ASME鍋爐及壓力容器規(guī)國際性規(guī)定(泄漏檢測)

......... .... .ASME鍋爐及壓力容器規(guī)國際性規(guī)Ⅴ2023泄漏檢測前言1911裕度，為防止破損和對生命財(cái)產(chǎn)安全供給合理牢靠的保證。一、第Ⅴ卷容A分卷 無損檢測方法第1章 通用要求第2章 射線照相檢測第3章 金屬鑄件的射線照相檢測第4章 在役檢查的超聲檢測方法第5章 制造的超聲檢測方法第6章 液體滲透檢測第7章 磁粉檢測第8章 品的渦流檢測第9章 目視檢測第10章 泄漏檢測第11章 增加環(huán)氧樹脂容器聲放射檢測第12章 加壓試驗(yàn)時(shí)金屬容器的聲放射檢測1章通用要求注：通用要求即是對第2章～12章都適用的要求。T—110適用圍要求。這些無損檢測方法是：射線照相檢測超聲波檢測液體滲透檢測磁粉檢測渦流檢測目視檢測泄漏檢測聲放射檢測以上這些無損檢測方法用于檢測的對象是：材料、焊縫和加工零部件的外表和在的瑕疵〔或叫缺陷。T—120總則注：從10個(gè)方面提出了A〔或B〕分卷的使用原則和有關(guān)規(guī)定。T—130設(shè)備注：規(guī)無損檢測單位和無損檢測人員應(yīng)負(fù)責(zé)保證使用本規(guī)要求的檢驗(yàn)設(shè)備。T—150規(guī)程〔a)本規(guī)所涉及的無損檢驗(yàn)方法在正常狀況下對制造過程中遇到的大局部幾何形狀和材料都是適用的?！瞓)裝廠有責(zé)任按規(guī)有關(guān)卷的要求制定出無損檢驗(yàn)規(guī)程及人員資格鑒定規(guī)程?！瞔)規(guī)程執(zhí)行。“ASMET—160校驗(yàn)制造廠、制造商、安裝單位應(yīng)保證全部設(shè)備按A/B驗(yàn)。(b)校驗(yàn)是必需的。注：設(shè)備、計(jì)量器具都必需按要求進(jìn)展校驗(yàn)。T—170檢驗(yàn)與檢查有關(guān)篇章的要求進(jìn)展的全部檢驗(yàn)工作已按本篇和《規(guī)》有關(guān)篇章的要求執(zhí)行。他有權(quán)要求見證本規(guī)有關(guān)篇章所提出的任一項(xiàng)檢驗(yàn)。在本篇章中檢查員一詞是指具備本《規(guī)》各有關(guān)篇章中所規(guī)定資格的授權(quán)檢驗(yàn)師。(b)雇用的人員進(jìn)展質(zhì)量掌握的職責(zé)。檢測人員和無損檢測工作進(jìn)展監(jiān)視和見證。T—180評(píng)定注：每種無損檢測方法必需依據(jù)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)展檢測結(jié)果的評(píng)定，因此，規(guī)的各有關(guān)篇章中都應(yīng)有驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的容。T—190記錄/文件記錄/A/B檢測單位和無損檢測人對記錄/文件負(fù)責(zé)。10章泄漏試驗(yàn)本章中包括了正文和10個(gè)強(qiáng)制性附錄和一個(gè)非強(qiáng)制性附錄。正文規(guī)定了承受ASME具體的規(guī)定，而有關(guān)檢測規(guī)程、設(shè)備、檢定、評(píng)定，檢測文件等正文中都作了一般性的規(guī)定。T—1010 適用圍注：當(dāng)本《規(guī)》的有關(guān)卷規(guī)定承受第10章的泄漏方法或技術(shù)時(shí)，應(yīng)同時(shí)承受第1章的一般要求。即只要承受第101本章的強(qiáng)制性附錄如下：附錄Ⅰ ——直接加壓法附錄Ⅱ 氣泡試驗(yàn)——真空罩法附錄Ⅲ 鹵素二極管檢漏儀探頭試驗(yàn)附錄Ⅳ 驗(yàn)——檢漏儀探關(guān)技術(shù)附錄Ⅴ 氦質(zhì)譜試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)附錄Ⅵ 壓力變更試驗(yàn)附錄Ⅶ 術(shù)語匯總附錄Ⅷ 熱電導(dǎo)檢測儀探頭試驗(yàn)附錄Ⅸ 氦質(zhì)譜試驗(yàn)——護(hù)罩技術(shù)附錄Ⅹ 超聲波泄漏試驗(yàn)公式符號(hào)附錄A 漏試驗(yàn)公式符號(hào)T—1020 總則注：規(guī)定泄漏檢測應(yīng)按書面檢測規(guī)程進(jìn)展。T—1021 書面規(guī)程要求T—1021.1要求書面檢測規(guī)程的要最低要求，其容詳見相應(yīng)的強(qiáng)制性附錄。書面規(guī)程要求對重要變素和非重要變素應(yīng)規(guī)定單一值或數(shù)值圍。T—1021.2要求的修改T—1021.3規(guī)程鑒定書面規(guī)程應(yīng)予鑒定，假設(shè)規(guī)程中重要變素有變化，應(yīng)予重鑒定。T—1022 有關(guān)規(guī)求應(yīng)在檢測及其治理中予以考慮：人員的資格/證書；技術(shù)/校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)圍可承受的試驗(yàn)靈敏度或泄漏率報(bào)告要求記錄的保存T—1030 設(shè)備注：對設(shè)備的一般規(guī)定僅僅是對壓力計(jì)的要求。T—1031 壓力計(jì)要：量程：刻度圍應(yīng)為檢漏所需的最大壓力的1倍半至4倍。位置：無論與檢測對象連接較近，還是較遠(yuǎn)，都應(yīng)當(dāng)保證檢測人員在對檢測部件充能夠全面觀看到壓力計(jì)的變化錄式壓力計(jì)，它可以替代兩個(gè)或更多個(gè)指示式壓力計(jì)中之一。T—1040 其他要求注：規(guī)規(guī)定檢測部位外表清潔度、檢測系統(tǒng)開口處密封材料、檢測部位的濕度、檢測部件的壓力極限等。T—1041 清潔度受檢部件必需作清潔處理，保持枯燥，檢測部位外表無油脂、油漆等污染物。T—1042 開孔開孔處密封材料要求不含示蹤氣體，并在檢測后易于去除。T—1043 溫度檢測時(shí)的最低溫度或最高溫度應(yīng)不超過所承受泄漏檢測方法或技術(shù)所允許的溫度。T—1044 壓力/真空〔壓力極限〕壓力/真空〔極限壓力〕要求需作泄漏檢測的部件應(yīng)在25%的壓力下進(jìn)展，但規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定除外。T—1050 規(guī)程T—1051 預(yù)泄漏試驗(yàn)漏，但應(yīng)留意預(yù)檢不得封閉漏孔，影響正規(guī)檢漏。T—1052 試驗(yàn)挨次規(guī)推舉泄漏檢測應(yīng)安排在水壓試驗(yàn)和液壓氣動(dòng)試驗(yàn)之前。T—1060 校準(zhǔn)為計(jì)量檢定，表示設(shè)備向高一級(jí)精度校準(zhǔn)。T—1061 壓力/真空計(jì)注：壓力/真空計(jì)應(yīng)當(dāng)計(jì)量檢定，除非另有規(guī)定，每年至少重檢定一次。檢定結(jié)果必需符合制造廠商所列的精度。壓力/真空計(jì)在使用期間發(fā)生過失，必需隨時(shí)送檢。T—1062 溫度測量裝置溫度測量裝置也應(yīng)按規(guī)定送檢。T—1063 校準(zhǔn)泄漏標(biāo)準(zhǔn)注：規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)漏孔的檢定和漏率圍T—1063.1滲透型泄漏標(biāo)準(zhǔn)注：1×10-7Pa?3/s～1×10-11Pa?m3/sT—1063.2毛細(xì)管型泄漏標(biāo)準(zhǔn)注毛細(xì)管型標(biāo)準(zhǔn)漏孔應(yīng)是使示蹤氣體穿過一個(gè)毛細(xì)管的漏孔。它應(yīng)具有與所要求的檢測靈敏度和示蹤氣體的實(shí)際百分比濃度的乘積相等或更小的漏率，應(yīng)檢定合格。T—1070 試驗(yàn)〔檢測〕T—1080 評(píng)定注：規(guī)對檢漏技術(shù)檢測結(jié)果評(píng)定的依據(jù)是驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。T—1081 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)予承受。T—1090 文件注：文件主要是指試驗(yàn)報(bào)告或叫檢測報(bào)告。T—1091 試驗(yàn)報(bào)告注：規(guī)規(guī)定了檢漏試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)括以下容：檢測日期；操作者的資格等級(jí)和；檢測規(guī)程〔編號(hào)〕和修訂號(hào)；檢測方法或技術(shù)；檢測結(jié)果；部件編號(hào)；檢測儀器、標(biāo)準(zhǔn)漏孔和材料識(shí)別名；檢測工況、檢測壓力、示蹤氣體和氣體濃度；(I)壓力計(jì)——制造廠、型號(hào)、量程和編號(hào)；(j)溫度測量裝置和編號(hào)；(k)表示檢漏方法和技術(shù)布置的草圖。T—1092 記錄保存〔應(yīng)按本規(guī)有關(guān)卷的要求保存〕四、附錄Ⅰ氣泡試驗(yàn)——直接加壓技術(shù)Ⅰ—1000 引言Ⅰ—1010 錄適用于受檢部件承受充壓的方法進(jìn)展氣泡檢漏的技術(shù)。Ⅰ—1020 總則Ⅰ—1021 書面規(guī)程要求變素——引起檢測條件、檢測方法和檢測技術(shù)變化的因素。注：規(guī)定了書面檢測規(guī)程的要求，見〔表Ⅰ—1021，表中列出了重要變素有：氣泡形成溶液、外表溫度、外表制備技術(shù)、照明強(qiáng)度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要變素有：溶液注施器、加壓氣體、試驗(yàn)后的清洗技術(shù)、人員鑒定要求等項(xiàng)。此外，書面規(guī)程還包括以下規(guī)定的要求：浸泡時(shí)間；壓力表；試驗(yàn)壓力；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。定處理。Ⅰ—1030 通用要求Ⅰ—1031 氣體注：檢漏氣體為空氣，也可用惰性氣體。當(dāng)用惰性氣體時(shí)，要留意缺氧時(shí)檢測人員的安全。Ⅰ—1032 起泡溶液注起泡溶液應(yīng)承受檢漏專用的溶液形成起泡的溶液應(yīng)能適應(yīng)檢測條件下的溫度。Ⅰ—1033 浸泡池注：承受浸泡池方法檢漏時(shí)，應(yīng)承受水或其他適當(dāng)?shù)娜芤?。浸泡池?yīng)能適應(yīng)檢測條件下的溫度。Ⅰ—1070 試驗(yàn)漏時(shí)的具體要求。Ⅰ—1071 浸泡時(shí)間15min。由于壓力的變化會(huì)影響產(chǎn)生氣泡的大小、數(shù)量和速率，最終影響檢測結(jié)果。Ⅰ—1072 外表溫度冷卻。假設(shè)超出圍，必需驗(yàn)證檢漏結(jié)果，由于外表溫度是重要變素。Ⅰ—1073 施加溶液注：施加溶液到待檢部位應(yīng)避開操作不當(dāng)產(chǎn)生氣泡，以免與泄漏產(chǎn)生的氣泡混淆，造成錯(cuò)判或誤判。Ⅰ—1074 浸入溶池注：被檢外表應(yīng)低于溶池的液面，并在易于觀看的位置。Ⅰ—1075 照明和目視器材9種：第一種，直接目視檢驗(yàn)〔T—952〕要求肉眼觀對待檢外表距離不超過610mm，視角不小于300。視角不便觀看時(shí)也可承受反光鏡改善觀看角度。待檢部位照明強(qiáng)度至少1000lx。光源和光強(qiáng)按規(guī)定要驗(yàn)證，驗(yàn)證結(jié)果要記錄于文件，保存?zhèn)洳?。其次種，遠(yuǎn)距照相機(jī)等。但應(yīng)留意目視器材的區(qū)分率與檢測要求相當(dāng)。Ⅰ—1076 泄漏顯示注：當(dāng)被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。Ⅰ—1077 試驗(yàn)后的清洗以后的部件應(yīng)依據(jù)產(chǎn)品性能打算是否清洗。Ⅰ—1080 評(píng)定Ⅰ—1081 泄漏的氣泡形成，則可驗(yàn)收。Ⅰ—1082 返修/重試驗(yàn)注：當(dāng)觀看到有泄漏時(shí)，應(yīng)標(biāo)出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)品設(shè)計(jì)文件或選購技術(shù)條件的規(guī)定返修泄漏處。全部經(jīng)返修的區(qū)域，應(yīng)按要求重檢測。五、附錄Ⅱ氣泡試驗(yàn)——真空罩技術(shù)Ⅱ—1000 引言Ⅱ—1010 檢漏。Ⅱ—1020 總則Ⅱ—1021 規(guī)定了書面檢測規(guī)程的要求，見〔表Ⅱ—1021，表中列出了重要變素有：氣泡形成溶液、外表溫度、外表制備技術(shù)、照明強(qiáng)度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要變素有：真空罩〔尺寸和外形、真空源、溶液注施器、試驗(yàn)后的清洗技術(shù)、人員鑒定要求等項(xiàng)。此外，書面規(guī)程還包括以下規(guī)定的要求：壓力表；真空試驗(yàn)壓力；真空保持時(shí)間；真空罩重疊；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。定處理。Ⅱ—1030 設(shè)備Ⅱ—1031 起泡溶液注起泡溶液應(yīng)承受檢漏專用的溶液形成起泡的溶液應(yīng)能適應(yīng)檢測條件下的溫度。Ⅱ—1032 真空罩注：應(yīng)具有適當(dāng)?shù)某叽?，例如長762mm，寬152mm，該尺寸應(yīng)與待檢的局部區(qū)域應(yīng)具有頂視窗口，罩口應(yīng)有墊圈與待檢外表密封，并配有連接頭、閥門、照明以及測量用的真空計(jì)，真空計(jì)量程應(yīng)為0～103Pa或與其相當(dāng)?shù)膲毫挝?～760mmHg。由于真空罩技術(shù)壓力不高，因而壓力計(jì)量程限度不受規(guī)正文T1031要求的限制。Ⅱ—1033 真空源注：真空罩所要求的真空可用適當(dāng)?shù)姆椒ǐ@得，如空氣噴吸器、真空泵或電動(dòng)機(jī)帶13.8kPa?；虬匆?guī)有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅱ—1070試驗(yàn)Ⅱ—1071外表溫度冷卻。假設(shè)超出圍，必需驗(yàn)證檢漏結(jié)果，由于外表溫度是重要變素。Ⅱ—1072 施加溶液刷涂的方法施加到被檢外表。Ⅱ—1073 真空罩的放置度。Ⅱ—1074 保壓〔真空〕注：在檢測中，所要求的真空度〔壓力差〕至少應(yīng)保持10s。Ⅱ—1075 真空罩的掩蓋注：每一相鄰區(qū)域的檢測，真空罩的放置應(yīng)至少有50mm的掩蓋。Ⅱ—1076 照明和目視器材注與附錄Ⅰ氣泡試驗(yàn)——直接加壓技術(shù)中〔Ⅰ—1075 目視器材一樣。Ⅱ—1077 泄漏顯示注：當(dāng)被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。Ⅱ—1078 試驗(yàn)后的清洗后為了到達(dá)產(chǎn)品的使用性能，可能要進(jìn)展清洗。Ⅱ—1080 評(píng)定Ⅱ—1081 泄漏的氣泡形成，則可驗(yàn)收。Ⅱ—1082 返修/重試驗(yàn)注：當(dāng)觀看到有泄漏時(shí)，應(yīng)標(biāo)出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)品設(shè)計(jì)文件或選購技術(shù)條件的規(guī)定返修泄漏處。全部經(jīng)返修的區(qū)域，應(yīng)按要求重檢測。六、附錄Ⅳ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)注：所謂“探測器探頭技術(shù)”也就是國常指的氦質(zhì)譜吸氦法或嗅吸探頭法，“探測器探頭”也就是吸槍。Ⅳ—1000 引言Ⅳ—1010 是一種半定量技術(shù)，因此只能適用于定位而不能用作定量。Ⅳ—1020 總則Ⅳ—1021 注：規(guī)定了探測器探頭技術(shù)書面規(guī)程要求和規(guī)程鑒定要求。書面規(guī)程要求見T—1021.1和表Ⅳ—1021氣體〔空氣或惰性氣體、掃查速率、信號(hào)發(fā)生裝置、掃查方向、試驗(yàn)后的清理技術(shù)和人員鑒定要求。此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設(shè)備泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢漏儀標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢測系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；示蹤氣體；示蹤氣體濃度；試驗(yàn)壓力〔充氦壓力；浸泡時(shí)間〔保壓時(shí)間；掃查距離；壓力表；靈敏度驗(yàn)證核查；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。的規(guī)定處理。Ⅳ—1030 設(shè)備Ⅳ—1031 儀器泄漏現(xiàn)象：儀表、音響裝置、指示燈。Ⅳ—1032 關(guān)心設(shè)備注：——穩(wěn)壓器。當(dāng)電源電壓有波動(dòng)時(shí)，應(yīng)在儀器上接一個(gè)穩(wěn)壓器；——探測器探頭全部被檢部位都應(yīng)用探測器探頭掃查。探頭用一段軟管與儀器相連接，為了縮短響應(yīng)時(shí)間和凈化時(shí)間，軟管的長度一般應(yīng)不超過4570mm。Ⅳ—1033 校準(zhǔn)泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔校準(zhǔn)漏孔〕T—1063.1T—1063.2的滲透型標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅳ—1060校準(zhǔn)Ⅳ—1061儀器校準(zhǔn)已經(jīng)檢定的標(biāo)準(zhǔn)漏孔對檢漏儀校準(zhǔn)之前儀器應(yīng)通電預(yù)熱，預(yù)熱的最少時(shí)間應(yīng)依據(jù)檢漏儀制造廠的規(guī)定。校準(zhǔn)檢漏儀時(shí)用T—1033.1所述的滲透型標(biāo)準(zhǔn)漏孔，使儀器處于最正確或最適宜的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1×10-10Pa?m3/s。Ⅳ—1062 系統(tǒng)校準(zhǔn)注：00TG標(biāo)準(zhǔn)漏孔大小被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)承受毛細(xì)管型標(biāo)準(zhǔn)漏孔作為校準(zhǔn)漏孔，由100%氦濃度，因此要換算成檢測系統(tǒng)檢漏時(shí)所用的氦Q00TGQ Qs 100Qs為毛細(xì)管型標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率，%TG為檢漏所用的氦濃度。掃描〔查〕速率將探測器探頭與檢漏儀連接后，在進(jìn)展檢測前的被檢系統(tǒng)3.2mmQ時(shí)掃查速率為準(zhǔn)。對被檢系統(tǒng)的掃查應(yīng)不超過能檢Q的速率。探測時(shí)間〔響應(yīng)時(shí)間〕在被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)記錄檢漏儀輸出信號(hào)到達(dá)穩(wěn)以削減確定泄漏位置所需的時(shí)間。校準(zhǔn)頻度和靈敏度指被檢系統(tǒng)靈敏度的校準(zhǔn)次數(shù)，規(guī)定在檢測前和檢測后應(yīng)當(dāng)校準(zhǔn)，檢測中間應(yīng)每隔2小時(shí)校準(zhǔn)一次。假設(shè)不能檢出Ⅳ—1062.2 則儀器要重校準(zhǔn)，并且從上一次合格的校準(zhǔn)核查以及全部檢測部位均應(yīng)重作檢測。Ⅳ—1070 試驗(yàn)〔檢測〕Ⅳ—1071 試驗(yàn)場所場所應(yīng)留意避開過分通風(fēng)，以免使檢測所需的靈敏度降低。Ⅳ—1072 示蹤氣體濃度氦示蹤氣體的濃度在檢測壓力下，應(yīng)至少為10%體積濃度。Ⅳ—1073 30min。承受特別的臨時(shí)性密封裝置〔例如抽氣罩〕檢測開口部件。壓前已局部抽空的部件。Ⅳ—1074 掃描〔查〕距離頭嘴與被檢外表的距離應(yīng)保持在3.2mm以。假設(shè)被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)承受更小的距離，則掃查時(shí)的距離不應(yīng)超過該距離。Ⅳ—1075掃描〔查〕速率注：最大的掃查速率應(yīng)按Ⅳ—1062.2確定。Ⅳ—1076 掃描〔查〕方向注：檢測時(shí)，掃查應(yīng)從被檢件最下部開頭，然后漸次向上，由于氦氣比空氣輕。Ⅳ—1077 泄漏檢出〔儀表、音響裝置、指示燈〕中一種或幾種信號(hào)裝置來指示泄漏檢出。Ⅳ—1078 Ⅳ—1080 評(píng)定Ⅳ—1081 泄漏不超過1×10-5Pa?m3/s的允許漏率，則該被檢測的區(qū)域應(yīng)可驗(yàn)收。Ⅳ—1082 返修/復(fù)檢注：當(dāng)檢測出不能驗(yàn)收的泄漏時(shí)，應(yīng)標(biāo)出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)七、附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)槍。Ⅴ—1010 適用圍半定量技術(shù)，因此只能適用于定位而不能用作定量。Ⅴ—1020 總則Ⅴ—1021 T—1021.11021此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設(shè)備泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢漏儀標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢測系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；示蹤氣體；真空試驗(yàn)壓力；真空計(jì)量；浸泡時(shí)間；掃查距離；靈敏度驗(yàn)證核查；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。的規(guī)定處理。Ⅴ—1030 設(shè)備Ⅴ—1031 儀器泄漏現(xiàn)象：儀表、音響裝置、指示燈。Ⅴ—1032 關(guān)心設(shè)備注：(a)穩(wěn)壓器。當(dāng)電源電壓有波動(dòng)時(shí)，應(yīng)在儀器上接一個(gè)穩(wěn)壓器；定壓力和泵速應(yīng)能使檢測靈敏度和響應(yīng)量時(shí)間到達(dá)要求。管道和閥門系統(tǒng)。100%氦氣源，另一端為帶有調(diào)整閥的細(xì)小開口，如同噴槍。護(hù)罩。一種適用的罩子或容器，帶有通孔以便連接接頭。檢測系統(tǒng)中遠(yuǎn)離泵系統(tǒng)的抽氣口。Ⅴ—1033 校準(zhǔn)泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔校準(zhǔn)漏孔〕T—1063.1T—1063.2的滲透型標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅴ—1060校準(zhǔn)Ⅴ—1061儀器校準(zhǔn)已經(jīng)檢定的標(biāo)準(zhǔn)漏孔對檢漏儀校準(zhǔn)之前儀器應(yīng)通電預(yù)熱，預(yù)熱的最少時(shí)間應(yīng)依據(jù)檢漏儀制造廠的規(guī)定。校準(zhǔn)檢漏儀時(shí)用T—1033.1所述的滲透型標(biāo)準(zhǔn)漏孔，使儀器處于最正確或最適宜的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1×10-10Pa?m3/s。Ⅴ—1062 系統(tǒng)校準(zhǔn)注：標(biāo)準(zhǔn)漏孔大小Ⅴ—1033所述的已校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)漏孔〔毛細(xì)管型標(biāo)準(zhǔn)漏孔〕應(yīng)的漏率。標(biāo)準(zhǔn)漏孔在校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)時(shí)應(yīng)保持開放〔翻開。掃描〔查〕速率抽空后的被檢件到達(dá)足夠的真空度時(shí)，將氦質(zhì)譜儀連接到被檢系統(tǒng)。把示蹤探頭嘴橫過校準(zhǔn)漏孔〔探頭嘴應(yīng)離校準(zhǔn)漏孔6mm以〕對被檢系統(tǒng)進(jìn)展校準(zhǔn)。在實(shí)際檢測中，對于示蹤探頭中純氦〔100%〕的流速，被檢系統(tǒng)的掃查速率不應(yīng)超過能檢出校準(zhǔn)漏孔泄漏率的速度。檢測時(shí)間在被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)記錄檢漏儀標(biāo)準(zhǔn)漏孔輸出信號(hào)到達(dá)穩(wěn)定所需要的時(shí)間叫檢測時(shí)間〔即響應(yīng)時(shí)間。這是對部件檢漏確定漏孔的定位時(shí)間，應(yīng)當(dāng)越短越好，以削減確定泄漏位置所需的時(shí)間。校準(zhǔn)頻度和靈敏度指被檢系統(tǒng)靈敏度的校準(zhǔn)次數(shù)，規(guī)定在檢測前和檢測后應(yīng)當(dāng)校準(zhǔn)，檢測中間應(yīng)每隔4小時(shí)校準(zhǔn)一次。假設(shè)不能檢出Ⅳ—1062.2 則儀器要重校準(zhǔn)，并且從上一次合格的校準(zhǔn)核查以及全部檢測部位均應(yīng)重作檢測。Ⅴ—1070 試驗(yàn)〔檢測〕Ⅴ—1071 掃描〔查〕速率注：最大的掃查速率應(yīng)Ⅴ—1062.2確定。Ⅴ—1072 掃描〔查〕方向注檢測時(shí)掃查應(yīng)從被檢件最上部開頭然后漸次向下掃查由于氦氣比空氣輕。Ⅴ—1073 掃描〔查〕距離注：示蹤探頭應(yīng)在被檢件外表上掃過，掃查時(shí)探頭嘴與被檢件外表距離應(yīng)保持在6mm以。假設(shè)被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)承受更小的距離，則掃查時(shí)的距離不應(yīng)超過該距離。Ⅴ—1074 泄漏探測〔檢出〕〔儀表、音響裝置、指示燈〕中一種或幾種信號(hào)裝置來指示泄漏檢出。Ⅴ—1075 流率〔氦流量〕注：最小流率〔可由示蹤探頭閥門調(diào)整〕應(yīng)如Ⅴ—1062.2設(shè)置。Ⅴ—1080 評(píng)定Ⅴ—1081 泄漏不超過1×10-6Pa?m3/s的允許漏率，則該被檢測的區(qū)域應(yīng)可驗(yàn)收。Ⅴ—1082 返修/復(fù)檢注：當(dāng)檢測出不能驗(yàn)收的泄漏時(shí)，應(yīng)標(biāo)出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)八、附錄Ⅸ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——護(hù)罩技術(shù)Ⅸ—1010 適用圍測量技術(shù)。Ⅸ—1020 總則注：書面規(guī)程要求T—1021.1。表中列出了：五項(xiàng)重要變素，設(shè)備制造和型號(hào)、外表制備技術(shù)、受檢部件金屬料、真空泵系統(tǒng)、試驗(yàn)后的清理技術(shù)和人員鑒定要求。此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設(shè)備泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢漏儀標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標(biāo)準(zhǔn)〔檢測系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率；真空計(jì)量；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。的規(guī)定處理。Ⅸ—1030 設(shè)備注：關(guān)于氦質(zhì)譜檢漏儀的要求與上述附錄Ⅳ或附錄Ⅴ一樣。關(guān)于關(guān)心設(shè)備同樣有對(a)穩(wěn)壓器；(b)關(guān)心泵系統(tǒng)；(c)集流腔；(d)護(hù)罩；(e)真空計(jì)等項(xiàng)要求。關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)漏孔則明確規(guī)定應(yīng)承受滲透型標(biāo)準(zhǔn)漏孔。標(biāo)準(zhǔn)漏孔的最大漏率應(yīng)為：1×10-7Pa?m3/s。除非本規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定。Ⅸ—1050 工藝注：規(guī)定了護(hù)罩檢漏技術(shù)的工藝要求〔氦漏率低、長響應(yīng)時(shí)間的被檢系統(tǒng)〔體積較大或管路較長的被檢系統(tǒng)封部位〔例如橡膠密封墊圈〕導(dǎo)致檢測結(jié)果不符合實(shí)際狀況〔造本錢底增大或非漏孔泄漏。假設(shè)可能，推舉在上述密封部位進(jìn)展護(hù)罩技術(shù)檢漏，以排解護(hù)罩氦氣因被檢系統(tǒng)密封不好而影響檢測結(jié)果。其二，對于重復(fù)檢漏或從前檢漏的比照檢漏，此時(shí)初步系統(tǒng)靈敏度校準(zhǔn)可以省略。Ⅸ—1060 校準(zhǔn)注：關(guān)于氦質(zhì)譜檢漏儀的校準(zhǔn)要求與上述附錄Ⅳ或附錄Ⅴ一樣。系統(tǒng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)漏孔應(yīng)帶有100%純氦氣，經(jīng)計(jì)量檢定或校準(zhǔn)后與待檢部件連接，連接部位應(yīng)有遠(yuǎn)離儀器與部件的連接處，這樣才能真實(shí)反響實(shí)際漏孔的漏率。響應(yīng)時(shí)間應(yīng)記錄系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間，即翻開標(biāo)準(zhǔn)漏孔至檢漏儀有穩(wěn)定讀數(shù)的M1。本底讀數(shù)測定響應(yīng)時(shí)間后應(yīng)記錄系統(tǒng)的本底讀數(shù)，即系統(tǒng)的背景噪聲讀數(shù)。M2。初始靈敏度校準(zhǔn)系統(tǒng)初始靈敏度應(yīng)按下式計(jì)算：CLS 1 M M1 2

—初始靈敏度，Pa m3/s/刻度；1CLPam3/s。重校準(zhǔn)。初始校準(zhǔn)后標(biāo)準(zhǔn)漏孔關(guān)閉。最終靈敏度校準(zhǔn)在被檢系統(tǒng)完成檢測后，且被檢件仍處于護(hù)罩中，在標(biāo)準(zhǔn)漏孔關(guān)閉的狀況下，登記儀器在響應(yīng)時(shí)間后穩(wěn)定的輸出讀數(shù)記為M3。然后再次翻開標(biāo)M4。最終系統(tǒng)靈敏度S2應(yīng)按下式計(jì)算：CLS 2 M M4 3S2Pam3/s/刻度；CLPam3/s。S2S135%以下，儀器應(yīng)進(jìn)展清洗或修理，并重校準(zhǔn)，然后對被檢件重檢測。Ⅸ—1070試驗(yàn)〔檢測〕Ⅸ—1071標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)最終校準(zhǔn)后的系統(tǒng)所測到的泄漏率分為三種檢漏狀況確定。當(dāng)2=3系統(tǒng)泄漏率應(yīng)記為〔圍檢漏工程合格。M3>M2〔被檢系統(tǒng)泄漏率大于本底值〕時(shí)Q按下式計(jì)算確定：2302TGQ2302TG

M 1000

Pam3/s式中：%TG是護(hù)罩中示蹤氣體氦氣的濃度。當(dāng)M3超過被檢系統(tǒng)可探測圍時(shí)，亦即輸出信號(hào)離開儀表分度區(qū)，此時(shí)被檢系統(tǒng)泄漏率應(yīng)記為“大于系統(tǒng)可探測圍〔大于被檢系統(tǒng)可檢測圍檢漏工程不合格。Ⅸ—1072 替代技術(shù)Pam3/sPSCFFSCF分別由以下公式計(jì)算：PSCFCLM M 1 2FSCFCLM M4 3檢測?？梢娞娲夹g(shù)與標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)小異，系統(tǒng)測得的泄漏率同樣按下式確定：QⅨ—1080 評(píng)定

3 2TG3 2TG0

M 100

Pam3/s注：護(hù)罩技術(shù)檢漏的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)為：1×10-7Pa?m3/s，但規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定除外。本〔或密封處部件返修，全部經(jīng)返修的區(qū)域，應(yīng)按要求重檢測。九、附錄Ⅵ壓力變更試驗(yàn)注：所謂“壓力變更”即為壓力變化。Ⅵ—1010適用圍〔或被檢件的分界面在特定的壓力或真空環(huán)境下的漏率。壓力上升和真空保持等方法。這些檢測規(guī)定在單位時(shí)間的壓力、體積百分比的最大許可轉(zhuǎn)變或單位時(shí)間的質(zhì)量轉(zhuǎn)變。Ⅵ—1020總則注：書面規(guī)程要求T—1021.1。表中列出了：五項(xiàng)重要變素，壓力計(jì)或真空計(jì)制造廠商和型號(hào)、外表制備列規(guī)程要求：試驗(yàn)/真空試驗(yàn)壓力；浸泡時(shí)間〔保壓時(shí)間；試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間；記錄〔時(shí)間〕間隔；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。Ⅵ—1030設(shè)備Ⅵ—1031壓力測量儀表注：(a)壓力計(jì)量程刻度指示和記錄型壓力計(jì)的量程應(yīng)符合T—1013(a)的要求，液柱式壓力計(jì)或波登管式壓力表的整個(gè)量程均可使用。壓力計(jì)位置壓力計(jì)的位置應(yīng)按T—1031(b)所述。壓力計(jì)類型壓力變更檢測中可承受常規(guī)或確定壓力計(jì)〔指示式和記錄式/真空表。當(dāng)要求更高精度時(shí)，可承受液柱式壓力計(jì)或波登管式壓力表。所承受的壓力表應(yīng)具有與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)相適應(yīng)的精度、區(qū)分力和重復(fù)性。Ⅵ—1032溫度測量儀和重復(fù)性。Ⅵ—1060校準(zhǔn)Ⅵ—1061壓力測量儀注：全部刻度指示、記錄型和波登管式壓力計(jì)應(yīng)按T—1061(b)校準(zhǔn)。液體壓力計(jì)的標(biāo)定應(yīng)由已經(jīng)國家標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)來校準(zhǔn)〔假設(shè)有這樣的國家標(biāo)準(zhǔn)。Ⅵ—1062溫度測量儀〔假設(shè)有這樣的國家標(biāo)準(zhǔn)。Ⅵ—1070試驗(yàn)〔檢測〕Ⅵ—1071加壓T—1044規(guī)定加壓。Ⅵ—1072抽真空13.8kPa或依據(jù)本規(guī)有關(guān)卷的要。Ⅵ—1073試驗(yàn)〔檢測〕持續(xù)時(shí)間注：保持檢測壓力〔或真空〕的持續(xù)時(shí)間應(yīng)按本規(guī)有關(guān)卷的規(guī)定。假設(shè)無規(guī)定，則應(yīng)依據(jù)被檢件或被檢系統(tǒng)的漏率大小、且在本規(guī)有關(guān)卷所要求的精度來確定檢測持續(xù)時(shí)需要作出溫度和水蒸氣校正，則可能要求假設(shè)干小時(shí)的持續(xù)時(shí)間。Ⅵ—1074小的加壓系統(tǒng)〔金屬〕的溫度，為到達(dá)溫度穩(wěn)定，在加壓完成后、開頭檢測以前，15min的保持時(shí)間。Ⅵ—1075大的加壓系統(tǒng)開頭之前應(yīng)測定部氣體的溫度是否已經(jīng)穩(wěn)定。Ⅵ—1076試驗(yàn)〔檢測〕開頭注：檢測開頭時(shí)應(yīng)記錄最初的溫度和壓力〔或真空〔不超過均作記錄，真到規(guī)定的檢測時(shí)間完畢。Ⅵ—1077主要變素〔留意事項(xiàng)〕注：(a)當(dāng)要求對大氣壓的變化進(jìn)展補(bǔ)償時(shí)，就承受確定壓力表或常規(guī)壓力表和氣壓計(jì)作檢測壓力的測量。(b)當(dāng)本規(guī)有關(guān)卷有要求時(shí)，或水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結(jié)果時(shí)，應(yīng)測量部的露點(diǎn)或相對濕度。Ⅵ—1080評(píng)定Ⅵ—1081Ⅵ—1082應(yīng)拒收的檢測緣由、并按本規(guī)有關(guān)卷進(jìn)展返修之后，應(yīng)重進(jìn)展原先的檢測。下面進(jìn)展復(fù)習(xí)ASME鍋爐及壓力容器規(guī)復(fù)習(xí)容問答題：“ASME“ASME1911力容器委員會(huì)所制定的，目的在于供給掌握設(shè)計(jì)、制造和檢測等質(zhì)量的有關(guān)規(guī)章。2．ASME1答：這些無損檢測方法是：射線照相檢測；超聲波檢測；液體滲透檢測；磁粉檢測；渦流檢測；目視檢測；泄漏檢測；聲放射檢測。ASME1答：用于檢測的對象是：材料、焊縫和加工零部件的外表和在的瑕疵〔缺陷。ASME檢測人員和無損檢測工作進(jìn)展監(jiān)視和見證。ASME10章泄漏試驗(yàn)”要求壓力計(jì)應(yīng)安放在什么位置?抽空、或者檢測過程中能夠全面觀看到壓力計(jì)的變化。“ASME?答：當(dāng)被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。ASME〔1〕〔2〕〔〕〔4〕簡述ASME“壓力變更試驗(yàn)”適用圍。答：適用于檢測密封容器在特定的壓力或真空環(huán)境下的漏率。推斷題：ASME〔+〕ASME10章泄漏試驗(yàn)”包括了正文和10個(gè)強(qiáng)制性附錄和一個(gè)非強(qiáng)制性附錄〔+〕ASME“第10章泄漏試驗(yàn)”規(guī)定檢測時(shí)的最低溫度或最高溫度應(yīng)不超過所承受泄漏〔+〕ASME“第10章泄漏試驗(yàn)”要求需作泄漏檢測的部件應(yīng)在不超過設(shè)計(jì)壓力的25%的〔-〕ASME“第10章泄漏試驗(yàn)”要求需作泄漏檢測的部件應(yīng)在不超過設(shè)計(jì)壓力的25%的〔+〕ASME“第10〔+〕ASME“第10章泄漏試驗(yàn)”規(guī)定毛細(xì)管型標(biāo)準(zhǔn)漏孔應(yīng)具有與所要求的檢測靈敏度和〔+〕“ASME〔+〕“ASME氣泡試驗(yàn)——直接加壓技術(shù)”規(guī)定應(yīng)至少保持壓力的時(shí)間15min〔+〕〔+〕“ASME〔+〕“ASME〔壓力差〕至少應(yīng)10s〔+〕“ASME氣泡試驗(yàn)——真空罩技術(shù)”每一相鄰區(qū)域的檢測，真空罩的放置應(yīng)至少有50mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用探測器探頭對充氦〔+〕15．ASME〔-〕ASME〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”探頭用一段軟管與儀器相連接，軟管4570mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定被檢系統(tǒng)靈敏度的校準(zhǔn)在檢測前和檢測后應(yīng)當(dāng)校準(zhǔn)，檢測中間應(yīng)每隔2〔+〕19．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”除非本規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定，氦示蹤氣體的濃度在檢測壓力下，應(yīng)至少為10%〔+〕20．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定檢測時(shí)，掃查應(yīng)從被檢件最上部〔-〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定檢測時(shí)，掃查應(yīng)從被檢件最下部〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用示蹤探頭對抽空部件〔+〕23．ASME〔+〕24．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”在被檢系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，檢漏儀標(biāo)準(zhǔn)漏孔輸出信號(hào)到達(dá)穩(wěn)定所需要的時(shí)間叫檢測時(shí)間〔即響應(yīng)時(shí)間〔+〕25．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”被檢系統(tǒng)靈敏度的校準(zhǔn)規(guī)定在檢測前和檢測后應(yīng)當(dāng)校準(zhǔn)，檢測中間應(yīng)每隔4〔+〕26．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”檢測時(shí)，掃查應(yīng)從被檢件最上部開頭，〔+〕27．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”掃查時(shí)探頭嘴與被檢件外表距離應(yīng)保持在6mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——護(hù)罩技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用充氦護(hù)罩對抽空部件進(jìn)展〔+〕ASME〔-〕ASME〔+〕ASME〔+〕S2S135%〔+〕32．ASME“壓力變更試驗(yàn)”規(guī)定在加壓完成后、開頭檢測以前，應(yīng)至少有15min的保持〔+〕33．ASME“壓力變更試驗(yàn)”規(guī)定被檢容器水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結(jié)果時(shí)，應(yīng)測〔+〕擇題選：ASM10〔。A：刻度圍應(yīng)為檢漏所需的最大壓力的1倍半至4倍；B12倍；C13倍；D：刻度圍應(yīng)與檢漏所需的最大壓力相等。ASM10章泄漏試驗(yàn)”規(guī)定，除非另有規(guī)定壓力/〔。A：每一年半至少重檢定一次；B：每年至少重檢定一次；C：每兩年至少重檢定一次；D：每三年至少重檢定一次。ASM10〔：1×101?m3/s～110-2Pa?m/sB：1×10-2Pa?m3/s～1×10-5Pa?m3/sC：1×10-5Pa?3/s～×10-7Pa?m/sASM〔A：1×10-7Pa?m3/sB：1×10-8Pa?m3/s；C：1×10-9Pa?m3/s；