GB/T 41204-2021納米技術(shù)納米物體表征用測(cè)量技術(shù)矩陣

ICS0104007

CCSA.020.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T41204—2021

納米技術(shù)納米物體表征用測(cè)量技術(shù)矩陣

Nanotechnologies—Measurementtechniquematrixforthecharacterizationof

nano-objects

ISO/TR181962016MOD

(:,)

2021-12-31發(fā)布2022-07-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T41204—2021

目次

前言

…………………………Ⅸ

引言

…………………………Ⅹ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

通用術(shù)語(yǔ)

3.1……………1

納米物體參數(shù)

3.2………………………2

矩陣中包含的參數(shù)

4………………………3

矩陣中包含的測(cè)量技術(shù)

5…………………4

概述

5.1…………………4

聲譜

5.2…………………4

描述

5.2.1……………4

納米物體參數(shù)

5.2.2…………………5

優(yōu)點(diǎn)

5.2.3……………5

局限性

5.2.4…………………………5

被測(cè)量

5.2.5…………………………5

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.2.6………………………5

離心分析

5.3(AC)………………………5

描述

5.3.1……………5

納米物體參數(shù)

5.3.2…………………5

優(yōu)點(diǎn)

5.3.3……………5

局限性

5.3.4…………………………6

被測(cè)量

5.3.5…………………………6

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.3.6………………………6

電聲譜

5.4………………6

描述

5.4.1……………6

納米物體參數(shù)

5.4.2…………………6

優(yōu)點(diǎn)

5.4.3……………6

局限性

5.4.4…………………………6

被測(cè)量

5.4.5…………………………7

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.4.6………………………7

氣溶膠顆粒質(zhì)量分析儀

5.5(AMS)……………………7

描述

5.5.1……………7

納米物體參數(shù)

5.5.2…………………7

優(yōu)點(diǎn)

5.5.3……………7

局限性

5.5.4…………………………7

被測(cè)量

5.5.5…………………………7

Ⅰ

GB/T41204—2021

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.5.6………………………7

俄歇電子能譜

5.6(AES)………………8

描述

5.6.1……………8

納米物體參數(shù)

5.6.2…………………8

優(yōu)點(diǎn)

5.6.3……………8

局限性

5.6.4…………………………8

被測(cè)量

5.6.5…………………………8

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.6.6………………………8

物理吸附法測(cè)定比表面積

5.7(BET)…………………9

描述

5.7.1……………9

納米物體參數(shù)

5.7.2…………………9

優(yōu)點(diǎn)

5.7.3……………9

局限性

5.7.4…………………………9

被測(cè)量

5.7.5…………………………9

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.7.6………………………9

凝結(jié)式顆粒計(jì)數(shù)法

5.8(CPC)…………10

描述

5.8.1……………10

納米物體參數(shù)

5.8.2…………………10

優(yōu)點(diǎn)

5.8.3……………10

局限性

5.8.4…………………………10

被測(cè)量

5.8.5…………………………10

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.8.6………………………10

差分電遷移分析系統(tǒng)

5.9(DMAS)……………………10

描述

5.9.1……………10

納米物體參數(shù)

5.9.2…………………10

優(yōu)點(diǎn)

5.9.3……………11

局限性

5.9.4…………………………11

被測(cè)量

5.9.5…………………………11

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.9.6………………………11

差示掃描量熱法

5.10(DSC)…………11

描述

5.10.1…………………………11

納米物體參數(shù)

5.10.2………………11

優(yōu)點(diǎn)

5.10.3…………………………11

局限性

5.10.4………………………11

被測(cè)量

5.10.5………………………11

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.10.6……………………12

動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)

5.11(DLS)…………12

描述

5.11.1…………………………12

納米物體參數(shù)

5.11.2………………12

優(yōu)點(diǎn)

5.11.3…………………………12

局限性

5.11.4………………………12

被測(cè)量

5.11.5………………………13

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.11.6……………………13

Ⅱ

GB/T41204—2021

電子能量損失譜透射

5.12(EELS)…………………13

描述

5.12.1…………………………13

納米物體參數(shù)

5.12.2………………13

優(yōu)點(diǎn)

5.12.3…………………………13

局限性

5.12.4………………………13

被測(cè)量

5.12.5………………………13

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.12.6……………………13

電泳毛細(xì)管電泳

5.13/…………………13

描述

5.13.1…………………………13

納米物體參數(shù)

5.13.2………………14

優(yōu)點(diǎn)

5.13.3…………………………14

局限性

5.13.4………………………14

被測(cè)量

5.13.5………………………14

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.13.6……………………14

能量色散射線譜和波長(zhǎng)色散射線譜

5.14X(EDS/EDX)X(WDS)………………14

描述

5.14.1…………………………14

納米物體參數(shù)

5.14.2………………14

優(yōu)點(diǎn)

5.14.3…………………………14

局限性

5.14.4………………………15

被測(cè)量

5.14.5………………………15

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.14.6……………………15

場(chǎng)流分級(jí)法

5.15………………………15

描述

5.15.1…………………………15

納米物體參數(shù)

5.15.2………………15

優(yōu)點(diǎn)

5.15.3…………………………15

局限性

5.15.4………………………15

被測(cè)量

5.15.5………………………15

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.15.6……………………16

熒光光譜法

5.16………………………16

描述

5.16.1…………………………16

納米物體參數(shù)

5.16.2………………16

優(yōu)點(diǎn)

5.16.3…………………………16

局限性

5.16.4………………………16

被測(cè)量

5.16.5………………………16

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.16.6……………………16

傅里葉變換紅外光譜法和成像法

5.17(FT-IR)FT-IR……………16

描述

5.17.1…………………………16

納米物體參數(shù)

5.17.2………………17

優(yōu)點(diǎn)

5.17.3…………………………17

局限性

5.17.4………………………17

被測(cè)量

5.17.5………………………17

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.17.6……………………17

感生光柵法

5.18(IG)…………………17

Ⅲ

GB/T41204—2021

描述

5.18.1…………………………17

納米物體參數(shù)

5.18.2………………17

優(yōu)點(diǎn)

5.18.3…………………………17

局限性

5.18.4………………………17

被測(cè)量

5.18.5………………………18

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.18.6……………………18

電感耦合等離子體質(zhì)譜和單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜

5.19(ICP-MS)(SP-ICP-MS)…………18

描述

5.19.1…………………………18

納米物體參數(shù)

5.19.2………………18

優(yōu)點(diǎn)

5.19.3…………………………18

局限性

5.19.4………………………18

被測(cè)量

5.19.5………………………18

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.19.6……………………19

納米聯(lián)用技術(shù)

5.19.7ICP-MS……………………19

激光衍射技術(shù)

5.20……………………19

描述

5.20.1…………………………19

納米物體參數(shù)

5.20.2………………19

優(yōu)點(diǎn)

5.20.3…………………………19

局限性

5.20.4………………………19

被測(cè)量

5.20.5………………………20

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.20.6……………………20

液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用法

5.21-(LC-MS)…………………20

描述

5.21.1…………………………20

納米物體參數(shù)

5.21.2………………20

優(yōu)點(diǎn)

5.21.3…………………………20

局限性

5.21.4………………………20

被測(cè)量

5.21.5………………………20

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.21.6……………………20

顆粒跟蹤分析

5.22……………………20

描述

5.22.1…………………………20

納米物體參數(shù)

5.22.2………………21

優(yōu)點(diǎn)

5.22.3…………………………21

局限性

5.22.4………………………21

被測(cè)量

5.22.5………………………21

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.22.6……………………21

光學(xué)吸收光譜

5.23(UV/Vis/NIR)…………………21

描述

5.23.1…………………………21

納米物體參數(shù)

5.23.2………………22

優(yōu)點(diǎn)

5.23.3…………………………22

局限性

5.23.4………………………22

被測(cè)量

5.23.5………………………22

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.23.6……………………22

石英晶體微天平

5.24(QCM)…………22

Ⅳ

GB/T41204—2021

描述

5.24.1…………………………22

納米物體參數(shù)

5.24.2………………22

優(yōu)點(diǎn)

5.24.3…………………………22

局限性

5.24.4………………………23

被測(cè)量

5.24.5………………………23

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.24.6……………………23

拉曼光譜拉曼成像

5.25/………………23

描述

5.25.1…………………………23

納米物體參數(shù)

5.25.2………………23

優(yōu)點(diǎn)

5.25.3…………………………23

局限性

5.25.4………………………23

被測(cè)量

5.25.5………………………23

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.25.6……………………23

共振質(zhì)量測(cè)量

5.26(RMM)……………24

描述

5.26.1…………………………24

納米物體參數(shù)

5.26.2………………24

優(yōu)點(diǎn)

5.26.3…………………………24

局限性

5.26.4………………………24

被測(cè)量

5.26.5………………………24

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.26.6……………………24

掃描電子顯微術(shù)

5.27(SEM)…………24

描述

5.27.1…………………………24

納米物體參數(shù)

5.27.2………………24

優(yōu)點(diǎn)

5.27.3…………………………25

局限性

5.27.4………………………25

被測(cè)量

5.27.5………………………25

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.27.6……………………25

掃描探針顯微術(shù)

5.28(SPM)…………26

描述

5.28.1…………………………26

納米物體參數(shù)

5.28.2………………26

優(yōu)點(diǎn)

5.28.3…………………………26

局限性

5.28.4………………………26

被測(cè)量

5.28.5………………………26

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.28.6……………………27

二次離子質(zhì)譜和飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜

5.29(SIMS)(TOF-SIMS)………………27

描述

5.29.1…………………………27

納米物體參數(shù)

5.29.2………………27

優(yōu)點(diǎn)

5.29.3…………………………27

局限性

5.29.4………………………27

被測(cè)量

5.29.5………………………28

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.29.6……………………28

射線小角散射法

5.30X(SAXS)………………………28

描述

5.30.1…………………………28

Ⅴ

GB/T41204—2021

納米物體參數(shù)

5.30.2………………28

優(yōu)點(diǎn)

5.30.3…………………………28

局限性

5.30.4………………………28

被測(cè)量

5.30.5………………………28

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.30.6……………………29

靜態(tài)光散射和靜態(tài)多重光散射

5.31(SLS)(SMLS)…………………29

描述

5.31.1…………………………29

納米物體參數(shù)

5.31.2………………29

優(yōu)點(diǎn)

5.31.3…………………………29

局限性

5.31.4………………………29

被測(cè)量

5.31.5(SLS)…………………30

被測(cè)量

5.31.6(SMLS)………………30

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

5.31.7……………………30

單粒子光干涉法

5.32…………………30

描述

5.32.1…………………………30

納米物體參數(shù)

5.32.2………………30

優(yōu)點(diǎn)

5.32.3…………………………30

局限性

5.32.4………………………30

被測(cè)量

5.32.5……………