目標探測與識別

1/212/21就可以考慮用已知的波譜曲線和圖上每個像元獲取的波譜曲線進行對比，理想情況下，如果兩條波譜曲線一樣，就能說高光譜圖像的這個特性，使它除了應用于一般的圖像分類，還應用于物質(zhì)識別、目標探測等。圖像分類更多關(guān)注的目標識別和探測是對特定對象的搜索，其結(jié)果是"有"或者"沒有"。因此我們把高光譜圖像分類、本節(jié)以兩個專題為例(去偽裝目標探測與基于BandMax向?qū)Чぞ叩腟AM目標探測)，學習ENVI中提供的高光譜3/21去偽裝目標探測也是利用高光譜圖像的地物識別能力，從圖像上探測遮掩或者偽裝的目標，比如一種特殊物質(zhì)、礦物甚至軍事目標等。下面以從圖像上探測一個目標為例(練習數(shù)據(jù)存放在"..\18.目標探測與識別\數(shù)據(jù)\1.目標探測"中)，一個目標(可以是多個目標)，以這個目標的平均波譜作為參考，搜索整個圖像，識別具有類似或者相同波譜的目標。g4/21(4)瀏覽目標波譜。在LayerManager中，右鍵點擊target1，選擇Statistics(如下圖左)，會對ROI的波譜進行統(tǒng)計，結(jié)果如下圖(右)所示。5/21圖3統(tǒng)計菜單(左)與波譜曲線(右)Next按鈕；6/21EmpiricalLine)和簡化的黑暗像元法(DarkSubtraction)，如果輸入數(shù)據(jù)未經(jīng)過大氣校正，用戶可根據(jù)需要進行方法的1)如果需要探測多個目標，則輸入多個目標的波譜，單擊SelectAll選擇列表中所有目標波，單擊Next執(zhí)行下7/21ormInterference-MinimizedFilter(MTTCIMF)分析方法，必須在第三步驟輸入大于一種的目標波譜，或在第四步驟輸入背景波譜，而且在下面的第五步要執(zhí)行MNF變換。8/21F9/21相應分析方法，其得到的規(guī)則自動顯示在Display窗口中，選擇規(guī)則閾值或者散點圖上選擇點云將目標分離。(1)在"Method"列表中選擇CEM，規(guī)則閾值(RuleThreshold)：0.2。(2)在"Method"列表中選擇ACE，規(guī)則閾值(RuleThreshold)：0.1。(4)單擊Next執(zhí)行從規(guī)則圖像中分離目標，進入"FilterTargets"面板。VI鍵繪制多邊形區(qū)域選擇點云，鼠標右鍵結(jié)束選擇。鼠標中建拉框可放大點云，單擊中鍵回到上一個試圖，同時之前選擇的點云被取消，當選擇錯誤時候用這個功能重新選擇點云。散點圖勾選區(qū)域如圖所示，需要選擇10/2111/2112/21圖8結(jié)果后處理(小斑點去除)Tool中并顯示在圖上。定位探測結(jié)果(169，163)是一個樹林掩蓋的目標，點擊Finish完成。13/2114/21并節(jié)省處理的時間。15/21(1)選擇輸入/輸出文件(2)選擇目標—選擇目標波譜(3)選擇背景—選擇需要抑制的背景信息(4)利用BandMax計算有效波段—識別對SAM分析中有效的波段(5)選擇最大角閾值—定義SAM最大角(6)檢驗制圖成果—SAM分析以及成果檢驗。如處理結(jié)果理想，那么可以點擊Finish退出向?qū)?。如果檢驗結(jié)果顯示波段子集不充分，向?qū)祷氐降诙?，需要成后，向?qū)е袑@示分析報告。如果需要，我們可以保存這個文件以備后用。向?qū)囟ú襟E中得出的影像結(jié)果會顯示在向?qū)У牡谝粋€面板主要介紹該向?qū)У墓ぷ髁鞒獭Ｏ驅(qū)е衅渌拿姘逯饕榻B完成這個過程的6個步驟。這些處理步dMax16/21(2)從圖中可以看出，影像中包含了一些飛機。綠色圓圈選中的三架飛機是我們的探測目標，像元位置為[88,注：像元坐標以[0,0]為原點。(2)收集目標波譜。在ENVI主界面第一行工具欄最右側(cè)的"GoTo"框內(nèi)手動輸入"88,10"，然后按Enter鍵，17/2118/21注：如果想收集多條光譜曲線，可以使用鼠標左鍵將波譜拖入到新建Plot窗口的波譜列表中，如下圖所為一條曲線，可以不進行拖拽。TargetSpectra0]波譜