YS/T 35-2012高純銻化學分析方法鎂、鋅、鎳、銅、銀、鎘、鐵、硫、砷、金、錳、鉛、鉍、硅、硒含量的測定高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法

ICS7704030

H13..

中華人民共和國有色金屬行業(yè)標準

YS/T35—2012

代替

YS/T35.1~35.4—1992

高純銻化學分析方法

鎂鋅鎳銅銀鎘鐵硫砷金

、、、、、、、、、、

錳鉛鉍硅硒含量的測定

、、、、

高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法

Methodforchemicalanalysisofhighpurityantimony—Determinationof

manesiumzincnickelcoersilvercadiumironsulfurarsenic

g,,,pp,,,,,,

oldmananeseleadbismuthsiliconselenium—Hih-mass

g,g,,,,g

resolutionglowdischargemassspectrometry

2012-12-28發(fā)布2013-06-01實施

中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布

YS/T35—2012

前言

本標準是按照給出的規(guī)則起草的

GB/T1.1—2009。

本標準代替高純銻化學分析方法

YS/T35.1~35.4—1992《》。

本標準與相比主要變化如下

YS/T35.1~35.4—1992:

對原標準進行了整合修訂合四為一采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜儀測定高純銻的化學

———,,

成分

。

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口

(SAC/TC243)。

本標準主要起草單位峨嵋半導體材料廠

:。

本標準參與起草單位北京有色金屬研究總院蘭州金川新材料科技股份有限公司

:、。

本標準主要起草人程高明李繼東孫平秦芳林楊衛(wèi)東丁國江廖敏丁翠邱平

:、、、、、、、、。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———YS/T35.1~35.4—1992。

Ⅰ

YS/T35—2012

高純銻化學分析方法

鎂鋅鎳銅銀鎘鐵硫砷金

、、、、、、、、、、

錳鉛鉍硅硒含量的測定

、、、、

高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法

1范圍

本方法規(guī)定了純度w高純銻中鎂鋅鎳銅銀鎘鐵硫砷金錳鉛鉍硅

(Sb)≥99.999%、、、、、、、、、、、、、、

硒含量的測定方法

。

本方法適用于純度w高純銻中鎂鋅鎳銅銀鎘鐵硫砷金錳鉛鉍硅

(Sb)≥99.999%、、、、、、、、、、、、、、

硒含量的測定各元素測定范圍為-7-4w

。1.0×10%~1.5×10%(%)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

金屬礦石及相關材料中涉及分析化學的相關術語

ASTME135、

3術語和定義

界定的以及下列術語適用于本文件

ASTME135。

31

.

高質(zhì)量分辨率high-massresolution

大于的質(zhì)量分辨率

3500。

4方法提要

41方法原理

.

將一個試樣安裝到等離子體放電室并對樣品進行濺射從試樣表面飛濺出來的原子被離子化聚

,。,

焦為離子束通過雙聚焦扇形磁場質(zhì)量分析儀此時質(zhì)譜離子流按磁場或加速電壓或二者進行掃

。,()()

描收集

。

42結果分析

.

421質(zhì)量Mi的同位素的離子流是測量的總離子流減去來自所有其他干擾源的貢獻部分一部分

..。

所測量離子流可能僅源自離子檢測器檢測器噪聲另一部分可能源自與所測雜質(zhì)元素質(zhì)量分辨不完

()。

全且質(zhì)量接近但不等于Mi的干擾元素或分子的離子信號在所有這些情況下必須對干擾貢獻部分

。,

進行評價并應從所測量的信號中扣除

,。

422如果在Mi處所測量的離子流中無法明確干擾部分