- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.8-2017
- 2008-06-16 頒布
- 2009-03-01 實施
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文檔簡介
犐犆犛19.040
犓04
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜5170.8—2008
代替GB/T5170.8—1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
鹽霧試驗設(shè)備
犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—
犛犪犾狋犿犻狊狋狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
20080616發(fā)布20090301實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
書
犌犅/犜5170.8—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
5檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
6檢驗負(fù)載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
7檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
8檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
10檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
附錄A(規(guī)范性附錄)檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
Ⅰ
書
犌犅/犜5170.8—2008
前言
GB/T5170目前包含以下幾部分:
———GB/T5170.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
———GB/T5170.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
———GB/T5170.5—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備
———GB/T5170.8—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備
———GB/T5170.9—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備
———GB/T5170.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
———GB/T5170.11—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
———GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
機(jī)械振動臺
———GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
電動振動臺
———GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
液壓振動臺
———GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用
離心機(jī)
———GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱
綜合順序試驗設(shè)備
———GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)
試驗設(shè)備
———GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜
合試驗設(shè)備
———GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
本部分是GB/T5170的第8部分。
本部分代替GB/T5170.8—1996。與GB/T5170.8—1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備”更改為“電工電子
產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備”;
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;
———增加了“術(shù)語和定義”一章;
———增加了“溫度波動度”檢驗項目;
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目;
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目;
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目;
———增加了“噪聲”檢驗項目;
———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(犽=2)
的要求;
———增加了“檢驗負(fù)載”一章;
Ⅲ
犌犅/犜5170.8—2008
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
———增加了附錄A“檢驗項目的選擇”。
附錄A為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T5170.8—1985;
———GB/T5170.8—1996。
Ⅳ
犌犅/犜5170.8—2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
鹽霧試驗設(shè)備
1范圍
GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條
件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于GB/T2423.17《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka:鹽霧試驗
方法》和GB/T2423.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉
溶液)》所用鹽霧試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。
本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
對交變試驗所用濕熱試驗設(shè)備的檢驗見GB/T5170.5。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期
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