CNAS-GL054-2023測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南

測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南GuidelinesforDeterminationandAdjustme中國合格評定國家認可委員會測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南本文件適用于實驗室等合格評定機構(gòu)和其他相關(guān)方對測量設備校準周期的確定3.6校準測量能力calibratio4.8實驗室宜選擇適當?shù)姆椒ㄓ糜诖_定校準周期，并將所選用的方法進行文件化規(guī)d)制造商關(guān)于測量設備的建議(如當實驗室根據(jù)儀器準確度評定測量不確定度）；h)被測量對測量結(jié)果的影響(如高溫對熱電偶的影響)；b)由于時間或使用而產(chǎn)生的漂移，測量設備的性能是否符合規(guī)定限值(如最大允勢可能表明有必要調(diào)整校準周期。實驗室有必要對校準周期和設備性能進行持續(xù)評6.2.3實驗室不宜使用此方法設置過長的校準周期，因為可能會導致召回大量證書/注:該方法不適用于沒有漂移的測量設備，適用于具有單一量值的實壓力的活塞式壓力計或長度量規(guī)(即可能受到機該方法的主要優(yōu)點是校準頻次及由此產(chǎn)生的a)不適用于包含無源(不需額外的能量輸入源提供輸出)測量儀器(如衰減器)或無進行簡單快速核查的情況。實驗室使用便攜式校準裝置對關(guān)鍵參數(shù)進行頻繁核查(如每天一次或更頻繁)，或者使用專門設計的“黑盒”對所選參數(shù)進行核查。如果發(fā)現(xiàn)測量設備超出最大允許誤差(或其他規(guī)定限值)，需對測量設備進行全面的校準和調(diào)注1：適用于此方法的測量儀器：密度計(諧振式)、鉑電阻溫度計(結(jié)合日歷時6.5.3該方法在原則上非?？煽浚泊嬖诓淮_定性，因為測量設備可能在“黑盒”中高中高中低高中低高中中低中低中低高高低中中中高中調(diào)整后的校準周期I1可通過公式（A.1）或I1=I0(1+a)I1=I0(1b)b=1(1+a)Rt/(1Rt)tt測量設備為3等量塊（負10塊組初始的校準周期I0=12月，取a=0.11、,按照公式（A.3）計算得到b=0.61，其歷次校準結(jié)果見表A.1。值/mm/μm/μm/μm/μm變動/μm/μm/μm/μmI1=I0(1+a)=12(1+0.11)~13(月)I2=I1(1+a)=13(1+0.11)~14(月)I3=I2(1+a)=14(1+0.11)~16(月)B.1增量反應調(diào)整法也是基于測量設備的校準結(jié)果對其校準周期進行調(diào)整的一種簡Im+1=Im[1+Δm+1(R)1ym+1(R)ym+1]ym——計算因子，當?shù)趍次校準結(jié)果滿足要求時ym=1，當?shù)趍次校準結(jié)果不滿足要求時ym=0；準第2次校準準準1±1.02±1.2±1.25±1.6±2.0±2.5±2.5±3.0±5.056553±1066553±1077668±25y101一I1=I0[1+Δ1(一R)1一y1(R)y1]=12x[1+1x(一0.9)1一1x(0.9)1]=22.8~23(月)20一I2=I1[1+Δ2(一R)1一y2(R)y2]=23x[1+0.5x(一0.9)1一0x(0.9)0]=12.65~13(月)0.5223102I3=I2[1+Δ3(一R)1一y3(R)y3]=13x[1+0.25x(一0.9)1一1x(0.9)1]=15.925~16(月)3I4=I3[1+Δ4(一R)1一y4(R)y4]=16x[1+0.25x(一0.9)1一1x(0.9)1]=19.6~20(月)[1]CNAS-CL01-G002測量結(jié)果的計量溯源性要求[2]GB/T231.1金屬材料布氏硬度試驗第1部分：試驗方法[4]GB