TT220數(shù)字式涂層測厚儀使用說明

TT220第一章概述一、TT220涂層測厚儀適用范圍本儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、周密地進(jìn)展磁性金業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。二、根本原理TT220數(shù)字式涂層測厚儀承受了磁性測厚法、可無損傷地測量磁性金屬基體上非磁性掩蓋層的厚度〔如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層〕。根本工作原理是：當(dāng)測頭與三、根本配置及儀器構(gòu)造⒈根本配置TT22011盒1塊1個⒉選購件TA2101臺⒊儀器構(gòu)造本儀器根本組成局部見圖1。MODE鍵⒍ON/C13一、性能指標(biāo)⒈測量范圍及測量誤差〔見表一〕表一示值誤差〔μm〕型號工作原理測量范圍〔μm〕低限區(qū)分力〔μm〕零點(diǎn)校準(zhǔn)二點(diǎn)校準(zhǔn)TT220磁感應(yīng)0~12501±〔3%H+1〕，±[〔1%~3%〕H+1]型號待測基體最小曲率半徑〔mm〕基體最小面積的直徑〔mm〕〔mm〕TT2201.5970.5注：H—標(biāo)稱值⒉使用環(huán)境：溫度：0~40℃20%～75%無強(qiáng)磁場環(huán)境3.6V二節(jié)⒋外型尺寸：150mm×55.5mm×23mm150g二、主要功能可進(jìn)展零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用根本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)展修正；具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式〔CONTINUE〕和單次測量方式〔SINGLE〕；具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；具有刪除功能：對測量中消滅的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)展刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的全部數(shù)據(jù)，以便進(jìn)展的測量；測試次數(shù)〔NO．〕、標(biāo)準(zhǔn)偏差〔S．DEV〕；具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計(jì)值；具有欠壓指示功能；操作過程有蜂鳴聲提示；具有錯誤提示功能；具有自動關(guān)機(jī)功能。4第三章使用方法一、根本測量步驟⒈預(yù)備好待測試件〔參見第五章〕。⒉將測頭置于開放空間，按一下“ON/C”鍵，開機(jī)。⒊檢查電源無“╪”顯示，表示電池電壓正常；“╪”消滅，表示電池電壓已低落，應(yīng)充電；開機(jī)后，消滅“╪”并自動關(guān)機(jī)，表示電池電壓已低至極限，應(yīng)馬上充電。⒋正常狀況下，開機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測量值。⒌是否需要校準(zhǔn)儀器，假設(shè)需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)展〔參見第四章〕。⒍測量示測量值，提起測頭可進(jìn)展下次測量；假設(shè)在測量中測頭放置不穩(wěn)，顯示一個明顯的可疑值，可在“DELONE？”狀態(tài)刪除該值；重復(fù)測“DISSTATS？”平均值〔MEAN〕、最大測量值〔MAX〕、最小測量值〔MIN〕、測〔NO．〕、標(biāo)準(zhǔn)偏差〔S．DEV〕。⒎關(guān)機(jī)2~3min后儀器自動關(guān)機(jī)。二、TT220⒈測量方式〔單次測量連續(xù)測量〕1測量結(jié)果。如假設(shè)再測量，須提起測頭離開被測件，然后再壓下測頭。連續(xù)測量方式──不提起測頭測量，測量過程中不伴鳴響，顯示屏連續(xù)顯示測量結(jié)果。兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，按住“MODE”鍵后，再按“ON/C”鍵，隨著一聲鳴響，轉(zhuǎn)換完成。單次測量方式，屏幕顯示如下：連續(xù)測量方式，屏幕顯示如下：30μmSINGLECONTINUE5⒉工作方式〔直接方式成組方式〕直接〔DIRECT〕方式──此方式用于隨便性測量，測量值暫存在內(nèi)存單元〔15個存貯單元〕15個存貯單元，的測15個數(shù)據(jù)；成組方式〔BATCH〕──此方式便于用戶分批記錄所測試的數(shù)據(jù)，一組最多15個數(shù)值，每當(dāng)存滿一組〔15個〕數(shù)據(jù)，屏幕將顯示此時可用“PRINTALL？”打印出該組數(shù)值及其統(tǒng)計(jì)計(jì)算值。用“DELALL？”刪除該組數(shù)據(jù)，否則不能進(jìn)展的測量。成組方式避開了直接方式下值替舊值的隨便性。兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：按“MODE”鍵直至屏幕顯示，按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示進(jìn)入直接方式。按“MODE”鍵直至屏幕顯示，按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示進(jìn)入成組方式。⒊刪除刪除當(dāng)前值：當(dāng)前測量結(jié)果假設(shè)消滅較大誤差，且不期望此結(jié)果“MODE”“ON/C”鍵即可將此數(shù)據(jù)刪除〔假設(shè)不想刪除，在Tested15!DIRECT？DIRECTBATCH？BATCHDELONE？6“DELONE？”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可〕。刪除全部數(shù)據(jù)：假設(shè)要刪除內(nèi)存中的全部數(shù)據(jù)以便進(jìn)展一輪測量，可按“MODE”鍵，直至屏幕提示，此時，按“ON/C”鍵即可將內(nèi)存全部數(shù)據(jù)刪除〔假設(shè)不想刪除，在“DELALL？”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可〕。⒋統(tǒng)計(jì)計(jì)算只要有33次“MODE”鍵直至屏幕顯示，按▲或▼鍵，平均值〔MEAN〕、、標(biāo)準(zhǔn)偏差〔S．DEV〕可依次顯示。例如：假設(shè)要回到測量狀態(tài)，按“MODE”鍵或“ON/C”鍵即可。⒌打印功能單次打印──與單次測量方式相對應(yīng)，每測量一次，打印一個測量值。操作方式是：在單次測量方式下，按“MODE”鍵直至屏幕顯示，按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示DELALL？DIS．STATS？MEAN100μmMAX103μmMIN99μmNO.5S.DEV1.6μmPRTONE？7“PRTONE？”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可。連續(xù)打印──連續(xù)打印既適用于單次測量方式也適用于連續(xù)測量方式，內(nèi)存中的全部測量值及統(tǒng)計(jì)值一并打印輸出。操作方法是：按“MODE”“ON/C”“PRTALL？”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可。打印機(jī)與本儀器的連接印連線一頭接打印機(jī)，另一頭接本儀器，翻開打印機(jī)電源，按上述方法操作即可。⒍關(guān)于“MODE”鍵按住“MODE”鍵不松開，各狀態(tài)提示將依次消滅。為使測量準(zhǔn)確，應(yīng)在測量場所對儀器進(jìn)展校準(zhǔn)。一、校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片〔包括箔和基體〕準(zhǔn)片。⒈校準(zhǔn)箔對本儀器“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)。⒉有掩蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片承受厚度的、均勻的、并與基體結(jié)實(shí)結(jié)合的掩蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對于本儀器，掩蓋層應(yīng)是非磁性的。二、基體⒈對于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和外表粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬PRTON、PRTALL？、PRTON8得的讀數(shù)進(jìn)展比較。⒉假設(shè)待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可承受下面兩種方法進(jìn)展校準(zhǔn)：在與待測試件的基體金屬厚度一樣的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；但必需使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有掩蓋層的試件，不能承受襯墊法。⒊假設(shè)待測掩蓋層的曲率已到達(dá)不能在平面上校準(zhǔn)，則有掩蓋層的。三、校準(zhǔn)方法本儀器有兩種測量中使用的校準(zhǔn)方法，零點(diǎn)校準(zhǔn)；二點(diǎn)校準(zhǔn)；還有一種針對測頭的根本校準(zhǔn)。⒈零點(diǎn)校準(zhǔn)在基體上進(jìn)展一次測量，儀器顯示＜×.×μm＞。按一下“ON/C”鍵，屏顯＜0.00μm＞即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。a、b以獲得基體測量值小于1μm，這樣有利于提高測量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)展測量了。⒉二點(diǎn)校準(zhǔn)先校零點(diǎn)〔見上〕。在厚度大致等于估量的待測掩蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)展一次測量，屏幕顯示＜×××μm＞。可以開頭測量了。留意：即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值符合，按▲、▼鍵也是必不行少的，b、c過程，以提高校準(zhǔn)的精度，削減偶然誤差。⒊在噴沙外表上校準(zhǔn)下面的方法確定儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材一樣的平滑外表校準(zhǔn)好。10值Mo。10次得到平均值Mm?！睲m—Mo〕±SS〔標(biāo)準(zhǔn)偏差SMmSMo中較大的一個。⒋儀器的根本校準(zhǔn)在下述狀況下，轉(zhuǎn)變根本校準(zhǔn)是有必要的：──測頭頂端被磨損──測頭修理后──特別的用途6個校準(zhǔn)值〔5個厚度值〕9ON/C進(jìn)入根本校準(zhǔn)方式。屏幕顯示如下：先校零值〔見零點(diǎn)校準(zhǔn)〕?？蛇B續(xù)重復(fù)屢次，以獲得一個屢次校準(zhǔn)的平均值，這樣可提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性?！惨姸c(diǎn)校準(zhǔn)中的〔b、c〕1.6倍以上，抱負(fù)400、800μm。最大值應(yīng)接近、但低于測頭的最大測量范圍。在輸入6個校準(zhǔn)值后，測量一下零點(diǎn)，儀器自動關(guān)閉，的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開機(jī)時，儀器將按的校準(zhǔn)值工作。第五章與儀器使用有關(guān)的留意事項(xiàng)對本儀器影響測量精度的因素主要有：基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、外表粗糙度、外界磁場、附著物質(zhì)、測頭壓力、測頭位置、試樣的變形等。一、影響測量精度的因素及有關(guān)說明⒈基體金屬磁性〔的變化可以認(rèn)為是稍微的〕，為了避開熱處理及冷加工因素的影響，用待涂覆試件進(jìn)展校準(zhǔn)。⒉基體金屬厚度⒊邊緣效應(yīng)進(jìn)展測量是不行靠的。⒋曲率增大。⒌外表粗糙度響增大。粗糙外表會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同還必需在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對校對儀器的零點(diǎn)。⒍磁場B—Calibrate10磁性法測厚工作。⒎附著物質(zhì)本儀器對那些阻礙測頭與掩蓋層外表嚴(yán)密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必需去除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件外表直接接觸。⒏測頭壓力頭用彈簧保持一個根本恒定的壓力。⒐測頭的放置持垂直。⒑試件的變形據(jù)。二、使用儀器時應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定⒈基體金屬特性和外表粗糙度相像。⒉基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。⒊邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)展測量。⒋曲率不應(yīng)在試件彎曲外表上測量。⒌讀數(shù)次數(shù)測量，外表粗糙時更應(yīng)如此。⒍外表清潔度但不要除去任何掩蓋層物質(zhì)。三、關(guān)于測量結(jié)果的說明⒈依據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不行靠的。因此任何由本儀器顯55次測量是在幾分之一秒的時間內(nèi)由測頭和儀器完成的。⒉為使測量更加準(zhǔn)確，可用本儀器在待測點(diǎn)屢次測量，并用刪除功〔NO．〕、標(biāo)準(zhǔn)偏差〔S．DEV〕。⒊依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)，最終的測量結(jié)果可以表達(dá)為：CH=M±2S其中：CH—涂層厚度M—屢次測量的平均值〔MEAN〕S—標(biāo)準(zhǔn)偏差〔S．DEV〕11⒈嚴(yán)格避開碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場、油污等。8~24小時充電一次，每次充電12~14小時。⒊假設(shè)未顯示錯誤代碼而工作不正常，例如：儀器不能自動關(guān)機(jī)；不能測量；鍵不工作；測量值反復(fù)無常。消滅這類故障時，使儀器強(qiáng)制復(fù)位。強(qiáng)制復(fù)位的方法是：同時按▲鍵和MODE鍵，屏幕依次顯示如下：按▲+▼鍵，屏幕顯示按▲鍵，屏幕顯示按▼鍵，屏幕顯示再按▲+▼鍵，屏幕顯示TT220．VERSION3.2WR93C46RESET？BESURE1？BESURE2？BESURE3？BESURE4？12f．在“RESET？”狀態(tài)，假設(shè)要放棄強(qiáng)制復(fù)位，按▲或▼鍵即可。留意