內(nèi)存測試卡使用說明

1內(nèi)存測試卡使用說明PCI接口的內(nèi)存測試卡，通過搭配專用主板，可以測試SDR，DDR66MHZ，100MHZ，133MHZIC好壞測試，內(nèi)存條知路測試，IC內(nèi)部好壞測試，內(nèi)存條兼容性穩(wěn)定性測試。測試速度快，能準確指出內(nèi)IC所在的位置。是內(nèi)存生產(chǎn)，修理的好幫手。一：系統(tǒng)主要組成局部及用法二：系統(tǒng)測試環(huán)境三:問題和解答版權(quán)全部：任何人未經(jīng)允許不得擅自復(fù)制，銷售該內(nèi)存測試卡。對于此卡的合法用戶，版權(quán)全部：任何人未經(jīng)允許不得擅自復(fù)制，銷售該內(nèi)存測試卡。對于此卡的合法用戶，請將你的根本資料發(fā)送到“mailto:xdxq@163.net“xdxq@163.net進展注冊，得到確認后即可獲得免費技術(shù)支持。一：本系統(tǒng)主要組成局部為：3個7段數(shù)碼管〔U4-U，1個5X8顯示陣列〔U，2個開關(guān)〔S1,S2〕1、7在內(nèi)存測試過程中，每測完１Ｍ，數(shù)碼管就會顯示相對應(yīng)的Ｍ數(shù)，測試完后，數(shù)碼管會顯示出總?cè)萘康模蛿?shù)。比方：當(dāng)你測試雙面３２Ｍ內(nèi)存時，開頭數(shù)碼管顯示000，說明01M0011M2M032。2本系統(tǒng)供給了四種測試模式：S1,S2=00，01，10，11：S1,S2=00IC內(nèi)部大局部損壞，金手指接觸不良，或者IC假焊，連焊等由于加工造成的內(nèi)存條損壞。對133M128M5秒鐘。b〕:S1,S2=01IC133M外頻的內(nèi)存條，每測試1M約需要1秒鐘。c)：S1,S2=10此測試模式介于快速測試和全面測試之間。對于133M128M30秒鐘。d)：S1,S2-11進展測試。具體用法請參照電腦兼容性測試說明局部。3：5X85X8顯示陣列是用來顯示內(nèi)存條上哪顆ICPCB板上，該顯示陣列右邊標有1，2，3，4四個數(shù)來表示四行。用來對應(yīng)內(nèi)存條的不同面。留意顯示陣列中間一行沒有使PCB板上沒作標識。a〕:顯示待測內(nèi)存的正面28顆IC〔SDR，PCB1。。84這一面，見圖示〕顯示陣列〔顯示陣列〔5X82行〕123456781-8IC序號相對應(yīng)〔IC編排方法見系統(tǒng)測試環(huán)境IC編排方法3盞燈亮，則說明內(nèi)34顆IC出錯。：顯示待測內(nèi)存的反面待測內(nèi)存的反面用第18顆I〔PCB85。。168這一面，見圖示〕內(nèi)存條〔反面〕1-8和經(jīng)過編排后的內(nèi)存IC〔IC編排方法見系統(tǒng)測試環(huán)境中的IC編排方法。假設(shè)某內(nèi)存編排后挨次如下，假設(shè)顯示陣列第6盞燈亮，則說明內(nèi)存65顆IC出錯。內(nèi)存條〔反面〕12436578Pin85Pin94Pin124Pin168：顯示待測內(nèi)存數(shù)據(jù)線短路ICIC38IC(留意：對于數(shù)據(jù)線短路，系統(tǒng)無法區(qū)分是待測內(nèi)存哪一面的IC出錯，即兩面都有可能，通常所使用的方法是先折掉一顆，再測試一次來判定。假設(shè)內(nèi)存編排如下所示，則當(dāng)?shù)?18顆IC3種可能性：888顆都短路。):顯示內(nèi)存條狀態(tài)內(nèi)存條狀態(tài)用第4行來表示，左邊兩個指示燈表示當(dāng)前內(nèi)存條是單面，還是雙面。當(dāng)左邊只有第一盞燈亮，表示當(dāng)前內(nèi)存為單面，當(dāng)左邊第一，二盞燈都亮，表示66盞燈只亮一盞時，表示當(dāng)前內(nèi)存單面容量是16〔包括小于16，亮兩盞時，表示當(dāng)前內(nèi)存單面容量是32M。亮三盞時，表示當(dāng)前內(nèi)存單面容量是64M，亮四盞時，表示當(dāng)前內(nèi)存單面容量是128M。亮五盞時，表示當(dāng)前內(nèi)存單面容量是256M亮六盞時表不當(dāng)前內(nèi)512M423盞，則表示當(dāng)前內(nèi)128M。:待測內(nèi)存電源和地短路ATX電源已經(jīng)進入過流保護狀態(tài)，7段數(shù)碼管亮一下以后熄滅。此時只有關(guān)閉ATX電源才可以重開機。二：系統(tǒng)測試環(huán)境1：本系統(tǒng)搭配專用主板使用，只需插到主板PCI槽上即可使用。不影響該主板的正常使用。2：本卡使用時要搭配一條好的內(nèi)存條使用。好的內(nèi)存條插在第一條內(nèi)存槽〔靠近CPU的那一條槽，待測內(nèi)存條插在其次個內(nèi)存槽〔遠離CPU的那一條槽，好的內(nèi)存條用來作的內(nèi)存條型號要與待測內(nèi)存條類型全都。3:IC編排方法:DDRIC〔IC為列〕內(nèi)存條〔DDR〕1：測出和內(nèi)存條Pin002所相連的IC標上測出和內(nèi)存條Pin012IC2；Pin023IC3；Pin033IC4；Pin053IC5；Pin061IC6；Pin072IC7；Pin083IC內(nèi)存條〔DDR〕12345678Pin2Pin12Pin23Pin33Pin53Pin61Pin72Pin83:SDRIC〔IC為例〕1：測出和內(nèi)存條Pin002所相連的IC，標上測出和內(nèi)存條Pin086IC4；測出和內(nèi)存條Pin011IC，標上7；測出和內(nèi)存條Pin095IC3；測出和內(nèi)存條Pin055IC6；測出和內(nèi)存條Pin139IC2；測出和內(nèi)存條Pin069IC5；測出和內(nèi)存條Pin153IC1；84736251Pin2Pin86Pin11Pin95Pin55Pin139Pin69Pin153內(nèi)存條〔SDR〕內(nèi)存條〔SDR〕a:)當(dāng)數(shù)碼管顯示E01時，表示基準內(nèi)存條沒插，或者所插待測內(nèi)存條數(shù)據(jù)線短路，3IC3行全部的燈都亮，則可能是待測內(nèi)存條地址線短路引起。b:)當(dāng)數(shù)碼管顯示E02時，表示待測內(nèi)存條地址線短路，而導(dǎo)致基準內(nèi)存條也無法正ICIC全部地址線是連在一起的，所以表現(xiàn)出來的現(xiàn)象就是全部內(nèi)存IC地址線都短路。因此對于內(nèi)存條地址線短路，必需先找出IC。5：電腦兼容性測試：對于小局部內(nèi)存條，單獨測試時是好的，而一旦進入操作系統(tǒng)長時間運作，會消滅不穩(wěn)定狀態(tài)。電腦兼容性測試就是針對這局部內(nèi)存條進展測試的.電腦兼容性測試結(jié)合市場上權(quán)威性內(nèi)存測試程式TMEM.EXE一起使用。該程序通過運行各種各樣的內(nèi)存測試算法來對內(nèi)存進展整體測試。留意：本系統(tǒng)不擁有測試程式TMEM.EXE的版權(quán)，所以該系統(tǒng)不搭TMEM.EXE程式供給商聯(lián)系?！尺\行環(huán)境：DOSDOS系統(tǒng)時不能加載任何內(nèi)存治理程式。當(dāng)你使用軟盤啟動時，請確定你的軟盤包含的操作系統(tǒng)文件只有COMMAND,WIN98F8，然后按SafeModeCommcnPromptOnlyTMEM.EXE/?獲得該程式的使用幫助；b:)測試方法：1進入DOS7段數(shù)碼管上會顯示出內(nèi)存M：要把測試卡置于電腦兼容性測試狀態(tài)〔S1,S2=11〕,否則電腦無法入操作系統(tǒng)。2〕運行程式tmem-v-f-e。3〕測試2假設(shè)消滅如下信息，則代表內(nèi)存條有錯。！ERR-VerifyIncrDwordPatternat(addr)h,was(data0)S/B〔datal〕h〔addr,data0,data1816進制數(shù)，addr0，4，8e結(jié)尾.4〕運行定位程式location.exe(該程式伴同本系統(tǒng)一起出售)addr,data,data1。.5:)5X8顯示陣列即可顯示出出錯IC所在位置7：配套主板跳線設(shè)置SDRAM,DDR測試。測試時，只需插進該測試卡，把測試卡去掉后，即可當(dāng)作通常的主板。操作簡潔，一板多用。測量步驟：1〕當(dāng)進展測試時，不管是SDRAM還是DDR,請將內(nèi)存槽旁邊的30SDRAM時，可以把80個跳針全部拿開。2〕假設(shè)測試SDRA，請把SDRAM槽和DDR槽中間的跳針DRAMVCC合上〔此時VCC為3.3。假設(shè)測試DDR請把SDRAM槽和DDR跳針DRAMVCC翻開〔上時VCC為2.5。3〕請依據(jù)DRAM和CPU作相應(yīng)的頻率設(shè)置，JP2AJP2BJP2C1-21-21-2133M2-31-21-2100M2-32-32-366M4〕把測試卡插到PCI槽上，即可進展測試三：問題和解答：如何推斷內(nèi)存條未插好或金手指接觸不良。對于雙面內(nèi)存條，假設(shè)內(nèi)存條兩面同一位置的IC均被判為壞。則有很大可能是該處金手指接觸不良或沒插好