技術(shù)大牛：測(cè)試工程師的職業(yè)之路

技術(shù)大牛：測(cè)試工程師的職業(yè)之路技術(shù)從未如此激動(dòng)人心，只要我們繼續(xù)追尋更好的想法和創(chuàng)新，技術(shù)將能進(jìn)一步改善我們的生活。我們一直密切關(guān)注著市場(chǎng)上那些設(shè)計(jì)新穎而又能迎合多種需求的產(chǎn)品，例如智能手機(jī)、微型無(wú)人機(jī)、攝像機(jī)以及一些令人眼前一亮的“新潮”產(chǎn)品。很多人可能沒(méi)有意識(shí)到，每一款產(chǎn)品背后的生產(chǎn)流程是多么的關(guān)鍵，因?yàn)楫a(chǎn)品的可用性和功能性必須能夠達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。而且在每一步生產(chǎn)過(guò)程中，測(cè)試工程師都付出了艱辛和心血。

現(xiàn)在，整個(gè)行業(yè)都缺乏合格的測(cè)試工程師。但是，這又和工程專業(yè)應(yīng)屆畢業(yè)生的過(guò)剩產(chǎn)生矛盾。許多人并沒(méi)有選擇成為測(cè)試工程師，他們對(duì)測(cè)試行業(yè)蘊(yùn)涵的巨大發(fā)展機(jī)會(huì)渾然不覺(jué)。每件產(chǎn)品在每一個(gè)生產(chǎn)階段都要經(jīng)歷多個(gè)步驟，覆蓋從原型設(shè)計(jì)到新產(chǎn)品引入和批量制造（參見(jiàn)圖1）。

圖中文字中英對(duì)照TestDevelopmentEngineer(ProgrammingHouse)測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師（編程）TestApplicationEngineer(TestEquipmentVendor)

測(cè)試應(yīng)用工程師（測(cè)試設(shè)備廠商）StructuralTestEngineer

(OEM)結(jié)構(gòu)測(cè)試工程師（OEM）FunctionalTestEngineer

(OEM)功能測(cè)試工程師（OEM）Prototype原型Production

生產(chǎn)NPITestEngineer(CM)NPI測(cè)試工程師（CM）TestDebugEngineer(CM)

測(cè)試調(diào)試工程師（CM）StructuralTestEngineer(CM)結(jié)構(gòu)測(cè)試工程師（CM）FunctionalTestEngineer(CM)

功能測(cè)試工程師（CM）TestDevelopmentEngineer(CM)測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師（CM）如何成為一名測(cè)試工程師那么，應(yīng)屆畢業(yè)生如何才能成為一名測(cè)試工程師呢？假設(shè)您現(xiàn)在是一名新鮮出爐的電子工程專業(yè)畢業(yè)生，正在尋找一份工作。您通過(guò)搜索引擎來(lái)查找有招聘意向的大型電子公司，無(wú)意中看到了一個(gè)測(cè)試工程師的職位空缺。您認(rèn)為這個(gè)職位描述聽(tīng)上去很有趣。應(yīng)聘者不僅有機(jī)會(huì)去外地出差和學(xué)習(xí)新技術(shù)，而且還能夠與其他專業(yè)人士密切合作，比如在不同時(shí)區(qū)工作的設(shè)計(jì)工程師、經(jīng)理和其他測(cè)試工程師。但是，您也可能注意到有一些技術(shù)領(lǐng)域是您不熟悉的，因?yàn)槟?dāng)初在專業(yè)課上并沒(méi)有接觸過(guò)這些?，F(xiàn)在我們來(lái)探討一下這些技術(shù)。在線測(cè)試（ICT）系統(tǒng)在線測(cè)試（ICT）是一種用于印刷電路板組件（PCBA）制造的常見(jiàn)測(cè)試方法，因?yàn)樗軌蛄⒓窗l(fā)現(xiàn)生產(chǎn)故障，包括PCBA中的開(kāi)路、短路、組件數(shù)值錯(cuò)誤、組件故障等。ICT是伴隨著在二十世紀(jì)八十年代初蓬勃發(fā)展的電子設(shè)備制造業(yè)而興起的一種技術(shù)，ICT經(jīng)歷了多次更新?lián)Q代，旨在跟上當(dāng)前技術(shù)的發(fā)展。圖2顯示了部分在電子行業(yè)大批量生產(chǎn)中使用的典型ICT系統(tǒng)。圖2–在線測(cè)試（ICT）設(shè)備下面列出了ICT系統(tǒng)可以運(yùn)行的部分測(cè)試（參見(jiàn)圖2所示的典型ICT系統(tǒng)），它們是在電子設(shè)備制造過(guò)程中測(cè)試印刷電路板組件（PCBA）。

?短路和開(kāi)路：使用不加電測(cè)試方法測(cè)試在印刷電路板組件（PCBA）中的意外短路和開(kāi)路。?模擬在線測(cè)試：使用不加電測(cè)試方法測(cè)量模擬器件的數(shù)值，例如電阻器和電容器。?非矢量測(cè)試EP（VTEP）：使用不加電測(cè)試方法測(cè)試器件上的每個(gè)引腳到電路板之間的連通性。系統(tǒng)使用VTEP硬件來(lái)測(cè)量器件某個(gè)引腳和VTEP探頭之間的電容，以確定兩者的連通性。?模擬功能：使用加電測(cè)試方法在器件或被測(cè)電路上施加一個(gè)激勵(lì)并測(cè)量它的響應(yīng)。

?混合測(cè)試：使用加電測(cè)試方法在器件或電路上應(yīng)用模擬功能和數(shù)字測(cè)試方法。?數(shù)字在線測(cè)試：使用加電測(cè)試方法在器件上施加一個(gè)矢量碼型并測(cè)試預(yù)期輸出。?數(shù)字在線測(cè)試技術(shù)也可以用于器件編程，例如Flash和PLD。

?LED測(cè)試：在線測(cè)試提供出色的測(cè)試吞吐量，可用于測(cè)量LED顏色和亮度。測(cè)得的結(jié)果分別用毫微米和μW/cm2表示，精度可達(dá)±3nm和±10%。ICT應(yīng)用軟件可以安裝在Windows或Mac操作系統(tǒng)中。圖3顯示了應(yīng)用軟件的典型圖形用戶界面，測(cè)試工程師通過(guò)這個(gè)界面來(lái)開(kāi)發(fā)測(cè)試程序并在ICT系統(tǒng)中運(yùn)行。

圖3–ICT軟件界面邊界掃描聯(lián)合測(cè)試行為組織（JTAG）是由幾家有共同利益的制造商發(fā)起、于1990年被IEEE批準(zhǔn)為IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。這就是邊界掃描也被稱為JTAG的原因。邊界掃描更多地與測(cè)試技術(shù)掛鉤，允許測(cè)試集成電路之間的互連。測(cè)試的主要目的是發(fā)現(xiàn)短路和/或開(kāi)路缺陷，利用安插在集成電路每個(gè)引腳上的邊界掃描單元技術(shù)來(lái)完成。這些邊界掃描單元可以是輸入單元、輸出單元或雙向單元。通過(guò)在引腳上驅(qū)動(dòng)和/或接收信號(hào)并使用獨(dú)特的碼型生成算法，用戶能夠找出缺陷的位置。JTAG經(jīng)過(guò)幾十年的努力和創(chuàng)新，在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上衍生出了不少新的解決方案。覆蓋擴(kuò)展技術(shù)（CET）就是其中一種，該技術(shù)使用電容感應(yīng)板來(lái)選取激勵(lì)信號(hào)以驅(qū)動(dòng)邊界掃描器件。另一項(xiàng)創(chuàng)新是使用硅釘（SiliconNails）來(lái)測(cè)試非邊界掃描器件。其他的創(chuàng)新包括支持高速差分信號(hào)測(cè)試的IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)等等。圖4顯示的是一個(gè)典型邊界掃描系統(tǒng)，該系統(tǒng)僅需要四個(gè)強(qiáng)制測(cè)試存取端口（TAP）信號(hào)即可測(cè)試組件互連并完成PCBA測(cè)試。

圖4–邊界掃描系統(tǒng)邊界掃描系統(tǒng)提供一個(gè)軟件界面（參見(jiàn)圖5），支持測(cè)試工程師創(chuàng)建適用于PCBA的測(cè)試程序。

圖5–邊界掃描軟件界面圖中文字中英對(duì)照ProcessOutline

流程大綱

Guidesuserthroughtestdevelopmentanddebug.

引導(dǎo)用戶完成測(cè)試開(kāi)發(fā)和調(diào)試。ProjectExplorer項(xiàng)目瀏覽器Navigatetosectionsofthetestataclick.Clicktoselectchain.通過(guò)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕就可以導(dǎo)航到相應(yīng)的測(cè)試環(huán)節(jié)。點(diǎn)擊此處，選擇鏈路。GenerateMulti-Chain

生成多鏈

ScanPathLinkercombineschainsataclick.

掃描路徑鏈接器，通過(guò)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕就可以合并多個(gè)鏈路。Configure/ReconfigureChain配置/重新配置鏈路Automaticallysetsupchainsusingboard’snetinformation.利用板上網(wǎng)絡(luò)信息自動(dòng)設(shè)置鏈路。Graphicalviewoftheselectedchain.選中的鏈路的視圖。MouseovertoretrievetheTAPinformation.移動(dòng)鼠標(biāo)以便檢索TAP信息。Allinformationofthedevicesinthechainataglance.可以縱覽在鏈路上的器件的所有信息。測(cè)試工程師的典型職位描述?針對(duì)PCBA開(kāi)發(fā)和調(diào)試ICT、邊界掃描測(cè)試?與設(shè)計(jì)工程師和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)保持聯(lián)系?記錄在測(cè)試開(kāi)發(fā)、調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題或故障?向產(chǎn)品開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)提出可以改善可測(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT）的建議。測(cè)試工程師在哪里工作？測(cè)試工程師就職于涉及電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和測(cè)試的企業(yè)，覆蓋了網(wǎng)絡(luò)通信、計(jì)算機(jī)服務(wù)器、智能手機(jī)、平板電腦、計(jì)算機(jī)主板、汽車電子設(shè)備等領(lǐng)域以及電子設(shè)備制造，例如合同電子制造商（CEM）和原始設(shè)計(jì)制造商（ODM）。測(cè)試工程崗位非常具有挑戰(zhàn)性也極具收獲。雖然測(cè)試開(kāi)發(fā)和調(diào)試過(guò)程是非常嚴(yán)格的，但是工作本身會(huì)給您帶來(lái)很多發(fā)展的機(jī)會(huì)，例如：?第一時(shí)間了解尚未公開(kāi)發(fā)布的最新電路板技術(shù)。?運(yùn)用您從學(xué)校中學(xué)習(xí)到的基礎(chǔ)電子電路學(xué)知識(shí)。?在您所創(chuàng)建的測(cè)試程序的調(diào)試過(guò)程中，分析組件故障根源。?借助其他電子儀器來(lái)解決令人頭疼的故障，例如示波器、數(shù)字萬(wàn)用表、邏輯分析儀或