制程能力指數(shù)Ca或k1

制程能力指數(shù)Ca或k（準(zhǔn)確度；Accuracy）:表示制程特性中心位置的偏移程度，值等于零，即不偏移。值越大偏移越大，越小偏移越小。制程準(zhǔn)確度Ca（CapabilityofAccuracy）標(biāo)準(zhǔn)公式Cz?—k—\(USL+LSI：)(USL-LSL)/2簡易公式T=USL-LSL=規(guī)格上限-規(guī)格下限=規(guī)格公差PS.單邊規(guī)格（設(shè)計(jì)規(guī)格）因沒有規(guī)格中心值，故不計(jì)算Ca制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格，如此方可計(jì)算Ca（Xbar—卩） （實(shí)績平均值一規(guī)格中心值）Ca（k）= = （T/2） （規(guī)格公差/2）T=USL—LSL=規(guī)格上限一規(guī)格下限=規(guī)格公差單邊規(guī)格（設(shè)計(jì)規(guī)格）因沒有規(guī)格中心值，故不計(jì)算Ca制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格，如此方可計(jì)算Ca當(dāng)Ca=0時(shí)，代表量測制程之實(shí)績平均值與規(guī)格中心相同；無偏移當(dāng)Ca=±1時(shí)，代表量測制程之實(shí)績平均值與規(guī)格上或下限相同；偏移100%評等參考:Ca值愈小，品質(zhì)愈佳。依Ca值大小可分為四級(jí)

等級(jí)Ca值處理原則A0 三ICal三12.5%維持現(xiàn)狀B12.5%三ICalW25%改進(jìn)為A級(jí)C25%W|CaIW50%立即檢討改善D50%W|CaIW100%采取緊急措施，全面檢討必要時(shí)停工生產(chǎn)制程精密度Cp（CapabilityofPrecision）制程能力指數(shù)Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）：表示制程特性的一致性程度,值越大越集中，越小越分散。Cp-USL—LELf_Cp-或 ：雙邊能力指數(shù)（長期）Pp-雙邊績效指數(shù)（短期）GPU二史…單邊上限能力指數(shù)CPL二/1-LSL3&單邊下限能力指數(shù)USL：特性值之規(guī)格上限；即產(chǎn)品特性大于USL在工程上將造成不合格LSL：特性值之規(guī)格下限；即產(chǎn)品特性小于LSL在工程上將造成不合格/A“：制程平均數(shù)估計(jì)值；即制程目前特性值的中心位置b：制程標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值；即制程目前特性值的一致程度PS制程特性定義單邊規(guī)格(設(shè)計(jì)規(guī)格)因沒有規(guī)格上限或下限沒有規(guī)格下限Cp=CPU=Cpk沒有規(guī)格上限Cp=CPL=Cpk綜合制程能力指數(shù)Cpk：同時(shí)考慮偏移及一致程度。Cpk= (1—k)xCp或MIN{CPU,CPL}Ppk=(1—k)xPp或MIN{PPU,PPL}(X-M)K=|Ca|= (T/2)PS.制程特性定義單邊規(guī)格(設(shè)計(jì)規(guī)格)因沒有規(guī)格上限或下限沒有規(guī)格下限Cp=CPU=Cpk沒有規(guī)格上限Cp=CPL=Cpk評等參考當(dāng)Cpk值愈大，代表制程綜合能力愈好。等級(jí)判定：依Cpk值大小可分為五級(jí)等級(jí)Cpk值處理原則A+1.67三Cpk無缺點(diǎn)考慮降低成本A1.33三Cpk三1.67維持現(xiàn)狀B1 WCpkW1.33有缺點(diǎn)發(fā)生C0.67WCpkW1立即檢討改善DCpkW0.67采取緊急措施，進(jìn)行品質(zhì)改善，并研討規(guī)格估計(jì)制程不良率ppm：制程特性分配為常態(tài)時(shí)，可用標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配右邊機(jī)率估計(jì)。等級(jí)處理原則無規(guī)格界限時(shí)PuSL — ***Plsl — ***p = ***單邊上限(USL)Pusl = P[Z>ZUSL]Plsl = ***P =Pusl單邊下限(LSL)Pusl = ***Plsl = P[Z>Zlsl]P = Plsl雙邊規(guī)格(USL,LSL)Pusl =P[Z>Zusl]Plsl =P[Z>Zlsl]P =Pusl+PlslZUSL=CPUx3,ZLSL=CPLx3估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差(EstimatedStandardDeviation)1.當(dāng)STDTYPE=TOTAL；制程變異存有特殊原因及共同原因時(shí)，以此估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差。1.7=」另另3訂-癥7=」另另3訂-癥一1)2.當(dāng)STDTYPE=sbar/c4；使用XBAR-s管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且2.特性的分配為常態(tài)時(shí)，以此估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差。J-1J-13.組標(biāo)準(zhǔn)差(SubgroupStandardDeviation)標(biāo)準(zhǔn)差平均樣本組數(shù)組中位數(shù)(SubgroupMedian)X3.組標(biāo)準(zhǔn)差(SubgroupStandardDeviation)標(biāo)準(zhǔn)差平均樣本組數(shù)組中位數(shù)(SubgroupMedian)Xi=XMED中位數(shù)平均戸二壬XJki-l當(dāng)STDTYPE=Rbar/d2；使用XBAR=R管制圖分析制程，制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的分配為常態(tài)時(shí)，以此估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差。總二壬RJk全距平均制程能力分析圖（ProcessCapabilityAnalysis）數(shù)據(jù)常因測定單位不同，而無法相互比較制程特性在品質(zhì)上的好壞。因此，定義出品質(zhì)指針來衡量不同特性的品質(zhì)，在工業(yè)上是很重要的一件事情。制程能力指數(shù)是依特性值的規(guī)格及制程特性的中心位置及一致程度，來表示制程中心的偏移及制程均勻度。基本上，制程能力分析必須先假設(shè)制程是在管制狀態(tài)下進(jìn)行，也就是說制程很穩(wěn)定，以及特性分配為常態(tài)分配；如此，數(shù)據(jù)的分析才會(huì)有合理的依據(jù)。表示制程特性的一致性程?制程能力指數(shù)Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）：表示制程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。卬二哄3印二或USL-LSL雙邊能力指數(shù)（長期）Pp^USL-LSL6&雙邊績效指數(shù)卬二哄3印二或USL-LSL雙邊能力指數(shù)（長期）Pp^USL-LSL6&雙邊績效指數(shù)（短期）CPU二USL-fi3&單邊上限能力指數(shù)CPL二/1-LSL3&單邊下限能力指數(shù)USL：特性值之規(guī)格上限；即產(chǎn)品特性大于USL在工程上將造成不合格LSL：特性值之規(guī)格下限；即產(chǎn)品特性小于LSL在工程上將造成不合格n：制程平均數(shù)估計(jì)值；即制程目前特性值的中心位置b：制程標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值；即制程目前特性值的一致程度?制程能力指數(shù)Ca或k（準(zhǔn)確度；Accuracy）：表示制程特性中心位置的偏移程度，值等于零，即不偏移。值越大偏移越大，越小偏移越小。Ca-k\(USL+Ca-k\(USL+LSL)/2-(USL-LSL)/2?綜合制程能力指數(shù)Cpk:同時(shí)考慮偏移及一致程度。Cpk= (1—k)xCp或MIN{CPU,CPL}Ppk(1—k)xPp或MIN{PPU,PPL}Ppk解說」。制程能力研究在于確認(rèn)這些特性符合規(guī)格的程度，以保證制程成品不符規(guī)格的不良率在要求的水準(zhǔn)之上，作為制程持續(xù)改善的依據(jù)。制程能力研究的時(shí)機(jī)分短期制程能力研究及長期制程能力研究，短期著重在新產(chǎn)品及新制程的試作、初期生產(chǎn)、工程變更或制程設(shè)備改變等階段；長期以量產(chǎn)期間為主。制程能力指針Cp或Cpk之值在一產(chǎn)品或制程特性分配為常態(tài)且在管制狀態(tài)下時(shí)，可經(jīng)由常態(tài)分配之機(jī)率計(jì)算，換算為該產(chǎn)品或制程特性的良率或不良率，同時(shí)亦可以幾Sigma來對照。計(jì)數(shù)值統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的數(shù)量表示缺點(diǎn)及不良(DefectsVS.Defectives)缺點(diǎn)代表一單位產(chǎn)品不符要求的點(diǎn)數(shù)，一單位產(chǎn)品不良可能有一個(gè)缺點(diǎn)或多個(gè)缺點(diǎn)，此為計(jì)點(diǎn)的品質(zhì)指針。例如描述一匹布或一鑄件的品質(zhì)，可用每公尺棉布有幾個(gè)疵點(diǎn)，一鑄件表面有幾個(gè)氣孔或砂眼來表達(dá)，無塵室中每立方公尺含微粒之個(gè)數(shù)，一片PCB有幾個(gè)零件及幾個(gè)焊點(diǎn)有缺點(diǎn)，一片按鍵有幾個(gè)雜質(zhì)、包風(fēng)、印刷等缺點(diǎn)，這些都是以計(jì)點(diǎn)方式表示一單位產(chǎn)品的特性值。不良代表一單位產(chǎn)品有不符要求的缺點(diǎn)，可能有一個(gè)或一個(gè)以上，此將產(chǎn)品分類為好與壞、良與不良及合格與不合格等所謂的通過一不通過(Go-NoGo)的衡量方式稱為計(jì)件的品質(zhì)指針。例如單位產(chǎn)品必須以二分法來判定品質(zhì)，不良的單位產(chǎn)品必須報(bào)廢或重修,這是以計(jì)件方式來表示一單位產(chǎn)品的特值。每單位缺點(diǎn)數(shù)及每百萬機(jī)會(huì)缺點(diǎn)數(shù)(DPUVS.DPMO)一單位產(chǎn)品或制程的復(fù)雜程度與其發(fā)生缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)有直接的關(guān)系，越復(fù)雜容易出現(xiàn)缺點(diǎn)；反之越簡單越不容易出現(xiàn)缺點(diǎn)。因此，以每單位缺點(diǎn)數(shù)(DPU)來比較復(fù)雜程度不同的產(chǎn)品或制程品質(zhì)是不公平的，在管理上必須增加一個(gè)衡量產(chǎn)品或制程復(fù)雜程度的指針，SixSigma以發(fā)生缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)(Opportunities)來衡量。DPU是代表每件產(chǎn)品或制程平均有幾個(gè)缺點(diǎn)，而DPMO是每檢查一百萬個(gè)機(jī)會(huì)點(diǎn)平均有幾個(gè)缺點(diǎn)。一個(gè)機(jī)會(huì)點(diǎn)代表一產(chǎn)品或制程可能會(huì)出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)，它可能是一個(gè)零件、特性、作業(yè)等等。先進(jìn)的SixSigma推廣機(jī)構(gòu)建義下列幾個(gè)規(guī)則依其復(fù)雜程度來計(jì)算一個(gè)產(chǎn)品或制程出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)數(shù)(Opportunities)。單位缺點(diǎn)數(shù)(DPU):DPU=總?cè)秉c(diǎn)數(shù)/總檢驗(yàn)單位數(shù)=Defects/Units一般產(chǎn)品只要有一個(gè)缺點(diǎn)就應(yīng)視為不良品，但是一個(gè)不良品可能有一個(gè)以上的缺點(diǎn)，因此以平均每件幾個(gè)缺點(diǎn)較能完全表示品質(zhì)，以DPU(DefectsPerUnit)為單位。DPMO=(總?cè)秉c(diǎn)數(shù)/總?cè)秉c(diǎn)機(jī)會(huì)數(shù))x10=Defects/(0pportunities/UnitXJnits)X10一般不同產(chǎn)品的每件檢點(diǎn)數(shù)不同，檢點(diǎn)數(shù)愈多，出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)越多，DPU就可能愈大，以DPU的大小來比較產(chǎn)品品質(zhì)的好壞似乎不太合理，除非這些產(chǎn)品的復(fù)雜程度差不多，因此用總出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)數(shù)數(shù)與總?cè)秉c(diǎn)數(shù)之比來比較品質(zhì)會(huì)客觀一點(diǎn)，以DPMO(DefectsPerMillionOpportunities)為單位。DPU是代表每件產(chǎn)品或制程平均有幾個(gè)缺點(diǎn)，而DPMO是每檢查一百萬個(gè)機(jī)會(huì)點(diǎn)平均有幾個(gè)缺點(diǎn)。一個(gè)機(jī)會(huì)點(diǎn)代表一產(chǎn)品或制程可能會(huì)出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)，它可能是一個(gè)零件、特性、作業(yè)等等。先進(jìn)的SixSigma推廣機(jī)構(gòu)建義下列幾個(gè)規(guī)則依其復(fù)雜程度來計(jì)算一個(gè)產(chǎn)品或制程出現(xiàn)缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)數(shù)(Opportunities)。XBAR—R管制圖分析(X-RControlChart)由平均數(shù)管制圖與全距管制圖組成。?品質(zhì)數(shù)據(jù)可以合理分組時(shí)，可以使用X管制圖分析或管制制程平均；使用R管制圖分析制程變異。?工業(yè)界最常使用的計(jì)量值管制圖。X-R管制圖數(shù)據(jù)表：序號(hào)日期時(shí)間觀測值XRXiX2 ??……Xn1XiiX12………X1nX1R12X21X22 X2nX2R2kXkiXk2XknXkRkXi=EXij/n, Ri=max{X^}-min{X^}寰=EXi/k,R=ERi/k3.管制界限：假設(shè)管制特性的分配為N(u,o2)注：有關(guān)常數(shù)可以對照本附錄最后所列之表2或表3。