自控實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)三線性系統(tǒng)的根軌跡

自控實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)三線性系統(tǒng)的根軌跡摘要在本實(shí)驗(yàn)中，我們通過實(shí)際搭建線性系統(tǒng)并觀察其根軌跡，對線性系統(tǒng)的特性進(jìn)行了研究。通過對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析和處理，我們得出了線性系統(tǒng)的根軌跡圖，并對其特性進(jìn)行了詳細(xì)討論。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，線性系統(tǒng)的根軌跡是描述系統(tǒng)穩(wěn)定性和動態(tài)特性的重要工具。1.引言根軌跡是用來描述線性系統(tǒng)隨參數(shù)變化時(shí)閉環(huán)系統(tǒng)極點(diǎn)的軌跡。通過分析根軌跡，我們可以了解系統(tǒng)的穩(wěn)定性、動態(tài)響應(yīng)以及系統(tǒng)參數(shù)的影響。本實(shí)驗(yàn)旨在通過搭建線性系統(tǒng)并觀察其根軌跡，深入了解線性系統(tǒng)的特性。2.實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)本實(shí)驗(yàn)中，我們采用了一個(gè)二階線性系統(tǒng)，搭建了一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)。通過改變系統(tǒng)的參數(shù)，我們得到了不同的根軌跡。實(shí)驗(yàn)所用的設(shè)備和器件包括信號發(fā)生器、運(yùn)放、電阻、電容等。3.實(shí)驗(yàn)步驟3.1搭建二階線性系統(tǒng)我們首先搭建了一個(gè)二階線性系統(tǒng)，包括一個(gè)電阻、一個(gè)電容和一個(gè)運(yùn)放。通過連接這些元件，我們構(gòu)建了一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)。我們使用信號發(fā)生器作為輸入信號，通過運(yùn)放和電容的組合，輸出信號經(jīng)過放大和濾波后，連接到示波器上進(jìn)行觀察。3.2觀察根軌跡我們先固定一個(gè)參數(shù)，然后改變另一個(gè)參數(shù)，觀察根軌跡的變化。通過改變電阻或電容的大小，我們得到了不同的根軌跡。在實(shí)驗(yàn)過程中，我們記錄了不同參數(shù)下的根軌跡數(shù)據(jù)，并進(jìn)行了分析和處理。4.實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析我們在實(shí)驗(yàn)中得到了一系列的根軌跡數(shù)據(jù)，并通過分析和處理，得到了線性系統(tǒng)的根軌跡圖。通過觀察根軌跡圖，我們可以對系統(tǒng)的特性進(jìn)行深入了解。例如，我們可以通過根軌跡圖判斷系統(tǒng)的穩(wěn)定性。如果系統(tǒng)的根軌跡都位于左半平面，則系統(tǒng)是穩(wěn)定的；而如果有根軌跡位于右半平面，則系統(tǒng)是不穩(wěn)定的。另外，根軌跡圖還可以幫助我們研究系統(tǒng)的動態(tài)響應(yīng)。通過觀察根軌跡的形式，我們可以對系統(tǒng)的超調(diào)量、響應(yīng)時(shí)間等動態(tài)特性進(jìn)行預(yù)測。例如，如果根軌跡遠(yuǎn)離虛軸，則系統(tǒng)有可能存在較大的超調(diào)量；而如果根軌跡接近虛軸，則系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間可能較短。在實(shí)驗(yàn)中，我們還通過改變系統(tǒng)的參數(shù)，觀察了根軌跡的變化。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，當(dāng)改變電阻或電容的大小時(shí)，系統(tǒng)的根軌跡會發(fā)生明顯的變化。因此，我們可以通過調(diào)整系統(tǒng)的參數(shù)來改變系統(tǒng)的特性。5.結(jié)論通過本實(shí)驗(yàn)，我們成功搭建了一個(gè)二階線性系統(tǒng)，并觀察了其根軌跡。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，根軌跡是描述線性系統(tǒng)特性的重要工具。通過觀察根軌跡，我們可以判斷系統(tǒng)的穩(wěn)定性，并預(yù)測系統(tǒng)的動態(tài)響應(yīng)。此外，通過改變系統(tǒng)的參數(shù)，我們可以調(diào)整系統(tǒng)的特性。因此，根軌跡是研究線性系統(tǒng)的重要方法之一。然而，本實(shí)驗(yàn)還存在一些局限性。由于實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的限制，我們只能觀察到二階線性系統(tǒng)的根軌跡。實(shí)際上，實(shí)際的線性系統(tǒng)可能是高階的，因此我們不能將實(shí)驗(yàn)結(jié)果推廣到所有線性系統(tǒng)上。此外，由于實(shí)驗(yàn)中使用的設(shè)備和器件的限制，實(shí)驗(yàn)結(jié)果可能受到一定的誤差影響。在后續(xù)的研究中，我們可以進(jìn)一步研究高階線性系統(tǒng)的根軌跡，并探索更多的線性系統(tǒng)特性。此外，我們還可以通過改進(jìn)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和提高實(shí)驗(yàn)設(shè)備的精度，減小誤差的影響，從而得到更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。參考文獻(xiàn)[1]NiseNS.ControlSystemsEngineering:InternationalVersion.Wiley,2015.[2