立式光學(xué)計(jì)測(cè)量尺寸公差實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)

用立式光學(xué)計(jì)測(cè)量測(cè)量塞規(guī)及隨機(jī)誤差分布規(guī)律實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)一?實(shí)驗(yàn)?zāi)康牧私饬⑹焦鈱W(xué)計(jì)的測(cè)量原理；掌握用立式光學(xué)計(jì)測(cè)量外徑的方法；驗(yàn)證隨機(jī)誤差分布規(guī)律。二?實(shí)驗(yàn)內(nèi)容A：1.用立式光學(xué)計(jì)測(cè)量塞規(guī)根據(jù)測(cè)量結(jié)果，判斷塞規(guī)是否合格。B：進(jìn)行隨機(jī)誤差分布規(guī)律實(shí)驗(yàn)三.實(shí)驗(yàn)原理用立式光學(xué)計(jì)進(jìn)行測(cè)量，一般是按比較測(cè)量的方法進(jìn)行的，即先將量塊組放在儀器的測(cè)頭與工作臺(tái)面之間，以量塊尺寸L為基準(zhǔn)使顯示屏上的讀數(shù)歸零。再將工件放在測(cè)頭與工作臺(tái)面之間，從顯示屏上讀出相對(duì)零位的偏移量，即工件尺寸對(duì)量塊尺寸的差值△L，則被測(cè)工件的尺寸為x=L-\L。四?立式光學(xué)計(jì)簡(jiǎn)介立式光學(xué)計(jì)也稱(chēng)立式光學(xué)比較儀，如圖1所示。本實(shí)驗(yàn)采用JDG-S2型數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)，數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)根據(jù)黑白光柵的莫爾條紋原理設(shè)計(jì)而成，其中重點(diǎn)使用了光柵式傳感器。立式光學(xué)計(jì)用標(biāo)準(zhǔn)器（如塞規(guī)、量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸，可對(duì)五等量塊、量棒、鋼球、線形及平行平面狀精密量具和零件的外型尺寸作精密測(cè)量。立式光學(xué)計(jì)的結(jié)構(gòu)組成如圖2所示。圖1立式光學(xué)計(jì)圖2圖1立式光學(xué)計(jì)圖2立式光學(xué)計(jì)結(jié)構(gòu)組成圖1-數(shù)字顯示器，2-測(cè)量計(jì)管鎖緊螺釘，3-光學(xué)計(jì)管，4-測(cè)桿，5-測(cè)帽鎖緊螺釘，6-工作臺(tái)，7-電源開(kāi)關(guān)，8-打印鍵，9-公英制轉(zhuǎn)換鍵，10-置零鍵，11-底座，12-調(diào)平手輪，13-測(cè)帽，14-提升器，15-信號(hào)電纜，16-升降螺母，17-橫臂鎖緊螺母，18-橫臂，19-立柱JDG-S2型數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)的技術(shù)參數(shù)1.被測(cè)件最大長(zhǎng)度180mm2.直接測(cè)量范圍mm3.最小顯示值0.0001mm4.測(cè)量力(2±0.2)N5.、+.■—lx讀數(shù)方式數(shù)字顯示1.被測(cè)件最大長(zhǎng)度180mm2.直接測(cè)量范圍mm3.最小顯示值0.0001mm4.測(cè)量力(2±0.2)N5.、+.■—lx讀數(shù)方式數(shù)字顯示6.最大不準(zhǔn)確度比較測(cè)量時(shí)：±0.00025mm,直接測(cè)量時(shí)：0.0005mm7.最大測(cè)量誤差±(0.5+L/100)口m,L是被測(cè)長(zhǎng)度，以mm計(jì)五．實(shí)驗(yàn)步驟1.選擇合適的測(cè)頭。立式光學(xué)計(jì)的測(cè)頭有球形、平面形和刀口形三種，根據(jù)被測(cè)零件表面的幾何形狀來(lái)選擇，使測(cè)頭與被測(cè)表面盡量滿(mǎn)足點(diǎn)接觸。測(cè)量平面工件時(shí)，選用球形測(cè)頭；測(cè)量球面工件時(shí)，選用平面形測(cè)頭，測(cè)量圓柱面工件時(shí)，則應(yīng)選用刀口形測(cè)頭。根據(jù)被測(cè)塞規(guī)的基本尺寸組合量塊。調(diào)整儀器零位。將量塊組置于儀器工作臺(tái)的中心,并使測(cè)頭對(duì)準(zhǔn)量塊組的上測(cè)量面的中心，按下reset歸零按鈕，完成儀器調(diào)零，測(cè)頭以此位置為零位。按下壓桿,抬起測(cè)頭,取下量塊組。測(cè)量塞規(guī)。測(cè)量時(shí)，按下壓桿，將塞規(guī)放在工作臺(tái)上，放下測(cè)頭，壓在塞規(guī)上表面。顯示屏示數(shù)穩(wěn)定后，讀取示數(shù)，即為塞規(guī)相對(duì)基本尺寸零位的偏移量△Lo記錄數(shù)據(jù)。分別記錄下量塊組的基本尺寸L和立式光學(xué)計(jì)的偏移量讀數(shù)△[,進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到塞規(guī)的尺寸。將測(cè)量結(jié)果與國(guó)標(biāo)中塞規(guī)的尺寸公差和形狀公差比較，判斷塞規(guī)是否合格。進(jìn)行隨機(jī)誤差分布規(guī)律實(shí)驗(yàn)。再次對(duì)塞規(guī)測(cè)量，并且盡可能測(cè)量塞規(guī)同一部位，反復(fù)測(cè)量100次，注意每測(cè)完3?5次必須對(duì)儀器重新調(diào)零。然后要對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，作出直方圖并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限測(cè)量誤差。

序號(hào)△L/mmx/mm序號(hào)△L/mmx/mm1234567891011121314151617181920212223242526272829303132333435363738394041424344454647484950六．立式光學(xué)計(jì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)記錄與處理1.實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)記錄量塊基本尺寸L= mm；偏移量讀數(shù)△L/mm；塞規(guī)尺寸x/mm=L-AL；學(xué)號(hào)：姓名：

學(xué)號(hào)：姓名：序號(hào)△L/mmx/mm序號(hào)△L/mmx/mm5152535455565758596061626364656667686970717273