單板硬件測(cè)試規(guī)范

文檔名稱文檔名稱:電源單板硬件測(cè)試規(guī)范頁(yè)數(shù):第10頁(yè)共74頁(yè)頁(yè)數(shù)：第頁(yè)數(shù)：第#頁(yè)ES02：利用這個(gè)電場(chǎng)源探頭的尖頂部位，可用于定位和尋找那些對(duì)電場(chǎng)十分敏感的小型單元.（如導(dǎo)電體，晶振，上拉電阻,IC芯片等）?而它的表面部位,由于截面較大，便于探測(cè)那些對(duì)電場(chǎng)敏感的大面積部位和模塊.如:總線，液晶顯示器，大型IC，集成系統(tǒng)，機(jī)箱表面等等。?ES05D:這是一個(gè)長(zhǎng)方形的電場(chǎng)探頭，主要用來(lái)探測(cè)那些對(duì)電場(chǎng)敏感的導(dǎo)體，連接線，PCB布線、引腳，和器件.尤其對(duì)于SMD表面貼裝器件十分方便?如表面貼電阻，電容等?測(cè)量時(shí)可以直接將探頭置于兀件的表面上?同時(shí)，對(duì)于那些獨(dú)立的接插件,導(dǎo)體,扁平電纜等都十分方便有效.■測(cè)試方法：將探頭通過(guò)專用電纜連接到EFT發(fā)生器UCS500M4的輸出端子，UCS500M4的菜單選擇Burst/QuickStart。EFT發(fā)生器的耦合項(xiàng)選擇“\”其他參數(shù)選擇同“EFT快速瞬變脈沖群抗擾性測(cè)試”被測(cè)單板放在80cm高的木桌上，周圍lm范圍內(nèi)沒(méi)有其他金屬物品。輸入直接連到電源，不要經(jīng)過(guò)UCS500M4。如有輸入地線，請(qǐng)將地線同時(shí)連到UCS500M4的保護(hù)地上。如單板可以連接負(fù)載，請(qǐng)讓單板工作在額定負(fù)載情況下。1）EFT發(fā)生器的輸出電壓通常設(shè)置從100V?500V開(kāi)始，然后逐級(jí)升高試驗(yàn)電壓，直到選定的試驗(yàn)等級(jí)的強(qiáng)度。對(duì)每個(gè)電壓等級(jí)重復(fù)以下步驟2）~10）2）使用磁場(chǎng)源探頭BS02施加干擾，探頭被測(cè)面保持平行，探頭距離單板距離從10cm逐漸到緊貼器件表面，磁場(chǎng)有效面積直徑5cm。見(jiàn)下圖3）使用磁場(chǎng)源探頭BS04DB施加干擾，探頭與被測(cè)PCB線路保持60?90度夾角，探頭緊貼芯片，可以沿PCB表面移動(dòng)，磁場(chǎng)有效面積直徑3mm。見(jiàn)下圖：4）使用磁場(chǎng)源探頭器件保持80~90度夾某一個(gè)IC或管腿，磁BS05DB施加干擾，探頭與被測(cè)角，探頭緊貼芯片，可以定位在場(chǎng)有效面積直徑4）使用磁場(chǎng)源探頭器件保持80~90度夾某一個(gè)IC或管腿，磁5）使用電場(chǎng)源探頭ESOO施加干擾，探頭平面與被測(cè)電路保持水平，探頭距離單板距離從10cm逐漸至U緊貼器件表面，電場(chǎng)有效面積為15cm*10cm。見(jiàn)下圖：6）使用電場(chǎng)源探頭ES02施加干擾，探頭平面與被測(cè)器件保持60?90度夾角，探頭可以貼近被測(cè)器件,電場(chǎng)有效范圍集中在探頭尖端頂部。見(jiàn)下圖：7）使用電場(chǎng)源探頭ES05D施加干擾，探頭長(zhǎng)邊與被測(cè)線路或管腿平行，同時(shí)探頭與被測(cè)面保持垂直,探頭可以貼近被測(cè)部位或者沿PCB移動(dòng)。見(jiàn)下圖：?判定標(biāo)準(zhǔn)：由于是研究性測(cè)試，試驗(yàn)等級(jí)暫定為500V。滿足判據(jù)A：合格；（A類判據(jù)：在注入干擾信號(hào)的過(guò)程中以及干擾結(jié)束以后，單板的所有性能均未出現(xiàn)異常，指標(biāo)能夠滿足規(guī)格書(shū)的要求）。

滿足判據(jù)B,合格；列為討論問(wèn)題，建議項(xiàng)目組優(yōu)化設(shè)計(jì)；（B類判據(jù)：在注入干擾信號(hào)的過(guò)程中，單板的功能或性能暫時(shí)降低或者喪失，但干擾結(jié)束以后，單板的所有功能能夠自動(dòng)恢復(fù)）。滿足判據(jù)C，不合格；（C類判據(jù)：在注入干擾信號(hào)的過(guò)程中，單板的功能或性能暫時(shí)降低或者喪失，干擾結(jié)束以后，不能自動(dòng)恢復(fù)，需要操作者干預(yù)或者系統(tǒng)復(fù)位才可恢復(fù)）。滿足判據(jù)D,不合格；（D類判據(jù)：試驗(yàn)過(guò)程中，單板功能或性能降低或者喪失并且無(wú)法恢復(fù)，甚至損壞）。參考案例【現(xiàn)象描述】PLC產(chǎn)品EC10-1614BRA模塊在客戶現(xiàn)場(chǎng)多次出現(xiàn)復(fù)位情況，隨后在公司PLC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)重現(xiàn)，用以往僅作為非必測(cè)的近場(chǎng)騷擾項(xiàng)對(duì)現(xiàn)場(chǎng)干擾源進(jìn)行了具體的分解與量化，以便在后續(xù)的模塊測(cè)試中應(yīng)用?！驹蚍治觥縋LC產(chǎn)品在市場(chǎng)出現(xiàn)產(chǎn)品復(fù)位，最終發(fā)現(xiàn)是我們的產(chǎn)品的抗饒性不強(qiáng)。采用近場(chǎng)騷擾的辦法，不僅復(fù)現(xiàn)了市場(chǎng)的現(xiàn)象，與競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手對(duì)比的結(jié)果，發(fā)現(xiàn)我們的抗饒性比其弱，給我們提供了一個(gè)證明近場(chǎng)騷擾實(shí)驗(yàn)有效性的證據(jù)?！窘鉀Q措施】采用緊貼器件表面的測(cè)試方法，并采用了500V幅值。證明可以有效發(fā)現(xiàn)（復(fù)現(xiàn)）市場(chǎng)問(wèn)題。返冋目錄附錄8.1測(cè)試方案模板8.1測(cè)試方案模板返回目錄8.2測(cè)試項(xiàng)目手冊(cè)模板8.2測(cè)試項(xiàng)目手冊(cè)模板返回目