氧化鋅基薄膜光電性能及其在紫外探測器中的應(yīng)用研究的開題報告_第1頁
氧化鋅基薄膜光電性能及其在紫外探測器中的應(yīng)用研究的開題報告_第2頁
氧化鋅基薄膜光電性能及其在紫外探測器中的應(yīng)用研究的開題報告_第3頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

氧化鋅基薄膜光電性能及其在紫外探測器中的應(yīng)用研究的開題報告一、選題背景及意義隨著現(xiàn)代科技的不斷發(fā)展，人們對光電器件的研究越來越深入，尤其是在紫外探測器領(lǐng)域。紫外探測器是一種將紫外光轉(zhuǎn)換為電信號的光電轉(zhuǎn)換器件，它廣泛應(yīng)用于環(huán)保監(jiān)測、醫(yī)療、軍事等領(lǐng)域，因此該領(lǐng)域的研究具有重要的意義。氧化鋅基薄膜是紫外探測器中常用的材料之一，它具有優(yōu)良的光電性能，包括高感應(yīng)度、快速響應(yīng)和穩(wěn)定的電性能等。因此，對氧化鋅基薄膜的研究可以為紫外探測器的研制提供重要的支撐。二、研究內(nèi)容和目的本文擬通過實驗方法，研究氧化鋅基薄膜的光電性能，以及其在紫外探測器中的應(yīng)用情況，具體研究內(nèi)容如下：1.利用化學(xué)氣相沉積技術(shù)制備氧化鋅基薄膜。2.對不同制備條件下的氧化鋅基薄膜進行表征，包括薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、形貌、成分等。3.對氧化鋅基薄膜的光電性能進行測試，主要包括薄膜的光導(dǎo)率、光吸收系數(shù)、光敏功率等。4.研究氧化鋅基薄膜在紫外探測器中的應(yīng)用情況。通過以上研究，旨在了解氧化鋅基薄膜的制備方法、特性和在紫外探測器中的應(yīng)用情況，為紫外探測器技術(shù)的發(fā)展提供科學(xué)依據(jù)。三、研究方法和步驟1.制備氧化鋅基薄膜利用化學(xué)氣相沉積技術(shù)，采用不同的實驗條件制備氧化鋅基薄膜。2.表征氧化鋅基薄膜對不同實驗條件下的氧化鋅基薄膜進行表征，包括X射線衍射、掃描電子顯微鏡等。3.測試氧化鋅基薄膜的光電性能采用測試系統(tǒng)測試氧化鋅基薄膜的光導(dǎo)率、光吸收系數(shù)、光敏功率等參數(shù)。4.應(yīng)用研究將氧化鋅基薄膜應(yīng)用于紫外探測器中，研究其性能。四、預(yù)期成果本文的預(yù)期成果如下：1.成功制備出氧化鋅基薄膜。2.通過表征，研究氧化鋅基薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、形貌、成分等特性。3.測試氧化鋅基薄膜的光電性能。4.研究氧化鋅基薄膜在紫外探測器中的應(yīng)用情況。五、進度計劃1.前期工作綜述氧化鋅基薄膜的制備方法和性能，閱讀相關(guān)文獻資料，制定研究方案和方法。2.制備氧化鋅基薄膜并進行表征2019年10月-2020年3月3.測試氧化鋅基薄膜的光電性能2020年4月-2020年6月4.研究氧化鋅基薄膜在紫外探測器

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論