掃描電鏡和電子探針的原理和應用_第1頁
掃描電鏡和電子探針的原理和應用_第2頁
掃描電鏡和電子探針的原理和應用_第3頁
掃描電鏡和電子探針的原理和應用_第4頁
掃描電鏡和電子探針的原理和應用_第5頁
已閱讀5頁,還剩5頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

掃描電鏡和電子探針的原理和應用第1頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六目錄1、背景2、工作原理(1)掃描電鏡的工作原理(2)電子探針的工作原理3、應用(1)掃描電鏡的應用(2)電子探針的應用4、參考資料第2頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六1、背景

掃描電子顯微鏡和電子探針由于其制樣簡單、放大倍數(shù)可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點,故被廣泛地應用于化學、生物、醫(yī)學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業(yè)部門。它們在材料科學中有著廣泛的應用,在實際應用中也有著一定的區(qū)別。掃描電子顯微鏡第3頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六

電子探針是電子探針X射線顯微分析儀的簡稱,英文縮寫為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser),掃描電子顯微境英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。這兩種儀器是分別發(fā)展起來的,但現(xiàn)在除專門的電子探針外,大部分電子探針譜儀都是作為附件安裝在掃描電鏡或透射電鏡上,與電鏡組成一個多功能儀器以滿足微區(qū)形貌、晶體結構及化學組成的同位同時分析的需要。

由于EPMA與SEM設計的初衷不同,所以二者還有一定差別,例如SEM以觀察樣品形貌特征為主,電子光學系統(tǒng)的設計注重圖像質量,圖像的分辨率高、景深大?,F(xiàn)在鎢燈絲SEM的二次電子像分辨率可達3nm,場發(fā)射SEM二次電子像分辨率可達1nm。由于SEM一般不安裝WDS,所以真空腔體小,腔體可以保持較高真空度;另外,圖像觀察所使用的電子束電流小,電子光路及光闌等不易污染,使圖像質量較長時間保持良好的狀態(tài)。

背景第4頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六

EPMA一般以成分分析為主,必須有WDS進行元素成分分析,真空腔體大,成分分析時電子束電流大,所以電子光路、光闌等易污染,圖像質量下降速度快,需經常清洗光路和光闌,通常EPMA二次電子像分辨率為6nm。EPMA附有光學顯微鏡,用于直接觀察和尋找樣品分析點,使樣品分析點處于聚焦園(羅蘭園)上,以保證成分定量分析的準確度。EPMA和SEM都是用聚焦得很細的電子束照射被檢測的樣品表面,用X射線能譜儀或波譜儀,測量電子與樣品相互作用所產生的特征X射線的波長與強度,從而對微小區(qū)域所含元素進行定性或定量分析,并可以用二次電子或背散射電子等進行形貌觀察。它們是現(xiàn)代固體材料顯微分析(微區(qū)成份、形貌和結構分析)的最有用儀器之一,應用十分廣泛。電子探針和掃描電鏡都是用計算機控制分析過程和進行數(shù)據(jù)處理,并可進行彩色圖像處理和圖像分析工作,所以是一種現(xiàn)代化的大型綜合分析儀?,F(xiàn)國內各種型號的電子探針和掃描電鏡有近千臺,分布在各個領域。背景第5頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六2、(1)掃描電鏡的工作原理

SEM是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,掃描電子顯微鏡是由電子光學系統(tǒng),信號收集處理、圖象顯示和記錄系統(tǒng),真空系統(tǒng)三個基本部分組成優(yōu)點:①有較高的放大倍數(shù),20-30萬倍之間連續(xù)可調;②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;③試樣制備簡單。第6頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六2、(2)電子探針的工作原理電子探針可對試樣進行微小區(qū)域成分分析。除H、He、Li、

Be等幾個較輕元素外,都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針,激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域,使其發(fā)出特征X射線,測定該X射線的波長和強度,即可對該微區(qū)的元素作定性或定量分析。將掃描電子顯微鏡和電子探針結合,在顯微鏡下把觀察到的顯微組織和元素成分聯(lián)系起來,解決材料顯微不均勻性的問題,成為研究亞微觀結構的有力工具。電子探針有三種基本工作方式:一、點分析用于選定點的全譜定性分析或定量分析,以及對其中所含元素進行定量分析;二、線分析用于顯示元素沿選定直線方向上的濃度變化;三、面分析用于觀察元素在選定微區(qū)內濃度分布。第7頁,共10頁,2023年,2月20日,星期六3、(1)電子探針的應用電子探針不僅用于基礎研究的分析,亦可廣泛用于生產在線的檢驗,品質管理的分析,以及能源、環(huán)境等檢測。特別是應用于金屬固熔體相、相變、晶界、偏析物、夾雜物等;地質的礦物、巖石、礦石和隕石等;陶瓷、水泥、玻璃;化學催化劑和石油化工,高分子材料,涂料等;生物的牙齒、骨骼組織;半導體材料、集成電路、電器產品等領域的非破壞性的元素分析和觀察。斷口分析、鍍層分析、微區(qū)成分分析及顯微組織形貌和催化劑機理與失效研究第8頁,共10頁,2023年,2月2

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論