yh材料測(cè)試技術(shù)練習(xí)題

練習(xí)題1、只要原子內(nèi)層電子被打出核外即產(chǎn)生特征X射線()×2、管電壓越高那么特征X射線波長(zhǎng)越短()

3、滿足布拉格方程2dsinθ=λ必然發(fā)生X射線反射()4、衍射強(qiáng)度實(shí)際是大量原子散射強(qiáng)度的疊加(

)5、結(jié)構(gòu)因子與晶體中原子散射因子有關(guān)()6、X射線強(qiáng)度總是與管電流成正比(

)××√√√判斷題編輯課件選擇題1、與入射X射線相比相干散射的波長(zhǎng)

(A)較短，(B)較長(zhǎng)，(C)二者相等，(D)不一定2、連續(xù)X射線的總強(qiáng)度正比于

(A)管電壓平方，(B)管電流，(C)靶原子序數(shù)，(D)以上都是3、L層電子回遷K層且多余能量將另一L層電子打出核外即產(chǎn)生

(A)光電子，(B)二次熒光，(C)俄歇電子，(D)A和B√√√編輯課件4、面心立方點(diǎn)陣的消光條件是晶面指數(shù)(A)全奇，(B)全偶，(C)奇偶混雜，(D)以上都是5、多晶樣品可采用的X射線衍射方法是(A)德拜-謝樂(lè)法，(B)勞厄法，(C)周轉(zhuǎn)晶體法，(D)A和B6、X射線衍射儀的主要局部包括(A)光源，(B)測(cè)角儀光路，(C)計(jì)數(shù)器，(D)以上都是11、X射線衍射儀的測(cè)量參數(shù)不包括(A)管電壓，(B)管電流，(C)掃描速度，(D)暴光時(shí)間√√√√編輯課件填空題1、除結(jié)構(gòu)因子外，影響衍射強(qiáng)度因子包括〔〕〔〕和〔〕。2、X射線與物質(zhì)的相互作用包括〔〕和〔),統(tǒng)稱為〔〕。3、X射線衍射方法包括()、()和()。4、結(jié)構(gòu)振幅符號(hào)()，結(jié)構(gòu)因子符號(hào)()，結(jié)構(gòu)因子等零稱為()。多重因子吸收因子溫度因子散射衰減真吸收粉末法勞埃法周轉(zhuǎn)晶體法∣F∣2F

消光編輯課件5、管電壓較低時(shí)只產(chǎn)生()譜，較高時(shí)那么可能產(chǎn)生()和()譜。11、衍射儀的主要組成單元包括()、()和()。12、影響衍射儀精度的因素包括()、()和()13、衍射儀的主要實(shí)驗(yàn)參數(shù)包括()、()和()連續(xù)連續(xù)特征光源測(cè)角儀光路計(jì)數(shù)器儀器樣品實(shí)驗(yàn)方法狹縫寬度掃描范圍掃描速度編輯課件名詞解釋1、七大晶系、點(diǎn)陣參數(shù)編輯課件

相干散射、熒光輻射、俄歇效應(yīng)、原子散射因子、吸收因子、結(jié)構(gòu)因子。X射線衍射方向：

即布拉格定律，可表示為，其中d晶面間距，

布拉格衍射角，

為X射線波長(zhǎng)。布拉格定律決定X射線在晶體中的衍射方向?；诓祭穸桑蛇M(jìn)行定性物相分析、點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定及應(yīng)力測(cè)定等。編輯課件1、定性物相分析中的主要依據(jù)是d值和I值(

)2、定量物相分析可以確定樣品中的元素含量(

)3、定量物相分析K法優(yōu)點(diǎn)是不需要摻入內(nèi)標(biāo)樣品(

)4、定量物相分析法中必須采用衍射積分強(qiáng)度()5、定性物相分析的主要依據(jù)是(A)衍射峰位，(B)積分強(qiáng)度，(C)衍射峰寬，(D)以上都是6、X射線定量物相分析包括()、()和()×√√√單線條法內(nèi)標(biāo)K值法7、物質(zhì)定性分析的原理、物質(zhì)定量分析的原理8、非晶態(tài)物質(zhì)與晶態(tài)物質(zhì)區(qū)別、X射線衍射圖樣有何不同×編輯課件1、描述織構(gòu)的方法不包括

(A)極圖，(B)反極圖，(C)ODF函數(shù)，(D)徑向分布函數(shù)2、宏觀應(yīng)力測(cè)定幾何關(guān)系包括

(A)同傾，(B)側(cè)傾，(C)A與B，(D)勞厄背反射3、宏觀平面應(yīng)力測(cè)定實(shí)質(zhì)是利用

(A)不同方位衍射峰寬差，(B)不同方位衍射峰位差，

(C)有無(wú)應(yīng)力衍射峰寬差，(D)有無(wú)應(yīng)力衍射峰位差4、哪種靶的臨界激發(fā)電壓最低

(A)Cu，(B)Mo，(C)Cr，(D)Fe5、哪種靶的K系特征X射線波長(zhǎng)最短

(A)Cu，(B)Mo，(C)Cr，(D)Fe√√√√√編輯課件6、材料內(nèi)應(yīng)力的分類〔要點(diǎn)〕第I類內(nèi)應(yīng)力為宏觀尺寸范圍并引起衍射譜線位移，第II類應(yīng)力為晶粒尺寸范圍并引起衍射譜線展寬，第III類應(yīng)力為晶胞尺寸范圍并引起衍射強(qiáng)度下降。第I類應(yīng)力屬于宏觀應(yīng)力，第II類及第III類應(yīng)力屬于微觀應(yīng)力。7、織構(gòu)及分類