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文檔簡介
2)金屬—氧化物—半導體場效應管MOSFETri1015一、普通晶體管:輸入阻抗低ce
rbe
幾百~幾千∵是電流控制,be正偏,ri必然低。1)結型JFETri106~109
二、場效應管為提高ricc,自舉,一M,(將Re折合到基極)5.
場效應管放大電路5.1金屬-氧化物-半導體場效應管(MOSFET)JFET問題:直流輸入電阻為PN結反向電阻,反偏時有反向電流,難以進一步提高。耗盡型(D):絕緣層中的離子自己感應溝道。VP夾斷電壓,類似JFET但VGS可正、可負。(VGS=0,iD≠0)增強型(E):外施柵壓才感生溝道,VT開啟電壓(即VGS=0,
iD=0,VGS﹥0。才有iD)分為N溝道和P溝道,每種又分為增強型、耗盡型。MOSFET:工藝簡單,集成度高,柵極絕緣。rgs更高,1015增強型N溝道MOSFET
(MetalOxideSemi—FET)1.結構與符號P型襯底(摻雜濃度低)N+N+用擴散的方法制作兩個N區(qū)在硅片表面生一層薄SiO2絕緣層SD用金屬鋁引出源極S和漏極DG在絕緣層上噴金屬鋁引出柵極GB耗盡層S—源極SourceG—柵極Gate
D—漏極DrainSGDB5.1.1N溝道增強型MOSFET(2)VGS為正:柵和襯底P和絕緣體形成電場→使得P襯底靠近柵極空穴向P內部運動而留下負離子,少子電子向柵極運動,當VGS達一定值,在柵極附近P型硅表面形成N型薄層。(反型層)連接兩個N+→導電溝道感生溝道(由VGS產(chǎn)生)
VGS越正,溝道越寬,電阻越小。開啟電壓VT,在漏源電壓作用下開始導電時的VGS。解釋如下:實際在VGS很小時,電場只在靠近柵極表面感應出很少的電子,和正離子結合,仍無導電溝道形成,必須使VGS﹥VT后,才形成感生溝道。2.
工作原理:柵源電壓VGS→感生電荷—iD。(1)VGS=0,不論VDS極性,兩個PN結總有一反偏iD=0當VGS﹥VT:VDS加在d+s-
由d到s電位梯度受反壓不一樣,溝道厚薄,靠s厚,靠d薄。VDS上升→iD↑VDS再上升,夾斷iD飽和
DS間的電位差使溝道呈楔形,VDS
,靠近漏極端的溝道厚度變薄。預夾斷:漏極附近反型層消失。預夾斷發(fā)生之前:VDS
iD
。預夾斷發(fā)生之后:VDS
iD不變。3.V-I特性曲線及大信號特性方程
輸出特性及大信號特性方程
iD=f(VDS)∣VGS=C恒流區(qū)可變電阻區(qū)截止區(qū)①截止區(qū)vGS<VT,導電溝道未形成,iD=0②可變電阻區(qū)(線性區(qū))vDS
≤vGS-VT其中:當vDS
很?。寒攙GS一定,原點附近輸出電阻rdso;受vGS控制電導常數(shù)③飽和區(qū)(恒流區(qū)或放大區(qū))當vGS≥VT,且vDS
≥vGS-VT時,進入飽和區(qū),iD不隨vDS
變化。將vDS
=vGS-VT代入有是VGS=2VT時的iD可從輸出特性直接獲取,方法為在輸出特性曲線上,令VDS=某值,作一直線,與輸出特性各交點取VGS。(2).轉移特性iD=f(vGS)∣vDS=C
圖5.1.4求出或由開啟電壓耗盡型vGS=0時,導電溝道已存在,結構:二氧化硅中摻入大量正離子
vGS=0時也存在感應溝道。
vGS變負,漏電流變小。特點:vGS可正可負且無柵流。
5.1.2N溝道耗盡型MOSFET1.結構和工作原理增強型vGS﹥VT導電溝道2.V-A特性曲線及大信號特性方程
可變電阻區(qū)當vDS
很小:飽和區(qū):預夾斷點有vDS
=vGS-vP代入
vGS=0時5.1.3P溝道MOSFET增強型耗盡型SGDBSGDB5.1.4溝道長度調制效應當MOSFET工作在飽和區(qū)時,在某一vGS時,vDS增加,iD略增加,輸出特性曲線略上翹。用溝道長度調制參數(shù)λ對對典型器件L長度單位:μm修正。
5.1.5MOSFET的主要參數(shù)一、直流參數(shù)2)
夾斷電壓VP:VGS=0,-VDS=VGD=VP
實測時讓VDS=C(10V),iD
微小電流,VGS所加電壓1)開啟電壓VT:MOS增強型參數(shù),VDS=C(10V),
iD
微小電流時,VGS所加電壓3)
飽和漏電流IDSS:VGS=0,VDS﹥∣VP∣時漏極電流(最大電流)通常VDS=10V,VGS=0時的iD,轉移特性上VGS=0時的iD4)
直流輸入電阻RGS
:漏源短路,柵源加電壓時柵源直流電阻二、交流參數(shù)1)輸出電阻rds:某一vGS時輸出特性上某點切線斜率的倒數(shù)反映vDS對iD的影響,通常為幾十~幾百千歐2)低頻互導(跨導)gm:gm=轉移特性斜率,反映VGS對iD的控制能力.單位:西門子S三、極限參數(shù)3)最大漏源電壓V(BR)DS:雪崩擊穿,iD急劇上升時的VDSVGS愈負,V(BR)DS越小4)最大柵源電壓V(BR)GS:柵源反向電流開始急劇增加時VGS值1)最大漏極電流IDM:正常工作時漏極電流的上限。2)最大耗散功率PDM:PDM=vDS
iD,
受管子最高工作溫度限制。近似估算:單位:西門子S5.2MOSFET放大電路5.2.1MOSFET放大電路1.直流偏置及靜態(tài)工作點的計算(1)簡單的共源極放大電路直流工作點:飽和區(qū)否則可變電阻區(qū)有:分壓式直流偏置例5.2.1Rg1=60K,Rg2=40K,Rd=15K,VDD=5V,VT=1V,Kn=0.2mA/V2求:IDQ,VDSQ解:設工作在飽和區(qū)工作在飽和區(qū)①設工作在飽和區(qū)有VGSQ>VT,IDQ>0,②利用飽和區(qū)的電流-電壓關系曲線分析電路③若VGSQ<VT,管子可能截止,若管子可能工作在可變電阻區(qū)。④若假設錯誤,作新假設,重新分析靜態(tài)工作點的計算補:自偏壓:柵極回路基本無電流(rgs很大)注意:增強型管Vgs必須達VT才有ID,因此不能使用該電路。(2)帶源極電阻的NMOS共源極放大電路例5.2.2Rd=10K,VDD=5V,ID=0.5mA,VT=1V,Kn=500μA/V2,R=0.5K,-VSS=-5V若流過Rg1,Rg2電流是ID的1/10求:Rg1,Rg2。解:有
取標準電阻工作在飽和區(qū)2.圖解分析輸出的直流負載線vDS=VDD—iDRd令vi=0有vGS=VGSQ=VGGvDS=0iD=VDD/RdiD=0vDS=VDD固定偏壓設交流負載線與直流負載線重合①輸出的直流負載線VDS=VDD—ID(Rd+R)②轉移特性:根據(jù)直流負載線與輸出特性交點畫出③源極負載線:
④在輸出特性上找到VGSQ的曲線和直流負載線交點Q,VDSQ轉移特性和源極負載線交點Q:IDSQ,VGSQ圖解法:FET輸出特性→直流負載線→交點→轉移特性→源極負載線→交點Q得到VGSQ,IDQ,再根據(jù)VGSQ作出特性iD=(VDS)∣VGSQ與直流負載線交點VDS
固定偏壓分壓式直流偏置3.小信號模型分析iD=f(vGS,vDS)id=gmvgs+vdS/rds其中也可高頻小信號模型反相放大器源極輸出器Av≈1
5.3.結型場效應管(JunctiontypeFieldEffectTransistor)5.3.1JFET的結構和工作原理
1.
結構擴散的另一材料兩邊連在一起形成柵極g,形成兩個PN結,兩個耗盡層之間形成導電溝道。g—bs—ed—c本體P:擴散N+P溝道本體N:擴散P+N溝道本體材料兩端:漏極d,源極S∣VP∣:夾斷電壓,漏、源間電阻趨于無窮時柵源電壓(溝道封死時的VGS)1)VGS對iD的控制當VDS=0,∣VGS∣↑(變負),PN結反偏,耗盡層寬度↑,導電溝道寬度↓,溝道電阻↑。
2.
工作原理:利用PN結反向電壓對耗盡層厚度控制,改變導電溝道寬窄,進而控制電流大小。討論VGS對iD的控制作用以及VDS對iD的影響,以N溝道為例。由于PN結反偏,G、S間無電流,ri高當∣VGS∣=VP,溝道夾斷。所以VGS控制溝道電阻.當VGS=0:VDS↑,iD↑當VDS到VP,
溝道預夾斷,此時VGD=-VDS=VP
預夾斷后,隨VDS↑,夾斷處場強↑,仍能將電子拉過夾斷區(qū)形成漏極電流,iD趨于飽和③夾斷前iD、VDS近似線性,夾斷后,iD趨于飽和②電壓控制器件,VGS控制iD①柵源之間PN結反偏,iG≈0,輸入阻抗高結論:當VGS≠0:VGD=VGS-VDS=VP,在同樣的VDS下,iD下降2)VDS對iD的影響VDS在溝道中產(chǎn)生電位梯度
VGS大小→耗盡層寬度→導電溝道寬度→iD大小
VDS?。篿D上升5.3.2JFET的特性曲線及參數(shù)vGS<VP,iD=0VDS大:→電位梯度使導電溝道成楔型→iD上升受阻,預夾斷后,iD趨于飽和Ⅲ飽和區(qū)(恒流區(qū))(線性放大區(qū))vDS大,電場將少量電子拉過夾斷區(qū)Ⅱ可變電阻區(qū)(線性區(qū))vDS=0或vDS小Ⅰ截止區(qū)(夾斷區(qū))三個區(qū)給定一vGS,改變vDS得到一iD曲線1.輸出特性
iD=f(vDS)∣vGS=C
可從輸出特性直接獲取,方法為改變vGS得一族輸出曲線,令VDS=某值,取各vGS
或iD=IDSS(1-)2IDSS:飽和漏電流2.轉移特性iD=f(vGS)∣vDS=c圖5.3.63.主要參數(shù)同MOS管4.P溝道JFETVDS為負,即d接負,s接正,假定iD方向流入d端,傳輸特性如圖。5.3.3JFET放大電路的小信號模型分析法
1、
JFET的小信號模型2.應用小信號模型分析JFET放大電路Av,Ri,Ro1)共源放大器
無源極旁路電容C:Vo=-gmVgsrdRL’/(R+rd+R’L)Vi=Vgs+gmVgsrdR/(R+rd+R’L)由于rd>>R,且rd>>RL’所以Ri=[Rg3+(Rg1//Rg2)]//rgS≈Rg3+(Rg1+Rg2)≈Rg3由于Vgs=Vi所以Vo=-gmVgs(Rd//rd)
=-gmVi(Rd//rd)RO=Rd//rd≈Rd
當有源極旁路電容C:Ro≈RdRi≈Rg3源極旁路電容提高了AvAv=Vo/Vi=-gm(Rd//rd)≈-gmRd
P232例5.3.1Rg1=2M,Rg2=47K,Rg3=10MRd=30K,R=2K,VDD=18V,VP=—1V,IDSS=0.5mA,,確定Q點
iD=0.5mA(1+0.4—2iD)2VGS=(0.4-2iD)iD=(0.95±0.64)mA
VDSQ=VDD-ID(Rd+R)=8.1VVGS=VGSQ=0.4-2iD=—0.22V所以iD=IDQ=0.31mA由于IDSS=0.5mA,iD不應大于IDSS
例1.Rg1=2M,Rg2=47K,Rg3=10M,Rd=30K,R=2K,VDD=18V,C=10μfgm=0.7mS,rd=200KRL=∞解:Rd//rd=26KAv=-gm(Rd//rd)=-0.7×26=-18Ri≈Rg3=10MRo=Rd//rd=26K5.4砷化鎵金屬-半導體場效應管砷化鎵(CaAs):鎵(III族)+砷(V族)組成單晶化合物。特性類似硅,其最大差別為電子遷移率是硅的5-10倍。器件轉換速度高。N溝道MESFET:耗盡型器件,所加電壓同結型FET,vGS為負,夾斷電壓VP①截止區(qū)②可變電阻區(qū)(線性區(qū))(vGS<VP)vGS<VT,導電溝道未形成,iD=0(vDS
≤vGS-VT)③飽和區(qū)(恒流區(qū)或放大區(qū))(vDS
>vGS-VP時)
5.5.1各種FET特性比較使用注意事項
輸出特性:VDS原則:保證PN結反偏(襯底和溝道性質相反,P襯底
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