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東南東南大學(xué)無(wú)錫分東南大學(xué)無(wú)錫第第五章
東南大學(xué)無(wú)錫分工作區(qū)?“薄膜1、生長(zhǎng)氧2 較熱生長(zhǎng):消耗硅,生成二氧§5.2氧化
東南大學(xué)無(wú)錫分 曝露在空氣化 槽東南大學(xué)無(wú)錫分p-Epitaxialp+Silicon場(chǎng)氧化氧化膜的用
東南大學(xué)無(wú)錫分PolysiliconGate p-Epitaxialp+Silicon氧化膜的用東南大氧化膜的用Phosphorusp-Epitaxialp+SiliconBarrier
東南大學(xué)無(wú)錫分SiliconSilicondioxidep+Silicon
東南大學(xué)無(wú)錫分GateGateTransistorp+Silicon
東南大學(xué)無(wú)錫分TransistorpTransistorp+Silicon
東南大學(xué)無(wú)錫分p+SiliconDiffused
東南大學(xué)無(wú)錫分DopantDopantspacerIonSpaceroxideprotectschannelfromhigh-energy
東南大學(xué)無(wú)錫分
PadBBgdILD-M-ILD-M-
東南大學(xué)無(wú)錫分Ion
p+SiliconHighdamagetouppersurface+more
Lowdamagetouppersurface+less
東南大學(xué)無(wú)錫分BondingpadBondingpad
BondingpadILD-M-ILD-M-§5.3熱氧化生東南§5.3熱氧化生各種要求下的氧化物厚Semiconductor Gateoxide(0.18m 20–Capacitor 5–400–Dopantmasking
(依賴于摻雜劑、注入能量、時(shí)間和溫度STIBarrier LOCOSPad 200–Field 2,500–在日光定照射下正面觀在日光定照射下正面觀察到熱生長(zhǎng)的SiO2薄膜顏色一、關(guān)于氧化的化學(xué)反一、關(guān)于氧化的化學(xué)反Si(s)O2(g)SiO2溫度和時(shí)間對(duì)干氧氧化物厚度的一、關(guān)于氧化的化學(xué)反一、關(guān)于氧化的化學(xué)反Si(s)2H2O(g)SiO2(s)2H2(g)溫度和時(shí)間對(duì)濕氧氧化物厚度的二、氧化生長(zhǎng)模
東南大學(xué)無(wú)錫分 tBefore After在氧化中硅的二、氧化生長(zhǎng)模
東南大學(xué)無(wú)錫分
二氧化硅的原子
在Si—SiO2界面的電荷東南大學(xué)無(wú)錫過(guò)渡層:Si與SiO2的混合狀過(guò)渡層:SiO2連續(xù)變不存在過(guò)渡與熱氧化硅相聯(lián)系的電與熱氧化硅相聯(lián)系的電四種電荷二、氧化生長(zhǎng)模
東南大學(xué)無(wú)錫分 dtoreaction
O,氧化層的氧AXBA t:生長(zhǎng)時(shí)
東南大學(xué)無(wú)錫分線性率常數(shù)與溫度的1X1
東南大學(xué)無(wú)錫分拋物線性率常數(shù)與溫度的二、氧化生長(zhǎng)模東南大學(xué)無(wú)錫分二、氧化生長(zhǎng)模
東南大學(xué)無(wú)錫分Pad(initial4.Si3N4
e
Si3N4掩蔽與刻
LOCOS場(chǎng)氧化層的剖選擇性氧化和鳥嘴效選擇性氧化和鳥嘴效NitrideoxidationSelectiveSilicon二、氧化生長(zhǎng)模
東南大學(xué)無(wú)錫分
氧化硅平坦化 5.氮化硅去
淺 (STI)的剖二、氧化生長(zhǎng)模硅片翹產(chǎn)生層狀缺Si—SiO2界面處形成的晶體缺
東南大學(xué)無(wú)錫分§5.4高溫爐設(shè)東§5.4高溫爐設(shè)立式爐系
東南大學(xué)無(wú)錫分 加熱器
傳統(tǒng)與快速升溫立式傳統(tǒng)與快速升溫立式爐的溫度曲 FastTemperatureTemperature
TemperatureTemperature
80100120140160Time
80100120140160Time東南大學(xué)無(wú)錫分傳統(tǒng)立式爐和RTP間的對(duì)
東南大學(xué)無(wú)錫分
熱壁Hot
冷壁Cold東南O2O2、H2、N2、
東南大學(xué)無(wú)錫分 步 時(shí)(分鐘
0000150020035004050060075008000東南后氧化評(píng)估:當(dāng)把硅片卸下后,要對(duì)硅片進(jìn)行檢測(cè)質(zhì)量參氧化物厚
東南大學(xué)無(wú)錫分﹡O2柵氧化物的完整
東南大學(xué)無(wú)錫分 氧化膜內(nèi)的顆東南氧化膜內(nèi)的顆﹡﹡氧化膜下的
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