pcb-維修技巧使用短路qtech追蹤儀

.z.PCB維修技巧-.z.容維修實(shí)例PCB檢修的一般步驟及不同測(cè)試結(jié)果的分析處理方法使用短路追蹤儀查找電路板的短路故障總線爭(zhēng)用問(wèn)題輸出負(fù)載接電容功能學(xué)習(xí)/比較錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器件產(chǎn)生的時(shí)序錯(cuò)誤觸發(fā)器產(chǎn)生的時(shí)序錯(cuò)誤之一觸發(fā)器產(chǎn)生的時(shí)序錯(cuò)誤之二器件沒(méi)有完全測(cè)試學(xué)習(xí)目的：指導(dǎo)使用者提高利用Qtech系列檢修設(shè)備維修PCB的技術(shù)水平，解決維修實(shí)踐中常見(jiàn)的疑難問(wèn)題。-.z.一、維修實(shí)例-.z.重要提示：芯片管腳對(duì)地或電源短路時(shí)，其短路電阻值在10-25毫歐姆之間。一英寸長(zhǎng)的附銅線大約有40-50毫歐姆電阻。例如：一個(gè)74640進(jìn)行在線功能測(cè)試時(shí)，其第6腳顯示對(duì)地電阻為1歐姆，用QT50實(shí)測(cè)第6腳對(duì)地電阻大約為160毫歐姆。懷疑是由與其相連的其它器件引起的短路故障。經(jīng)QT50檢查發(fā)現(xiàn)：該芯片與一個(gè)電阻排和置位元開(kāi)關(guān)聯(lián)接。在開(kāi)關(guān)接點(diǎn)上測(cè)量對(duì)地電阻大約為40毫歐姆，該值低于在第6腳上測(cè)出的電阻，因此說(shuō)明芯片顯示的第6腳對(duì)地短路故障是由于置位元開(kāi)關(guān)對(duì)地接通，并非芯片本身的故障。一般情況下，總線器件的管腳在設(shè)計(jì)上沒(méi)有（或很少）接地和電源的。如果出現(xiàn)*管腳接地或電源，請(qǐng)重新檢測(cè)該器件。在沒(méi)有好板做參考比較的情況下，通過(guò)分析管腳狀態(tài)和實(shí)際測(cè)量的波形，也能夠檢修壞板。例如：許多芯片在電路設(shè)計(jì)時(shí)只使用了其中的一部分邏輯單元，其余未使用部分的輸入腳一般都接地，以防該部分處在隨機(jī)運(yùn)行狀態(tài)而對(duì)電路產(chǎn)生干擾。根據(jù)芯片的邏輯功能分析實(shí)際輸出的波形，將十分有助于判斷所測(cè)芯片是否真正損壞。實(shí)例一：74123（單穩(wěn)態(tài)諧振器）的管腳出現(xiàn)懸空狀態(tài)（FLT）在線功能測(cè)試中，器件的輸入腳一般顯示為高阻狀態(tài)（阻值大于1兆歐姆）。器件離線測(cè)試時(shí)，如果不接TTL或CMOS負(fù)載的話，將會(huì)出現(xiàn)這種結(jié)果。在線測(cè)試中，該芯片的輸入腳通常接在另一個(gè)芯片的輸出腳。芯片的輸出腳為了保證驅(qū)動(dòng)扇出負(fù)載，通常為低阻抗。在線測(cè)試中如果在管腳狀態(tài)視窗中*輸入腳顯示“FLT”，表示該腳為懸空狀態(tài)，可能該腳與電路板的邊界聯(lián)接端或三態(tài)器件相連接，或者是與PCB之間開(kāi)路。通過(guò)與其它輸入腳的狀態(tài)做比較，將能判斷該腳的狀態(tài)是否正常。該例中，第6腳是接RC電路的輸入端，該電路中的電容通過(guò)電阻充電，再經(jīng)芯片第6腳放電，則該輸入腳就不可能為高阻狀態(tài)，因?yàn)槿绻咦璧脑挘筒荒軐?duì)電容放電。對(duì)該芯片進(jìn)行ICFT時(shí)出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤，其第7腳顯示“FLT”，另一個(gè)相同的輸入腳（第15腳）顯示的是正常的邏輯電平（對(duì)地阻抗大約為550歐姆）。雖然QT200對(duì)該芯片的測(cè)試結(jié)果是“測(cè)試失敗”，但是由于芯片的輸出腳出現(xiàn)翻轉(zhuǎn)，因此看起來(lái)好象是時(shí)序問(wèn)題。如果用戶不注意的話，就會(huì)忽視該測(cè)試結(jié)果而認(rèn)為是時(shí)序問(wèn)題。上述分析表明：使用者仔細(xì)觀察和分析管腳狀態(tài)信息，對(duì)于判斷真正故障點(diǎn)來(lái)說(shuō)是極為重要的。一個(gè)輸入腳的輸入阻抗若是550歐姆的話，就不會(huì)是懸空狀態(tài)（FLT）。本示例的實(shí)際故障原因是該單穩(wěn)諧振器由于功能損壞而不能使電容正常放電。同樣，器件的輸出腳也不可能是懸空狀態(tài)（FLT），因?yàn)槿籼幱趹铱諣顟B(tài)，該管腳就不能吸收或施放電流，也就不能驅(qū)動(dòng)任何扇出負(fù)載。另外用戶還應(yīng)注意：任何節(jié)點(diǎn)的對(duì)地阻抗都不能小于5-10歐姆（除非該節(jié)點(diǎn)真正短路到地此時(shí)阻抗約為2歐姆）。常用的緩沖驅(qū)動(dòng)器在邏輯低狀態(tài)下的阻抗大約為15-17歐姆。實(shí)例二：測(cè)試儀的供電夾具因接觸不良而不能提供測(cè)試電源當(dāng)通過(guò)測(cè)試儀的供電夾具和被測(cè)板上的*個(gè)芯片給被測(cè)板供電時(shí)，有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)被測(cè)芯片電源腳的實(shí)測(cè)電壓只有4.5V，此時(shí)的測(cè)試結(jié)果往往是不穩(wěn)定的。出現(xiàn)這種情況的原因可能是由于芯片管腳的氧化使得測(cè)試儀的供電夾具不能與芯片管腳接觸良好。出現(xiàn)這種問(wèn)題時(shí)，用戶可采取不同辦法解決，其中最有效的辦法是：通過(guò)被測(cè)板的邊界供電端與測(cè)試儀的供電電纜相接。實(shí)例三：被測(cè)板通電狀態(tài)下芯片的*個(gè)管腳對(duì)地短路這種現(xiàn)象難以解決。測(cè)試結(jié)果中顯示被測(cè)芯片輸出腳的阻抗為10歐姆（低阻狀態(tài)），并且沒(méi)有翻轉(zhuǎn)動(dòng)作，該阻值小于正常的緩沖驅(qū)動(dòng)器輸出腳在邏輯低時(shí)的阻抗。斷開(kāi)被測(cè)板電源時(shí)用三用表測(cè)量該管腳并未對(duì)地短路（電阻大于1千歐姆）。這種只在被測(cè)板加電狀態(tài)下才出現(xiàn)短路的現(xiàn)象，可能是被測(cè)器件輸出端的原因，也可能是該輸出端所接扇出器件輸入端的原因。被測(cè)器件的輸出端在邏輯低時(shí)應(yīng)能夠吸收電流，在邏輯高時(shí)，它輸出電流到扇出器件的輸入腳。如果被測(cè)器件在通電狀態(tài)下部對(duì)地短路，則在不加電時(shí)測(cè)量不會(huì)出現(xiàn)對(duì)地短路。這種情況下，可使用毫歐表分別測(cè)量被測(cè)器件輸出腳對(duì)地的電阻和所接扇出器件輸入腳對(duì)地的電阻，阻值最小的測(cè)量點(diǎn)就是真正的損壞器件。在IC管腳上測(cè)量對(duì)地阻值為在IC管腳上測(cè)量對(duì)地阻值為10毫歐姆在靠近3腳處測(cè)量對(duì)地阻值為6毫歐姆具體現(xiàn)象是：被測(cè)板上有三個(gè)芯片在進(jìn)行ICFT時(shí)都出現(xiàn)“測(cè)試失敗”，并在管腳狀態(tài)視窗中顯示出總線器件74374的第2腳、74244的第18腳和另一個(gè)74244在靠近3腳處測(cè)量對(duì)地阻值為6毫歐姆首先查出最接近短路點(diǎn)的芯片。使用QT50短路追蹤儀進(jìn)行檢測(cè)時(shí)把測(cè)量量程放在200毫歐姆，分別測(cè)量三個(gè)芯片的短路管腳對(duì)地的電阻，找出阻值最低的管腳。方法是：把一只探筆接到被測(cè)板的供電地端，另一只探筆先接到74374的第2腳，測(cè)量電阻是160毫歐姆，再接到74244的第18腳，測(cè)出電阻是90毫歐姆，然后再接到另一個(gè)74244的第3腳，測(cè)得電阻是10毫歐姆。則該管腳即是引起總線錯(cuò)誤的短路點(diǎn)。下面的問(wèn)題是確定真正短路點(diǎn)是在74244部，還是在短路管腳對(duì)外的附銅線上。方法是：使用QT50的一只探筆接地，另一只探筆接到74244的第3腳焊點(diǎn)之上的部位，讀出該腳對(duì)地的阻值（大約10毫歐姆），然后再把探筆接到第3腳焊點(diǎn)外3-4毫米處與其相連的附銅線上，再讀出此時(shí)3腳對(duì)地的阻值（大約6毫歐姆）。該結(jié)果表明真正短路點(diǎn)是在第3腳的外部附銅線上。-.z.二、PCB檢修一般步驟及不同測(cè)試結(jié)果的處理方法-.z.在線功能測(cè)試系統(tǒng)的主要制約因素就是其反向驅(qū)動(dòng)器的吸收/施放電流能力過(guò)強(qiáng)，從而遮蓋了被測(cè)芯片輸入腳出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。例如，大多數(shù)芯片的輸入腳阻抗都很高（大于1兆歐姆），如果輸入腳部功能損壞，則該腳阻抗可能降低到大約20歐姆，這將導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)該輸入腳的芯片產(chǎn)生扇出問(wèn)題，從而出現(xiàn)電路故障，因?yàn)槎鄶?shù)芯片只能驅(qū)動(dòng)輸出10毫安左右的電流。然而，一般的反向驅(qū)動(dòng)測(cè)試儀器卻能夠驅(qū)動(dòng)阻抗為20歐姆的輸入腳，這就使本來(lái)輸入腳出現(xiàn)故障的芯片也能通過(guò)功能測(cè)試。QT200能夠驅(qū)動(dòng)8歐姆以上的節(jié)點(diǎn)（小于8歐姆視為短路），這是本系統(tǒng)的主要問(wèn)題。-.z.（一） PCB檢修一般步驟在線功能測(cè)試測(cè)試失敗器件沒(méi)有完全測(cè)試測(cè)試通過(guò)檢查芯片型號(hào)類別是否OC器件處于線或狀態(tài)使用QSM/VI方式測(cè)試1檢查芯片編號(hào)、測(cè)試夾具放置是否正常，然后重新測(cè)試。2檢查管腳阻抗3是否需要隔離4調(diào)整測(cè)試時(shí)基和門限值后重新測(cè)試5使用QSM/VI方式測(cè)試下一個(gè)器件一般檢修PCB的流程圖-.z.PCB常見(jiàn)器件種類：1、門電路/組合邏輯型器件如:7400,7408等可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試2、時(shí)序器件/觸發(fā)器、計(jì)數(shù)器如:7474,7492等可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試3、總線器件（三態(tài)輸出）如:74245,74244,74374等可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試4、PAL,ROM,RAM如:2764，14464可使用ICFT進(jìn)行測(cè)試5、LSI器件如:8255,8088,Z80等可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試6、使用者專用芯片使用QSM/VI方式測(cè)試PCB測(cè)試失敗原因：芯片功能損壞速度/時(shí)序問(wèn)題芯片管腳狀態(tài)（懸空,高阻,時(shí)鐘,非法連接）OC門線或狀態(tài)扇出問(wèn)題ICFT測(cè)試結(jié)果分類測(cè)試通過(guò)測(cè)試失敗器件沒(méi)有完全測(cè)試器件比較相同器件比較不相同-.z.(二)出現(xiàn)不同測(cè)試結(jié)果的處理方法出現(xiàn)“測(cè)試失敗”結(jié)果時(shí)查看測(cè)試夾具是否接錯(cuò)了芯片，是否與被測(cè)芯片聯(lián)接良好。從管腳狀態(tài)視窗查看是否有開(kāi)路管腳（顯示HIZ），是否測(cè)出電源管腳。糾正這些問(wèn)題后重新測(cè)試。如果結(jié)果仍然是“測(cè)試失敗”，將鼠標(biāo)移到管腳狀態(tài)視窗后按一下左鍵，使顯示管腳阻抗。比較出現(xiàn)錯(cuò)誤的管腳阻抗與另外相同功能的管腳阻抗。如果是芯片的*個(gè)輸出腳出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤，則查看該腳與其它輸出腳的阻抗是否一致（注意此時(shí)的阻抗是芯片帶電時(shí)測(cè)量的對(duì)地阻抗）。如果比較的阻抗大致相等，則調(diào)低測(cè)試時(shí)基或門限值，然后再測(cè)一遍。若這次測(cè)試通過(guò)，則說(shuō)明該芯片出現(xiàn)的測(cè)試錯(cuò)誤是時(shí)序方面的問(wèn)題。這可能是輸出腳接了電容器件，由于電容的放電過(guò)程，使輸出腳狀態(tài)翻轉(zhuǎn)變慢。如果調(diào)整時(shí)基或門限值后的測(cè)試能夠通過(guò)的話，可有90%的把握確定該器件沒(méi)有損壞，此時(shí)即可轉(zhuǎn)到測(cè)試下一個(gè)芯片。如果調(diào)整時(shí)基或門限值后測(cè)試仍未通過(guò)，則檢查是否需要設(shè)置隔離。若不需要隔離，則直接進(jìn)入第5步。如果從夾具狀態(tài)中看出測(cè)試失敗的原因是由于輸出腳不能達(dá)到正常的邏輯電平，則調(diào)低測(cè)試門限值后再測(cè)。如果此時(shí)以較松的門限值測(cè)試能夠通過(guò)的話，則說(shuō)明該芯片所接的負(fù)載過(guò)重，或者是芯片本身的輸出驅(qū)動(dòng)能力變差，不能吸收或施放正常負(fù)載所需的電流。出現(xiàn)這種情況時(shí)，使用者必須特別注意，處理辦法是在被測(cè)板加電和不加電兩種狀態(tài)下，重新測(cè)試該輸出腳對(duì)地的阻抗，也可使用QSM/VI方式在被測(cè)板加電和不加電兩種狀態(tài)下，測(cè)試該芯片各輸出腳的VI曲線。比較測(cè)出的各輸出腳對(duì)地阻抗，如果不加電測(cè)量的阻抗大致相等，而加電時(shí)測(cè)量出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤的輸出腳阻抗高于其它輸出腳的阻抗，則說(shuō)明該芯片功能損壞（高阻抗?fàn)顟B(tài)不能吸收或施放所需電流），應(yīng)更換該芯片。比較各輸出腳的VI曲線，如果*個(gè)輸出腳的阻抗明顯低于其它輸出腳的阻抗，則說(shuō)明問(wèn)題在該腳所接扇出負(fù)載上。檢測(cè)與該腳相接的所有芯片輸入腳的阻抗，找出其中真正的短路點(diǎn)。為了進(jìn)一步查出問(wèn)題的根源，可用扁口鉗鉗斷被測(cè)芯片上出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤的輸出腳，再重新測(cè)試。如果這時(shí)測(cè)試通過(guò)，就表明確實(shí)是芯片所接負(fù)載的問(wèn)題。2出現(xiàn)“器件沒(méi)有完全測(cè)試”結(jié)果時(shí)當(dāng)被測(cè)芯片的輸出腳在測(cè)試過(guò)程中不發(fā)生翻轉(zhuǎn)（即在測(cè)試窗口中保持固定高或低電位）時(shí)，系統(tǒng)將提示“器件沒(méi)有完全測(cè)試”（出現(xiàn)該提示時(shí)熒幕上的波形視窗并不標(biāo)注任何測(cè)試錯(cuò)誤）。例如一個(gè)7400反及閘的*個(gè)輸入腳短接到地，則對(duì)應(yīng)的輸出腳將始終為高電平，測(cè)試該芯片時(shí)將出現(xiàn)上述提示。如果使用者有被測(cè)板的電路原理圖，就能很容易地確定該芯片的管腳連接狀態(tài)是否正常。如果用戶已學(xué)習(xí)過(guò)好板，則所學(xué)芯片的正常連接狀態(tài)也將記錄下來(lái)。測(cè)試壞板時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)與好板學(xué)習(xí)結(jié)果相比較，如果比較結(jié)果不同，則說(shuō)明壞板出現(xiàn)非法連接；如果比較結(jié)果相同，則可不考慮“器件沒(méi)有完全測(cè)試”的提示，轉(zhuǎn)到測(cè)試下一個(gè)芯片。如果被測(cè)芯片是OC器件，并在電路上設(shè)計(jì)為“線或”狀態(tài)，則該芯片的輸出可能會(huì)受到與其存在線或關(guān)系的其它芯片的影響。例如，*個(gè)芯片的輸入邏輯使其輸出固定為低電平，則被測(cè)芯片的輸出也將固定為低電平，這時(shí)測(cè)試該芯片系統(tǒng)也將提示“器件沒(méi)有完全測(cè)試”。對(duì)此類器件用戶應(yīng)特別注意，建議使用QSM/VI方式，通過(guò)比較測(cè)試芯片上所有相同功能管腳的VI曲線，來(lái)判斷故障點(diǎn)。-.z.三、使用短路追蹤儀查找電路板的短路故障在下圖中，U1第4腳分別接到U2的第3腳和U3的第5腳。在這三個(gè)芯片中若出現(xiàn)故障，可能有下面四種情況：U1功能損壞，其第4腳在測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有翻轉(zhuǎn)，43保持固定低電平；U1U2U1的第4腳由于部三極管損壞而短路到地；U3的第5腳短路到地；U2的第3腳對(duì)地不完全短路，有一個(gè)固定低電阻5U3-.z.下面是對(duì)上述情況的檢測(cè)方法：第一種情況：測(cè)量U1第4腳對(duì)地阻抗，如果該腳邏輯狀態(tài)正好是低電平，其阻抗不會(huì)很低（大于10歐姆），如果該腳正處于較低的高電平，阻抗將大于1千歐姆。如果對(duì)U1的在線功能測(cè)試結(jié)果是：第4腳沒(méi)有翻轉(zhuǎn)，測(cè)試失敗，使用者應(yīng)將管腳狀態(tài)視窗切換到阻抗顯示模式，比較U1第4腳與其它輸出腳的對(duì)地阻抗，如果各輸出腳阻抗相等，則說(shuō)明U1的部功能損壞，應(yīng)更換U1。第二種情況：用三用表測(cè)量U1第4腳對(duì)地阻值，如果近似為零，可以使用毫歐表，通過(guò)Qtech首創(chuàng)的“兩點(diǎn)定位法”找到真正短路點(diǎn)。Qtech系統(tǒng)產(chǎn)品中的QT25和QT50短路追蹤儀，是用于查找電路板短路故障的理想儀表。右面兩個(gè)圖片說(shuō)明了“兩點(diǎn)定位法”的操作步驟：首先把毫歐表的測(cè)量探針?lè)旁诒粶y(cè)腳焊點(diǎn)上面靠近管腳的根部（如下圖），設(shè)置毫歐表的量程為200毫歐姆，測(cè)出一個(gè)阻值；然后再把探針?lè)旁诒粶y(cè)腳焊點(diǎn)之外3-4毫米處的連接被測(cè)腳的附銅線上（如下圖），再讀出一個(gè)阻值。如果前一個(gè)阻值小于后一個(gè)阻值，則說(shuō)明短路點(diǎn)在被測(cè)芯片的部驅(qū)動(dòng)電路上。此時(shí)無(wú)疑應(yīng)更換該芯片。如果前一個(gè)阻值大于后一個(gè)阻值，則說(shuō)明短路點(diǎn)不在被測(cè)芯片的部，而是在芯片外部與其相連的其它芯片上，或者是兩者之間的附銅線上。使用毫歐表所測(cè)短路阻值的大小視短路程度而定，但是只要使用“兩點(diǎn)定位法”測(cè)出的前后兩個(gè)阻值的大小不同，就能夠確定真正短路點(diǎn)的部位。第三種情況：真正的故障點(diǎn)是U3的第5腳對(duì)地短路（輸入腳部三極管擊穿），但是對(duì)U1進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)，卻會(huì)由于其第4腳不能翻轉(zhuǎn)而使測(cè)試失敗。切換夾具視窗到阻抗顯示模式，比較U1第4腳與其它輸出腳的阻抗，發(fā)現(xiàn)第4腳阻抗明顯低于其它腳的阻抗（近似為零）。此時(shí)使用者并不能確定真正故障原因就是U1，而應(yīng)使用QT25或QT50短路追蹤儀進(jìn)一步測(cè)量。首先采用“兩點(diǎn)定位法”確定短路點(diǎn)是在U1部，還是U1外部。經(jīng)測(cè)量發(fā)現(xiàn)短路點(diǎn)是在U1外部，這時(shí)用戶可通過(guò)被測(cè)板的電路圖或使用Qtech的線路跟蹤功能，查出與U1第4腳相連接的所有芯片。然后用短路追蹤儀分別測(cè)量這些芯片上與U1第4腳相連管腳的對(duì)地阻值，發(fā)現(xiàn)U3的第5腳對(duì)地阻值最低。這時(shí)將排除U1和U2的短路可能，把問(wèn)題集中在U3的第5腳上。再次使用“兩點(diǎn)定位法”，確定短路點(diǎn)是在U3第5腳的部。這時(shí)應(yīng)更換U3芯片。不過(guò)，如果此時(shí)為了更加有把握而對(duì)U3進(jìn)行功能測(cè)試的話，可能仍然出現(xiàn)測(cè)試通過(guò)的結(jié)果。這是因?yàn)樵撔酒m然第5腳部對(duì)地短路，但仍有一定阻值，只要該阻值大于測(cè)試儀的最小可驅(qū)動(dòng)阻值，且U3部的邏輯功能并未損壞的話，則對(duì)該芯片的功能測(cè)試就能通過(guò)。例如象7400的反及閘，如果其*個(gè)輸入腳短路到地，其功能測(cè)試仍然能夠通過(guò)。對(duì)于這種情況，使用者只能通過(guò)與學(xué)習(xí)好板的結(jié)果相比較的辦法來(lái)確定故障點(diǎn)了。然而對(duì)本例來(lái)說(shuō)，只要測(cè)出U3第5腳部對(duì)地短路，就能確定是U3損壞。因?yàn)殡娐吩O(shè)計(jì)者不可能將芯片的輸出腳短路到地。第四種情況：U2第3腳對(duì)地不完全短路，用三用表測(cè)量該腳對(duì)地電阻約為10歐姆。用戶切記：正常芯片的輸出、輸入腳對(duì)地電阻不會(huì)在10-40歐姆之間。此時(shí)測(cè)試U1將會(huì)測(cè)試失?。ㄒ?yàn)閁1第4腳不能正常驅(qū)動(dòng)如此低阻值的輸入腳），熒幕上顯示U1第4腳為低阻狀態(tài)。用三用表測(cè)試該腳對(duì)地電阻也是10歐姆左右。為了找出不完全短路的確切部位，普通的毫歐表已無(wú)能為力了，因?yàn)榇藭r(shí)被測(cè)腳對(duì)地有一個(gè)10歐姆左右的阻值。為解決該問(wèn)題，QT50短路追蹤儀設(shè)計(jì)了調(diào)節(jié)測(cè)量零位的功能，能夠屏蔽掉10-20歐姆的固定阻值。具體操作步驟是：設(shè)置測(cè)量零位為10歐姆，量程為200毫歐姆，然后按照上述第三種情況下的步驟進(jìn)行測(cè)量。-.z.四、總線爭(zhēng)用問(wèn)題-.z.對(duì)總線器件（如74245）進(jìn)行在線功能測(cè)試時(shí)，由于其雙向輸入/輸出腳可能受到通過(guò)總線與其相連的其它器件的影響而使測(cè)試失敗?？偩€器件在被測(cè)板加電后可能會(huì)處于使能狀態(tài)，使其輸出/輸入腳不在三態(tài)高阻狀態(tài)。左圖為測(cè)試總線器件出現(xiàn)總線爭(zhēng)用時(shí)的結(jié)果視窗。為消除總線爭(zhēng)用的影響，使被測(cè)芯片測(cè)試通過(guò)，使用者必須隔離有關(guān)的總線器件。-.z.左圖中的測(cè)試結(jié)果顯示：74245的第3,4,9腳沒(méi)有翻轉(zhuǎn)，測(cè)試失敗。此時(shí)使用者應(yīng)從管腳狀態(tài)中查看芯片各腳的動(dòng)態(tài)阻抗，確定是否有短路到地或?qū)Φ仉娮铇O低（小于5歐姆）的管腳。從右上圖中可注意到第11,16和17腳對(duì)地阻抗大約290歐姆，其它輸出、輸入腳對(duì)地阻抗都在17-23歐姆之間。前者表明管腳牌邏輯高狀態(tài)，后者表明管腳處于邏輯低狀態(tài)。第2腳測(cè)試通過(guò)，未受到總線爭(zhēng)用的影響，因?yàn)槠漭敵瞿_能夠承受相連器件的下拉影響。-.z.使用者必須能夠分辨清楚測(cè)試失敗是由于總線爭(zhēng)用引起，還是因器件功能損壞所致。本例中，測(cè)試失敗的原因是總線爭(zhēng)用。為了對(duì)器件進(jìn)行完整測(cè)試，使用者必須隔離有關(guān)總線器件，使其輸出腳處于高阻狀態(tài)，對(duì)被測(cè)器件不產(chǎn)生影響。-.z.放大后的波形下圖中芯片的第3腳在作為輸出腳時(shí)受到相連芯片的下拉作用而不能產(chǎn)生翻轉(zhuǎn)。當(dāng)?shù)?腳作為輸入腳時(shí)，由于QT200最大驅(qū)動(dòng)電流為650毫安，所以即使第3腳被其它芯片下拉，QT200仍然能夠?qū)Φ?腳上拉到高電位，因此可測(cè)試第17腳。如果該芯片功能損壞，此時(shí)對(duì)第17腳的輸出測(cè)試也不可能通過(guò)。實(shí)際測(cè)試結(jié)果是第17腳輸出測(cè)試通過(guò)了，顯然不是該芯片的功能損壞，而是總線爭(zhēng)用問(wèn)題。-.z.如何判斷哪個(gè)芯片引起總線爭(zhēng)用而必須設(shè)置隔離呢？-.z.如果使用者有被測(cè)板的電路原理圖，首先查出與被測(cè)芯片相連的所有其它總線芯片，通常電路中的總線芯片可分為以下三類：a,使能端接其它芯片的輸出端;b,兩個(gè)或兩個(gè)以上的總線芯片的使能端相連；c,使能端直接與地或+5v電源相接。對(duì)于第一類總線芯片，應(yīng)對(duì)每個(gè)使能端設(shè)置隔離，方法是在QT200的飛線通道（從FC0到FC7）設(shè)置相應(yīng)的邏輯電平，分別接到這些使能端上；對(duì)于第二類總線芯片，則只設(shè)置一個(gè)隔離通道，接到其中一個(gè)芯片的使能端；而對(duì)于第三類總線芯片，是不能直接進(jìn)行隔離設(shè)置的，因?yàn)楦綦x通道不能對(duì)其使能端實(shí)施反向驅(qū)動(dòng)。一般處理原則是先設(shè)置前兩類總線芯片，看被測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果是否滿意（即從結(jié)果中可以判斷芯片的好壞），如果是，則不考慮對(duì)第三類總線芯片的隔離；如果仍不滿意，再采取措施對(duì)第三類總線芯片進(jìn)行隔離。一般是采用割線方法將使能端與地或+5v電源斷開(kāi)，然后再對(duì)其設(shè)置隔離。經(jīng)過(guò)設(shè)置隔離點(diǎn)后重測(cè)芯片。如果測(cè)試通過(guò)，再逐個(gè)去掉所設(shè)置的隔離通道，重新測(cè)試。出現(xiàn)測(cè)試失敗時(shí)去掉隔離設(shè)置的總線芯片就是產(chǎn)生總線爭(zhēng)用的芯片。重新接上該芯片的隔離通道，繼續(xù)按上述方法檢驗(yàn)其它未確定的總線芯片。直到最后查出所有需要設(shè)置隔離的總線芯片(在板學(xué)習(xí)方式中，啟動(dòng)其中的記事本，記錄下來(lái)哪些芯片的測(cè)試需要隔離哪些總線芯片，在檢修壞板時(shí)將給予很大幫助)。-.z.如果使用者沒(méi)有電路圖，可利用QSM/VI測(cè)試方式中的掃描測(cè)試，找出與被測(cè)芯片相連接的其它總線芯片。具體方法是：從ICFT測(cè)試方式中直接進(jìn)入交互式QSM/VI測(cè)試視窗，自訂一個(gè)待測(cè)芯片名稱，設(shè)置管腳數(shù)為40，測(cè)量頻率為312Hz，使用QT200用于電路跟蹤的電纜（有兩個(gè)20腳的夾具），把夾具1接到正在進(jìn)行功能測(cè)試的總線芯片上（夾具第1腳對(duì)著芯片的第1腳），夾具2接到被測(cè)板上任意的其它總線芯片上，然后開(kāi)始掃描測(cè)試。如果兩個(gè)芯片之間存在連接關(guān)系，在熒幕上的視窗中將顯示出來(lái)。其中1-20腳代表夾具1所接的芯片，21-40腳代表夾具2所接的芯片。假若視窗中的第5腳和第35腳都標(biāo)注L1符號(hào)，則說(shuō)明第一個(gè)芯片的第5腳與第二芯片的第15腳相連接。如何利用系統(tǒng)的數(shù)位示波器功能判斷總線器件的好壞？在測(cè)試總線器件時(shí)，如果不能通過(guò)隔離方式判斷器件的好壞，可利用本系統(tǒng)的最新功能數(shù)位示波器（DSO）方式進(jìn)行測(cè)試，基本操作方法如下：將被測(cè)板上焊下的晶體重新焊好，使板上有正常的時(shí)鐘運(yùn)行。連接測(cè)試探針到合適的通道上（注意：不同版本的系統(tǒng)軟件所選的探針通道是不一樣的）從測(cè)試視窗中的工具列中按DSO鍵，啟動(dòng)數(shù)位示波器方式。接通被測(cè)板供電電源依次將探針接到被測(cè)總線器件的不同管腳上，從熒幕上可看到被測(cè)管腳的實(shí)際信號(hào)。如果信號(hào)是高低翻轉(zhuǎn)變化的，則說(shuō)明該管腳功能正常。如果信號(hào)電位在1.2v到1.8v之間固定不變，則對(duì)該管腳應(yīng)特別注意，這可能是因?yàn)樵摴苣_功能損壞，或者是該腳為輸出腳處于開(kāi)路狀態(tài)。此時(shí)可檢測(cè)晶體附近的7404芯片，因?yàn)樵撔酒１挥糜跁r(shí)鐘電路。用探針測(cè)試7404的輸出腳，應(yīng)有波形信號(hào)。如果沒(méi)有，再檢測(cè)被測(cè)板供電是否正常、晶體是否損壞。注意，檢測(cè)時(shí)鐘信號(hào)時(shí)示波器應(yīng)選擇100K阻抗，這樣可避免對(duì)晶振電路的影響。為了檢測(cè)管腳是否處于懸空狀態(tài)，可選擇示波器阻抗為10K。如果管腳確實(shí)懸空（其阻抗大于1兆歐姆），則探針接觸該腳時(shí)，10K的阻抗將把該腳下拉為低電平。如果該腳沒(méi)有懸空，而是有固定電平，則探針不會(huì)使其下拉為低。由此即可判斷管腳的真正狀態(tài)。數(shù)位示波器測(cè)試視窗互動(dòng)式QSM/VI方式中的VT顯示方式用戶應(yīng)掌握的關(guān)鍵一點(diǎn)是，如果管腳在電路在被使用，則應(yīng)能翻轉(zhuǎn)；如果未被使用，則會(huì)保持固定高或低電平。利用帶電數(shù)位示波器測(cè)試視窗互動(dòng)式QSM/VI方式中的VT顯示方式-.z.五、輸出端接電容負(fù)載-.z.*些電路在設(shè)計(jì)上如果對(duì)工作速度的要求不高，就在驅(qū)動(dòng)芯片的輸出端接上電容器件，以便消除電路中的毛刺干擾。對(duì)這種電路中的芯片進(jìn)行在線功能測(cè)試時(shí)，經(jīng)常出現(xiàn)測(cè)試失敗。對(duì)此用戶必須給予重視。-.z.-.z.右圖中的第2,5,6,9,12等管腳出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤，這些腳的輸出象是被固定到邏輯高電位上。第6腳波形（存在階梯形）好象是放電后才到了邏輯低電位；管腳狀態(tài)視窗中顯示第2腳阻抗為8歐姆，該阻值遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于正常芯片輸出腳可驅(qū)動(dòng)的阻值。-.z.出現(xiàn)這種測(cè)試結(jié)果，是由于被測(cè)芯片的輸出端接了不同容量的電容器。第2腳上的電容器電容量最大，是10UF；第5腳電容是4.7UF；第6腳電容更小，第12腳電容最小。-.z.為了驗(yàn)證芯片測(cè)試失敗的原因是測(cè)試速度的問(wèn)題，使用者可設(shè)置較慢的測(cè)試時(shí)基再重新測(cè)試，如果測(cè)試通過(guò)，即說(shuō)明芯片的輸出端接有電容器件。當(dāng)系統(tǒng)以較慢的速度測(cè)試時(shí)，芯片管腳上的電容在輸出發(fā)生狀態(tài)變化時(shí)能夠有較長(zhǎng)時(shí)間完成充放電過(guò)程，這樣對(duì)芯片的測(cè)試就不會(huì)出現(xiàn)測(cè)試失敗。QT200測(cè)試儀能夠自動(dòng)識(shí)別出測(cè)試結(jié)果中的速度問(wèn)題，適時(shí)提示使用者調(diào)整測(cè)試時(shí)基，以較慢的速度重新測(cè)試。-.z.在線功能測(cè)試中，如果由于*個(gè)管腳固定為高電平而使測(cè)試失敗，可從以下三個(gè)方面分析處理：-.z.該管腳接了電容器件--──調(diào)低測(cè)試時(shí)基后重新測(cè)試，能夠通過(guò)測(cè)試。該管腳部功能損壞──調(diào)低測(cè)試時(shí)基后重新測(cè)試，仍然不能通過(guò)電路中存在總線爭(zhēng)用問(wèn)題──隔離有關(guān)總線器件后重新測(cè)試。-.z.從下面的圖中可以看出，當(dāng)測(cè)試時(shí)基調(diào)整到256微秒脈沖時(shí)，第2腳有足夠時(shí)間回應(yīng)電容的充放電過(guò)程。但是測(cè)試結(jié)果報(bào)告該腳輸出有電平錯(cuò)誤，對(duì)此可進(jìn)一步降低測(cè)試速度，再測(cè)一次。結(jié)果表明：當(dāng)測(cè)試時(shí)基調(diào)整到512微秒脈沖時(shí)，所有的輸出腳都能測(cè)試通過(guò)。-.z.放大波形當(dāng)測(cè)試時(shí)基為256微秒脈沖時(shí)，第6腳測(cè)試通過(guò)。六、功能學(xué)習(xí)和比較錯(cuò)誤-.z.-.z.下圖顯示了器件功能比較測(cè)試后的結(jié)果，管腳2在學(xué)習(xí)和比較測(cè)試結(jié)果中都是對(duì)地短路，對(duì)此用戶可不作考慮。然而，如果比較測(cè)試結(jié)果中顯示第2腳懸空（FLT），則表示該腳處于開(kāi)路狀態(tài)，這時(shí)使用者應(yīng)檢查該腳焊點(diǎn)及對(duì)外的連接線是否正常。-.z.在夾具狀態(tài)視窗中靠外邊的陰影部分顯示的是學(xué)習(xí)結(jié)果，里邊顯示的是當(dāng)前測(cè)試的結(jié)果。圖中顯示出第1,4腳比較結(jié)果不同，學(xué)習(xí)結(jié)果中是懸空狀態(tài)，而當(dāng)前狀態(tài)是正常的邏輯電位。-.z.對(duì)于總線器件，這種情況時(shí)常發(fā)生，因?yàn)樵诰€功能測(cè)試中，電路板上總線器件的使能端常常受到未知且不固定的邏輯電平的觸發(fā)而使其輸出狀態(tài)也經(jīng)常發(fā)生隨機(jī)性的改變。-.z.出現(xiàn)這種情況時(shí)，使用者應(yīng)對(duì)該器件重新測(cè)試幾次，檢查其管腳狀態(tài)是否還有變化，如果幾次測(cè)試結(jié)果始終出現(xiàn)相同的比較錯(cuò)誤，使用者應(yīng)檢查相應(yīng)管腳的阻抗。-.z.如果懸空腳在不斷變化，這一般也不是問(wèn)題。如果器件測(cè)試通過(guò)而有些管腳始終為固定電平，建議用戶檢查比較管腳的阻抗；如果同一條總線上的管腳阻抗基本相等，則可以確定該器件沒(méi)有問(wèn)題。-.z.如果相同類型管腳的阻抗比較相差較大，則表示在器件的I/0端存在問(wèn)題。-.z.-.z.七、計(jì)數(shù)器產(chǎn)生的時(shí)序問(wèn)題-.z.在檢測(cè)計(jì)數(shù)器類器件（如7492）中也時(shí)常遇到與時(shí)序有關(guān)的問(wèn)題，這是多數(shù)在線功能測(cè)試儀都不可避免的。出現(xiàn)這類問(wèn)題的原因主要是：a,異步設(shè)計(jì);b,由于反向驅(qū)動(dòng)電流而產(chǎn)生的噪聲干擾;c,被測(cè)板上有自身的脈沖信號(hào)觸發(fā)了被測(cè)器件。-.z.圖中顯示以庫(kù)存時(shí)基測(cè)試時(shí)，出現(xiàn)測(cè)試失敗的結(jié)果。-.z.第11腳的波形顯示該腳有輸出但與期望輸出的波形不一致。-.z.在此用戶應(yīng)明白：如果輸出腳部功能損壞，就不會(huì)有回應(yīng)波形輸出。因此通過(guò)對(duì)該芯片測(cè)試波形的分析，就可確定該芯片是好的，出現(xiàn)測(cè)試失敗完全是時(shí)序問(wèn)題。-.z.右圖說(shuō)明當(dāng)調(diào)整測(cè)試時(shí)基為32微秒每時(shí)鐘時(shí)，器件測(cè)試通過(guò)。但是這時(shí)的測(cè)試結(jié)果并不穩(wěn)定，再次測(cè)試有