《無(wú)損檢測(cè)》超聲波完整版課件

按聲耦和方式不同分為：直接接觸法、液浸法超聲檢測(cè)；本章將重點(diǎn)介紹：脈沖反射法原理、直接接觸法、

A型顯示方式、縱波法、橫波法超聲檢測(cè)技術(shù)。按聲耦和方式不同分為：12.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)2.1.1超聲波的物理本質(zhì)它是頻率大于2萬(wàn)赫茲的機(jī)械振動(dòng)在彈性介質(zhì)中的轉(zhuǎn)播行為。即超聲頻率的機(jī)械波。一般地說(shuō)，超聲波頻率越高，其能量越大，探傷靈敏度也越高。超聲檢測(cè)常用頻率在0.5～10MHZ。2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)2.1.1超聲波的物理本質(zhì)22.1.2超聲波的產(chǎn)生（發(fā)射）與接收

(1)超聲波的產(chǎn)生機(jī)理——利用了壓電材料的壓電效應(yīng)。試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，某些晶體材料（如石英晶體）做成的晶體薄片，當(dāng)其受到拉伸或壓縮時(shí)，表面就會(huì)產(chǎn)生電荷；此現(xiàn)象稱(chēng)為正壓電效應(yīng)；反之，當(dāng)對(duì)此晶片施加交變電場(chǎng)時(shí)，晶體內(nèi)部的質(zhì)點(diǎn)就會(huì)產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)，此現(xiàn)象稱(chēng)為逆壓電效應(yīng)。具有壓電效應(yīng)的晶體材料就稱(chēng)為壓電材料。

2.1.2超聲波的產(chǎn)生（發(fā)射）與接收3壓電效應(yīng)壓電效應(yīng)圖解

＋/－b.施加交流電場(chǎng)時(shí)內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)產(chǎn)生振動(dòng)拉伸或壓縮時(shí)表面產(chǎn)生電荷－－－－－－－－＋＋＋＋＋＋＋＋正壓電效應(yīng)～－/＋逆壓電效應(yīng)

壓電效應(yīng)壓電效應(yīng)圖解＋/－b.施加交流電場(chǎng)時(shí)內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)產(chǎn)生4

(2)超聲波的發(fā)射與接收

①發(fā)射——在壓電晶片制成的探頭中，對(duì)壓電晶片施以超聲頻率的交變電壓，由于逆壓電效應(yīng)，晶片中就會(huì)產(chǎn)生超聲頻率的機(jī)械振動(dòng)——產(chǎn)生超聲波；若此機(jī)械振動(dòng)與被檢測(cè)的工件較好地耦合，超聲波就會(huì)傳入工件——這就是超聲波的發(fā)射。

5②接收——若發(fā)射出去的超聲波遇到界面被反射回來(lái)，又會(huì)對(duì)探頭的壓電晶片產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)，由于正壓電效應(yīng)，在晶片的上下電極之間就會(huì)產(chǎn)生交變的電信號(hào)。將此電信號(hào)采集、檢波、放大并顯示出來(lái)，就完成了對(duì)超聲波信號(hào)的接收?？梢?jiàn)，探頭是一種聲電換能元件，是一種特殊的傳感器，在探傷過(guò)程中發(fā)揮重要的作用。

2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)②接收——若發(fā)射出去的超聲波遇到界面被反射回來(lái)，又會(huì)對(duì)62.1.3超聲波波型的分類(lèi)按質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與聲波的傳播方向之間的關(guān)系分為：（1）縱波L——介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向一致；2.1.3超聲波波型的分類(lèi)7（2）橫波S——介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向垂直；

2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)（2）橫波S——介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向垂直；28（3）表面波R——介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)沿介質(zhì)表面做橢圓運(yùn)動(dòng)；又稱(chēng)瑞利波；

2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)（3）表面波R——介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)沿介質(zhì)表面做橢圓運(yùn)動(dòng)；又稱(chēng)瑞利波9（4）板波——板厚與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯袀鞑サ某暡?，板的兩表面介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)沿介質(zhì)表面做橢圓運(yùn)動(dòng)，板中間也有超聲波傳播。又稱(chēng)蘭姆波；a)對(duì)稱(chēng)型b)非對(duì)稱(chēng)型

2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)（4）板波——板厚與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯袀鞑サ某暡ǎ宓膬杀?0注意！

①液體和氣體介質(zhì)（不能傳遞切向力）中，所以只能傳播縱波！②同一介質(zhì)中，聲速的關(guān)系有：

CL>CS>CR

③同一介質(zhì)中，聲速、波長(zhǎng)、頻率之間的關(guān)系為：

C=λ·f=常數(shù)。注意！11按超聲波振動(dòng)持續(xù)時(shí)間分為：

(1)連續(xù)波——在有效作用時(shí)間內(nèi)聲波不間斷地發(fā)射；

(2)脈沖波——在有效作用時(shí)間內(nèi)聲波以脈沖方式間歇地發(fā)射。

注意:超聲波檢測(cè)過(guò)程常采用脈沖波。按超聲波振動(dòng)持續(xù)時(shí)間分為：122.1.4超聲波的基本性質(zhì)(1)具有良好的指向性：

直線(xiàn)傳播，符合幾何光學(xué)定律；象光波一樣，方向性好；

束射性，象手電筒的光束一樣，能集中在超聲場(chǎng)內(nèi)定向輻射。聲束的擴(kuò)散角滿(mǎn)足如下關(guān)系：θ=arcsin1.22(λ/D)(2-1)可見(jiàn)：波長(zhǎng)越短，擴(kuò)散角θ越小，

聲能越集中。2.1.4超聲波的基本性質(zhì)132.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)14

(2)具有較強(qiáng)的穿透性，但有衰減；

穿透性——來(lái)自于它的高能量，因?yàn)槁晱?qiáng)正比于頻率的平方；所以，超聲波的能量比普通聲波大100萬(wàn)倍！可穿透金屬達(dá)數(shù)米！衰減性——源于三個(gè)方面：

擴(kuò)散、散射、吸收；

(2)具有較強(qiáng)的穿透性，但有衰減；15(1)擴(kuò)散衰減聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，因其波前在逐漸擴(kuò)展，從而導(dǎo)致聲波能量逐漸減弱的現(xiàn)象叫做超聲波的擴(kuò)散衰減。它主要取決于波陣面的幾何形狀，而與傳播介質(zhì)無(wú)關(guān)。2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)(1)擴(kuò)散衰減2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)16(2)散射衰減

散射是物質(zhì)不均勻性產(chǎn)生的。不均勻材料含有聲阻抗急劇變化的界面，在這兩種物質(zhì)的界面上，會(huì)產(chǎn)生聲波的反射、折射和波型轉(zhuǎn)換現(xiàn)象，必然導(dǎo)致聲能的降低。2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)(2)散射衰減2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)17(3)吸收衰減：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，由于介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)間的內(nèi)摩擦和熱傳導(dǎo)，引起的聲波能量減弱的現(xiàn)象，叫做超聲波的吸收衰減。2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)(3)吸收衰減：2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)18（3）只能在彈性介質(zhì)中傳播，不能在真空（空氣近似看成真空）中傳播；

強(qiáng)調(diào)：橫波不能在氣體、液體中傳播！表面波看作是縱波與橫波的合成，所以，也不能在氣體、液體中傳播！2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)（3）只能在彈性介質(zhì)中傳播，不能在真空（空氣近似看成真空）19

（4）遇到界面將產(chǎn)生：

反射、折射和波型轉(zhuǎn)換現(xiàn)象；（5）對(duì)人體無(wú)害——優(yōu)于射線(xiàn)的性質(zhì)。

主聲軸

N近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N=D2/4λ超聲場(chǎng)及近場(chǎng)區(qū)

壓電晶片（4）遇到界面將產(chǎn)生：主聲軸N近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N=D2/4λ202.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)2.1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)213.24?3.24?222.2超聲波在介質(zhì)中的傳播

2.2.1超聲波在金屬中的衰減定律超聲波在金屬中主要的衰減原因是散射和擴(kuò)散；在液體中主要是吸收。研究表明，超聲波在金屬中的衰減規(guī)律可用下面的關(guān)系式表達(dá)：

PX=P0·e-α·x(2-2)α——衰減系數(shù)；dB/mx——聲束傳播的距離，即聲程m。2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播2.2.1超聲波在金屬中的23(2-2)式表明，超聲波的聲壓在其傳播的路徑上，呈負(fù)指數(shù)規(guī)律衰減。這里強(qiáng)調(diào)指出：衰減系數(shù)α為頻率f4和晶粒尺寸d3的函數(shù)。所以，對(duì)粗晶檢測(cè)時(shí)，應(yīng)適當(dāng)降低超聲波頻率，彌補(bǔ)能量的不足。研究表明，聲壓p與超聲波探傷儀示波屏上的波高h(yuǎn)成正比關(guān)系：

p1/p2=h1/h2(2-3)實(shí)際探測(cè)時(shí)，超聲波探傷儀示波屏上的波高h(yuǎn)能夠反映聲波的衰減狀況。(2-2)式表明，超聲波的聲壓在其傳播的路徑上，呈負(fù)指數(shù)規(guī)律24超聲波探傷儀示波屏上

波高h(yuǎn)的衰減狀況這里，B1～B6代表超聲波在工件底面的

6次反射波。波高h(yuǎn)依次遞減。TB1B2B6超聲波探傷儀示波屏上

波高h(yuǎn)的衰減狀況這里，B1～B6代25描述：超聲場(chǎng)的物理量充滿(mǎn)超聲波的空間，或在介質(zhì)中超聲振動(dòng)波所及的“質(zhì)點(diǎn)占據(jù)的范圍”叫超聲場(chǎng)。對(duì)超聲場(chǎng)我們常用：1.聲壓、2.聲強(qiáng)、3.聲阻抗、4.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)位移和質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度等物理量,來(lái)描述超聲波聲場(chǎng)。2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

描述：超聲場(chǎng)的物理量2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播26(一)聲壓超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬間所具有的壓強(qiáng),與沒(méi)有超聲場(chǎng)存在時(shí)，同一點(diǎn)的靜態(tài)壓強(qiáng)之差為該點(diǎn)的聲壓，用表示。單位為帕,記作1Pa=1N/m2。若用平面余弦波表達(dá)式：

(2-1)2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

(一)聲壓2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播272.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

式中：-介質(zhì)的密度，C-介質(zhì)中的波速，A-介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振幅，-介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的圓頻率()，A-質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度振幅()，T-時(shí)間，x-至波源的距離。

且有關(guān)系式：式中：-聲壓的極大值。2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播式中：28可見(jiàn)：聲壓的絕對(duì)值，與波速、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度振幅(或角頻率)成正比。因?yàn)槌暡ǖ念l率高，所以超聲波比聲波的聲壓大。2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

可見(jiàn)：2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播292.3.1.2聲強(qiáng)在超聲波傳播的方向上，單位時(shí)間內(nèi)

介質(zhì)中單位截面上的聲能叫聲強(qiáng)。用I表示；單位是對(duì)縱波在均勻的各向同性的固體介質(zhì)中的傳播為例，可以證明平面波傳播的聲強(qiáng)計(jì)算式；

(1-2)注意：上式中有三個(gè)部分的概念。2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

2.3.1.2聲強(qiáng)2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播30超聲波的聲強(qiáng)：①、正比于質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)位移振幅的平方；②、正比于質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)角頻率的平方；③、正比于質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度振幅的平方。注意：由于超聲波的頻率高，其強(qiáng)度(能量)是遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于可聞聲波的強(qiáng)度。例如：1MHz聲波的能量等于100kHz聲波能量的100倍，等于lkHz聲波能量的100萬(wàn)倍。2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播

超聲波的聲強(qiáng)：2.3超聲波在介質(zhì)中的傳播31《無(wú)損檢測(cè)》超聲波完整版課件322.2超聲波在介質(zhì)中的傳播2.2.2超聲波在異質(zhì)界面處產(chǎn)生的各種現(xiàn)象(1)垂直入射異質(zhì)界面時(shí)的透射、反射及繞射①透射與反射

②

反射系數(shù)K=W反/W入×100%

W透W反w入2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播2.2.2超聲波在異質(zhì)界面處33③常見(jiàn)材料之間的界面反射系數(shù)

界面材料反射系數(shù)K%鋼—鋼

0鋼—變壓器油

81鋼—有機(jī)玻璃

77鋼——水

88有機(jī)玻璃—變壓器油

17鋼——空氣

100有機(jī)玻璃——空氣

100③常見(jiàn)材料之間的界面反射系數(shù)界面材料反34④反射現(xiàn)象的辯證分析

反射現(xiàn)象：

對(duì)發(fā)射超聲波不利；對(duì)脈沖反射法接收有利。⑤影響反射系數(shù)K的因素

反射系數(shù)K值的大小，決定于相鄰介質(zhì)的聲阻抗之差：ΔZ=|Z2－Z1|

ΔZ

越大，K

值越大。而與何者為第一介質(zhì)無(wú)關(guān)。④反射現(xiàn)象的辯證分析35(一)、在單一界面上當(dāng)超聲波垂直入射到足夠大的光滑平界面時(shí)：①.在第一介質(zhì)中產(chǎn)生一個(gè)與入射波方向相反的反射波。②.在第二介質(zhì)中產(chǎn)生一個(gè)與入射波方向相同的透射波。③.反射波與透射波的聲壓(聲強(qiáng))是按一定比例分配。④.分比例由聲壓反射率(或聲強(qiáng)反射率)，和聲壓透射率(或聲強(qiáng)透射率)來(lái)表示。(一)、在單一界面上361、在單一界面上反射波聲壓與入射波聲壓之比，稱(chēng)為界面的聲壓反射率：用表示。式中：Z1-介質(zhì)1的聲阻抗，Z2-介質(zhì)2的聲阻抗。1、在單一界面上反射波聲壓與入射波聲壓之比，稱(chēng)為界面的聲壓372、在單一界面上透射波聲壓與入射波聲壓之比，稱(chēng)為界面的聲壓透射率：用t表示：

3、在界面上反射波聲強(qiáng)與入射波聲強(qiáng)之比，稱(chēng)為聲強(qiáng)反射率：用R表示：2、在單一界面上透射波聲壓與入射波聲壓之比，稱(chēng)為界面的聲壓384、在界面上透射聲強(qiáng)與入射聲強(qiáng)之比，稱(chēng)為聲強(qiáng)透射率：用T表示：說(shuō)明：在聲波垂直入射到平界面上時(shí)，聲壓和聲強(qiáng)的分配比例，僅與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān).4、在界面上透射聲強(qiáng)與入射聲強(qiáng)之比，稱(chēng)為聲強(qiáng)透射率：39注意：在垂直入射時(shí)，介質(zhì)兩側(cè)的聲波必須滿(mǎn)足兩個(gè)邊界條件：

(1)、一側(cè)總聲壓等于另一側(cè)總聲壓。否則界面兩側(cè)受力不等，將會(huì)發(fā)生界面運(yùn)動(dòng)。(2)、兩側(cè)質(zhì)點(diǎn)速度振幅相等，以保持波的連續(xù)性。注意：40上述的是超聲波縱波：垂直入射到單一平界面上的，聲壓、聲強(qiáng)與其反射率、透射率的計(jì)算公式，同樣適用于橫波入射的情況。上述的是超聲波縱波：41(二)、薄層界面

在進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，經(jīng)常遇到很薄的耦合層和缺陷薄層，可以歸納為超聲波在薄層界面的反射和透射問(wèn)題。

超聲波是由聲阻抗為Z1的第一介質(zhì)，入射到Z1和Z2的交界面。然后通過(guò)聲阻抗為Z2的第二介質(zhì)薄層射到Z2和Z3界面，最后進(jìn)入聲阻抗為Z3的第三介質(zhì)等。在有三層介質(zhì)時(shí)，很多情況是：第一介質(zhì)和第三介質(zhì)為同一種介質(zhì)。(二)、薄層界面42a)鋼-水入射b)水-鋼入射a)鋼-水入射b)水-鋼入射43注意：1、超聲波通過(guò)一定厚度的異質(zhì)薄層時(shí)，反射和透射情況與單一的平界面不同，2、當(dāng)異質(zhì)薄層很薄，進(jìn)入薄層內(nèi)的超聲波會(huì)在薄層兩側(cè)界面，引起多次反射和透射，形成一系列的反射和透射波。3、當(dāng)超聲波脈沖寬度相對(duì)于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波就會(huì)互相干涉。4、由于上述原因，聲壓反射率和透射率的計(jì)算比較復(fù)雜。注意：44一般說(shuō)來(lái)：超聲波通過(guò)異質(zhì)薄層時(shí)：聲壓反射率和透射率，不僅與介質(zhì)聲阻抗和薄層聲阻抗有關(guān)，而且與薄層厚度同其波長(zhǎng)之比()有關(guān)。一般說(shuō)來(lái)：45(1)、當(dāng)一、三介質(zhì)為同一介質(zhì)時(shí)，對(duì)均勻介質(zhì)中的異質(zhì)薄層有如下規(guī)律性：

（反射）

2-21

（透射）

2-22(1)、當(dāng)一、三介質(zhì)為同一介質(zhì)時(shí)，對(duì)均勻介質(zhì)中的異質(zhì)薄層有如46式中：d2-異質(zhì)薄層的厚度，-異質(zhì)薄層的波長(zhǎng)，-兩種介質(zhì)的聲阻抗之比，由公式(2-21)(2-22)可知：①當(dāng)時(shí)(n為正整數(shù))，。②當(dāng)時(shí)(n為正整數(shù))，r最高，。③當(dāng)時(shí)，即時(shí)，則薄層厚度愈小，透射率愈大，反射率愈小。式中：d2-異質(zhì)薄層的厚度，47(2)、，即非均勻介質(zhì)中的薄層有如下規(guī)律性：例如：晶片—保護(hù)薄膜—工件，或晶片—耦合劑—工件等情況。此時(shí)聲壓往復(fù)透射率為：

（2-23）(2)、，即非均勻介質(zhì)中的薄層有如下48由上式可知：①當(dāng)時(shí)(n為正整數(shù))，則有：即：超聲波垂直入射到兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗不同的薄層，若薄層厚度等于半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，通過(guò)薄層的聲壓往復(fù)透射率與薄層的性質(zhì)無(wú)關(guān)。由上式可知：49②當(dāng)(n為正整數(shù))，且時(shí)，則有：上式表明：超聲波垂直入射到兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗不同的薄層：1、當(dāng)?shù)钠鏀?shù)倍，Z2為時(shí)，或時(shí)，②當(dāng)(n為正整數(shù))，且50其聲壓往復(fù)透射率等于1，此即為全透射的情況。

2、當(dāng)時(shí)，薄層愈薄，聲壓往復(fù)透射率愈大。其聲壓往復(fù)透射率等于1，此即為全透射的情況。51關(guān)于聲阻抗

聲阻抗Z——表示聲場(chǎng)中介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作用。指超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，任一點(diǎn)的聲壓p與該點(diǎn)速度振幅V之比。定義式:聲阻抗Z=p/V(2-4)

數(shù)值表征:Z=ρ·CL(2-5)

氣體、液體、金屬之間聲阻抗之比約為：

1：3000：8000。關(guān)于聲阻抗聲阻抗Z——表示聲場(chǎng)中介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作52⑥繞射現(xiàn)象當(dāng)界面尺寸df<λ/2時(shí)，聲波能繞過(guò)缺陷界面而繼續(xù)向前傳播的現(xiàn)象，叫作繞射。因此，要想提高探傷靈敏度，必須提高頻率f,以便發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。超聲波的繞射現(xiàn)象⑥繞射現(xiàn)象超聲波的53(2)傾斜入射異質(zhì)界面的反射、折射和波型轉(zhuǎn)換

①參考圖

S1L1S2L2

α

αｓ

αLβｓ

βLLoL——入射縱波；α——縱波入射角；L1——反射縱波；αL——縱波L1反射角；S1——反射橫波；αｓ——橫波S1反射角；L2——折射縱波；βL——縱波L2折射角；S2——折射橫波；βｓ——橫波S2折射角。(2)傾斜入射異質(zhì)界面的反射、折射和波型轉(zhuǎn)換S1541超聲波在無(wú)限大介質(zhì)中傳播時(shí)，將一直向前傳播，不改變方向。2遇到異質(zhì)界面(聲阻抗差異較大的異質(zhì)界面)時(shí)，會(huì)產(chǎn)生反射和透射現(xiàn)象。3一部分超聲波在界面上被反射回第一介質(zhì)，另一部分透過(guò)介質(zhì)交界面進(jìn)入第二介質(zhì)。2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播1超聲波在無(wú)限大介質(zhì)中傳播時(shí)，將一直向前傳播，不改變方向。255

(一)、在單一界面上當(dāng)超聲波垂直入射到足夠大的光滑平界面時(shí)：①在第一介質(zhì)中產(chǎn)生一個(gè)與入射波方向相反的反射波。②在第二介質(zhì)中產(chǎn)生一個(gè)與入射波方向相同的透射波。③反射波與透射波的聲壓(聲強(qiáng))是按一定比例分配。④分比例由聲壓反射率(或聲強(qiáng)反射率)，和聲壓透射率(或聲強(qiáng)透射率)來(lái)表示。2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播(一)、在單一界面上2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播56(二)薄層界面√在進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，經(jīng)常遇到很薄的耦合層和缺陷薄層，可以歸納為超聲波在薄層界面的反射和透射問(wèn)題。2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播(二)薄層界面√2.2超聲波在介質(zhì)中的傳播57②斯涅耳定律：（2－6)

S1L1S2L2

α

αｓ

αLβｓ

βLL②斯涅耳定律：（2－6)S1L1S258(2)臨界角的討論及其應(yīng)用意義因CL=CL1;α=αL;由（2-6）式可推知:（2-7）（2-8）

臨界角的討論：當(dāng)取有機(jī)玻璃為第一介質(zhì)，鋼為第二介質(zhì)時(shí)，即有：CL1<CL2,CL1<CS2<CL2,必有α<βS<βL；且α，βS，βL；(2)臨界角的討論及其應(yīng)用意義59故當(dāng)βL=90°時(shí)，第二介質(zhì)中只有橫波。此時(shí)對(duì)應(yīng)的縱波入射角α；叫作第一臨界角，記為α1m。這時(shí)，α1m=27.6°。

當(dāng)α，使βs=90°時(shí)，第二介質(zhì)中只有表面波。此時(shí)對(duì)應(yīng)的縱波入射角α；叫作第二臨界角，記為α2m=57.6。臨界角的應(yīng)用：

斜探頭設(shè)計(jì)時(shí)，應(yīng)保證聲波的入射角介于第一臨界角、第二臨界角之間。故當(dāng)βL=90°時(shí)，第二介質(zhì)中只有橫波。此時(shí)對(duì)應(yīng)的縱波入60第三臨界角：（入射角，折射角）當(dāng)超聲波橫波傾斜入射到界面時(shí)，在第一介質(zhì)中產(chǎn)生反射縱波和反射橫波。由于在同一介質(zhì)中，恒大于，所以恒大于。隨著增加，當(dāng)時(shí)，介質(zhì)中只存在反射橫波。當(dāng)，則有；注意：只有第一介質(zhì)為固體時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。第三臨界角：（入射角，折射角）612.4.2.3傾斜入射到平界面上時(shí)聲壓反射率與透射率

注意：斯涅爾反射、折射定律只討論了：超聲波傾斜入射到界面上時(shí)，各種類(lèi)型反射波和折射波的傳播方向，沒(méi)有涉及它們的聲壓反射率和透射率。實(shí)際上：在斜入射情況下，各種類(lèi)型的反射波和折射波的聲壓反射率和透射率，是與：①與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)，②與入射波的類(lèi)型以及入射角的大小有關(guān)。2.4.2.3傾斜入射到平界面上時(shí)聲壓反射率與透射率62其理論計(jì)算公式復(fù)雜，借助于由公式或?qū)嶒?yàn)：得到的幾種，常見(jiàn)界面的聲壓反射率和透射率圖來(lái)確定檢測(cè)方案。其理論計(jì)算公式復(fù)雜，借助于由公式或?qū)嶒?yàn)：63《無(wú)損檢測(cè)》超聲波完整版課件64《無(wú)損檢測(cè)》超聲波完整版課件652.4.2.4聲壓往復(fù)透射率

超聲波傾斜入射時(shí)，聲壓往復(fù)透射率等于兩次相反方向，通過(guò)同一界面的聲壓透射率的乘積。表達(dá)式：2-25-入射波聲壓，-透射波聲壓，-回波聲壓2.4.2.4聲壓往復(fù)透射率662.3超聲波檢測(cè)原理

本節(jié)重點(diǎn)講解:

A型脈沖反射法超聲波檢測(cè)原理。在實(shí)際應(yīng)用中以該法為主。2.3.1A型脈沖反射法超聲波檢測(cè)原理

(1)原理：

A型脈沖反射法超聲波檢測(cè)就是利用超聲波在傳播過(guò)程中，遇到聲阻抗較大的異質(zhì)界面時(shí)，將產(chǎn)生反射的原理來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)內(nèi)部缺陷檢測(cè)的。2.3超聲波檢測(cè)原理本節(jié)重點(diǎn)講解:67

(2)實(shí)現(xiàn)方法：

該法采用單一探頭——既作發(fā)射器件，又作接收元件，以脈沖方式間歇地向工件發(fā)射超聲波；接受到的回波信號(hào)經(jīng)功能電路放大、檢波后，在探傷儀的示波屏上，以脈沖信號(hào)顯示出來(lái)。

(3)信號(hào)的解讀：根據(jù)探傷儀示波屏上，始波T、傷波F、底波B的有無(wú)、大小及其在時(shí)基軸上的位置可判斷工件內(nèi)部缺陷的有無(wú)、大小和位置。見(jiàn)下圖：(2)實(shí)現(xiàn)方法：68示例直探頭缺陷顯示

a.無(wú)缺陷b.小缺陷c.大缺陷TBTTBFF示例直探頭缺陷顯示a.無(wú)缺陷69示波屏特征小結(jié)

（a）無(wú)缺陷

——示波屏上只有始波T和底波B，而且底波較高；（b）有小缺陷——示波屏上不僅有始波T

和底波B；而其間還有傷波F;

相對(duì)（a）無(wú)缺陷的情況，

底波變矮；（c）有大缺陷——示波屏上只有始波T和傷波F,

沒(méi)有底波B。相對(duì)（b）而言，傷波變高。示波屏特征小結(jié)（a）無(wú)缺陷——示波屏上只有始波T和底波702.4脈沖反射法超聲波檢測(cè)技術(shù)要點(diǎn)

內(nèi)容提要：從根本上說(shuō)，超聲波檢測(cè)技術(shù)的基本任務(wù)就是：

①通過(guò)調(diào)節(jié)探傷系統(tǒng)的靈敏度和調(diào)整操作手法，

有效的發(fā)現(xiàn)缺陷；②發(fā)現(xiàn)缺陷后，能夠準(zhǔn)確的給缺陷定性、定量、定位；③根據(jù)工藝要求,提出返修建議及相關(guān)的探傷工藝；④按規(guī)定格式，出據(jù)檢測(cè)報(bào)告。重點(diǎn)介紹兩種探傷方法。2.4脈沖反射法超聲波檢測(cè)技術(shù)要點(diǎn)內(nèi)容提要：712.4.1垂直入射法（直探頭，縱波法探傷技術(shù)）

①定義：采用直探頭將聲束垂直入射工件的探傷方法；該法利用的聲波類(lèi)型為縱波，故有縱波法之稱(chēng)。簡(jiǎn)記：垂直入射法=直探頭法=縱波法②缺陷顯示方式：以回波在時(shí)基線(xiàn)上的位置、脈沖大小反映缺陷的情況。

③應(yīng)用特點(diǎn)：能夠發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面平行或接近平行的面積型缺陷和體積型缺陷。對(duì)體積型缺陷的檢出率較高。2.4.1垂直入射法（直探頭，縱波法探傷技術(shù)）72④缺陷的定位：缺陷就在探頭的正下方！從三維定位的角度，需給出三個(gè)坐標(biāo)：x,y,z；其中，在探測(cè)面上的水平坐標(biāo)x,y可直接用鋼板尺量取；而缺陷的埋藏深度坐標(biāo)z（習(xí)慣上用h表示）可根據(jù)傷波可根據(jù)傷波F在時(shí)基線(xiàn)上的位置，按比例關(guān)系確定:

h=(tf/tb)·δ=n·tf

④缺陷的定位：73式中:

tf—傷波脈沖前沿在示波屏?xí)r基線(xiàn)上的刻度值；

tb—底波在示波屏?xí)r基線(xiàn)上的刻度值；

δ—被檢測(cè)試件的厚度值；

n—比例系數(shù);n=δ/tb。式中:74⑤缺陷的定量

a.當(dāng)缺陷尺寸大于聲束直徑時(shí)，采用移動(dòng)測(cè)長(zhǎng)法；即半波高法。圖示如下：缺陷長(zhǎng)度探頭移動(dòng)距離6db波高波高包絡(luò)線(xiàn)

探頭⑤缺陷的定量缺陷長(zhǎng)度探頭移動(dòng)距離6db波高波高包絡(luò)線(xiàn)探頭75b.缺陷尺寸小于聲束直徑時(shí)，采用當(dāng)量法；

當(dāng)量法的基本思想：在一定的探傷靈敏度條件下，將已知形狀、尺寸的人工反射體的回波與實(shí)際檢測(cè)到的缺陷回波相對(duì)比，若二者的聲程、回波高度相等，則這個(gè)已知人工反射體的相關(guān)尺寸可視為該實(shí)際缺陷的“缺陷當(dāng)量”。

可見(jiàn)當(dāng)量法應(yīng)該選擇恰當(dāng)?shù)膶?duì)比試塊。設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)木嚯x尺寸和人工反射體的尺寸；

得到“探測(cè)距離與波幅曲線(xiàn)”；b.缺陷尺寸小于聲束直徑時(shí)，采用當(dāng)量法；76當(dāng)量法的距離——波幅曲線(xiàn)示意圖對(duì)比試塊25050孔徑可改變?yōu)椋害?，Φ3，Φ4，Φ6；探頭平底孔距探測(cè)面的距離為：5，10，15，20，25，30，35，40，45當(dāng)量法的距離——波幅曲線(xiàn)示意圖對(duì)比試塊25050孔徑可改變77當(dāng)量法的距離——波幅曲線(xiàn)示意圖圖例波幅距離mm評(píng)定線(xiàn)

定量線(xiàn)報(bào)廢線(xiàn)ⅠⅡⅢdB當(dāng)量法的距離——波幅曲線(xiàn)示意圖圖例波幅距離mm評(píng)定線(xiàn)定量線(xiàn)78即：聲強(qiáng)級(jí)在數(shù)值上等于某一頻率的聲強(qiáng)I與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)I0的比值再取常用對(duì)數(shù)后乘以10。tb—底波在示波屏?xí)r基線(xiàn)上的刻度值；②發(fā)現(xiàn)缺陷后，能夠準(zhǔn)確的給缺陷定性、定量、在第一介質(zhì)中產(chǎn)生一個(gè)與入射波方向相反的反射波。a)鋼-水入射b)水-鋼入射-回波聲壓用來(lái)模擬各種工藝缺陷，對(duì)超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度進(jìn)行調(diào)整！由于在同一介質(zhì)中，恒大于，所以恒大于。擴(kuò)散、散射、吸收；超聲檢測(cè)系統(tǒng)——由超聲檢測(cè)儀器、探頭和電纜組成的系統(tǒng)。這里強(qiáng)調(diào)指出：衰減系數(shù)α為頻率f4和晶粒尺寸d3的函數(shù)。1超聲波檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)指材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)鑒定的試塊。指超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分深度方向一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)GB/T12604.相對(duì)（a）無(wú)缺陷的情況，該法采用單一探頭——既作發(fā)射器件，又作接收元件，以脈沖方式間歇地向工件發(fā)射超聲波；其中，L50＝50K/√1＋K2;ΔZ越大，K值越大。⑥缺陷的定性

對(duì)于A型顯示的超聲波檢測(cè)來(lái)說(shuō)，給缺陷定性是較復(fù)雜和困難的。需要了解檢測(cè)對(duì)象的材質(zhì)、工藝、缺陷位置、空間位向、信號(hào)大小、特征等多方面的信息。缺陷性質(zhì)不同，其波形特征各異；在探頭移動(dòng)時(shí)，也會(huì)表現(xiàn)出不同的特點(diǎn)。要做動(dòng)態(tài)分析！即：聲強(qiáng)級(jí)在數(shù)值上等于某一頻率的聲強(qiáng)I與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)I0的比值再79舉例點(diǎn)狀缺陷的波幅較低，當(dāng)探頭作環(huán)繞掃查時(shí)，信號(hào)反映遲鈍；夾渣群則呈連串的波峰，而且波形雜亂；裂紋和未焊透等平面缺陷的回波高而陡峭，對(duì)探頭轉(zhuǎn)角掃查反映敏感；特別是回波信號(hào)往往隨探頭的掃查方式改變而發(fā)生不同的變化。其變化規(guī)律需操作者積累豐富的經(jīng)驗(yàn)。各種現(xiàn)代超聲檢測(cè)技術(shù)的出現(xiàn)，大大提高了缺陷定性的準(zhǔn)確性。舉例點(diǎn)狀缺陷的波幅較低，當(dāng)探頭作環(huán)繞掃查時(shí)，信號(hào)反映遲鈍；80基本掃查方式圖示垂直水平環(huán)繞轉(zhuǎn)角基本掃查方式圖示垂直水平環(huán)繞轉(zhuǎn)角81《無(wú)損檢測(cè)》超聲波完整版課件822.4.2斜角探傷法（斜探頭，橫波法）(1)定義：采用斜探頭將聲束傾斜入射工件探傷面進(jìn)行檢測(cè)的方法，簡(jiǎn)稱(chēng)斜射法。在具體檢測(cè)中，采用橫波探傷，

因此，又稱(chēng)橫波法。(2)斜探頭的主要參數(shù):①橫波折射角βｓ；簡(jiǎn)稱(chēng)折射角β；

②探頭K值:K=tgβ.(反射系數(shù)K)

③超聲波頻率:f.2.4.2斜角探傷法（斜探頭，橫波法）83(3)示波屏上的缺陷顯示情況：

TTTFB’

a.無(wú)缺陷

b.有缺陷c.端角波(3)示波屏上的缺陷顯示情況：TTTFB’a.84(4)幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ)入射點(diǎn)o；前沿長(zhǎng)度b—聲波入射點(diǎn)至探頭前端距離；折射角β；探頭K值，K=tgβ;跨距

P1=2δ·tgβ=2Kδ;半跨距

P0.5=K·δ;直射法—聲波未經(jīng)發(fā)射直接對(duì)準(zhǔn)缺陷；一次反射法—聲波只經(jīng)過(guò)一次反射就對(duì)準(zhǔn)了缺陷。(4)幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ)85幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ)的圖解圖例:

直射法＝一次波法；一次反射法＝二次波法oβBP1P0.5δbF缺陷水平距離L聲程Sh幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ)的圖解圖例:直射法＝一次波法；一次反射法＝二次86直射法圖解K=tgβ=L/h缺陷水平距離L=S·sinβ;缺陷深度h=S·cosβ；工件缺陷Lhβ直射法圖解K=tgβ=L/h工件缺陷Lhβ87一次反射法圖解L=S·sinβ=S·K/√1＋K2h=2δ－S·cosβ=2δ－L/K；工件缺陷Lhβh一次反射法圖解L=S·sinβ工件缺陷Lhβh88思考題：

一次反射法探傷時(shí)，怎樣用聲程S和折射角β表示缺陷水平距離L與缺陷深度h？解：已知δ，S,β或K時(shí)，

若先求出h=2δ－S·cosβ=2δ－L/K；則L=(2δ－h(huán))K=S·sinβ。思考題：一次反射法探傷時(shí)，怎樣用聲程S和折射角β表89（5）常用的掃查方式

粗探——鋸齒型（W）掃查；又稱(chēng)垂直—水平掃查；

精探——轉(zhuǎn)角、環(huán)繞、垂直、水平。

鉛直水平環(huán)繞轉(zhuǎn)角（5）常用的掃查方式鉛直水平環(huán)繞轉(zhuǎn)角90（6）缺陷定位

斜探頭定位的復(fù)雜性分析：

缺陷定位的目的，就是在發(fā)現(xiàn)缺陷后，如何給出它的三維坐標(biāo)，并在圖紙上表示清楚。習(xí)慣上，采用直角坐標(biāo)來(lái)表示。即給出X,Y,h.參見(jiàn)下圖:工件XyLY=y＋LAAFLyhFA－A（6）缺陷定位工件XyLY=y＋LAAFLyhFA－A91（6）缺陷定位

一種水平1:1定位法即斜探頭進(jìn)行焊縫缺陷定位的方法。①首先完成水平1:1定位（借助標(biāo)準(zhǔn)試塊）由于已知探頭K值，故可直接計(jì)算

L50和L100：其中，L50＝50K/√1＋K2;L100=2L50

（6）缺陷定位92CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊圖例R50R10030091L50L100β100200CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊圖例R50R10030091L50L1093CTS-22型超聲波探傷儀面板圖衰減器增益脈沖移位深度微調(diào)深度粗調(diào)電源指示電源開(kāi)關(guān)CTS-22型超聲波探傷儀面板圖衰減器增益脈沖移位深度微調(diào)深94然后,利用CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同心圓弧R50，R100為人工反射體，將斜探頭的入射點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)同心圓弧R50，R100的圓心（此時(shí)回波最高），并利用水平移位旋紐和深度調(diào)節(jié)旋紐使同心圓弧R50，R100的回波分別對(duì)準(zhǔn)時(shí)基線(xiàn)上的L50和L100。這樣，就完成了水平1:1定位調(diào)節(jié)。此后的探傷過(guò)程千萬(wàn)不要再動(dòng)水平移位旋紐和深度調(diào)節(jié)旋紐。否則，就會(huì)破壞剛剛調(diào)好的定位關(guān)系。然后,利用CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同心圓弧R50，R100為952.5超聲波探傷系統(tǒng)2.5.1超聲波檢測(cè)系統(tǒng)組成

(1)超聲波探頭；

(2)超聲波探傷儀；

（3）測(cè)試線(xiàn)；

（4）試塊/工件；

（5）耦合劑。2.5超聲波探傷系統(tǒng)2.5.1超聲波檢測(cè)系統(tǒng)組成962.5超聲波探傷系統(tǒng)

(1)探頭:

①直探頭

外殼壓電晶片引線(xiàn)阻尼塊

2.5超聲波探傷系統(tǒng)(1)探頭:外殼壓電晶片引線(xiàn)97

②斜探頭o有機(jī)玻璃楔塊阻尼材料壓電晶片引線(xiàn)握柄外殼入射點(diǎn)②斜探頭o有機(jī)玻璃楔塊阻尼材料壓電晶片引線(xiàn)握柄外殼入射98超聲波探頭當(dāng)入射角AL一定時(shí),探頭的折射角BS是一個(gè)隨透聲斜楔材料、檢測(cè)對(duì)象材質(zhì)變化的,即K值并非一定值超聲波探頭當(dāng)入射角AL一定時(shí),探頭的折射角BS是99斜探頭的參數(shù)選擇為了保證斜探頭檢測(cè)時(shí)，盡可能使用直射法或一次反射法探傷。應(yīng)注意：

a.板厚較大時(shí),選擇K值較小的探頭；按深度1:1定位法進(jìn)行初始定位。

b.板厚較薄時(shí),選擇K值較大的探頭；按水平1:1定位法進(jìn)行初始定位。斜探頭的參數(shù)選擇為了保證斜探頭檢測(cè)時(shí)，盡可能使100（2）探傷儀衰減器增益脈沖移位深度微調(diào)深度粗調(diào)電源指示電源開(kāi)關(guān)（2）探傷儀衰減器增益脈沖移位深度微調(diào)深度粗調(diào)電源指示電源開(kāi)101強(qiáng)調(diào)一點(diǎn)超聲波探傷儀在工作時(shí)，其始波T是不依賴(lài)探頭而存在的！這時(shí)因?yàn)椋菏疾ㄗ鳛橐环N標(biāo)志信號(hào)，直接通過(guò)內(nèi)部電路饋送而來(lái)的，它不是反射信號(hào)！直探頭探傷時(shí)，要求始波前沿對(duì)準(zhǔn)0刻度！斜探頭探傷時(shí)，由于探頭內(nèi)部楔塊已經(jīng)有一段聲程S0，因此不再要求始波對(duì)準(zhǔn)0刻度！強(qiáng)調(diào)一點(diǎn)超聲波探傷儀在工作時(shí)，其始波T是不依賴(lài)探頭而存在的！102（3）試塊

超聲波檢測(cè)，離不開(kāi)試塊。其作用比象質(zhì)計(jì)還要大！

試塊分為：標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊兩類(lèi)。它們都是超聲波檢測(cè)的輔助工具。用來(lái)模擬各種工藝缺陷，對(duì)超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度進(jìn)行調(diào)整！試塊中精心設(shè)計(jì)了各種人工反射體，并進(jìn)行了科學(xué)布置。（3）試塊103標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的定義標(biāo)準(zhǔn)試塊(standardtestblock)

指材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)鑒定的試塊。也叫校準(zhǔn)試塊。用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。對(duì)比試塊（referenceblock）用于調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。也叫參考試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的定義標(biāo)準(zhǔn)試塊(standardtest104標(biāo)準(zhǔn)試塊示例

(1)CS—1試塊尺寸參數(shù)：高H=225mm；直徑Φ70mm；底部平底孔Φ2mm；孔深h=25mm.作用：標(biāo)定儀器靈敏度！標(biāo)準(zhǔn)試塊示例(1)CS—1試塊高H=225mm；作用：標(biāo)105試塊示例（2)CSK-1A試塊

R50R10030091L50L100β100200試塊示例（2)CSK-1A試塊R50R10030091L50106CSK-1A

試塊的作用

①標(biāo)定探頭K值；②測(cè)試分辨力；③測(cè)試探傷儀的水平線(xiàn)性；④進(jìn)行斜探頭的垂直或水平1：1定位；⑤測(cè)試斜探頭的入射點(diǎn)等等。

—這些內(nèi)容，將通過(guò)實(shí)驗(yàn)課來(lái)親自體驗(yàn)。CSK-1A試塊的作用①標(biāo)定探頭K值；1072.5.2超聲波探傷儀基本性能簡(jiǎn)介（1）垂直線(xiàn)性—回波波高與放大系統(tǒng)的回波電壓信號(hào)成正比關(guān)系的程度。因此，又稱(chēng)為

放大線(xiàn)性或波幅線(xiàn)性。它涉及對(duì)缺陷的定量。合格儀器一般要求≤8%。（2）水平線(xiàn)性—探傷儀示波屏?xí)r基線(xiàn)上的傷波前沿讀數(shù)與實(shí)際聲程成正比關(guān)系的程度。又稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性、掃描線(xiàn)性或距離線(xiàn)性。它涉及對(duì)缺陷的定位。合格儀器一般要求≤2%。（3）動(dòng)態(tài)范圍—回波波高從100％至完全消失，衰減器db值的改變量。一般大于26db。2.5.2超聲波探傷儀基本性能簡(jiǎn)介1082.5.3

超聲波檢測(cè)系統(tǒng)的組合性能

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)GB/T12604.1-90規(guī)定:

超聲檢測(cè)系統(tǒng)——由超聲檢測(cè)儀器、探頭和電纜組成的系統(tǒng)。

(1)組合靈敏度——用靈敏度余量來(lái)表示。指超聲檢測(cè)系統(tǒng)中，以一定電平（或波高）表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與最大探測(cè)靈敏度之間的差值。用db數(shù)表征。該值越大，表明該系統(tǒng)的組合靈敏度越好。即靈敏度余量越大。2.5.3超聲波檢測(cè)系統(tǒng)的組合性能109(2)組合盲區(qū)（d