GB/T 5095.2507-2021電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第25-7部分：試驗25g：阻抗、反射系數(shù)和電壓駐波比(VSWR)

ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標準

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

電子設備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-7部分試驗25

:g:

阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比VSWR

、()

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-7Test25

:g:

ImedancereflectioncoefficientandvoltaestandinwaveratioVSWR

p,,gg()

[IEC60512-25-7:2004,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-7:Test25g:Impedance,reflection

coefficient,andvoltagestandingwaveratio(VSWR),IDT]

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍和目的

1………………1

術語和定義

2………………1

試驗設施

3…………………2

設備

3.1…………………2

裝置

3.2…………………3

試驗樣品

4…………………4

說明

4.1…………………4

試驗程序

5…………………4

時域

5.1…………………4

頻域

5.2…………………5

相關標準應規(guī)定的細則

6…………………6

試驗記錄文件

7……………6

附錄規(guī)范性附錄測量系統(tǒng)上升時間

A()………………8

附錄資料性附錄樣品近端和遠端的確定

B()…………11

附錄資料性附錄校準標準和試驗板標準線路

C()……………………12

附錄資料性附錄阻抗曲線圖說明

D()TDR…………15

附錄資料性附錄電氣終端

E()…………17

附錄資料性附錄實用指南可變上升時間

F()———……………………19

附錄資料性附錄電子測量用印制電路板的設計依據(jù)

G()……………20

附錄資料性附錄試驗信號發(fā)射構件

H()………………24

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

前言

電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法按試驗方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號完整性試驗已經(jīng)發(fā)布或計劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗串擾比

———25-1:25a:;

第部分試驗衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗上升時間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗傳輸時延

———25-4:25d:;

第部分試驗回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗眼圖和抖動

———25-6:25f:;

第部分試驗阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號完整性試驗試驗外來串擾

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-7。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設備用連接器試驗和測量第部

IEC60512-25-7:2004《25-7

分試驗阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

:25g:、(VSWR)》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標準名稱由電子設備用連接器試驗和測量第部分試驗阻抗反射系數(shù)和電壓

———《25-7:25g:、

駐波比修改為電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第部分試

(VSWR)》《25-7:

驗阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

25g:、(VSWR)》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國電子設備用機電元件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團有限公司中國電子技術標準化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅰ

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

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電子設備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-7部分試驗25

:g:

阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比VSWR

、()

1范圍和目的

的本部分適用于互連組件如范圍內(nèi)的電連接器和電纜組件

GB/T5095,IECTC48。

本部分描述了在時域和頻域內(nèi)測量阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比的試驗方法

、(VSWR)。

注這些測試方法是為專業(yè)試驗人員編寫的這些試驗人員具備電子領域的專業(yè)知識并經(jīng)過使用測試設備的培訓

:,。

由于測量值受裝置和設備的強烈影響該方法未能敘述所有可能的復合作用主要設備制造廠提供的應用說

,。

明書對如何最恰當?shù)氖褂闷湓O備作了更深入的專業(yè)說明至關重要的是相關標準中宜包括讓試驗人員了解

,。

如何安排和進行所要求測量的說明和簡圖

。

2術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

。

21

.

測量系統(tǒng)上升時間measurementsystemrisetime

安裝就位無樣品并具有濾波或歸一化作用的裝置測量的上升時間通常測量的是

,()。,10%~

電平的上升時間

90%。

22

.

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號導線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器和信號源以

。、、

及裝置的寄生效應產(chǎn)生的

。

23

.

反射系數(shù)reflectioncoefficient

在任一給定點的反射電壓與入射電壓之比反射系數(shù)由式給出