承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)之超聲檢測(cè)

承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)共8章14個(gè)附錄JB/T4730.3超聲檢測(cè)主要修改內(nèi)容1.承壓設(shè)備用原材料零部件超聲檢測(cè)①增加了奧氏體鋼板，鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼板材超聲檢測(cè)。②鍛件探傷中增加了對(duì)壁厚小于3N工件材質(zhì)衰減系數(shù)測(cè)定計(jì)算公式進(jìn)行修正。③增加了承壓設(shè)備用鋁及鋁合金板材，鈦及鈦合金板材超聲檢測(cè)的內(nèi)容。④承壓設(shè)備用復(fù)合鋼板檢測(cè)適用于軋制和爆炸復(fù)合鋼板，對(duì)基板材料和復(fù)層材料作了明確規(guī)定。⑤增加雙相鋼鍛件超聲檢測(cè)（雙相鋼為鐵素體加奧氏體或珠光體加奧氏體的機(jī)械混合物，在甲氨為介質(zhì)的設(shè)備中大量應(yīng)用）奧氏體含量＜50％，按JB/T4730.3-4.2規(guī)定檢測(cè)，奧氏體含量在50％～80％之間時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，根據(jù)對(duì)比試驗(yàn)結(jié)果確定采用JB/T4730.3中4.2規(guī)定還是4.7規(guī)定進(jìn)行超聲檢測(cè)。當(dāng)奧氏體含量＞80％時(shí)，可采用JB/T4730.3中4.7規(guī)定進(jìn)行超聲檢測(cè)。2.承壓設(shè)備焊接接頭超聲波檢測(cè)①板厚檢測(cè)范圍擴(kuò)大到6～400mm,增加6～8mm對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)附錄。目的：滿足厚壁容器（如加氫反應(yīng)器等）和薄壁容器（如制冷設(shè)備和壓縮機(jī)等輔助壓力容器等）的檢測(cè)要求。②增加焊接接頭超聲檢測(cè)等級(jí)分類的內(nèi)容。將焊接接頭檢測(cè)分為A、B、C三個(gè)級(jí)別。③增加鋼制承壓設(shè)備T型焊接接頭超聲檢測(cè)（主要用于鍋爐和換熱器）。④增加奧氏體鋼對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)內(nèi)容。3.壓力管道和管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)①增加壁厚≥4.0mm，外徑為32～159mm或壁厚≥4.0～6mm，外徑≥159mm的鋼制壓力管道和管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)內(nèi)容。②規(guī)定壓力管道和管子焊接接頭縱焊縫、螺旋焊縫超聲檢測(cè)可按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行（滿足長(zhǎng)輸管道檢測(cè)要求）。③增加壁厚大于或等于5mm，外徑為80mm～159mm；或壁厚5.0～8mm，外徑大于或等于159mm鋁及鋁合金接管環(huán)焊縫超聲檢測(cè)內(nèi)容。4.在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)①增加在用螺栓件的超聲檢測(cè)方法內(nèi)容；②增加超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定量的方法內(nèi)容：測(cè)定缺陷自身高度：端點(diǎn)衍射法（TOFD），6dB法，端部最大回波法，AVG法等。③增加超聲檢測(cè)確定缺陷類型（點(diǎn)狀，線狀，體積狀和面積狀，其中面積狀分光滑和粗糙面及多重的判斷方法和缺陷性質(zhì)估判的內(nèi)容（程序和方法）。④增加在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)的缺陷記錄和檢測(cè)程序。1.適用范圍JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)為檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)1）檢測(cè)設(shè)備：A型脈沖反射式超聲波探傷儀；制造原材料零部件焊接接頭在用承壓設(shè)備

2）被檢設(shè)備（金屬材料制）支承件和結(jié)構(gòu)件1、A型顯示：是我們常用的一種波形顯示，熒光屏的橫坐標(biāo)表示超聲波的傳播時(shí)間（或距離），縱坐標(biāo)表示超聲反射波的波幅。探頭向工件周期性發(fā)射不連續(xù)且頻率不變的超聲波，根據(jù)聲波的傳播時(shí)間及反射幅度來(lái)判斷工件中缺陷的位置和大小。2、B型顯示超聲波探傷儀：B型顯示是一種圖像顯示，探傷儀熒光屏的橫坐標(biāo)表示探頭機(jī)械掃描的掃查軌跡，縱坐標(biāo)表示超聲波的傳播時(shí)（或距離），可直觀顯示被檢工件任一縱截面上缺陷的分布和缺陷的深度。3、C型顯示超聲波探傷儀：C型顯示也是一種圖像顯示，熒光屏的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)都是靠機(jī)械掃描來(lái)表示探頭在工件表面的位置。探頭接收反射波的幅度以光點(diǎn)輝度表示。當(dāng)探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)，熒光屏上可顯示工件內(nèi)部缺陷的平面圖像，但不能表示深度。標(biāo)準(zhǔn)采用的是A型顯示脈沖反射式超聲波探傷儀。3一般要求3.1超聲檢測(cè)人員超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合JB/T4730.1的有關(guān)規(guī)定.3.2檢測(cè)設(shè)備3.2.1超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。目的:規(guī)范國(guó)內(nèi)的市場(chǎng)

3.2.2探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1探傷儀(1)探傷儀性能。①頻率：0.5MHz～10MHz；主要考慮粗晶材料采用低頻，薄工件采用高頻。故頻率范圍擴(kuò)大（原為1～5MHZ）。②垂直線性：在熒光屏滿刻度的80％范圍內(nèi)呈線性，誤差不大于5％；③水平線性：誤差不大于1％；④衰減器：80dB以上連續(xù)可調(diào)，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不大于1dB。(2)探頭。①晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm；②單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°。主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。

對(duì)探頭面積，晶片任一邊長(zhǎng)、主聲束偏離角及雙峰等主要參數(shù)作出規(guī)定。主要考慮對(duì)缺陷定位和發(fā)現(xiàn)缺陷的能力等因素。

(3)超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能。①在達(dá)到所檢測(cè)工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB；②儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10％；

探頭與儀器組合后的實(shí)際頻率不等于探頭公稱頻率，也不等于探頭本身頻率。③儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)：頻率為5MHz的探頭，寬度≤10mm；頻率為2.5MHz的探頭，寬度≤15mm；④直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)≥30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)≥6dB。3.3超超聲檢檢測(cè)一般般方法3.3.1.2對(duì)對(duì)檢測(cè)面面的要求求：所確確定檢測(cè)測(cè)面應(yīng)保保證工件件被檢部部分均能能得到充充分檢查查。3.3.1.3對(duì)對(duì)焊縫的的表面質(zhì)質(zhì)量的要要求：1）應(yīng)經(jīng)經(jīng)外觀檢檢測(cè)合格格；2）清除除所有影影響超聲聲檢測(cè)的的銹蝕、、飛濺和和污物等等；3）其表表面粗糙糙度應(yīng)符符合檢測(cè)測(cè)要求；；4）表面面的不規(guī)規(guī)則狀態(tài)態(tài)不得影影響檢測(cè)測(cè)結(jié)果的的正確性性和完整整性，否否則應(yīng)做做適當(dāng)?shù)牡奶幚?。。檢測(cè)時(shí)機(jī)機(jī)及抽檢檢率相關(guān)法規(guī)規(guī)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)文件件3.3.1檢測(cè)測(cè)準(zhǔn)備掃查覆蓋蓋率≥15%掃查方向探頭探頭移動(dòng)方向≥15%掃查方向探頭探頭移動(dòng)方向探頭運(yùn)行行的要求求探頭的移移動(dòng)速度度大于探頭頭直徑的的15%。不應(yīng)超過(guò)過(guò)150mm/s。當(dāng)當(dāng)采用自自動(dòng)報(bào)警警裝置掃掃查時(shí)，，不受此此限。3.3.4掃掃查靈靈敏度掃查靈敏敏度通常常不得低低于基準(zhǔn)準(zhǔn)靈敏度度?；鶞?zhǔn)靈敏敏度一般般指的是是記錄靈靈敏度，，它通常常用于缺缺陷的定定量和缺缺陷的等等級(jí)評(píng)定定。掃查靈敏度則則主要指實(shí)際際檢測(cè)靈敏度度。因?yàn)閽卟闀r(shí)，，儀器顯示信信號(hào)幅度(動(dòng)動(dòng)態(tài)）要比靜靜態(tài)時(shí)低，而而且確定基準(zhǔn)準(zhǔn)靈敏度時(shí)為為靜態(tài)信號(hào)，，為了不漏檢檢缺陷,所以以掃查靈敏度度要高于基準(zhǔn)準(zhǔn)靈敏度。3.3.5耦耦合劑對(duì)耦合劑的要要求：a)透透聲性好;b)不損傷檢檢測(cè)表面；標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)推薦使用用的如機(jī)油、、漿糊、甘油油和水等。應(yīng)當(dāng)注意：1）用于鎳基合金的耦合合劑硫含量不不應(yīng)大于250ppm；；2）用于奧氏氏體不銹鋼、、鈦合金的耦耦合劑鹵素(氯加氟)含含量不大于250ppm。3.3.6靈靈敏度補(bǔ)補(bǔ)償（三種方方式）a)耦合合補(bǔ)償。在檢檢測(cè)和缺陷定定量時(shí)，應(yīng)對(duì)對(duì)由表面粗糙糙度引起的耦耦合損失進(jìn)行行補(bǔ)償。b)衰減減補(bǔ)償。在檢檢測(cè)和缺陷定定量時(shí)，應(yīng)對(duì)對(duì)材質(zhì)衰減引引起的檢測(cè)靈靈敏度下降和和缺陷定量誤誤差進(jìn)行補(bǔ)償償。c)曲面面補(bǔ)償。對(duì)探探測(cè)面是曲面面的工件，應(yīng)應(yīng)采用曲率半半徑與工件相相同或相近的的試塊，通過(guò)過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償償。3.4系系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)復(fù)核3.4.1一一般要求求1）規(guī)定了系系統(tǒng)校準(zhǔn)所有有時(shí)所用試塊塊：標(biāo)準(zhǔn)試塊塊；2）校準(zhǔn)中應(yīng)應(yīng)使探頭主聲聲束垂直對(duì)準(zhǔn)準(zhǔn)反射體的反反射面，以獲獲得穩(wěn)定和最最大的反射信信號(hào)。3.4.2儀儀器校準(zhǔn)準(zhǔn)1）規(guī)定了儀儀器校準(zhǔn)周期期：至少每隔隔3個(gè)月校準(zhǔn)準(zhǔn)一次；2）校準(zhǔn)項(xiàng)目目：測(cè)定水平平線性和垂直直線性；3）測(cè)定方法法：按JB/T10061的規(guī)定定。新購(gòu)探頭1、前沿距離離2、K值3、主聲束偏偏離4、靈敏度余余量5、分辨力1、探頭性能能參數(shù)說(shuō)明書(shū)書(shū)2、測(cè)定3.4.3新新購(gòu)探頭測(cè)定定3.4.4檢檢測(cè)前儀儀器和探頭系系統(tǒng)測(cè)定儀器—斜探頭系統(tǒng)1、前沿距離2、K值3、主聲束偏離4、調(diào)節(jié)或復(fù)核1、掃描量程2、掃查靈敏度儀器—直探頭系統(tǒng)1、始脈沖寬度2、靈敏度余量3、分辨力4、調(diào)節(jié)或復(fù)核1、掃描量程2、掃查靈敏度3.4.5檢檢測(cè)過(guò)程程中儀器和探探頭系統(tǒng)的復(fù)復(fù)核遇有下述情況況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)進(jìn)行復(fù)核：a)校準(zhǔn)準(zhǔn)后的探頭、、耦合劑和儀儀器調(diào)節(jié)旋鈕鈕發(fā)生改變時(shí)時(shí)；b)檢測(cè)測(cè)人員懷疑掃掃描量程或掃掃查靈敏度有有變化時(shí)；C)連續(xù)續(xù)工作4h以以上時(shí)；d)工作作結(jié)束時(shí)。3.4.6檢檢測(cè)結(jié)束束前儀器和探探頭系統(tǒng)的復(fù)復(fù)核a)每次次檢測(cè)結(jié)束前前，應(yīng)對(duì)掃描描量程進(jìn)行復(fù)復(fù)核，按水平、深度度或聲程調(diào)節(jié)節(jié)的，則復(fù)核核水平、深度度或聲程。如果任意一點(diǎn)點(diǎn)在掃描線上上的偏移超過(guò)過(guò)掃描線讀數(shù)數(shù)的10%，，處理方法：：1）必須重重新調(diào)整掃描描量程；2））對(duì)上一次復(fù)復(fù)核以來(lái)所有有的檢測(cè)部位位進(jìn)行復(fù)檢。。b)每次次檢測(cè)結(jié)束前前，應(yīng)對(duì)掃查查靈敏度進(jìn)行行復(fù)核。一般般對(duì)距離—波波幅曲線的校校核不應(yīng)少于于3點(diǎn)。如曲曲線上任何一一點(diǎn)幅度下降降2dB，則則應(yīng)對(duì)上一次次復(fù)核以來(lái)所所有的檢測(cè)部部位進(jìn)行復(fù)檢檢；如幅度上上升2dB，，則應(yīng)對(duì)所有有的記錄信號(hào)號(hào)進(jìn)行重新評(píng)評(píng)定。曲線上任意點(diǎn)點(diǎn)的幅度下降降說(shuō)明檢測(cè)靈靈敏度低，有有可能造成漏漏檢。上升說(shuō)說(shuō)明靈敏度高高，有可能將將合格的定為為不合格。3.4.7校校準(zhǔn)、復(fù)復(fù)核的有關(guān)注注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和和對(duì)儀器進(jìn)行行線性檢測(cè)時(shí)時(shí)，任何影響響儀器線性的的控制器（如如抑制或?yàn)V波波開(kāi)關(guān)等）都都應(yīng)放在“關(guān)關(guān)”的位置或或處于最低水水平上。3.5試試塊3.5.1標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)試塊塊3.5.1.1標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)試塊是指本本部分規(guī)定的的用于儀器探探頭系統(tǒng)性能能校準(zhǔn)和檢測(cè)測(cè)校準(zhǔn)的試塊塊，本部分采采用的標(biāo)準(zhǔn)試試塊有：a)鋼板板用標(biāo)準(zhǔn)試塊塊：CBⅠ、CBⅡ；b)鍛件件用標(biāo)準(zhǔn)試塊塊：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ；c)焊接接接頭用標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)試塊：CSK-ⅠA、CSK-ⅡⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。3.5.1.2標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采采用與被檢工工件聲學(xué)性能能相同或近似似的材料制成成，該材料用用直探頭檢測(cè)測(cè)時(shí)，不得有有大于或等于于φ2mm平底孔孔當(dāng)量直徑的的缺陷。3.5.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊塊尺寸精度應(yīng)應(yīng)符合本部分分的要求，并并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部部門(mén)檢定合格格。3.5.2對(duì)比試塊3.5.2.1對(duì)比比試塊是指用用于檢測(cè)校準(zhǔn)準(zhǔn)的試塊。3.5.2.2對(duì)比比試塊的外形形尺寸應(yīng)能代代表被檢工件件的特征，試試塊厚度應(yīng)與與被檢工件的的厚度相對(duì)應(yīng)應(yīng)。如果涉及及到兩種或兩兩種以上不同同厚度部件焊焊接接頭的檢檢測(cè)，試塊的的厚度應(yīng)由其其最大厚度來(lái)來(lái)確定。3.5.2.3對(duì)比比試塊反射體體的形狀、尺尺寸和數(shù)量應(yīng)應(yīng)符合本部分分的規(guī)定。舉例1、