X射線知識點(diǎn)總結(jié)辦公文檔工作總結(jié)

高相機(jī)分辨率本領(lǐng)的途徑：1.相機(jī)半徑R越大，θ角越大，高相機(jī)分辨率本領(lǐng)的途徑：1.相機(jī)半徑R越大，θ角越大，X射線像方式主要有明場像和中心暗場衍射成像兩種。明場衍射襯度成像可射能力遠(yuǎn)高于它對X射線的散射能力，故電子束的強(qiáng)度較大，攝取衍原子單晶體中位置不同貨原子種類不同而引起的某些方向上的衍射線吸收限λk：把物質(zhì)的原子內(nèi)部電子擊出（原軌道）所需要的入射光最長波長。短波限λ0：在對X射線管施加各種管壓下的連續(xù)譜都存在一個(gè)最短的波長值λ0。Kα：電子由L→K躍遷所引起的K系輻射。Kβ：電子由M→K躍遷所引起的K系輻射。之釋放出二次特征X射線的現(xiàn)象。被擊出的電子叫光電子。熒光X射線（二次特征X射線由X射線激發(fā)產(chǎn)生的特征X射線。俄歇效應(yīng)：入射X射線激發(fā)原子產(chǎn)生熒光X射線。熒光X射線又由其能量傳遞給高能軌道系統(tǒng)消光：因原子單晶體中位置不同貨原子種類不同而引起的某些方向上的衍射線消失的現(xiàn)面的入射角經(jīng)常等于反射角?；蚨〝?shù)計(jì)時(shí)法，測定計(jì)數(shù)率的數(shù)據(jù)。一定的處理確定物相是什么；根據(jù)衍射線條的位置和強(qiáng)度可以確定物相有多少。以調(diào)節(jié)的矯正磁場來進(jìn)行補(bǔ)償，這個(gè)矯正磁場的裝置就是消像散器。明場成像：把這種讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到的圖像襯度的方法叫明場成像。透射電鏡分辨率決定于物鏡，最優(yōu)可達(dá)到0.1nm。底片上的電子束存在差異而產(chǎn)生的襯度。厚度方向延伸成桿狀，增加了倒易陣點(diǎn)和愛瓦爾德球相交截的機(jī)會，射能力遠(yuǎn)高于它對X射線的散射能力，故電子束的強(qiáng)度較大，攝取衍3厚度方向延伸成桿狀，增加了倒易陣點(diǎn)和愛瓦爾德球相交截的機(jī)會，射能力遠(yuǎn)高于它對X射線的散射能力，故電子束的強(qiáng)度較大，攝取衍3（最好估計(jì)它們的誤差）；根據(jù)d1值或d2d3，在數(shù)據(jù)索引中選區(qū)光闌：又稱場限光闌或視場光闌，使電子束只能通過光闌孔限定屬，此過程稱為投影。電子通過這段距離是會轉(zhuǎn)過一定的角度，叫做磁轉(zhuǎn)角ψ。貌圖像和分析晶體結(jié)構(gòu)的優(yōu)越性，常在物鏡平面內(nèi)插入一個(gè)孔徑可變的選區(qū)光闌進(jìn)行選區(qū)衍置對衍射強(qiáng)度的影響。X射線照相法中底片安裝有正裝法，反裝法，偏裝法，等方法。其中偏裝法可消除底片收縮和相機(jī)半徑不準(zhǔn)確引起的誤差。透射電鏡成像系統(tǒng)有兩個(gè)基本操作模式，分別是電子顯微鏡中的成像操作和，透射電子顯微鏡中的電子衍射操作如果將中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合，進(jìn)行的是成像操作，如果將中間鏡的物平面與物鏡物鏡的背焦面重合，進(jìn)行的是電子衍射操作。物鏡光闌的作用是提高圖像的襯度、減小像差、可方便在后焦面上進(jìn)行成暗場及衍襯成像操作。選區(qū)光闌的作用是限制物、像平面上的成像范圍。中間鏡的作用是控制電鏡的總放大倍數(shù)。透射電子顯微鏡襯度主要有質(zhì)厚襯度和衍射襯度。復(fù)型樣品通過質(zhì)厚襯度成像，金屬薄膜樣品通過衍射襯度成像。透射電子顯微鏡成像方式主要有明場像和中心暗場衍射成像兩種。明場衍射襯度成像可用物鏡光闌阻擋衍射束來實(shí)現(xiàn)，而中心暗場成像可用物鏡光闌阻擋透射束來實(shí)現(xiàn)。場像和中心暗場像。電子衍射條件下，薄晶體片的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展為倒易桿，棒狀晶體的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展為倒易盤，細(xì)小顆粒晶體的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展為倒易球。單晶體衍射花樣為排列十分整齊的斑點(diǎn)形狀，多晶體衍射花樣則為一系列不同半徑的同心圓形狀。單晶體衍射花樣實(shí)質(zhì)是陣點(diǎn)排列的放大像。X射線衍射和電子衍射都必須滿足兩個(gè)條件滿足布拉格方程和結(jié)構(gòu)因子不為零，衍射線方消除；對于色差，采取穩(wěn)定加速電壓的方法有效地減少色差，可以消收縮誤差，試樣偏心誤差，試樣對X射線的吸收誤差，消除；對于色差，采取穩(wěn)定加速電壓的方法有效地減少色差，可以消收縮誤差，試樣偏心誤差，試樣對X射線的吸收誤差，X射線折射誤率決定于物鏡，最優(yōu)可達(dá)到0.1nm。質(zhì)厚襯度：由于樣品不同區(qū)使球差明顯減小，但無法消除，對于像散，通過引入消像散器，可以相干散射而不發(fā)生吸收，應(yīng)使比分析試樣的吸收限大，但不能太大，盡可能靠近λk，其選利用特征X射線測試樣品某一微區(qū)的化學(xué)成分——能譜儀。簡要說明照相法精確額定點(diǎn)陣常數(shù)時(shí)誤差來源及校正誤差的措施：誤差來源：相機(jī)半徑誤差，底片收縮誤差，試樣偏心誤差，試樣對X射線的吸收誤差，X射線折射誤差。校正措施：采用不對稱裝片法以消除由于底片收縮和相機(jī)半徑不精確產(chǎn)生的誤差。將試樣軸高精度地對準(zhǔn)相機(jī)中心，以消除試樣偏心所造成的誤差。采取利用背射衍射線和減小試樣直徑等措施，必要時(shí)對試樣稀釋，消除因吸收而產(chǎn)生的衍射線位移。方法：辨率，在波長條件允許的情況下，應(yīng)盡量采用波長較長的X射線源。測量衍射線條位置（2θ計(jì)算晶面間距d；根據(jù)待測相的衍射數(shù)據(jù)，得出三強(qiáng)線的晶面間變，固定Ψ0法更為嚴(yán)格。對于色差，采取穩(wěn)定加速電壓的方法有效地減少色差，可以消除。簡述塑料一級復(fù)型和碳一級復(fù)型的區(qū)別：碳膜的厚度基本上是相同的，而塑料膜上有一個(gè)和電子衍射都必須滿足兩個(gè)條件滿足布拉格方程和結(jié)構(gòu)因子不為零，中的電子衍射操作如果將中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合，進(jìn)行續(xù)掃描測量法：將計(jì)數(shù)器連接到計(jì)數(shù)率儀上，計(jì)數(shù)器由2和電子衍射都必須滿足兩個(gè)條件滿足布拉格方程和結(jié)構(gòu)因子不為零，中的電子衍射操作如果將中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合，進(jìn)行續(xù)掃描測量法：將計(jì)數(shù)器連接到計(jì)數(shù)率儀上，計(jì)數(shù)器由2θ接近0°件下，薄晶體片的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展為倒易桿，棒狀晶體的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展面是平面，膜的厚度隨試樣的位置而異；制備塑料一級復(fù)型不破壞樣品，而制備碳復(fù)型時(shí)，的分辨率比塑料復(fù)型高一個(gè)數(shù)量級。和塑料一級復(fù)型相當(dāng)；最終的碳復(fù)型是通過溶解中間復(fù)型得到的，不必從樣品上直接剝離，而復(fù)型是一層厚度約為10nm的薄層，可以被電子束透過。2.在進(jìn)行電子衍射操作時(shí)采用薄晶樣品，薄樣品的倒易陣點(diǎn)會沿著樣品厚度方向延伸成桿狀，增加了倒易陣點(diǎn)和愛瓦爾德球相交截的機(jī)會，結(jié)果使略微偏離布拉格條件的電子束也能的范圍內(nèi)反射球的球面可以近似的看成一個(gè)平面，從而也可以認(rèn)為電子衍射產(chǎn)