GB/T 33502-2017表面化學分析X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

表面化學分析X射線光電子能譜XPS

()

數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

Surfacechemicalanalysis—RecordingandreportingdatainX-ray

hotoelectronsectroscoXPS

pppy()

(ISO16243:2011,IDT)

2017-02-28發(fā)布2018-01-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

記錄和報告的范圍

4………………………1

發(fā)送數(shù)據(jù)給用戶

5…………………………4

附錄資料性附錄譜圖實例

A()…………5

參考文獻

………………………9

Ⅰ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準使用翻譯法等同采用表面化學分析射線光電子能譜數(shù)據(jù)記錄

ISO16243:2011《X(XPS)

與報告的規(guī)范要求

》。

本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準負責起草單位廈門愛勞德光電有限公司清華大學化學系

:、。

本標準主要起草人時海燕李展平孫海珍姚文清劉芬王水菊

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

引言

射線光電子能譜廣泛用于材料的表面分析樣品中的元素除氫和氦外由測量光電子譜

X(XPS)。()

的芯能級結合能比對這些能量的元素列表而辯識這些元素的化學態(tài)信息可以由測量的光電子的化學

。

位移和或線型比對參考態(tài)而推知

/。

本標準規(guī)定了分析記錄中要包括的樣品和實驗參數(shù)信息的范圍分析結果要以標準格式記錄格

。,

式要足夠詳細以使該實驗可重復該格式需滿足報告的要求

。。

報告宜包括實驗條件和數(shù)據(jù)采集參數(shù)以使數(shù)據(jù)的質量可評估

,。

Ⅳ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

表面化學分析X射線光電子能譜XPS

()

數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

1范圍

本標準規(guī)定了分析者使用射線光電子能譜分析試樣后應報告信息的最低要求包括原

X(XPS)。

始記錄和分析記錄的信息

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學分析詞匯第部分通用術語和譜學術語

ISO18115-11:(Surfacechemical

analysis—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

ISO18115-1。

31

.

外系統(tǒng)exsitu

分析系統(tǒng)的外部

。

32

.

內系統(tǒng)insitu

分析系統(tǒng)的內部

。

4記錄和報告的范圍

41概述

.

本標準規(guī)定了分析人員使用分析樣品時應記錄和報告信息的最低要求該記錄和報告的要

XPS