第四章電法勘探部分演示文稿

第四章電法勘探部分演示文稿現(xiàn)在是1頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一優(yōu)選第四章電法勘探部分現(xiàn)在是2頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一聯(lián)合剖面法（續(xù)2）良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線2.幾種規(guī)則形狀地質(zhì)體聯(lián)合剖面ρS曲線 分析（1）良導(dǎo)直立薄脈ρs曲線分析及其特征

a.當(dāng)電極裝置位于點(diǎn)1位置時(shí)，jMN=j0,ρMN=ρ1，ρsA=ρ1。

b.隨著電極逐漸向礦脈接近并處于處于點(diǎn)2位置時(shí)，與點(diǎn)1相比jMN>j0，MN極仍在ρ1介質(zhì)中，所以ρMN=ρ1，因此ρsA>ρ1。

c.電極裝置繼續(xù)向礦脈靠近處于點(diǎn)3的位置，礦脈吸引電流線的作用較點(diǎn)2更加強(qiáng)烈，ρSA仍大于ρ1且比點(diǎn)2還大，這時(shí)ρSA取得極大值。現(xiàn)在是3頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線（1）良導(dǎo)直立薄脈ρs曲線分析及其 特征

d.電極裝置于點(diǎn)4位置時(shí)，A極發(fā)出的電流線均被礦脈吸引，因此經(jīng)過(guò)MN極的電流線將急劇的減少，所以ρsA亦隨之減小，此時(shí)獲得ρsA極小值。

e.繼續(xù)向右移動(dòng)電極裝置至點(diǎn)5位置時(shí)，MN間的電流密度jMN<j0，此時(shí)的jMN較點(diǎn)4時(shí)大，因此ρsA又開(kāi)始升高。

f.當(dāng)電極裝置移到遠(yuǎn)離礦體界面處的點(diǎn)6位置時(shí)，ρsA=ρ1。同理分析ρsB曲線聯(lián)合剖面法（續(xù)3）現(xiàn)在是4頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線（1）良導(dǎo)直立薄脈ρs曲線分析及其特征

ρs曲線特點(diǎn)分析：

ρsA與ρsB曲線相交于礦脈上方。在交點(diǎn)兩側(cè)ρsA及ρsB曲線呈兩翼張開(kāi)狀態(tài)，交點(diǎn)左側(cè)ρsA>ρsB

，交點(diǎn)右側(cè)ρsA<ρsB

。我們稱這種交點(diǎn)為低阻正交點(diǎn)。交點(diǎn)的電阻率ρs值低于或接近于圍巖電阻率ρ1。在用聯(lián)合剖面法找礦中就是利用低阻正交點(diǎn)的位置來(lái)確定良導(dǎo)脈及構(gòu)造破碎帶在地面上的投影位置。聯(lián)合剖面法（續(xù)4）現(xiàn)在是5頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一聯(lián)合剖面法（續(xù)5）高阻直立巖脈ρs曲線

利用交點(diǎn)性質(zhì)及電阻率的高低和ρsA與ρsB兩條曲線之間開(kāi)闊的程度可區(qū)別高阻巖脈與低阻巖脈。（2）高阻直立巖脈ρs曲線特征高阻直立脈曲線特點(diǎn)：

1）ρsA及ρsB兩條曲線交點(diǎn)處的視電阻率值遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其圍巖電阻率值，交點(diǎn)左側(cè)ρsA<ρsB，交點(diǎn)右側(cè)ρsA>ρsB，我們稱這種交點(diǎn)為高阻反交點(diǎn)，交點(diǎn)的位置與高阻脈在地面上的投影位置相對(duì)應(yīng)。

2）交點(diǎn)兩側(cè)ρsA及ρsB曲線呈兩翼閉攏狀態(tài)。現(xiàn)在是6頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一低阻傾斜薄板上聯(lián)剖曲線h=5cm；L=80cm；α=30°（3）傾斜良導(dǎo)脈ρs曲線特征礦脈傾斜時(shí)ρs曲線特點(diǎn)：

1）ρsA和ρsB兩條曲線不對(duì)稱。反傾向一側(cè)的電極供電時(shí)，ρs曲線異常反映明顯。

2）低阻正交點(diǎn)位置相對(duì)于礦體頂部向礦體傾斜的方向移動(dòng)。礦體傾角越小、埋深越淺以及AO極距越大，曲線的不對(duì)稱性及交點(diǎn)位移也越大。

為了判斷礦體的傾斜方向，通常采取大小兩種極距的聯(lián)合剖面測(cè)量，根據(jù)ρs曲線的不對(duì)稱性和交點(diǎn)位移情況判斷礦體的傾斜方向聯(lián)合剖面法（續(xù)6）現(xiàn)在是7頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一直立巖層接觸面ρs曲線浮土下直立巖層接觸面ρs曲線（4）兩種直立巖層接觸面ρs曲線特征在兩種直立巖層接觸面處（無(wú)浮土），ρsA及ρsB曲線均出現(xiàn)了較大的跳躍。ρsA曲線變化情況較ρsB曲線更為明顯。所以可用ρsA曲線極大值點(diǎn)確定巖層接觸面位置。有浮土覆蓋時(shí)，由于良導(dǎo)性浮土的影響使巖層接觸面處ρs曲線變化較平緩，兩種巖層接觸界面的位置與ρsA曲線極大值下降三分之一的地方相對(duì)應(yīng)，即與2/3ρsA極值點(diǎn)的橫坐標(biāo)位置相對(duì)應(yīng)。聯(lián)合剖面法（續(xù)7）現(xiàn)在是8頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一聯(lián)合剖面法（續(xù)8）表土不均勻?qū)Ζ裺曲線的影響

3.地形及表土不均勻?qū)β?lián)合剖面曲線的影響（1）表土電阻率不均勻?qū)Ζ裺曲線的影響表土不均勻的影響：

埋深較淺的局部低阻體及一個(gè)凸起的小山脊會(huì)引起ρsA與ρsB曲線同時(shí)下降。反之當(dāng)存在一個(gè)埋藏較淺的高阻體及地面上存在一個(gè)小窄溝時(shí)，則會(huì)引起ρsA及ρsB曲線同時(shí)升高。對(duì)于ρsA及ρsB曲線發(fā)生同時(shí)上下跳動(dòng)現(xiàn)象，我們稱它為ρs曲線雙支同步跳躍?，F(xiàn)在是9頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一采用“比值法”加以消除，方法如下：（1）表土電阻率不均勻?qū)Ζ裺曲線的影響聯(lián)合剖面法（續(xù)9）表土電阻率不均勻?qū)β?lián)合剖面ρs曲線的影響及其消除（a）F與F曲線；（b）ρsA與ρsB曲線1）對(duì)各個(gè)測(cè)點(diǎn)的ρsA與ρsB值取其 比值，分別計(jì)算出FA和FB。2）繪制F曲線剖面圖?，F(xiàn)在是10頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一地形對(duì)ρs曲線的影響

（2）山脊山谷地形對(duì)ρs曲線的影響曲線特點(diǎn)：對(duì)應(yīng)山脊地形ρsA及ρsB出現(xiàn)低阻反交點(diǎn)；而在山谷地形上ρsA及ρsB形成高阻正交點(diǎn)。聯(lián)合剖面法（續(xù)10）現(xiàn)在是11頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一式中：ρS實(shí)測(cè)是ρs實(shí)測(cè)值；

ρS曲線是純由地形引起的ρs值；

ρ0是純介質(zhì)的電阻率值；

ρS改是消除了地形影響后的ρs值。聯(lián)合剖面法（續(xù)11）地形影響的改正辦法：最簡(jiǎn)單的是“模型實(shí)驗(yàn)校正法”，也稱為“比較法”。把野外實(shí)際地形按比例縮小在土槽中，通過(guò)模型實(shí)驗(yàn)得出純地形影響的視電阻率曲線。校正后的數(shù)值是：現(xiàn)在是12頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一4.聯(lián)合剖面法的應(yīng)用（1）尋找金屬礦中的應(yīng)用某區(qū)內(nèi)出露巖層有大理巖及閃長(zhǎng)巖兩種，在兩種巖石的接觸部位見(jiàn)有矽卡巖及黃鐵礦化，并有微量的黃銅礦。區(qū)內(nèi)均為浮土掩蓋，露頭很少。大理巖和閃長(zhǎng)巖電阻率均比較高，為在本區(qū)利用聯(lián)合剖面法尋找接觸交代型銅礦創(chuàng)造了物理前提。聯(lián)合剖面法（續(xù)12）現(xiàn)在是13頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一聯(lián)合剖面法（續(xù)13）我國(guó)某銅礦床上聯(lián)合剖面曲線

（1）尋找金屬礦中的應(yīng)用圖為實(shí)測(cè)的聯(lián)合剖面曲線，由圖可見(jiàn)，ρsA與ρsB曲線出現(xiàn)明顯的低阻正交點(diǎn)和曲線的不對(duì)稱。根據(jù)曲線不對(duì)稱可知，礦體是傾斜的，其傾斜方向應(yīng)向ρsA與ρsB的極大值及極小值降低的一側(cè)傾斜。因此推斷礦體向南西傾斜。后經(jīng)鉆探證實(shí)，該異常為賦存于接觸帶附近接觸交代型銅礦所引起?，F(xiàn)在是14頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一聯(lián)合剖面法（續(xù)14）某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線1—砂卵石；2—流紋巖；3—斷層（2）尋找和追索破碎帶測(cè)線的方向沿橫慣河谷布置，采用的電極裝置為AO=20，MN=5m，從觀測(cè)結(jié)果可見(jiàn)在6號(hào)點(diǎn)處出現(xiàn)了低阻正交點(diǎn)，推斷可能為破碎帶引起的，因?yàn)橹挥性诹严吨胁藕兴实妥鑾?。?jīng)坑探證明確有破碎裂隙，厚約1米?，F(xiàn)在是15頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一（2）尋找和追索破碎帶為了追索破碎帶的走向，使用同樣的電極距在河谷下游距前一剖面30米處又布置了一條剖面，結(jié)果在10號(hào)點(diǎn)附近又出現(xiàn)了一低阻正交點(diǎn)，兩交點(diǎn)連線的方向即為破碎帶的走向。該區(qū)河谷寬為200m，河谷內(nèi)地形平坦，大部分為砂卵石覆蓋，在河谷兩側(cè)出露的巖石為白堊紀(jì)流紋巖。聯(lián)合剖面法的任務(wù)就是在流紋巖中尋找破碎帶。某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線1—砂卵石；2—流紋巖；3—斷層聯(lián)合剖面法（續(xù)15）現(xiàn)在是16頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法對(duì)稱四極剖面法裝置形式1對(duì)稱四極剖面法電極裝置形式（1）對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：

A、M、N、B四個(gè)電極在測(cè)線上排列成一直線，各電極均以測(cè)點(diǎn)O為中心呈左右對(duì)稱布置，即AO=BO，MO=NO。保持個(gè)電極間的距離不變，整個(gè)裝置沿測(cè)線一起移動(dòng)進(jìn)行測(cè)量。

因此，所測(cè)的ρs值的變化反映了沿剖面方向一定深度范圍內(nèi)巖石電阻率的變化情況。用下式計(jì)算視電阻率ρs：現(xiàn)在是17頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法（續(xù)1）復(fù)合對(duì)稱四極剖面法裝置形式（2）復(fù)合對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：在對(duì)稱四極剖面法中采用兩種大小不同的供電電極距測(cè)量構(gòu)成的復(fù)合對(duì)稱四極裝置。在每個(gè)測(cè)點(diǎn)上分別用大極距AB及小極距A′B′供電，與其對(duì)應(yīng)的則可測(cè)得ρs

A’B’及ρs

AB

，這樣在一條測(cè)線上就可以有反映不同深度情況的兩條ρs曲線。A′B′A′MNB′現(xiàn)在是18頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法（續(xù)2）高阻基巖隆起的ρs曲線

可見(jiàn)，視電阻率ρS曲線起伏情況，比較好的反映了基巖表面的起伏。2.對(duì)稱四極剖面法ρs曲線的分析

（1）良導(dǎo)覆蓋層下高阻基巖隆起ρs曲線的分析

1號(hào)點(diǎn)遠(yuǎn)離基巖界面，jMN=j0，ρMN=ρ1；測(cè)點(diǎn)位于2號(hào)點(diǎn)位置時(shí)，因基巖發(fā)生隆起其表面靠近地表，電場(chǎng)則因高阻基巖向地表排斥電流線而引起電流畸變，致使jmn>j0

，則視電阻率ρS>ρ1；測(cè)點(diǎn)位于3號(hào)點(diǎn)處的情況與1號(hào)點(diǎn)相同?，F(xiàn)在是19頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法（續(xù)3）

復(fù)合對(duì)稱四極ρs曲線（a）ρ1<ρ2高阻基巖隆起；（b）ρ1>ρ2古河道（基巖為低阻）復(fù)合對(duì)稱四極剖面法是采用兩種不同的供電電極距、不同的探測(cè)深度而得到的兩條ρs曲線，區(qū)分高阻隆起或古河道的異常。

2.對(duì)稱四極剖面法ρs曲線的分析（2）復(fù)合對(duì)稱四極ρs曲線的分析在基巖為高阻的隆起上，ρs

A’B’曲線低于ρs

AB

；在古河道（基巖為低阻）上，ρs

A’B’曲線位于ρs

AB的上方?，F(xiàn)在是20頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法（續(xù)4）對(duì)稱四極剖面的等ρs平面圖

3.對(duì)稱四極剖面法的應(yīng)用（1）確定浮土層下的基巖起伏實(shí)例1：尋找沉積在基巖低洼處 鋁土礦。基巖洼地處沉積的鋁土礦電阻率最低，并在視電阻率平面等值線圖上明顯的表示出了低阻閉合圈的位置，根據(jù)低阻閉合圈的范圍即可確定古生代基巖頂面洼地的位置現(xiàn)在是21頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一巖溶區(qū)對(duì)稱四極剖面法ρ剖面圖1—粘土；2—灰?guī)r實(shí)例2：確定基巖起伏界面。右圖是某地巖溶區(qū)對(duì)稱四極剖面法ρS剖面圖，它清楚的反映出灰?guī)r基底起伏情況?；?guī)r中的巖溶漏斗因被低阻沉積物充填，所以ρS剖面曲線反映出的低阻部位恰與巖溶漏斗對(duì)應(yīng)。對(duì)稱四極剖面法（續(xù)5）現(xiàn)在是22頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一對(duì)稱四極剖面法的ρ剖面平面圖1—頁(yè)巖；2—大理巖（2）對(duì)稱四極剖面法在地質(zhì)填 圖中的應(yīng)用實(shí)例：圖為某地尋找頁(yè)巖及大理巖接觸界限的ρS剖面圖。當(dāng)測(cè)點(diǎn)由頁(yè)巖區(qū)進(jìn)入大理巖地區(qū)時(shí)，ρS曲線發(fā)生躍變，而在頁(yè)巖及大理巖地區(qū)ρS曲線比較平穩(wěn)，所以可以根據(jù)ρS曲線躍變的特點(diǎn)劃出兩種巖層的接觸界面來(lái)。對(duì)稱四極剖面法（續(xù)6）現(xiàn)在是23頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一正確地確定工作任務(wù)是保證工作順利進(jìn)行和取得顯著效果的重要環(huán)節(jié)。電阻率剖面法必須具備的地質(zhì)條件和地球物理前提：1.被探測(cè)的地質(zhì)體與圍巖的電阻率有較大的差異。2.被探測(cè)的地質(zhì)體相對(duì)于埋藏深度具有一定的規(guī)模。3.被探測(cè)的地質(zhì)體的異常應(yīng)能從各干擾體的異常背景中區(qū) 分顯示出來(lái)。4.浮土電阻率很低（如沼澤、稻田區(qū)），厚度又很大的地 區(qū)或地表接地電阻過(guò)大（如凍土層厚度大于1－2m及地 表為礫巖掩蓋）的地區(qū)，不利于開(kāi)展電阻率剖面法工作。電阻率剖面法的野外工作方法

確定任務(wù)現(xiàn)在是24頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一測(cè)區(qū)范圍、測(cè)網(wǎng)與比例尺測(cè)線的方向應(yīng)垂直被探測(cè)地質(zhì)體的主要走向。如成礦受構(gòu)造控制，測(cè)線應(yīng)垂直構(gòu)造的走向；成礦受巖性的控制，則應(yīng)垂直巖層走向。當(dāng)發(fā)現(xiàn)的異常走向與測(cè)線交角小于90°過(guò)多時(shí)，應(yīng)垂直異常走向布置補(bǔ)充工作。測(cè)網(wǎng)密度由被探測(cè)地質(zhì)體的大小、埋深和工作性質(zhì)來(lái)確定。普查時(shí)，至少要有1—2條測(cè)線穿過(guò)異常，每條測(cè)線上至少有3—5個(gè)測(cè)點(diǎn)在異常區(qū)；詳查時(shí)，至少應(yīng)有3—5條測(cè)線、5—10點(diǎn)、線穿過(guò)異?！，F(xiàn)在是25頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一1.對(duì)稱四極剖面法極距的選擇實(shí)際工作中常用的數(shù)據(jù)如下：

AB≥（4～6）H MN=（1/5～1/3）AB其中H為礦頂埋深。電剖面法通常取MN大小與點(diǎn)距相等或兩倍點(diǎn)距。復(fù)合四極剖面中，大極距反映深部情況，一般是AB/2≈（3－5）H，（H是覆蓋層的平均厚度）；小極距反映淺部情況，一般A’B’/2≈（1－2）H。大極距與小極距兩者的比值在兩倍以上。電極距的選擇現(xiàn)在是26頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一2.聯(lián)合剖面法極距的選擇選擇最合適的極距稱為最佳電極距：

AO≥3H（H為礦頂埋深）對(duì)于薄板狀良導(dǎo)性礦體，最佳極距為：

AO=1/2（L+d）其中：

L——礦體沿走向的長(zhǎng)度。d——礦脈向下延伸的長(zhǎng)度。鄰近有不均勻體時(shí)電極距的選擇：還應(yīng)使

AO≤1/2PP—為礦體與不均勻體之間的距離。無(wú)窮遠(yuǎn)極的選擇：一般取OC>（5～10）OA最大，最好沿垂直測(cè)線方向布置C（∞）極。對(duì)測(cè)量電極MN的選擇：MN=（1/3～1/5）AO通常MN等于測(cè)點(diǎn)距。電極距的選擇（續(xù)1）現(xiàn)在是27頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一3.中間梯度法電極距的選擇在保證觀測(cè)質(zhì)量可靠的前提下，供電電極距AB應(yīng)盡可能大。測(cè)量電極距選擇：

MN=（1/20～1/50）AB 電極距的選擇（續(xù)2）現(xiàn)在是28頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電阻率測(cè)深法定義：電阻率測(cè)深法簡(jiǎn)稱電測(cè)深法，它是以地下巖（礦）石的電性差異為基礎(chǔ)，人工建立地下穩(wěn)定直流電場(chǎng)或脈動(dòng)電場(chǎng)，通過(guò)逐次加大供電（或發(fā)送）與測(cè)量（或接收）電極極距，觀測(cè)與研究同一測(cè)點(diǎn)下垂直方向不同深度范圍巖（礦）層電阻率的變化規(guī)律，以查明礦產(chǎn)資源或解決與深度有關(guān)的各類地質(zhì)問(wèn)題的一組直流電法勘探方法。電測(cè)深的主要特點(diǎn)：電測(cè)深法適用于勘探在垂向上有明顯電性差的水平的或緩傾斜（傾角小于20o）巖層厚度、埋藏深度等?，F(xiàn)在是29頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電阻率測(cè)深法（續(xù)1）工作方法：保持測(cè)點(diǎn)O不動(dòng)，仍以O(shè)點(diǎn)為中心，分別向外對(duì)稱地移動(dòng)A、B供電電極，之后測(cè)量M、N兩點(diǎn)間的電位差及供電回路中的電流。根據(jù)視電阻率公式計(jì)算出ρS值。如此繼續(xù)擴(kuò)大AB，就可以算出對(duì)應(yīng)于每個(gè)AB的ρS

。然后以AB/2為橫座標(biāo)，以ρS為縱座標(biāo)繪出電測(cè)深曲線。電測(cè)深法的裝置類型：對(duì)稱四極測(cè)深、三極測(cè)深及偶極測(cè)深，經(jīng)常被應(yīng)用的是對(duì)稱四極測(cè)深法。現(xiàn)在是30頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深法的基本原理電測(cè)深工作原理

2. 隨著AB/2的距離逐漸增大，電流向下的穿透深度相應(yīng)增 大。 因ρ2

>ρ1

，即第二層介質(zhì)對(duì)電流向上排斥，此時(shí)jMN

>j0

。 所以ρs

>ρ1

，ρS曲線隨AB/2增大而升高（圖中“2”點(diǎn)）。3. AB/2?h1時(shí)，第一層相對(duì)變薄，電場(chǎng)分布決定于第二層，所以 ρs

=ρ2。ρ2＞ρ1二層地電斷面ρS曲線的形成過(guò)程：當(dāng)AB/2?h1時(shí)，因供電電極距很小，電流主要在分布在淺部的ρ1介質(zhì)中，此時(shí)jMN=j0，ρMN=ρ1，因此ρs

=ρ1

（圖中“1”點(diǎn)）?，F(xiàn)在是31頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深法的基本原理（續(xù)）電測(cè)深法的物理實(shí)質(zhì)：我們知道勘探深度取決于供電電極距的大小，因此只要在同一測(cè)點(diǎn)上采取不斷地?cái)U(kuò)大供電電極距AB的距離，即會(huì)達(dá)到控制勘探深度的目的，籍以了解巖石電阻率隨深度的變化情況，這就是電測(cè)深法的基本出發(fā)點(diǎn)。改變電極距的目的就是改變電場(chǎng)向下作用的空間范圍，從而達(dá)到對(duì)測(cè)點(diǎn)下面不同深度巖層研究的目的。這就是電測(cè)深法的物理實(shí)質(zhì)?，F(xiàn)在是32頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一地電斷面與電測(cè)深曲線類型地質(zhì)斷面與地電斷面的關(guān)系圖中從地質(zhì)角度來(lái)劃分就是二層，因潛水面上下的黃土濕度不同，故地電斷面是三層。只有電性層與巖層相吻合時(shí)地質(zhì)斷面才與地電斷面相一致。因此在電測(cè)深中需要經(jīng)常研究地電斷面與地質(zhì)斷面間的關(guān)系，才能根據(jù)地電斷面推斷地質(zhì)斷面達(dá)到劃分巖層的目的。地電斷面：按巖層的電性不同來(lái)劃分?jǐn)嗝妗５刭|(zhì)斷面：根據(jù)巖性的不同來(lái)確定界面?，F(xiàn)在是33頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一

G型電測(cè)深曲線D型電測(cè)深曲線

1．二層地電斷面電測(cè)深曲線類型二層地電斷面共有三個(gè)參數(shù)即ρ1、ρ2和h1（因h2為無(wú)限厚可以不予考慮），因此有ρ1<ρ2及ρ1>ρ2兩種類型。（1）ρ1>ρ2電測(cè)深曲線，稱其為D型曲線。（2）ρ1<ρ2

電測(cè)深曲線，稱其為G型曲線。地電斷面與電測(cè)深曲線類型（續(xù)1）現(xiàn)在是34頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一地電斷面與電測(cè)深曲線類型（續(xù)2）H型電測(cè)深曲線 K型電測(cè)深曲線

Ａ型電測(cè)深曲線Ｑ型電測(cè)深曲線

（2）．三層電測(cè)深曲線類型三層電測(cè)深曲線有五個(gè)參數(shù)，即

ρ1、ρ2、ρ3及h1、h2，由地電斷面概念可知，它有三個(gè)電性層，電測(cè)深曲線可分成四種類型，即H型、K型、A型及Q型。（1）H型曲線：當(dāng)ρ1>ρ2<ρ3時(shí)，即形成H型曲線；（2）K型曲線：當(dāng)ρ1<ρ2>ρ3時(shí)，即形成K型電測(cè)深曲線。（3）A型及Q型曲線：當(dāng)ρ1<ρ2<ρ3及ρ1>ρ2>ρ3時(shí)，則分 別形成A型及Q型電測(cè)深曲線。現(xiàn)在是35頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一多層電測(cè)深曲線類型

3.四層及多層電測(cè)深曲線類型四層地電斷面共有七個(gè)參數(shù)，其電阻率和厚度分別為ρ1、ρ2

、ρ3、ρ

4、和h1、h2、h3，按照各層電阻率之間的組合關(guān)系的不同，四層地電斷面的電測(cè)深曲線可分成八種類型，即HK、HA、KH、KQ、AA、AK、QH及QQ型，電性層更多時(shí)，每增加一層表示電測(cè)深曲線類型的字母便增加一個(gè)。

地電斷面與電測(cè)深曲線類型（續(xù)3）現(xiàn)在是36頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深的工作方法測(cè)網(wǎng)的選擇：取決于測(cè)區(qū)勘探要求的詳細(xì)程度及測(cè)區(qū)的地質(zhì)條件。測(cè)線的方向應(yīng)與地質(zhì)構(gòu)造方向垂直，測(cè)線的長(zhǎng)度應(yīng)大于尋找的地質(zhì)構(gòu)造的寬度。

1．詳查要有三至五條測(cè)線通過(guò)有意義的構(gòu)造帶，每條測(cè)線要有三到五個(gè)測(cè)點(diǎn)位于構(gòu)造帶上。

2．在普查工作中至少要有一條測(cè)線通過(guò)最小的有意義的構(gòu)造帶，處于構(gòu)造帶上至少應(yīng)有二至三個(gè)測(cè)點(diǎn)?，F(xiàn)在是37頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深的工作方法（續(xù)1）電極距的選擇：

1.供電電極距大小的標(biāo)準(zhǔn)以使電測(cè)深曲線首尾兩端 出現(xiàn)漸近線為原則，所以要求:

(AB/2)min＜h1，

(AB/2)max＞（5－20）Ｈ （AB）n+1≈1.5（AB）n 2.測(cè)量電極MN的選擇

1/3AB≥MN≥1/30AB現(xiàn)在是38頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深的工作方法（續(xù)2）AB/2（m）34.5691215254065MN/2（m）11111151555AB/2（m）10015022532550075010001500MN/2（m）52552525252510025100100100供電電極距及其MN間的關(guān)系表裝置形式：

先從小的供電電極距開(kāi)始，然后逐漸增大AB，MN不變，當(dāng)AB增大到AB=30MN時(shí)，則增大MN間的距離，并在變換MN時(shí)，對(duì)相鄰AB極距采用兩種MN進(jìn)行觀測(cè)，以便曲線圓滑處理。常用的供電電極距及其MN間的關(guān)系見(jiàn)表?，F(xiàn)在是39頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深結(jié)果的圖示電測(cè)深曲線圖電測(cè)深曲線圖：以AB/2為橫座標(biāo)，以ρｓ為縱座標(biāo)，將每一個(gè)AB/2所對(duì)應(yīng)的ρｓ值點(diǎn)在雙對(duì)數(shù)座標(biāo)紙上，用點(diǎn)線將ρｓ值連接起來(lái)，即得到一個(gè)測(cè)深點(diǎn)的視電阻率電測(cè)深曲線?，F(xiàn)在是40頁(yè)\一共有45頁(yè)\編輯于星期一電測(cè)深曲線類型圖電測(cè)深結(jié)果的圖示（續(xù)1）目的：該圖可給出地電斷面或構(gòu)造的粗略概念幾種常用的電測(cè)深定性解釋圖件