基于FPGA的混合電路邊界掃描測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計(jì)的開題報(bào)告

基于FPGA的混合電路邊界掃描測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計(jì)的開題報(bào)告一、研究背景及意義隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展，微電子芯片的集成度和復(fù)雜性不斷提高，其測試難度隨之增加。邊界掃描測試技術(shù)是當(dāng)前集成電路測試的主流方法之一，該技術(shù)可以有效地檢測芯片上的故障，提高測試效率和可靠性。然而，傳統(tǒng)的邊界掃描測試系統(tǒng)存在測試速度慢、測試覆蓋率低的問題，難以滿足現(xiàn)代集成電路測試的需求。FPGA（FieldProgrammableGateArray）是一種可編程邏輯器件，具有高速、低功耗、靈活性等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路設(shè)計(jì)和測試領(lǐng)域。混合電路邊界掃描測試技術(shù)將邊界掃描測試與FPGA結(jié)合起來，利用FPGA的可編程性和高速性能降低測試時(shí)間，提高測試覆蓋率。因此，基于FPGA的混合電路邊界掃描測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計(jì)具有重要的意義。二、研究內(nèi)容和研究方法本研究將設(shè)計(jì)基于FPGA的混合電路邊界掃描測試系統(tǒng)，主要包括以下內(nèi)容：1.建立邊界掃描測試模型分析邊界掃描測試原理，建立測試模型，設(shè)計(jì)測試用例并使用VHDL語言描述測試模型。2.設(shè)計(jì)測試系統(tǒng)架構(gòu)依據(jù)測試模型，設(shè)計(jì)FPGA測試系統(tǒng)架構(gòu)，包括數(shù)據(jù)采集模塊、測試控制模塊、故障檢測模塊等。3.開發(fā)測試程序基于VC++開發(fā)測試程序，實(shí)現(xiàn)測試流程控制、數(shù)據(jù)處理與顯示等功能。4.實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)集成將測試程序燒錄到FPGA上，與PC機(jī)通過USB接口通信，實(shí)現(xiàn)測試系統(tǒng)的集成與控制。研究方法主要包括實(shí)驗(yàn)研究和仿真分析方法，通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證系統(tǒng)的性能和可行性，并通過仿真分析系統(tǒng)性能和測試覆蓋率。三、預(yù)期成果本研究的預(yù)期成果包括：1.建立基于FPGA的混合電路邊界掃描測試模型。2.設(shè)計(jì)測試系統(tǒng)架構(gòu)，實(shí)現(xiàn)測試程序開發(fā)。3.實(shí)現(xiàn)測試系統(tǒng)集成，并進(jìn)行測試性能實(shí)驗(yàn)與仿真分析。4.撰寫論文，發(fā)表學(xué)術(shù)論文。四、研究進(jìn)度安排第一年：1.研究FPGA的基本原理和應(yīng)用。2.深入學(xué)習(xí)邊界掃描測試技術(shù)，并建立邊界掃描測試模型。3.設(shè)計(jì)FPGA測試系統(tǒng)的架構(gòu)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、控制和故障檢測等功能。第二年：1.開發(fā)測試程序，實(shí)現(xiàn)測試程序流程控制、數(shù)據(jù)處理和顯示等功能。2.測試系統(tǒng)集成，并進(jìn)行性能測試。3.撰寫論文、準(zhǔn)備學(xué)位論文答辯。五、參考文獻(xiàn)1.BrianBailey,MarkNewton.Boundary-ScanHandbook.McGraw-HillCompanies,Inc.,2002.2.KiaBazargan,DennisHawkins.TestandDesign-for-TestabilityinMixed-SignalIntegratedCircuits.JohnWiley&Sons,Inc.,2004.3.XiangyuZhang.High-levelandefficientmethodsfortestingdigitalcircuits[C].IEEEInternationalConferenceonComputerDesign,ICCD,2008:388-395.4.ChenxiZhang,XiaoweiLi,KekeTang.AHybridBISTSolutionforMixed-SignalCircuits[C].InternationalConferenceonMeasuringTechnologyandMechatronicsAutomation,ICMTMA,2010:54-57.6.WangQiliang,ZhuWei,ChenXianzhang,etal.AnFPGA-BasedBuilt-inself-testschemeformixed-signalcircuit[C].IEEE