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屢燒行管原因分析與檢修屢燒行管原因分析與檢修2008-10-2210:25:56來源:作者:【大中小】
屢燒行管原因分析與檢修屢燒行管原因分析與檢修
根據(jù)行管擊穿的故障類型分根據(jù)行管擊穿的故障類型分::1、過壓擊穿2、過流擊穿
根據(jù)行管擊穿的故障類型分根據(jù)行管擊穿的故障類型分::
行管損壞后,我們在拆下行管,可以使用萬用表測量其靜態(tài)電阻,如果CE
阻值在數(shù)百歐姆,行管一般是在使用過程中,過流后過熱慢慢燒毀,在燒毀之前
需要有一定的時間積累。
如果CE阻值在數(shù)歐姆,此類情況是行管過壓燒毀,多數(shù)都是瞬間意外突然
燒毀的,在燒毀之前沒有異常征兆,或者是開機即燒行管,或者是使用幾天也沒
有問題但沒有規(guī)律某次開機時突然燒行管。
行管擊穿維修的檢修方法行管擊穿維修的檢修方法::
行管擊穿維修的檢修方法行管擊穿維修的檢修方法::
1
、電流監(jiān)測法
檢測點:在45V或51V或190V開關(guān)變壓器二次供電輸出電容處,二次供
電調(diào)整管濾波電容處,行包初級線圈后。
2、電壓測量法
顯示器的行激勵供電因為顯示器設(shè)計不同,有取自12V,45V,80V等幾
種,顯示器的行管有使用雙極型的,也有使用場效應(yīng)管的。
如果不好找對應(yīng)型號,可以考慮直接使用IRF630,在代換行激勵管后,最
好使用示波器測量一下波形,同時長時間監(jiān)測一下行管的溫升。
3、波形檢測對比法
行場IC的HOUT端,行激勵管的C極,行激勵變壓器的34腳,行管的B
極,行管的C極(要注意測量方法)。這些關(guān)鍵點的波形一般是固定的,如果某點
VPP值變低或變高,都會造成行管激勵不足或過激勵而燒毀行管。如果某點
的
的波形畸變,也會造成行管過流,長時間使用過熱燒毀。通過波形檢測,可以迅
速定位故障點,找出故障原因。
4、溫度測量法
主要用于更換行管后,對行管的溫度進行長時間監(jiān)控,一般行管連續(xù)使用兩
70度以下,基本都可以使用。注意測
個小時以上,行管的溫度不上升,保持在
量時,要蓋上后蓋,不開蓋的狀態(tài)測量與蓋蓋測量溫度會有不小的差異,要測量
時要注意與實際使用環(huán)境溫度相當。
5、元件替換排除法
對于判斷行逆程電容容量減小的故障,可以采用電容并聯(lián)法。
對于行管發(fā)熱量大的問題,可以選用幾個不同的行管(三代,四代,五代)
的行管進行替換,分別測試行電流大小和發(fā)熱量,溫升最小的選用。
行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類::
行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類::
1、開關(guān)電源輸出電壓偏高
由于電源穩(wěn)壓系統(tǒng)出現(xiàn)故障,不能穩(wěn)壓,導(dǎo)致B電壓上升。如果B電壓超
過10%以上,會產(chǎn)生行管擊穿損壞現(xiàn)象。這時應(yīng)重點檢查取樣電路,誤差放大器
和脈寬控制電路的元件。另外,若電網(wǎng)電壓太高,超過了開關(guān)電源允許的穩(wěn)壓值
范圍,也會造成開關(guān)電源輸出電壓偏高。
2、二次供電穩(wěn)壓電路異常,導(dǎo)致二次供電過高
正常情況下,顯示器開機時,由于緩啟動電路的存在,B+的電壓是慢慢升
高,而不是開機后直接跳為高電壓。如果緩啟動電容失容損壞,就會造成開機時
1
徐州市菲克斯科技有限公司QQ:26433849TANK電壓立即跳升,同時電壓不穩(wěn),容易造成燒行管。
還有,二次供電采樣電壓路和穩(wěn)壓電路元器件損壞,也會造民二次供電異
常。
3、行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器局部短路
行偏轉(zhuǎn)線圈奩行輸出變壓器發(fā)熱后,因漆包線的絕緣性能下降而產(chǎn)生局部短
路,如果保護電路性能不佳,則會引起行管損壞。這時可與同型號正常機器相比
較,通過測量行輸出級電流來判斷。如果開機瞬間馬上燒壞行管,此時用手摸散
熱片的溫度較高,則說明是行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器有短路,引起行管過流擊
穿。
4
、行頻過低
因為流過行偏轉(zhuǎn)線圈電流的最大值與行正程掃描時間成正比,即行頻越低,
周期越長,行正程時間相應(yīng)變長,結(jié)果使行偏轉(zhuǎn)電流上升,當超過行管所承受的
電流最大值時,使用行管燒壞。因此,在調(diào)整行頻時,應(yīng)避免使用行頻長期處于
偏低狀態(tài)。顯示器的行頻是由MCU檢測行場信號后,根據(jù)顯示模式自動切換產(chǎn)
生,一般不會出現(xiàn)行頻過低現(xiàn)象。
5、行逆程時間過短
在行逆程期間,會產(chǎn)生很高的反峰脈沖電壓,這就要求行逆程電容,行輸出
管,阻尼二極管等元件具有很高的耐壓能力。當行逆程電容容量變小,失效或開
路時,反峰脈沖電壓上升,一旦超過行管的耐壓值,就會出現(xiàn)行管換一只燒一只
的結(jié)果。此時,迅速用手摸行管的散熱片,若溫度與未開機前差不多,則說明是
因為逆程電容開路而引起的過壓擊穿。
解決方法:是將行逆程電容全部換新。
6、行激勵不足
如果行激勵不足,行管不能迅速飽和,導(dǎo)致行管內(nèi)阻變大,使用行掃描線性
變差;如果行激勵不足,行管不能迅速地截止,使用行管長時間地處于有電流流
過的不正常工作狀態(tài),將造成行輸出電路的功耗增加,引起行輸出管發(fā)燙。一旦
超過行管功耗的極限值,則會使用行管再度燒壞。其時間間隔有快有慢,有的則
開機就燒行管;有的過一段時間才會燒行管。若時間間隔長,不防用示波器觀察
激勵級的波形,可幫助找到故障原因。
造成行激勵不足的原因有:行激勵管性能不良;行激勵變壓器的供電電阻阻
值增大;行激勵變壓器的周圍元件有虛焊;行激勵變壓器初級燒組上的濾波電容
變質(zhì);行振蕩電路的晶振不良;集成電路中行振蕩電路單獨供電腳的外接電容失
效造成濾波不良。[NextPage]
、環(huán)境潮濕
7
這使用行輸出變壓器周圍元件漏電,或者因散熱不良(如將彩電置于柜內(nèi),
或維修時行管與散熱板上的固定螺絲未擰緊),行管過熱,使其耐壓降低,最終
導(dǎo)致?lián)p壞行管。
、行偏轉(zhuǎn)線圈開路
8
此時行掃描正程后半段行管導(dǎo)通的時間將會大于其截止時間,使用行管在逆
程時間內(nèi)也短暫導(dǎo)通,導(dǎo)致行管損壞。因此,維修時要特別小心,在行偏轉(zhuǎn)線圈
及其回路開路的情況下,如果長時間通電檢修,是極危險的。
9、行掃描電路中元件存在不穩(wěn)定或老化,損壞短路等問題。
如S校正電容短路,枕校電路元件短路,使行電流大增,造成行管因過流
而擊穿。
2
徐州市菲克斯科技有限公司QQ:26433849TANK此外,阻尼二極管開路,自舉升壓電容短路,高壓電泄露(如高壓打火,高
壓線穿孔),行管質(zhì)量差,顯像管內(nèi)部跳火,AFC電路故障等,也會造成行管過
流擊穿。
10、開關(guān)電源中的行脈沖信號耦合電容,取樣電壓濾波電容失容。
受附近大功率元件高溫烘烤后,電容失容,導(dǎo)致行管擊穿。
11、行包(FBT回掃變壓器)或行中心調(diào)整線圈,枕校變壓器,行管,
逆程二極管等引腳虛焊
虛焊是顯示器元件損壞大敵,開關(guān)電源變壓器,電源管,行管,行包,逆
程二極管,逆程電容,行中心調(diào)整線圈都工作在大電流,高電壓環(huán)境,虛焊會造
成瞬間的接通與截止,尖峰電壓很容易燒毀電源管和行管。
12、行管型號不對或行管放大倍數(shù)相差太大,或使用了內(nèi)置阻尼二極管
或阻尼電阻的行管
我們在測量行掃描電路的、關(guān)鍵點電壓時,也要注意測量方法,如果測量方
法
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