屢燒行管原因分析與檢修屢燒行管原因分析與檢修

屢燒行管原因分析與檢修屢燒行管原因分析與檢修2008-10-2210:25:56來源:作者:【大中小】

屢燒行管原因分析與檢修屢燒行管原因分析與檢修

根據(jù)行管擊穿的故障類型分根據(jù)行管擊穿的故障類型分：：1、過壓擊穿2、過流擊穿

根據(jù)行管擊穿的故障類型分根據(jù)行管擊穿的故障類型分：：

行管損壞后，我們在拆下行管，可以使用萬用表測量其靜態(tài)電阻，如果CE

阻值在數(shù)百歐姆，行管一般是在使用過程中，過流后過熱慢慢燒毀，在燒毀之前

需要有一定的時間積累。

如果CE阻值在數(shù)歐姆，此類情況是行管過壓燒毀，多數(shù)都是瞬間意外突然

燒毀的，在燒毀之前沒有異常征兆，或者是開機即燒行管，或者是使用幾天也沒

有問題但沒有規(guī)律某次開機時突然燒行管。

行管擊穿維修的檢修方法行管擊穿維修的檢修方法：：

行管擊穿維修的檢修方法行管擊穿維修的檢修方法：：

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、電流監(jiān)測法

檢測點：在45V或51V或190V開關(guān)變壓器二次供電輸出電容處，二次供

電調(diào)整管濾波電容處，行包初級線圈后。

2、電壓測量法

顯示器的行激勵供電因為顯示器設(shè)計不同，有取自12V，45V，80V等幾

種，顯示器的行管有使用雙極型的，也有使用場效應(yīng)管的。

如果不好找對應(yīng)型號，可以考慮直接使用IRF630，在代換行激勵管后，最

好使用示波器測量一下波形，同時長時間監(jiān)測一下行管的溫升。

3、波形檢測對比法

行場IC的HOUT端，行激勵管的C極，行激勵變壓器的34腳，行管的B

極，行管的C極(要注意測量方法)。這些關(guān)鍵點的波形一般是固定的，如果某點

VPP值變低或變高，都會造成行管激勵不足或過激勵而燒毀行管。如果某點

的

的波形畸變，也會造成行管過流，長時間使用過熱燒毀。通過波形檢測，可以迅

速定位故障點，找出故障原因。

4、溫度測量法

主要用于更換行管后，對行管的溫度進行長時間監(jiān)控，一般行管連續(xù)使用兩

70度以下，基本都可以使用。注意測

個小時以上，行管的溫度不上升，保持在

量時，要蓋上后蓋，不開蓋的狀態(tài)測量與蓋蓋測量溫度會有不小的差異，要測量

時要注意與實際使用環(huán)境溫度相當。

5、元件替換排除法

對于判斷行逆程電容容量減小的故障，可以采用電容并聯(lián)法。

對于行管發(fā)熱量大的問題，可以選用幾個不同的行管（三代，四代，五代）

的行管進行替換，分別測試行電流大小和發(fā)熱量，溫升最小的選用。

行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類：：

行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類：：

1、開關(guān)電源輸出電壓偏高

由于電源穩(wěn)壓系統(tǒng)出現(xiàn)故障，不能穩(wěn)壓，導(dǎo)致B電壓上升。如果B電壓超

過10%以上，會產(chǎn)生行管擊穿損壞現(xiàn)象。這時應(yīng)重點檢查取樣電路，誤差放大器

和脈寬控制電路的元件。另外，若電網(wǎng)電壓太高，超過了開關(guān)電源允許的穩(wěn)壓值

范圍，也會造成開關(guān)電源輸出電壓偏高。

2、二次供電穩(wěn)壓電路異常，導(dǎo)致二次供電過高

正常情況下，顯示器開機時，由于緩啟動電路的存在，B＋的電壓是慢慢升

高，而不是開機后直接跳為高電壓。如果緩啟動電容失容損壞，就會造成開機時

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徐州市菲克斯科技有限公司QQ：26433849TANK電壓立即跳升，同時電壓不穩(wěn)，容易造成燒行管。

還有，二次供電采樣電壓路和穩(wěn)壓電路元器件損壞，也會造民二次供電異

常。

3、行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器局部短路

行偏轉(zhuǎn)線圈奩行輸出變壓器發(fā)熱后，因漆包線的絕緣性能下降而產(chǎn)生局部短

路，如果保護電路性能不佳，則會引起行管損壞。這時可與同型號正常機器相比

較，通過測量行輸出級電流來判斷。如果開機瞬間馬上燒壞行管，此時用手摸散

熱片的溫度較高，則說明是行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器有短路，引起行管過流擊

穿。

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、行頻過低

因為流過行偏轉(zhuǎn)線圈電流的最大值與行正程掃描時間成正比，即行頻越低，

周期越長，行正程時間相應(yīng)變長，結(jié)果使行偏轉(zhuǎn)電流上升，當超過行管所承受的

電流最大值時，使用行管燒壞。因此，在調(diào)整行頻時，應(yīng)避免使用行頻長期處于

偏低狀態(tài)。顯示器的行頻是由MCU檢測行場信號后，根據(jù)顯示模式自動切換產(chǎn)

生，一般不會出現(xiàn)行頻過低現(xiàn)象。

5、行逆程時間過短

在行逆程期間，會產(chǎn)生很高的反峰脈沖電壓，這就要求行逆程電容，行輸出

管，阻尼二極管等元件具有很高的耐壓能力。當行逆程電容容量變小，失效或開

路時，反峰脈沖電壓上升，一旦超過行管的耐壓值，就會出現(xiàn)行管換一只燒一只

的結(jié)果。此時，迅速用手摸行管的散熱片，若溫度與未開機前差不多，則說明是

因為逆程電容開路而引起的過壓擊穿。

解決方法：是將行逆程電容全部換新。

6、行激勵不足

如果行激勵不足，行管不能迅速飽和，導(dǎo)致行管內(nèi)阻變大，使用行掃描線性

變差；如果行激勵不足，行管不能迅速地截止，使用行管長時間地處于有電流流

過的不正常工作狀態(tài)，將造成行輸出電路的功耗增加，引起行輸出管發(fā)燙。一旦

超過行管功耗的極限值，則會使用行管再度燒壞。其時間間隔有快有慢，有的則

開機就燒行管；有的過一段時間才會燒行管。若時間間隔長，不防用示波器觀察

激勵級的波形，可幫助找到故障原因。

造成行激勵不足的原因有：行激勵管性能不良；行激勵變壓器的供電電阻阻

值增大；行激勵變壓器的周圍元件有虛焊；行激勵變壓器初級燒組上的濾波電容

變質(zhì)；行振蕩電路的晶振不良；集成電路中行振蕩電路單獨供電腳的外接電容失

效造成濾波不良。[NextPage]

、環(huán)境潮濕

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這使用行輸出變壓器周圍元件漏電，或者因散熱不良(如將彩電置于柜內(nèi)，

或維修時行管與散熱板上的固定螺絲未擰緊)，行管過熱，使其耐壓降低，最終

導(dǎo)致?lián)p壞行管。

、行偏轉(zhuǎn)線圈開路

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此時行掃描正程后半段行管導(dǎo)通的時間將會大于其截止時間，使用行管在逆

程時間內(nèi)也短暫導(dǎo)通，導(dǎo)致行管損壞。因此，維修時要特別小心，在行偏轉(zhuǎn)線圈

及其回路開路的情況下，如果長時間通電檢修，是極危險的。

9、行掃描電路中元件存在不穩(wěn)定或老化，損壞短路等問題。

如S校正電容短路，枕校電路元件短路，使行電流大增，造成行管因過流

而擊穿。

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徐州市菲克斯科技有限公司QQ：26433849TANK此外，阻尼二極管開路，自舉升壓電容短路，高壓電泄露(如高壓打火，高

壓線穿孔)，行管質(zhì)量差，顯像管內(nèi)部跳火，AFC電路故障等，也會造成行管過

流擊穿。

10、開關(guān)電源中的行脈沖信號耦合電容，取樣電壓濾波電容失容。

受附近大功率元件高溫烘烤后，電容失容，導(dǎo)致行管擊穿。

11、行包（FBT回掃變壓器）或行中心調(diào)整線圈，枕校變壓器，行管，

逆程二極管等引腳虛焊

虛焊是顯示器元件損壞大敵，開關(guān)電源變壓器，電源管，行管，行包，逆

程二極管，逆程電容，行中心調(diào)整線圈都工作在大電流，高電壓環(huán)境，虛焊會造

成瞬間的接通與截止，尖峰電壓很容易燒毀電源管和行管。

12、行管型號不對或行管放大倍數(shù)相差太大，或使用了內(nèi)置阻尼二極管

或阻尼電阻的行管

我們在測量行掃描電路的、關(guān)鍵點電壓時，也要注意測量方法，如果測量方

法