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材料近代分析測試方法材料與化學(xué)化工部主講人:李亞東第一章
X射線衍射分析第二章電子顯微分析第三章
熱分析第四章振動光譜第五章光電子能譜分析課程主要內(nèi)容使用教材:《無機(jī)非金屬材料測試分析方法》楊南如主編,武漢工業(yè)大學(xué)出版社(1)材料近代分析測試方法.常鐵軍等.哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社,2003(2)材料分析測試技術(shù)——材料X射線衍射與電子顯微分析.周玉等.
哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社,1998(3)材料現(xiàn)代分析方法.左演聲等.北京工業(yè)大學(xué)出版社,2003(4)材料物理現(xiàn)代研究方法.馬如璋等.冶金工業(yè)出版社,1997(5)非金屬礦產(chǎn)物相及性能測試與研究.萬樸等.武漢工業(yè)大學(xué)出版社,1992(6)電子顯微分析,章曉中.清華大學(xué)出版社,2006(7)材料微觀結(jié)構(gòu)的電子顯微學(xué)分析,黃孝瑛著.冶金工業(yè)出版社,2008參考資料
1.1X射線物理基礎(chǔ)1895年德國物理學(xué)家倫琴(W.K.Rontyen)在研究陰極射線時發(fā)現(xiàn)高速運(yùn)動的電子被物質(zhì)(如陽極靶)阻止時,伴隨電子動能的消失與轉(zhuǎn)化,會產(chǎn)生一種新的射線,并把它稱作為X射線。為紀(jì)念發(fā)現(xiàn)者,又稱之為“倫琴射線”。第1章X射線衍射分析倫琴的發(fā)現(xiàn)很快被醫(yī)學(xué)界作于診斷疾病、探查體內(nèi)異物。
X射線在醫(yī)學(xué)診斷,金屬材料及機(jī)械零件探傷等應(yīng)用使得“X射線透視學(xué)”迅速發(fā)展成為一門十分有用的技術(shù)。
1912年德國物理學(xué)家勞埃(M.V.Laue)發(fā)現(xiàn)了X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象,奠定了“X射線衍射學(xué)”(X射線晶體學(xué))的基礎(chǔ),推動了20世紀(jì)“晶體學(xué)”的發(fā)展。
在勞厄的建議下,索末菲的助教弗里德里希(FriedrichW,倫琴教授的博士生),完成了五水合硫酸銅(CuSO45H2O)晶體的第一個衍射圖。
1921年,英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg和W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上,不僅成功地測定了NaCl、KCl等的晶體結(jié)構(gòu),并且和蘇聯(lián)物理學(xué)家烏利夫提出了X射線測定晶體結(jié)構(gòu)的著名公式—布拉格方程。
第一臺X射線衍射儀是美國海軍研究室的Friedman于1945年設(shè)計發(fā)表的,隨后,Philips公司在美國制造銷售,至今已經(jīng)走過半個世紀(jì)的發(fā)展歷程?,F(xiàn)在X射線衍射儀依然是十分具有活力的儀器,其應(yīng)用范圍早已走出科學(xué)研究的實驗室,滲透到廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域和眾多的行業(yè),發(fā)展成為一種應(yīng)用甚廣的、重要的分析儀器。X-radiationMicrowavesg-radiationUVIRRadiowaves10-610-311031061091012Wavelength(nm)可見光微波無線電波
什么是X光(1)X-ray的強(qiáng)度與振幅相關(guān):Intensity(強(qiáng)度)=|A|2,強(qiáng)度無方向。(2)X-ray的能量與頻率或波長相關(guān),Planck's定律:Energy/photon(能量/光子)=h=hc/
,h=6.6310-34J·s(3)強(qiáng)度與能量的區(qū)別:強(qiáng)度指光子數(shù)的多少,能量指每個光子所攜帶的能量。lEAX光的強(qiáng)度和能量(1)X光不折射,因為所有物質(zhì)對X光的折光指數(shù)都接近1。因此無X光透鏡或X光顯微鏡。(2)X光無反射。(3)X光可為重元素所吸收,故可用于醫(yī)學(xué)造影。X光與可見光的區(qū)別①1912年,勞厄(M.V.Laue)等利用晶體作為產(chǎn)生X射線衍射的光柵,使X射線產(chǎn)生衍射,證實了X射線本質(zhì)上是一種電磁波。通常,X射線波長為10~0.001nm。X射線結(jié)構(gòu)分析常用的波長約在0.25~0.05nm之間;X射線材料探傷常用的波長在0.1~0.005nm之間?!褚话悴ㄩL短的X射線稱為硬X射線,反之稱為軟X射線。1.1X射線的性質(zhì)
電磁波譜及其在分析技術(shù)中的應(yīng)用②X射線在空間傳播具有粒子性。X射線是由大量以光速運(yùn)動的粒子組成的不連續(xù)的粒子流。這些粒子叫光量子,每個光量子具有能量:
ε=hv
或ε=hc/
式中,h是普朗克常數(shù),v和分別為X射線的頻率和波長。
●每個光量子的能量hv是X射線的最小能量單位。對不同頻率v或波長的X射線,光量子的能量是不同的。
波動性與粒子性是X射線具有的客觀屬性。當(dāng)光量子和原子或電子交換能量時,只能一份一份地以最小能量單位被原子或電子吸收。此外,X射線具有很強(qiáng)的穿透物質(zhì)的能力,經(jīng)過電場和磁場時不發(fā)生偏轉(zhuǎn),但當(dāng)穿過物質(zhì)時X射線可被偏振化,可被吸收而使強(qiáng)度減弱,它能使空氣或其他氣體電離,能激發(fā)熒光效應(yīng),使照相片感光,并能殺死生物細(xì)胞與組織。由于X射線具有上述特性,使它成為研究晶體結(jié)構(gòu),進(jìn)行元素分析,以及醫(yī)療透射照相和工業(yè)探傷等多方面問題的有力工具。1.2X射線的獲得獲得X射線必須具備的條件:
①產(chǎn)生自由電子的電子源,如加熱鎢絲發(fā)射熱電子;②設(shè)置自由電子轟擊靶,如陽極靶,用以產(chǎn)生X射線;③
施加在陰極和陽極之間的高壓,用以加速自由電子朝陽極靶方向加速運(yùn)動,如高壓發(fā)生器;④
將陰陽極封閉在10-3Pa以上的高真空中,保持兩極純潔,促使加速電子無阻地轟擊到陽極靶上。X射線發(fā)生裝置的基本原理
1.3X射線譜X射線譜指的是X射線強(qiáng)度I隨波長變化的關(guān)系曲線。X射線強(qiáng)度(I):單位時間內(nèi)通過與X射線傳播方向垂直的單位面積上的光量子數(shù)。X射線譜分為兩類:①
連續(xù)X射線譜;②
特征X射線譜。1.3.1連續(xù)X射線譜連續(xù)X射線是高速運(yùn)動的電子被陽極靶突然阻止而產(chǎn)生的。它由某一短波限0開始直到波長等于無窮大∞的一系列波長組成。
①增加管壓,各波長X射線相對強(qiáng)度一致增高,最大強(qiáng)度對應(yīng)的波長m和短波限0變小。
連續(xù)X射線譜的實驗規(guī)律
②管壓保持恒定、增加管流時,各波長X射線相對強(qiáng)度一致增高,但m和0數(shù)值大小不變。λIi1i2i3管流
i3>i2>
i1
③改變陽極靶時,各波長的相對強(qiáng)度隨靶材原子序數(shù)增加而增加。λIMoAgW不同陽極●電動力學(xué)和量子力學(xué)的解釋根據(jù)量子力學(xué)觀點(diǎn),能量為eV的電子和陽極靶碰撞時產(chǎn)生光子,從數(shù)值上看光子的能量應(yīng)該小于或最多等于電子的能量。因此,光子能量有一頻率上限vm或短波限0。電子能量與光子能量相對應(yīng),可以表示為
eV=hvm=hc/0,則
0=hc/(eV)=1.24/V(nm)式中,e為電子的電荷,V為加在X射線管兩極上的電壓;h為普朗克常數(shù);c為光子在真空中的傳播速度,即連續(xù)X射線譜有短波限0存在,且與電壓成反比。由于大量電子轟擊陽極靶的時間和條件不完全相同,一個電子有時要經(jīng)過幾次碰撞才能轉(zhuǎn)換成光量子,或者一個電子轉(zhuǎn)換為幾個光量子,因此,輻射出的電磁波具有各種不同的波長(≥0),形成了連續(xù)X射線譜。庫倫坎普弗(Kulenkampff)綜合各種連續(xù)X射線強(qiáng)度分布的實驗結(jié)果,得出一個連續(xù)X射線的總強(qiáng)度經(jīng)驗公式,并對此式積分得
I連=式中,K為常數(shù),實驗測得K=1.1-1.5×10-9。由上說明,連續(xù)譜的總強(qiáng)度與管電流強(qiáng)度I、靶的原子序數(shù)Z以及管電壓V的平方成正比。X射線管的效率定義為X射線強(qiáng)度與X射線管功率的比值,即(1-6)因此,當(dāng)用鎢陽極管Z=74,管電壓為l00kV時,X射線管的效率為l%或者更低。
由于X射線管中電子的能量絕大部分在和陽極靶碰撞時產(chǎn)生熱能而損失,只有極少部分能量轉(zhuǎn)化為X射線能。所以X射線管工作時必須以冷卻水沖刷陽極,達(dá)到冷卻陽極的目的。1.3.2標(biāo)識(特征)X射線譜對一定元素的靶,當(dāng)管壓小于某一限度時,只激發(fā)連續(xù)譜,隨著管壓的增高,射線譜曲線只向短波方向移動,總強(qiáng)度增高,本質(zhì)上無變化。但當(dāng)管電壓超過某一臨界值V激后(如對銅靶超過20kV),強(qiáng)度分布曲線將產(chǎn)生顯著的變化,即在連續(xù)X射線譜某幾個特定波長的地方,強(qiáng)度突然顯著地增大。由于它們的波長反映了靶材料的特征,因此稱之為特征X射線。
圖1-3中兩個強(qiáng)度特別高的窄峰稱為鉬的K系X射線,波長為0.063nm的是Kβ射線,波長為0.071nm的是Kα射線。Kα線又分為Kα1和Kα2兩條線,其波長相差為0.0004nm,Kα1和Kα2射線的強(qiáng)度比約為2:l,而Kα和Kβ的強(qiáng)度比約為5:l。
在通常的X射線衍射工作中,一般均采用強(qiáng)而窄的Kα譜線,如管電壓約為30kV時,CuKα譜線的強(qiáng)度約為連續(xù)譜及鄰近射線強(qiáng)度的90倍,而且半高寬度<0.000lnm?!窭^續(xù)提高管電壓時,圖中各特征X射線的強(qiáng)度不斷增高,但其波長不變。
實驗證明:①陽極靶元素的特征譜按照波長增加的次序分為K、L、M、…等若干譜系,每個譜線系又分若干亞系。例如:K系內(nèi)每一條譜線按波長減小的次序分別稱之為Kα,Kβ,Kγ,…等譜線。每一譜線對應(yīng)一定的激發(fā)電壓,只有當(dāng)管電壓超過激發(fā)電壓時才能產(chǎn)生該靶元素的特征譜線,且靶的原子序數(shù)越大其激發(fā)電壓越高?!裉卣鱔射線波長取決于陽極靶的原子序數(shù)
在原子內(nèi)固定殼層上的電子具有特定能量。當(dāng)外加能量足夠大時,可將內(nèi)層電子激發(fā)出去,形成一個內(nèi)層空位。外殼層的電子躍遷到內(nèi)層,多余的能量以X射線形式放出。②不同陽極靶元素的原子序數(shù)與特征譜波長之間的關(guān)系由莫塞萊(Mosley)定律確定(1-11)
式中,K
為特征譜線的波長,K和σ均為常數(shù)。Z為陽極物質(zhì)的原子序數(shù)。上述實驗規(guī)律可用電子與原子相互作用時原子內(nèi)部能態(tài)的變化來解釋。③每個特征譜線都對應(yīng)一個特定的波長,不同陽極靶元素的特征譜波長不同。如管電流I與管電壓V的增加只能增強(qiáng)特征X射線的強(qiáng)度I特,而不改變波長。I特的變化規(guī)律為
I特=cI(V-V激)n(1-12)式中,c為比例常數(shù);V激為陽極靶元素特征X射線激發(fā)電壓;n值對K系譜線取l.5,對L系取2。為提高峰背比,通常X射線的工作電壓應(yīng)為激發(fā)電壓的3~5倍。當(dāng)使用單色器時,則可不遵守此原則。1.4X射線與物質(zhì)的相互作用(1)
相干(經(jīng)典)散射X射線是一種電磁波,當(dāng)它通過物質(zhì)時,在入射電場的作用下,物質(zhì)原子中的電子將被迫圍繞其平衡位置振動,同時向四周輻射出與入射X射線波長相同的散射X射線,稱之為經(jīng)典散射。由于散射波與入射波的頻率或波長相同,在同一方向上各散射波符合相干條件,又稱為相干散射。1.4.1散射現(xiàn)象按電動力學(xué)理論,當(dāng)一束非偏振的X射線照射到質(zhì)量為m、電荷為e的電子上時,在與入射線呈2角度方向上距離為R處的某點(diǎn),由電子引起的散射X射線強(qiáng)度為:
即湯姆遜(Thomson)公式。湯姆遜(Thomson)公式表示一個電子散射X射線的強(qiáng)度。式中,稱為經(jīng)典電子半徑;稱為極化因子或偏振因子,它反映入射波的偏振化程度。①在各方向上散射波的強(qiáng)度不同,在2
=0?處即入射方向上強(qiáng)度最強(qiáng),而在入射線垂直方向2
=90o處強(qiáng)度最弱。②散射波的強(qiáng)度與入射波頻率無關(guān)。③散射強(qiáng)度與R2成反比,如R=lcm,散射波的強(qiáng)度僅為原強(qiáng)度的10-26,這表明實測散射強(qiáng)度只能是大量電子散射波干涉的結(jié)果。④散射強(qiáng)度與電子的質(zhì)量平方的倒數(shù)成正比,可見,原子核引起的散射強(qiáng)度要弱得多,可以忽略不計。由湯姆遜(Thomson)公式可見:●一個原子散射波應(yīng)該是原子中各個電子散射波合成的結(jié)果。因此晶體中散射的基本單元是電子,X射線在空間散射強(qiáng)度的分布直接反映了電子在空間的分布。結(jié)論(2)非相干散射當(dāng)X射線光量子沖擊束縛較松的電子或自由電子,會產(chǎn)生一種反沖電子,X射線光子離開原來方向,能量減小,波長增加。這種散射現(xiàn)象稱為非相干散射。非相干散射是康普頓(A.H.Compton)和我國物理學(xué)家吳有訓(xùn)等人發(fā)現(xiàn)的,亦稱康普頓效應(yīng)或康普頓-吳有訓(xùn)散射。非相干散射突出地表現(xiàn)出X射線的微粒特性,只能用量子理論來描述,亦稱量子散射。
非相干散射波分布在各個方向上,強(qiáng)度很低且隨sin/的增加而增大,它隨著入射X射線的波長變短、散射角的增大而增強(qiáng)。非相干散射不能參與衍射,也無法避免產(chǎn)生,從而使衍射圖像背景底變黑,給衍射工作帶來不利影響,特別對輕元素。(3)散射系數(shù)為了衡量物質(zhì)對X射線的散射能力,定義單位質(zhì)量的物質(zhì)對X射線的散射為質(zhì)量散射系數(shù):
其中Z和A為散射體的原子序數(shù)和原子量,N為阿伏加德羅常數(shù),c為光速,m和e為電子的質(zhì)量和電荷。由于上式推導(dǎo)中忽略了電子之間、電子與原子核之間的相互作用,對于重元素(如:Au、Ag等)實測值比理論值大幾倍或十幾倍。當(dāng)X射線光量子具有足夠高的能量時,可以將被照射物質(zhì)原子中內(nèi)層電子激發(fā)出來,使原子處于激發(fā)狀態(tài),通過原子中殼層上的電子躍遷,輻射出X射線特征譜線。這種利用X射線激發(fā)作用而產(chǎn)生的新的特征譜線叫做二次特征輻射,也稱為熒光輻射。1.4.2二次特征輻射二次特征輻射的產(chǎn)生條件入射X射線光量子的能量hv必須等于或大于將此原子某一殼層的電子激發(fā)出所需要的脫出功。
激發(fā)K系熒光輻射的入射X射線光量子的能量最小值為hvk=hc/k≥eVk或者波長必須滿足
k≤(nm)(1-12)式中,Vk為K系輻射的激發(fā)電壓;k為產(chǎn)生K系激發(fā)的最長波長,稱為K系熒光輻射的激發(fā)限。對L、M等系也有類似情況。當(dāng)激發(fā)二次特征輻射時,原入射X射線光量子的能量被激發(fā)出的電子所吸收,而轉(zhuǎn)變?yōu)殡娮拥膭幽埽闺娮右莩鲈又?,這種電子稱為光電子,也稱為光電效應(yīng)。此時,物質(zhì)將大量吸收入射X射線的能量,使原X射線強(qiáng)度明顯減弱。二次特征輻射造成衍射圖像漫散背底增強(qiáng),在選靶時要注意避免。
1.4.3光電吸收(效應(yīng))原子中一個K層電子被激發(fā)出以后,L層的一個電子躍入K層填補(bǔ)電子空位,釋放的能量不是以輻射光量子能量輻射出來,而是促使L層的另一個電子跳到原子之外,即K層的一個電子空位被L層的兩個空位所代替,此過程稱為俄歇(Auger)效應(yīng)。1.3.4俄歇(Auger)效應(yīng)1、強(qiáng)度衰減規(guī)律X射線穿過物質(zhì)時,其強(qiáng)度要衰減。(1-16)I0為入射X射線強(qiáng)度,I為穿透過厚度為x的物質(zhì)的X射線強(qiáng)度,l為線衰減系數(shù)。1.5X射線的吸收及其應(yīng)用●線吸收系數(shù)l的物理意義:X射線通過1立方厘米物質(zhì)時強(qiáng)度的相對衰減量?!褓|(zhì)量吸收系數(shù)m的物理意義:為每克物質(zhì)引起的相對衰減量。
m=l
/
(1-17)吸收系數(shù)的物理意義
質(zhì)量吸收系數(shù)在很大程度上取決于物質(zhì)的化學(xué)成分和被吸收的入射線波長。假定物質(zhì)是由單一元素組成的,則m與其原子序數(shù)Z及X射線波長有明顯的關(guān)系。實驗表明,m值大致與波長的三次方及元素原子序數(shù)Z的三次方成正比
m∝(Z)3(1-18)
對X射線衰減的研究表明,由于散射引起的衰減和由于激發(fā)電子及熱振動等引起的真吸收遵循著不同的規(guī)律,即真吸收部分隨X射線波長和物質(zhì)元素的原子序數(shù)而顯著地變化,散射部分則幾乎和波長及元素的原子序數(shù)無關(guān)。一般情況吸收系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過散射系數(shù),散射可以忽略不計。
X射線的衰減是受到了組成該物質(zhì)的各種元素的影響,由被照射物質(zhì)原子本身的性質(zhì)決定,而與這些原子間的結(jié)合方式無關(guān)。多種元素組成物質(zhì)的質(zhì)量吸收系數(shù)由(1-19)決定,(l/)i為第i種元素的質(zhì)量吸收系數(shù);Wi為各元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)(%);N表示該物質(zhì)是由N種元素組成的。
當(dāng)波長減小到K時,質(zhì)量吸收系數(shù)產(chǎn)生一個突變(增大),這是由于入射線光子能量hv達(dá)到了激發(fā)該元素K層電子的能量,從而被大量吸收或消耗,并引起特征輻射。發(fā)生突變吸收的波長K
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