質(zhì)量要求試卷附有答案

FAB質(zhì)量要求試卷[復(fù)制]基本信息：[矩陣文本題]*姓名：________________________部門：________________________工號:________________________以下哪個rootcause描述屬于trueOOS，需issueDRB（）？[單選題]*A.MeasurementissueforOCAPB.ControlwaferissueC.SPECsettingerrorD.Processabnormalissue(正確答案)以下RADcomment格式正確的是（）？[單選題]*A.R:MAmeasureerrorposition;A:trainingMAandre-measuredataokD:Lotrelease(正確答案)B.R:TrendruleA:checkmeasuredataokD:lotrlsC.R:SinglepointtrigerOOSA：keeptraceD:lotrlsD.R.A.D.以下哪個RunCardpurpose描述不是“Rework”Type（）？[單選題]*A:ADFOX03waferbrokenneedTABBandscandefectB:機臺alarm導(dǎo)致未RUN完needRe-ETCHC:AM5097transfer掉片issuelot,scandefectworseneeddoTABBD:ScandefectatAPDFI01,BARE_GF30,needreview(正確答案)以下哪個選項不屬于觸發(fā)OCAP的原因類型（）？[單選題]*A.MeasureerrorB.WE1/Trendrule(正確答案)C.ChartissueD.ProcessissueProcess異常導(dǎo)致的lotOOS可通過（）改善，無需issueDRB.[單選題]*A.Re-measureB.Rework(正確答案)C.更換controlwaferD.Updateparameter確認(rèn)同一案例導(dǎo)致的良率loss是否滿足EAR標(biāo)準(zhǔn)的計算公式是（）.[單選題]*A.由該case導(dǎo)致的每片良率loss*所有受到影響的wafer數(shù)量≥3片(正確答案)B.單片損失的良率超50%*totalwafer數(shù)量≥3片C.單片損失的良率超30%*totalwafer數(shù)量≥3片D.單片損失的良率超20%*totalwafer數(shù)量≥3片8D報告中D4的主要內(nèi)容為（）[單選題]*A.制定和執(zhí)行臨時對策B.制定永久性糾正措施C.定義&澄清根本原因(正確答案)D.執(zhí)行/驗證永久性糾正措施8D報告中D5的主要內(nèi)容為（）.[單選題]*A.制定和執(zhí)行臨時對策B.制定永久性糾正措施(正確答案)C.定義&澄清根本原因D.執(zhí)行/驗證永久性糾正措施同一case在EARmeetingreport（）次還未close的需要Dep.manager親自report.[單選題]*A.2次B.3次(正確答案)C.4次D.5次以下哪些為量產(chǎn)lotoverQtime后不可采取的措施（）[單選題]*A.合規(guī)reworkB.IssueDRBC.確認(rèn)是否為flow設(shè)置不合理/SRCQtime配置不合理造成的falsealarmD.直接rls(正確答案)某天module發(fā)現(xiàn)某張chartCPK從2022年到2023年1年多時間內(nèi)在持續(xù)慢慢變低，則最有可能的原因是（）[單選題]*A.操作MA人員變動B.原材料供應(yīng)商變了C.Recipe變動D.設(shè)備老化(正確答案)以下哪項SRCPurpose是不規(guī)范的（）[單選題]*A.followSRCforAA-ETMSTR(正確答案)B.addmeasureinlinedefectforFDFOX02CDWpahighC.LEI02STRQUALLOT,FECPNo:F3FECP202308010001D.2280CTCDOCAPissueaddmeasureCDOCAPHLratio為（）[單選題]*A.5%B.7%C.10%(正確答案)D.15%EAR的判定標(biāo)準(zhǔn)是（）*A.同一案例總共導(dǎo)致晶圓報廢≥3片(正確答案)B.退片報廢≥3片(正確答案)C.Yieldloss折合≥3片(正確答案)D.NTO階段LFlot報廢≥3片EAR會議要求哪些人員可以對case做匯報（）*A.普通工程師B.Leader工程師(正確答案)C.Section(正確答案)D.Dep.(正確答案)以下哪些選項不符合DCC規(guī)范（）*A.已裝機機臺，無對應(yīng)的PMOI文件(正確答案)B.OI文件下缺少附件：BCMOI文件下缺失shutdownandrecoverchecklist(正確答案)C.OI與PMChecklist一致D.定義明確；如CDA壓力檢查、N2壓力檢查、泵驅(qū)動壓力檢查有spec值、PD記錄（SPEC參照SPC系統(tǒng)）定義清楚E.PMS（X-site)系統(tǒng)中要有設(shè)定Major、InnerPM觸發(fā)條件以下哪些選項符合SRC要求（）*A.SRCforSTR/MSTRlots，Purpose必須填寫FECPNo(正確答案)B.SRCforwindowchecklottype必須先轉(zhuǎn)為E4(正確答案)C.ReworkforXXX(真實原因),無需備注RWKOI文件編號D.FECPneedtraceCPlot將流程里lottype轉(zhuǎn)成E1/E2/E3后方可開SRC，否則記MO，不允許在轉(zhuǎn)lottype系統(tǒng)中單獨提申請；(正確答案)以下哪些選項符合DRB要求（）*A.DRB流程close才能finish并出貨（特殊情況在出貨24h內(nèi)close）(正確答案)B.issueDRBlot無需在MESsystemDRB站點設(shè)F/H(正確答案)C.滿足DRB條件需24H內(nèi)issueDRBD.量產(chǎn)lottypetrueoverQtimeneedissueDRB(正確答案)以下哪些選項符合ECSpurpose要求（）*A.FECPMSTRRLS10LOTS(正確答案)B.RunDummyormonitorwafer(正確答案)C.FEPLL03notrlsG3productSJR60Srecipe(正確答案)D.ChamberApahighconstrainrun(正確答案)DRBclose后，才能處理異常lot。[判斷題]*對(正確答案)錯Lot已issueDRB，但未在MESsystem設(shè)futurehold，這是一個完整的DRB流程。[判斷題]*對錯(正確答案)PRS/STR/MSTRlot需要轉(zhuǎn)為對應(yīng)的lottype后才能開SRC。[判斷題]*對(正確答案)錯產(chǎn)生報廢的MOcase會報HR送紀(jì)律委員會。[判斷題]*對(正確答案)錯MRBCase結(jié)案要在EARMeeting以8Dreport形式報過后才能Close。[判斷題]*對(正確答案)錯EAR&MO&MRBcase只要臨時措施有效，就會避免case再發(fā)生，無需分析根本原因[判斷題]*對錯(正確答案)QERequirementFormSystem提交流程時，未Finishlot在“RequestCategory”中可以選擇undofinish。[判斷題]*對錯(正確答案)處理holdlot時，comment不需要寫清楚，可直接comment：“rls”。[判斷題]*對錯(正確答案)提交轉(zhuǎn)lottype單，需要備注清楚原因，必要時需附上offline溝通或客戶郵件。[判斷題]*對(正確答案)錯內(nèi)部需求的undo單，需要當(dāng)天OP匯報通過后提交；客戶需求的undo單，需要附上客戶需求的證據(jù)。[判斷題]*對(正確答案)錯Lottype為E1/E2holdlot需FECP會議report且得到客戶同意后出貨。[判斷題]*對(正確答案)錯需要在FECP流程里將lottype轉(zhuǎn)成E1/E2/E3；不允許在轉(zhuǎn)lottype系統(tǒng)中單獨提申請，如有特殊情況，需要明確原因并在MES中設(shè)F/Hcheckdata/確認(rèn)客戶是否同意出貨。[判斷題]*對(正確答案)錯當(dāng)module發(fā)現(xiàn)某道制程長期Kshiftrun貨，可以不做分析，要求PIE直接retarget。[判斷題]*對錯(正確答案)SPC改善報告需要分析出根本原因，并給出有效action，且寫明owner/DueDate。[判斷題]*對(正確答案)錯OCAPaction選擇re-measureoradd-measure后可不執(zhí)行相應(yīng)動作。[判斷題]*對錯(正確答案)OPCase報告中表明要做的action可以不做，逾期無人trace。[判斷題]*對錯(正確答案)FECP相關(guān)ECS需要簽核到E1通過后才可開ECS。[判斷題]*對(正確答案)錯需要同時上正負(fù)兩向ECS順序是先設(shè)好正向ECS生效后再上負(fù)向；[判斷題]*對錯(正確答案)FECPreportDefect分類top3對比，且需YEcomment;YEcomment需要確切指出是否與此qual相關(guān)等,不可直接說matchBSL/defectok等[判斷題]*對(正確答案)錯FECPreportYield/WAT數(shù)據(jù)，參數(shù)HC不match的，需要PE/PIE/TDby參數(shù)分別給出comment；[判斷題]*對(正確答案)錯ScrapComment的標(biāo)準(zhǔn)格式為：Scrapcommentrule:Case發(fā)生時間/_____/totalscrap數(shù)量/ImpactwaferID[填空題]*空1答案：報廢原因NTO相關(guān)正向ECS，可開L，LF，_____type，其它量產(chǎn)type禁開;禁止lottype打[填空題]*空1答案：PFECP決議相關(guān)ECS，請再ID處備注好_____，type請選擇FECP[填空題]*空1答案：FECPNoFECPBL數(shù)據(jù)要求，BL數(shù)據(jù)拉取時間：提供最新_____個月內(nèi)數(shù)據(jù),需要有H.Ctable比較[填空題]*空1答案：1做文件變更時要注意FDCO.