第二部分.X熒光成分分析

AnalyzingProcedure:135定量分析（1）第二部分.X熒光成分分析

定量分析的基本原理是測定出樣品所產生的2次X射線的強度，然后與標準樣品所產生的2次X射線的強度比較，從而確定出樣品中某種元素的含量。

首先用一系列標準樣品中某元素工作峰的強度作一條工作曲線。

然后把實際樣品中對應該元素所產生的2次X射線的強度投影到工作曲線上，即可得到樣品中該元素的含量。146定量分析（2）第二部分.X熒光成分分析一般對于5－95％之間的定量效果最好。95％以上的往往效果不是很好。在于標準物質選取的困難。156定量分析（3）第二部分.X熒光成分分析選線系一般對Nd60號以前的元素用Kα線作工作峰，Cd48號以后的元素用Lα或Lβ線作工作峰，而Cd48－Nd60之間的元素則用Kα或Lα、Lβ均可。測定方式定時計數法：測定在一定時間間隔內的總計數；定數計時法：測定達到一定計數值所需要的時間166定量分析（4）第二部分.X熒光成分分析標準樣品的選擇

所謂標準物質是指已確切知道其中某種元素的含量(化學分析數值)。