標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)范晶體材料使用X射線衍射儀進(jìn)行旋轉(zhuǎn)定向測試的過程。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了測試前準(zhǔn)備、測試條件設(shè)定、測試步驟執(zhí)行及結(jié)果分析等環(huán)節(jié)的具體要求，適用于各類實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)對(duì)晶體材料性能的研究與質(zhì)量控制。

標(biāo)準(zhǔn)首先明確了適用范圍，指出其針對(duì)的是利用X射線衍射技術(shù)測定單晶或粉末樣品中晶格參數(shù)、晶體取向等信息的方法。接著，文件列舉了所需儀器設(shè)備的基本要求，包括但不限于X射線源的選擇、探測器類型及其靈敏度、樣品臺(tái)精度等關(guān)鍵參數(shù)，確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

對(duì)于測試流程，《GB/T 37983-2019》給出了詳盡指導(dǎo)，從樣品制備開始，涵蓋如何正確安裝樣品于衍射儀上、調(diào)整儀器至最佳工作狀態(tài)、選擇合適的掃描模式（如θ-2θ掃描）以及記錄完整的原始數(shù)據(jù)。特別強(qiáng)調(diào)了在操作過程中需要注意的安全事項(xiàng)，比如輻射防護(hù)措施和個(gè)人防護(hù)裝備的使用。

此外，標(biāo)準(zhǔn)還提供了數(shù)據(jù)分析部分的內(nèi)容，介紹了如何通過軟件處理收集到的數(shù)據(jù)以獲得有用的信息，例如通過擬合峰形來確定晶面間距、計(jì)算晶胞體積等，并建議采用國際認(rèn)可的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)作為參考來進(jìn)行校正，提高測量結(jié)果的可靠性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2019-08-30 頒布
  • 2020-03-01 實(shí)施
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文檔簡介

ICS7104099

N50..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T37983—2019

晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向

測試方法

TestingmethodsofX-raydiffractionfordeterminingtheorientationof

crystalmaterialsbyrotation

2019-08-30發(fā)布2020-03-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向

測試方法

GB/T37983—2019

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號(hào)

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20198

*

書號(hào)

:155066·1-63294

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T37983—2019

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國科學(xué)技術(shù)部提出

。

本報(bào)準(zhǔn)由全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC481)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位陜西省分析測試協(xié)會(huì)西北工業(yè)大學(xué)西安理工大學(xué)西安交通大學(xué)

:、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人郭愛史學(xué)芳嚴(yán)富學(xué)李飛郭振琪

:、、、、。

Ⅰ

GB/T37983—2019

晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向

測試方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用射線衍射儀在測試中對(duì)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn)從而確定晶體材料取向的測試方法

X,,。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體材料取向的測試

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

射線衍射儀技術(shù)條件

JB/T9400—2010X

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

晶體crystal

在三維空間中由原子離子或分子以周期性圖形排列組成的固體

、。

32

.

晶面crystallographicplane

通過晶體空間點(diǎn)陣中不在同一直線上的三個(gè)節(jié)點(diǎn)的平面

。

33

.

晶面指數(shù)crystalindex

晶面在三個(gè)單位長度晶軸上截距的倒數(shù)的最小整數(shù)比

。

34

.

結(jié)晶學(xué)表示法crystallographicnotation

用于標(biāo)示晶體中晶面和晶向的指數(shù)的一種符號(hào)體系

。

示例晶面晶向

:(100);[100]。

35

.

晶向偏離角off-orientationangle

φ

樣品測試面法線與測定晶面法線之間的夾角

。

4方法原理

41晶體材料X射線衍射原理

.

以三維周期性點(diǎn)陣排列的晶體材料單個(gè)晶?？梢钥醋髟釉谌S空間一系列面間距為d的平行

,

平面排列所構(gòu)成當(dāng)一束平行的單色

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