AURIX單片機(jī)原理及應(yīng)用智慧樹知到答案章節(jié)測試2023年昆明理工大學(xué)

第一章測試iLLD工具包的作用是底層驅(qū)動、底層驅(qū)動架構(gòu)和底層驅(qū)動接口。

A:對

B:錯

答案:A第二章測試Aurix單片機(jī)的兩種內(nèi)核分別是性能核和效率核。

A:錯

B:對

答案:B效率核為高效核，計(jì)算性能優(yōu)越，流水線級多。

A:對

B:錯

答案:BAurix多核較Tricore一代單核有哪些優(yōu)勢？

A:計(jì)算性能優(yōu)越

B:資源豐富

C:性能更優(yōu)越

D:安全性更高

答案:BCDXBAR總線的數(shù)據(jù)寬度是SRIprotocol:64bitswidth。

A:對

B:錯

答案:A支持讀寫的數(shù)據(jù)寬度有哪些？

A:16Bit

B:8Bit

C:32Bit

D:64Bit

答案:ABCD第三章測試高級上下文的內(nèi)核寄存器有A[10]到A[15],D[8]到D[15]，包括PCXI和PSW。

A:錯

B:對

答案:B低級上下文的內(nèi)核寄存器有A[2]到A[9],D[0]到D[7]，包括A[11]和PCXI。

A:對

B:錯

答案:B四位的段地址+16位的偏移就可以形成CSA的有效地址。

A:錯

B:對

答案:B高級上下文在存儲空間中的數(shù)據(jù)存儲順序?yàn)椋ㄓ傻偷礁撸篜CX->A11->A2->A3->D0->D1->D2->D3->A4->A5->A6->A7->D4->D5->D6->D7。

A:對

B:錯

答案:A低級上下文在存儲空間中的數(shù)據(jù)存儲順序?yàn)椋ㄓ傻偷礁撸海ㄓ傻偷礁撸篜CX->PSW->D8->A11->A10->D9->D10->D11->A12->A13->A14->A15->D12->D13->D14->D15。

A:錯

B:對

答案:A第四章測試TricoreIO的訪問特權(quán)級別分為哪些級？

A:Supervisor

B:User-2

C:User-0

D:User-1

答案:ACDUser-1用戶具有常規(guī)的外設(shè)訪問權(quán)限。

A:錯

B:對

答案:BSupervisor用戶沒有外設(shè)訪問權(quán)限。

A:錯

B:對

答案:A臨時保護(hù)系統(tǒng)可以防止定時器運(yùn)行時超時。

A:錯

B:對

答案:B下列屬于Aurix單片機(jī)的主要應(yīng)用的是？

A:安全系統(tǒng)

B:電動車系統(tǒng)

C:動力系統(tǒng)

D:交通運(yùn)輸系統(tǒng)

E:工業(yè)或者其他市場產(chǎn)品

F:互聯(lián)系統(tǒng)

答案:ABCDEF第五章測試DMI的緩存長度是多少？

A:250bits寬

B:256bits寬

C:216bits寬

D:269bits寬

答案:BPMI的緩存長度是多少？

A:256bits寬

B:250bits寬

C:216bits寬

D:269bits寬

答案:AAurix4G的存儲空間組織為每個扇區(qū)256MBytes。

A:錯

B:對

答案:B用Hot-Electoron的編程方式可以提高50倍以上的速度。

A:錯

B:對

答案:AAurixTC27x的Dflash訪問是緩存的。

A:錯

B:對

答案:A第六章測試啟動SSW空間的大小為？

A:10Words

B:8Words

C:16Words

D:32Words

答案:C啟動SSW空間的地址為CPU0_DSPR0xD000‘2000。

A:錯

B:對

答案:BColdreset與Warmreset的區(qū)別在于Coldreset直接與電源欠壓或者啟動過程的復(fù)位，而Warmreset主要是PORST復(fù)位引腳信號復(fù)位有效導(dǎo)致的復(fù)位，整個系統(tǒng)處于工作狀態(tài)，并且供電正常。

A:對

B:錯

答案:AESR引腳可以用作哪些用途？

A:復(fù)位指示輸出

B:系統(tǒng)喚醒輸入

C:陷阱非屏蔽中斷輸入

D:復(fù)位引腳輸入

E:通用IO

答案:ABCDE高級別的復(fù)位會引起低級別的復(fù)位。

A:錯

B:對

答案:B第七章測試每個SRN節(jié)點(diǎn)的中斷優(yōu)先級設(shè)置范圍是255。

A:對

B:錯

答案:A中斷優(yōu)先級不可以設(shè)置為0。

A:對

B:錯

答案:ASRN與ICU之間是一對一的關(guān)系。

A:對

B:錯

答案:BBIV特殊功能寄存器指向中斷向量表基地址。

A:錯

B:對

答案:B中斷優(yōu)先級的值越大優(yōu)先級越低。

A:錯

B:對

答案:A第八章測試時鐘PLL有幾種運(yùn)行模式？

A:預(yù)分頻模式

B:自由運(yùn)行模式

C:正常模式

D:設(shè)定模式

答案:ABCTricoreAurix單片機(jī)有2種時鐘源，分別為外部晶振模式和外部時鐘直接輸入。

A:錯

B:對

答案:B時鐘PLL的預(yù)分配模塊可降低輸入時鐘周期間的誤差。

A:錯

B:對

答案:BPLL-ERAY與PLL的工作原理完全不一致。

A:對

B:錯

答案:B中斷控制單元ICU的作用是進(jìn)行中斷配置以及控制。

A:對

B:錯

答案:B第九章測試Aurix所需的電源有哪些？

A:其余選項(xiàng)都正確

B:3.3V

C:5V

D:1.3V

答案:ABCD如果只輸出3.3V電壓，外部供給5V，或3.3V，或5V和3.3V。

A:錯

B:對

答案:BEVR33有SMPS模式。

A:對

B:錯

答案:B電壓監(jiān)測有幾種監(jiān)測模式？

A:帶限監(jiān)測

B:超壓

C:過壓

D:欠壓

答案:ACD如果出現(xiàn)欠壓，對于模擬引腳，電流應(yīng)該用外部電阻限制為5mA。

A:錯

B:對

答案:A第十章測試STM高32位與低32位是可以同步讀取的。

A:錯

B:對

答案:BSTM是支持向下計(jì)數(shù)。

A:錯

B:對

答案:AAURIX多核CPU結(jié)構(gòu)中，每個CPU有一個STM。

A:錯

B:對

答案:BAurix1G的STM系統(tǒng)定時器不支持大于等于比較器。

A:錯

B:對

答案:AAurix1G的系統(tǒng)定時器的最大時鐘頻率？

A:200MHz

B:150MHz

C:80MHz

D:100MHz

答案:D第十一章測試GPT1三個定時器都支持向上或者向下計(jì)數(shù)。

A:對

B:錯

答案:AGPT1的三個定時器不可以級聯(lián)。

A:錯

B:對

答案:AGPT1的三個定時器的工作模式有哪些？

A:增量接口模式

B:計(jì)數(shù)器模式

C:門控定時器模式

D:定時器模式

答案:ABCDGPT1T3定時器支持重載模式。

A:對

B:錯

答案:A如果要對記錄一個外部信號輸入的脈沖數(shù)，T3應(yīng)該選擇計(jì)數(shù)器模式工作模式。

A:錯

B:對

答案:B第十二章測試在廣播模式下，ARU的數(shù)據(jù)源與數(shù)據(jù)目標(biāo)之間一對多的對應(yīng)關(guān)系。

A:錯

B:對

答案:BTIM模塊有5種不同的工作模式。

A:錯

B:對

答案:BTIM模塊的每個通道都有3種濾波策略。

A:錯

B:對

答案:AMAP模塊可為DPLL輸出TRIGGER信號和STATE信號。

A:錯

B:對

答案:BARU路由寄存器的數(shù)據(jù)寬度是48位。

A:對

B:錯

答案:B第十三章測試ASCLIN串口通信支持哪幾種通信方式？

A:通用異步標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議

B:LIN總線協(xié)議

C:通用異步快速通信協(xié)議

D:SPI同步通信協(xié)議

答案:ABCD對每一位都進(jìn)行過度采樣的目的是準(zhǔn)確判斷當(dāng)前傳輸?shù)臄?shù)據(jù)是0還是1，避免判斷錯誤。

A:錯

B:對

答案:B回環(huán)模式主要是用于ASCLIN模塊自測試。

A:對

B:錯

答案:A位過采樣因子的設(shè)置范圍是一般4-10倍過采樣。

A:錯

B:對

答案:A在微控制器之間進(jìn)行ASCLIN通信時，開漏輸出的總線目的是提高傳輸信號驅(qū)動能力，降低通信錯誤。

A:對

B:錯

答案:A第十四章測試QSPI較SPI支持更長的數(shù)據(jù)長度

A:對

B:錯

答案:AQSPI同時支持以字節(jié)或者位來定義數(shù)據(jù)長度

A:錯

B:對

答案:B多幀數(shù)據(jù)連續(xù)傳輸時數(shù)據(jù)的最大長度是10bits。

A:對

B:錯

答案:BQSPI長數(shù)據(jù)幀格式不支持1Byte數(shù)據(jù)傳輸

A:錯

B:對

答案:AQSPI短數(shù)據(jù)幀格式傳輸數(shù)據(jù)長度可以傳輸1位。

A:錯

B:對

答案:A第十五章測試SAR-ADC內(nèi)置有安全機(jī)制。

A:錯

B:對

答案:BSAR-ADC的轉(zhuǎn)換觸發(fā)可以由軟件或者事件觸發(fā)。

A:錯

B:對

答案:BSAR-ADC既支持5V參考電壓模式也支持3.3V參考電壓模式。

A:錯

B:對

答案:BSAR-ADC的同步轉(zhuǎn)換的從機(jī)Wait-for-Read-Mode失效。

A:錯

B:對

答案:BCAN的幀標(biāo)識符越大，CAN信息幀的優(yōu)先級別越高。

A:錯

B:對

答案:A第十六章測試當(dāng)CAN網(wǎng)絡(luò)空閑時，一個節(jié)點(diǎn)開始傳輸數(shù)據(jù)，它就成為CAN網(wǎng)絡(luò)的主機(jī)并傳輸信息，其他的節(jié)點(diǎn)就會自動切換為接收模式并接收信息。

A:對

B:錯

答案:ACAN總線避免信息幀傳輸沖突使用的是位校驗(yàn)機(jī)制。

A:對

B:錯

答案:ACAN總線信息幀的不同主要是仲裁域和控制域的不同。

A:錯

B:對

答案:BMultiCAN+模塊的所有節(jié)點(diǎn)都支持CANFD功能。

A:對

B:錯

答案:A為了降低時鐘信號抖動，建議在高波特率的情況下不要采用分?jǐn)?shù)分頻模式。

A:錯

B:對

答案:B第十七章測試T12定時器的分辨率是16位。

A:對

B:錯

答案:AT12的每個捕捉比較通道的死區(qū)時間控制的主要作用是防止電源級短路。

A:錯

B:對

答案:BT12定時器單元有2種工作模式，分別為捕捉模式和計(jì)數(shù)模式。

A:對

B:錯

答案:BT12寄存器的更新是異步發(fā)生的。

A:對

B:錯

答案:BCCU6中T13有2個捕捉比較通道，每個捕捉比較通道可以產(chǎn)生1路信號輸出。

A:對

B:錯

答案:B第十八章測試ADC轉(zhuǎn)換的有效位是ADC轉(zhuǎn)換的實(shí)際精度。

A:錯

B:對

答案:B在ADC轉(zhuǎn)換過程中，使用過度采樣有利于降低噪聲，降低信噪比。

A:錯

B:對

答案:ADSADC的采樣精度性能可以通過偏移補(bǔ)償與校準(zhǔn)和增益補(bǔ)償與校準(zhǔn)兩種措施進(jìn)行提高。

A:對

B:錯

答案:A輔助濾波器的作用是限值檢查。

A:錯

B:對

答案:BDSADC的結(jié)果必須要經(jīng)過濾波器之后才能輸出結(jié)果。

A:對

B:錯

答案:A第十九章測試Aurix開發(fā)工具鏈的編譯器有哪些？

A:WindRiver

B:PLS

C:Tasking

D:HighTec

答案:ACDAurix開發(fā)工具鏈的調(diào)試器有哪些？

A:iSYSTEM

B:PLS

C:MiniWiggler

D:Lauterbach

答案:ABCDAurix基礎(chǔ)工程（文件）結(jié)構(gòu)分哪幾個層次？

A:應(yīng)用軟件層

B:操作系統(tǒng)層

C:MCU抽象層

D:服務(wù)層

E:復(fù)雜驅(qū)動層

答案:ABCDETriBorad開發(fā)板可以通過miniUSB來進(jìn)行供電。

A:對

B:錯

答案:A