• 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.8-2008
  • 1996-12-13 頒布
  • 1997-11-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備_第1頁(yè)
GB/T 5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備_第2頁(yè)
GB/T 5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備_第3頁(yè)
GB/T 5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備_第4頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束,剩余4頁(yè)可下載查看

下載本文檔

文檔簡(jiǎn)介

ICS.19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.8一1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Saltmisttestingequipments1996-12-13發(fā)布1997-11-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.8-1996中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045電話:63787337、637874471997年9月第一版2005年1月電子版制作書號(hào):155066·1-14057版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:(010)68533533

CB/T5170.8-1996前本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)是GB5170.8—85的修訂本,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:-明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)-溫度測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2m2為界,不大于2m2時(shí)為9點(diǎn),大于2m2時(shí)為15點(diǎn)。溫度偏差的測(cè)量時(shí)間由24h縮短為30min.本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起,代替GB5170.8—85。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:謝建華、付文茹、陳學(xué)進(jìn)、薛振夷、王則燕.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)GB/T5170.8-1996檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備代替GB5170.8-85Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Saltmisttestingequipments1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢定項(xiàng)目、檢定用儀器、測(cè)量點(diǎn)的位置與數(shù)量、檢定步驃和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》和GB2423.18《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶液)》所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定對(duì)交變鹽霧試驗(yàn)所用濕熱試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定見(jiàn)GB/T5170.3。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)淮的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB/T2423.17—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法GB2423.18-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程:試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶GB/T5170.1一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法3檢定項(xiàng)目檢定項(xiàng)目包括:溫度偏差鹽霧沉降率。4檢定用主要儀器及要求4.1溫度測(cè)量?jī)x器采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測(cè)量?jī)x器,其系統(tǒng)精確度為士0.2℃,傳感器的熱時(shí)間常數(shù)不大于20

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè),非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論