開(kāi)關(guān)電源可靠度試驗(yàn)測(cè)試規(guī)范

WI4201-02AWI4201-02A可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page1發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12可靠度測(cè)試項(xiàng)目目錄NOEvaluationTestItems評(píng)價(jià)項(xiàng)目1TemperatureDistribution溫度分布2ComponentTemperatureRise元件溫度上昇3PartsDerating元件餘裕度4ThermalRunaway熱暴走5HighTemperatureShortCircuit咼溫短路6LifeofElectrolyticCapacitor電解電容算出壽命7NoiseImmunity雜訊免疫能力8ElectroStaticDischarge靜電氣9LightningSurge雷擊10InputON/OFFAtHighTemperature高溫輸入ON/OFF11LowTemperatureOperation低溫動(dòng)作確認(rèn)12DynamicSourceEffect動(dòng)態(tài)輸入變動(dòng)13FanAbnormalOperationFANFAN異常動(dòng)作14Vibration振動(dòng)15Shock衝擊16AbnormalRipple異常漣波確認(rèn)17HighTemperatureTest高溫測(cè)試18LowTemperatureTest低溫測(cè)試19Temperature/humidityTest溫溼度循環(huán)測(cè)試20StrifeTest壓力測(cè)試21PLDTest輸入瞬斷測(cè)試豈G囚幣丿皿、常濕：定義濕溫度59~359，相對(duì)溼度45%~85%RH

編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)版本V.01ReliabilityTestSpecification頁(yè)次VersionPage2發(fā)行日期ReleaseDate90.11.121.Temperaturedistributen溫度分布：1.1目的：確保待測(cè)物之可靠度；確認(rèn)各元件均在溫度規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)使用及有無(wú)元件異常溫度上升。1.2適用：所有機(jī)種適用。1.3測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍之最小、最大值。(AC115V/230V-AC90V/265V)負(fù)載：100%(最小0%、最大,100%)。輸出電壓：額定。周圍溫度：常溫。e?接線圖：治具1.4測(cè)試方法：輸入電壓加入後，穩(wěn)定狀況下，測(cè)元件表面及銲接點(diǎn)之溫度分佈。參考「溫度Derating率」。量測(cè)之溫度與溫度Derating率比較，確認(rèn)有無(wú)異常發(fā)熱元件，參考「溫度Derating率」。

編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)版本V.01ReliabilityTestSpecification頁(yè)次PageVersion3發(fā)行日期ReleaseDate90.11.121.5溫度Derating率NO元件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備註1電阻電阻最咼耐溫之80%2電容電容最高耐溫減593半導(dǎo)體SchottyDiode取Tj之90%其它半導(dǎo)體(電晶體MOSFET取Tj之80%)熱暴走高溫短路測(cè)試Ta:559Load:100%Ta:659Load:70%Input:85V/265V時(shí)(Tj*80%)+59為判定基礎(chǔ)4基板FR-4:1159CEM-3:1109CEM-1:1009XPC-FR:1009判定：PCB最大耐溫減109與基板板厚無(wú)關(guān)5變壓器（含電感）絕緣區(qū)分：A種E種B種標(biāo)準(zhǔn)溫度：105912091309熱偶式：90910591109Abnormal:150916591759可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.頁(yè)次PageWI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.014發(fā)行日期ReleaseDate90.11.122Componenttemperaturerise元件溫度上升：2.1目的：確保待測(cè)物之可靠度，確認(rèn)各元件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用。2.2適用：所有機(jī)種適用。2.3測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍之最小、額定、最大。b?負(fù)載：規(guī)格範(fàn)圍之最大。輸出電壓：額定。周圍溫度：常溫。2.4測(cè)試方法：依測(cè)試條件設(shè)定，當(dāng)溫度達(dá)到熱平衡後，以熱電偶測(cè)定元件溫度，基板上之元件銲點(diǎn)需測(cè)量溫度。參考溫度Derating計(jì)算出最大溫升規(guī)格值^t.（i.e.DeratingCurve在100%Load100%下最高至50°C，則以附表ADerating率之溫度減去50得100%之LOAD下之△t.;60°C時(shí),Derating率為70%,則減去60得到70%之t.）實(shí)際負(fù)載在100%時(shí)依減50C之△t.為規(guī)格值。元件之選擇以R-1溫度分佈測(cè)得之發(fā)熱較多元件做測(cè)定。元件實(shí)際溫升不能超過(guò)計(jì)算得出之△t.o可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDateReliabilityTestSpecification版本頁(yè)次Page5Version發(fā)行日期ReleaseDate90.11.123.Partsderating元件餘裕度：3.1目的：確保待測(cè)物之可靠度，確認(rèn)元件實(shí)際使用時(shí)能在絕對(duì)最大額定下之Derating率範(fàn)圍內(nèi)。3.2適用：所有機(jī)種適用。3.3測(cè)試條件：測(cè)試待測(cè)物在下列條件下一次測(cè)和二次測(cè)主迴路波形（電流波形和電壓波形）1?定額輸入和輸出2?低壓起動(dòng)短路開(kāi)機(jī)4?開(kāi)機(jī)後短路5?滿載關(guān)機(jī)（不做記錄）各迴路波形和元件耐壓請(qǐng)參考「元件Derating」接線圖：INPUT待測(cè)物負(fù)載SOURCESCOPE

可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page6發(fā)行日期ReleaseDate90.11.123.4元件DeratingNO元件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備註1電阻80%電阻最高耐壓之90%Surge取耐壓之95%電容最高耐壓之85%2電容（AC輸入電容取耐壓之95%）Ripple電流取100%鉭質(zhì)電容取耐壓之80%VrmVrsmIsfmSurgeSCR80%95%90%90%TRIAC80%95%90%90%Bridge-Diode80%95%90%90Surge:I2t3二極體%(Diode)Diode80%95%90%90ScottyDiode%90%95%90%90ZenerDiode%90%90LED%80%95%90%90%4電晶體MOSFEVDSS/VCE:取規(guī)格之95%VGSS/VBE:取規(guī)格之95%ID/IC:取規(guī)格之95%IB:取規(guī)格之95%5Fuse取額定電流之70%Surge:65%可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.頁(yè)次PageWI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.017發(fā)行日期ReleaseDate90.11.124.2適用：所有機(jī)種適用。4.2適用：所有機(jī)種適用。Thermalrunaway熱暴走：目的：確認(rèn)過(guò)負(fù)載、出力短路下，保護(hù)之餘裕度。4.1目的：確認(rèn)過(guò)負(fù)載、出力短路下，保護(hù)之餘裕度。4.34.3測(cè)試條件：a?輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓範(fàn)圍最小、最大值，（例85V/265V）。b負(fù)載:100%及70%（例55°C為100%,65°C為70%）。周圍溫度：最高動(dòng)作溫度+5°C,輸出DeratingCurve100%下溫度上限+5°C。輸出電壓：額定。恒溫槽接線圖4.144測(cè)試方法：a?參照部品溫度上昇結(jié)果確定待測(cè)部品，以熱電偶量測(cè)。電源輸入後，連續(xù)觀測(cè)繪出溫度上昇值，確認(rèn)飽和點(diǎn)。編號(hào)No.WI7308頁(yè)次可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308頁(yè)次可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification修訂日期AmendmentDate版本V.01VersionPage8發(fā)行日期90.11.12ReleaseDateHightemperatureshotycircuit高溫短路：5.1目的：確認(rèn)輸出短路放置後，待測(cè)物之可靠度。5.2適用：除未加短路保護(hù)機(jī)種外所有機(jī)種適用。5.3測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍之最大輸入電壓。（實(shí)測(cè)取最大，例265V）輸出電壓：額定值。周圍溫度：動(dòng)作溫度上限+5°C（例65°C）。4.1.5.4測(cè)試方法：a?待測(cè)物在設(shè)定測(cè)試條件下，輸出短路2小時(shí)以上。記錄溫度上昇之情形，參照溫度Derating,不能超過(guò)規(guī)定溫度。解除短路狀態(tài)後確認(rèn)輸出仍正常，部品不能有損壞。可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308頁(yè)次Page9ReliabilityTestSpecification修訂日期AmendmentDate版本V.01Version發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12Lifeofelectrolyticcapacitor電解電容算出壽命：6.1目的：推定待測(cè)物之壽命，並確認(rèn)其可靠度。6.2適用：所有機(jī)種適用。6.3測(cè)試條件：輸入電壓：額定值。輸出電壓：額定值。負(fù)載：額定。周圍溫度：40°C。接線圖：T1-T2106.4測(cè)試方法：10a?額定之輸出、輸入時(shí)，在規(guī)定之周圍溫度下，依下式計(jì)算：Li=Ls-2L1：實(shí)際之有效壽命LS：部品使用溫度範(fàn)圍上限下之有效壽命T1：部品之使用溫度範(fàn)圍上限T2：實(shí)際使用溫度。b.算出之壽命時(shí)間應(yīng)之規(guī)格所示。

可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次10

Page發(fā)行日期Page發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12NoiseImmuuity雜訊免疫力：7.1目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)輸入對(duì)加入脈衝之耐受程度。7.2適用：所有機(jī)種。7.3測(cè)試條件：a?規(guī)格上有規(guī)定者，依規(guī)格實(shí)施。周圍溫度：常溫、常濕。輸入電壓：115Vd?輸出電壓：額定。e?負(fù)載電流：100%。脈衝規(guī)格：規(guī)格書(shū)所列值*110%(50QTermination)［如規(guī)格為±2.2KV則脈衝以士，時(shí)間五分鐘。7.4測(cè)試方法：依條件施加脈衝於輸入-輸入間，輸入-Ground間，應(yīng)無(wú)動(dòng)作異常(含突入電流限制回路、異常振盪等)保護(hù)回路誤動(dòng)作及元件損壞發(fā)生，測(cè)試時(shí)，輸出電壓之安定度應(yīng)在總和變動(dòng)規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page11發(fā)行日期ReleaseDate90.11.128.Electrostaticdischarge靜電破壞：8.1目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)產(chǎn)品對(duì)靜電氣之耐受程度。8.3測(cè)試條件：周圍環(huán)境8.3測(cè)試條件：周圍環(huán)境輸入電壓輸出電壓常溫、常濕。額定（實(shí)測(cè)AC115V）額定d?負(fù)載：額定100%施加電壓：規(guī)格書(shū)之?dāng)?shù)值X110%[ChargeCapacitor500pF-SeriesResistor100Q]，時(shí)間M10sec.接線圖：4.184測(cè)試方法：a.待測(cè)物Ground部位，依條件施加脈衝電壓分接觸外殼及隔離放電實(shí)施；不能有保護(hù)回路誤動(dòng)作，元件破損之異常發(fā)生。編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification頁(yè)次Page修訂日期AmendmentDate版本V.01Version發(fā)行日期90.11.12ReleaseDate129.LightningSurge雷擊：9.1目的：確認(rèn)輸入端加入LightningSurge之耐受能力。9.2適用：規(guī)格有規(guī)定之機(jī)種。9.3測(cè)試條件：規(guī)格書(shū)有規(guī)定依規(guī)格條件。b?輸入電壓：額定（實(shí)測(cè)AC115V）c.輸出電壓：額定d?負(fù)載：額定e.周圍環(huán)境：常溫、常濕f?施加波形：JEC212規(guī)定，波頭長(zhǎng)1.2ps,波尾長(zhǎng)50ps之電壓，波形3KV*110%（限流電阻100Q）。接線圖：4.194測(cè)試方法：a.依規(guī)定測(cè)試條件，施加Surge電壓於輸入—輸入，輸入—Ground士極各3回確認(rèn)元件無(wú)破損，無(wú)絕緣破壞，F(xiàn)lashoverArc及保護(hù)回路誤動(dòng)作情形發(fā)生。可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDateReliabilityTestSpecification版本VersionV.01頁(yè)次Page13發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1210.InputON/OFFathightemperature高溫輸入ON/OFF:10.1目的：高溫時(shí)輸入電壓ON/OFF重覆施加，確認(rèn)產(chǎn)品之信賴性。10.2適用：所有機(jī)種適用。10.3測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓範(fàn)圍最大值（例：265V）。負(fù)載：額定100%LOAD輸出電壓：額定d?周圍溫度：動(dòng)作可能溫度範(fàn)圍+5°C（例：65°C）。4.1.10.4測(cè)試方法：待測(cè)物置於恆溫槽內(nèi)，依條件之溫度設(shè)定，到達(dá)設(shè)定溫度後放置12小時(shí)，同時(shí)電源ON/OFF至少500cycle於輸入端，結(jié)束後確認(rèn)元件無(wú)破損，輸出電壓與機(jī)能正常（ON5S,OFF30S）。

可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page14發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1211.Lowtemperatureoperation低溫動(dòng)作確認(rèn)：11.1目的：為確保待測(cè)產(chǎn)品可靠度，確認(rèn)周圍溫度下限之動(dòng)作餘裕度。11.2適用：所有機(jī)種適用。11.3測(cè)試條件：a.輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍之最小、最大值（實(shí)測(cè)最小值）。b?輸出電壓：額定。負(fù)載：最小、最大值（實(shí)測(cè)最大值）。周圍溫度：動(dòng)作可能溫度下限-10°C。e?接線圖：i.i甌丁」待測(cè)物1鰥SOURCE:11!Kb.blJi—LJ—術(shù)溫槽絕緣碧壓器11——一示波器11.4測(cè)試方法：a.待測(cè)物在測(cè)試溫度條件下設(shè)定為關(guān)機(jī)狀態(tài)充份放置（至少1小時(shí)）關(guān)機(jī)狀態(tài)，重新加入電源，確定可啟動(dòng)?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.頁(yè)次PageWI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.0115發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12Dynamicsourceeffect動(dòng)的輸入變動(dòng)：12.1目的：確認(rèn)待測(cè)產(chǎn)品在動(dòng)的輸入變動(dòng)下能正常動(dòng)作。12.2適用：交流輸入之所有機(jī)種。12.3測(cè)試條件：a?規(guī)格書(shū)有規(guī)定者，依規(guī)格條件。負(fù)荷：額定100%。周圍溫度：常溫。d?輸出電壓：額定。e.輸入變動(dòng)條件：額定?-最小，額定?-最大。最大電壓t=0.5sec額定電壓t=0.5sec額定電壓12.4測(cè)試方法：a?在基準(zhǔn)動(dòng)作狀態(tài)下（額定輸入電壓100%Load），測(cè)定輸出電壓值vS。b?計(jì)算電壓變動(dòng)率：V-Vx100%VL-VSx100%VsVsc.計(jì)算之變動(dòng)率，應(yīng)在總和變動(dòng)之規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDateReliabilityTestSpecification版本V.01頁(yè)次VersionPage16發(fā)行日期90.11.12ReleaseDateFanabnormaloperationFAN異常動(dòng)作：13.1目的：待測(cè)產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下，確認(rèn)FAN停止運(yùn)轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)數(shù)變慢時(shí)，保護(hù)機(jī)能正常運(yùn)作。13.2適用：產(chǎn)品因需風(fēng)扇冷卻而裝設(shè)之機(jī)種。13.3測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)之最小、最大值。負(fù)載：最大100%。周圍溫度：感熱元件部份，依動(dòng)作可能溫度範(fàn)圍上限+5°C,25°C及下限?5°C共3點(diǎn)實(shí)施測(cè)試。其他部份則以動(dòng)作可能溫度範(fàn)圍上限+5C，下限-5C13.4測(cè)試方法：a?主要電晶體、變壓器、CHOKE等重要元件，以熱電藕量測(cè)記錄其結(jié)果。Fan異常動(dòng)作發(fā)生時(shí)觀測(cè)元件溫度上升應(yīng)記錄其結(jié)果。OpenFrame之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測(cè)試。確定在測(cè)試條件下，無(wú)保護(hù)回路之誤動(dòng)作發(fā)生，元件上升溫度不能超過(guò)規(guī)格值。編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本V.01頁(yè)次VersionPage17發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecificationVibration振動(dòng)：14.1目的:為確保產(chǎn)品之信賴性，產(chǎn)品在製造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對(duì)振動(dòng)之耐受程度需加以確認(rèn)。14.2適用：所有機(jī)種適用。14.3測(cè)試條件：14.3周圍溫度：常溫。動(dòng)作狀態(tài)：Non-Operating振動(dòng)頻率：5~10Hz全振幅10m10?200Hz加速度21.6m/sec2（2.2G）SweepTime:10Min依對(duì)數(shù)變化。振動(dòng)方向：X,Y,Z軸各1小時(shí)。衝擊試驗(yàn)程序：1.試驗(yàn)系統(tǒng)圖供試電源Z'試驗(yàn)方向Z'試驗(yàn)方向4.1.14.4測(cè)試方法：a?依測(cè)試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試完成後，以目視檢查（必要時(shí)用顯微鏡）待測(cè)物之外殼、基板、零件、配線有無(wú)異常；確認(rèn)後，通電並確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無(wú)異常?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDateReliabilityTestSpecification版本V.01頁(yè)次Version

Page18發(fā)行日期90.11.12ReleaseDate15.Shock衝擊：15.1目的：為確保待測(cè)物之可靠度，在製造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對(duì)衝擊之耐受程度需予以確認(rèn)。15.2適用：所有機(jī)種適用。15.3測(cè)試條件：衝擊加速度：588m/sec2（60G）衝擊時(shí)間：11±5msec半波正弦波。振動(dòng)方向：X（X'）,Y（Y'）,Z,5方向，各3回。周圍溫度：常溫。NonOperating15.4測(cè)試方法：a?依測(cè)試條件進(jìn)行測(cè)試。b?測(cè)試完成後，以目視檢查（必要時(shí)用顯微鏡）待測(cè)物之外殼、基板、零件、配線有無(wú)異常;確認(rèn)後通電並確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無(wú)異常。供試電源XX'衝擊測(cè)試程序：供試電源XX'1?測(cè)試系統(tǒng)圖：試驗(yàn)方向Z[1ZZ[1Z'Y'-試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向a?待測(cè)物需設(shè)計(jì)治具以固定之。（電木板及鋁板）依測(cè)試條件施加予待測(cè)物。加速度588m/sec2（60G）各方向3回。記錄試驗(yàn)條件及結(jié)果。編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)版本V.01ReliabilityTestSpecification頁(yè)次VersionPage19發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1216.AbnormalRipple異常Ripple確認(rèn)：16.1目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度;由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下，確認(rèn)其動(dòng)作之安定性。16.2適用：所有機(jī)種適用。16.3測(cè)試條件：負(fù)載：0%~100%連續(xù)）。b?周圍溫度：動(dòng)作溫度範(fàn)圍（i.e.-0°C?60°C-?20°C/25°C/60°C）。輸入電壓：規(guī)格範(fàn)圍最小~最大（連續(xù)）。d?輸出電壓：額定。4.1.16.4測(cè)試方法：a?待測(cè)物在不通電之狀態(tài)下，依測(cè)試之組合條件，在設(shè)定之溫度下放置1小時(shí)。b?連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負(fù)載電流，並觀察有無(wú)異常Ripple之發(fā)生，如振盪、間歇振盪、ACRipple導(dǎo)致之微小異常振盪。

可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page20發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1217.HighTemperatureTest高溫測(cè)試：17.1目的：確認(rèn)產(chǎn)品在高溫置放後，維持正常功能之特性。17.2適用：所有機(jī)種適用。17.3測(cè)試條件：溫度：ThTemp(degC)0ThTemp(degC)012747576Th產(chǎn)品規(guī)格所列之儲(chǔ)存溫度上限b?輸入電壓：額定。輸入頻率：50HZ。負(fù)載：100%LOAD。WI4201-02AWI4201-02A示液器示液器WI4201-02A17.4測(cè)試方法：a?產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依上述之條件進(jìn)行測(cè)試。溫度在達(dá)到預(yù)定之高溫Th前後一小時(shí)之前於常溫下，須先進(jìn)行功能測(cè)試，確認(rèn)產(chǎn)品之功能；測(cè)試後產(chǎn)品須無(wú)任何損傷?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page21發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1218.LowTemperatureTest低溫測(cè)試：18.1目的：確認(rèn)產(chǎn)品在低溫置放後，維持正常功能之特性。18.2適用：所有機(jī)種適用。18.3測(cè)試條件：*-functionalinspection*-functionalinspectionTime(hour)25Temp(degC)-40747576100%LOAD。100%LOAD。輸入電壓：額定。d頻率:50HZ。T]:規(guī)格所列之儲(chǔ)存溫度下限。待涮糊接線圖p：T待涮糊SOURCE

18.4測(cè)試方法：a?產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依上述之溫度設(shè)定及接線圖進(jìn)行測(cè)試。溫度到達(dá)預(yù)訂之低溫，前後一小時(shí)前須進(jìn)行功能測(cè)試，確認(rèn)產(chǎn)品能正常動(dòng)作；且無(wú)任何損傷。可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308頁(yè)次Page可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308頁(yè)次Page22修訂日期AmendmentDate版本V.01Version發(fā)行日期ReleaseDate90.11.1219.Temperature/HumidityTest溫、溼度循環(huán)測(cè)試：19.1目的：確認(rèn)產(chǎn)品對(duì)周圍溫、溼度之適應(yīng)能力。19.2適用：所有機(jī)種適用。19.3測(cè)試條件：a?條件依下圖設(shè)定:Humidity(%)Functiontest402519.3測(cè)試條件：a?條件依下圖設(shè)定:Humidity(%)Functiontest402565TempC90Relative501504630345860727478808284108負(fù)載：100%LOAD。輸入電壓：額定。頻率：接線圖：4.1.19.4測(cè)試方法：a?依上所列之測(cè)試條件及接線方式，執(zhí)行測(cè)試。b?測(cè)試結(jié)束後，待測(cè)物需功能正常，零件無(wú)損壞情形。可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page23發(fā)行日期ReleaseDate20.StrifeTest極限測(cè)試：20.1目的：確認(rèn)待測(cè)產(chǎn)品的耐受高溫之極限。20.2適用：依需求規(guī)格列出之機(jī)種。20.3測(cè)試條件：a?輸入電壓：額定。（110V/220V）負(fù)載：額定100%LOAD。溫度：709（仙「）_809（仆「）_909（仙「）_1009（仆「）_至產(chǎn)品失效。20.4測(cè)試方法：a?產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依接線圖及條件設(shè)定。當(dāng)溫度到達(dá)預(yù)設(shè)值後，停留一小時(shí)，開(kāi)始執(zhí)行功能測(cè)試。產(chǎn)品若功能正常，將溫度每次升高109，進(jìn)行測(cè)試，至產(chǎn)品失效為止，記錄失效之溫度。d?產(chǎn)品失效時(shí)，不能發(fā)生冒煙、起火等狀況?？煽慷葴y(cè)試規(guī)範(fàn)ReliabilityTestSpecification編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁(yè)次Page24發(fā)行日期ReleaseDate21.PLDtest（輸入瞬斷測(cè)試）:Anundervoltageof25%belowtheminimuminputvoltage,appliedfortwoseconds,repeated10times:errorfreewitha10%dutycycle.Anundervoltageof35%belowtheminimumnominalinputvoltage,butnotlessthan68V,appliedfor30:errorfreecyclesoftheinputfrequency,repeated10timeswitha10%dutycycle.

Anundervoltageof100%belowtheminimumnominalinputvoltage,appliedfor20milli-secondsrepeated10times:errorfreewitha10%dutycycle.errorfreeAnovervoltageof20%abovethemaximumnominalinputvoltageappliedfortwoseconds,repeated10timeswith:a10%dutycycle.errorfreeerrorfreeWheneitherofthefollowingwaveformsareappliedtoeitherpolaritypeakoftheinputvoltagewaveform.Thewaveformsshallconsistof400HZ±50HZor800HZ±100HZexponentiallydecayingsinusoidwithapeakvoltageequaltothepeaknominallinevolage:anddecaytimeconstantsuchthatthefifthhalf-cycleofthedisturbaneeisbetween15and25%ofthefirsthalf-cycle.Thetotaldurationofthedisturbaneeshallnotexceedonecycleofthelinevoltage.Thistestshallberepeated320times(80positiveringsand80negativeringsat400HZ;80positiveringsand80negativeringsat800Hyathree(3)secondintervals.errorfreeDifferentialmode(line-to-line)andcommonmodeerrorfree(line-to-ground)voltagesurgeswithopencircuitvoltagesof2.5KVpeak±10%and2KVpeak±10%respectively.Thesourceimpedaneeofthesurgegeneratorshallbe2ohm±20%.ThesurgewaveshallbedefinedinANSI/IEEEC62.41(1980)andIEC60-2(1973).threepositiveandthreenegativesurgesshallbeappliedat0,90,180,and270degrees(24total).Thetimeintervalbetweensurgesshallbe18seconds.errorfree可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)範(fàn)編號(hào)No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本V.01頁(yè)次VersionPage25發(fā)行日期ReleaseDate90.11.12ReliabilityTestSpecificationA100nanosecondpulsewithanamplitudeof400voltsshallbesuperimposedonthepeakofthe:errorfreenominalinputvoltageandrepeatedatthelinefrequencyforten(10)minutes.ThepowersupplyshallsuffernophysicaldamageunderthefollowingdisurbancesinAClinevoltage.Repeateachtestfivetimes,returningthepowersupply:damagefreetoitsnormalrunningconditionsbetweentests.Acompletelineoutageforanyduration.Thepowersupplyshallsuffer