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W04代替GB/T14799—2005土工合成材料有效孔徑的測(cè)定干篩法2024-03-15發(fā)布I本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T14799—2005《土工布及其有關(guān)產(chǎn)品有效孔徑的測(cè)定干篩法》,與GB/T14799———?jiǎng)h除了“孔徑”的術(shù)語(yǔ)和定義(見(jiàn)2005年版的3.1),增加了“過(guò)篩率”的術(shù)語(yǔ)和定義(見(jiàn)3.1);——?jiǎng)h除了天平稱量200g的要求(見(jiàn)2005年版的5.4);——?jiǎng)h除了儀器及用具中的其他用品(見(jiàn)2005年版的5.5);——增加了每塊試樣不應(yīng)重復(fù)使用的要求(見(jiàn)6.2);——更改了調(diào)濕和試驗(yàn)用大氣中相對(duì)濕度的允差(見(jiàn)第7章,2005年版的第7章);——增加了試驗(yàn)前驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料粒徑的要求(見(jiàn)8.1);——增加了安裝試樣時(shí)試樣不應(yīng)拉伸變形的要求(見(jiàn)8.2);——增加了標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量的允差(見(jiàn)8.3);——增加了稱量時(shí)記錄數(shù)據(jù)精度的要求(見(jiàn)8.5);——更改了試驗(yàn)結(jié)束時(shí)最低過(guò)篩率的要求(見(jiàn)8.6,2005年版的8.6);——更改了m?的含義(見(jiàn)9.1,2005年版的9.1);——增加了試驗(yàn)報(bào)告中注明除靜電方式的要求(見(jiàn)第10章)。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國(guó)紡織工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國(guó)紡織品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC209)歸口。本文件起草單位:中紡標(biāo)檢驗(yàn)認(rèn)證股份有限公司、中石化(北京)化工研究院有限公司、貴州隆相新材料股份有限公司、安徽省交通規(guī)劃設(shè)計(jì)研究總院股份有限公司、山東建通土工材料有限公司、新疆金大禹環(huán)境科技有限公司、云南管通公路材料有限公司、廣東金穗環(huán)??萍加邢薰?、昊博(山東)新材料科技有限公司、肥城聯(lián)誼工程塑料有限公司、德州宏瑞土工材料有限公司、中國(guó)產(chǎn)業(yè)用紡織品行業(yè)協(xié)會(huì)、中國(guó)紡織信息中心、山東雷華塑料工程有限公司、山東茂華塑料有限公司。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:——1993年首次發(fā)布為GB/T14799—1993,2005年第一次修訂;——本次為第二次修訂。1土工合成材料有效孔徑的測(cè)定干篩法本文件描述了用干篩法測(cè)定土工布等土工合成材料有效孔徑的試驗(yàn)方法。本文件適用于各類土工布等土工合成材料的檢測(cè)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T6529紡織品調(diào)濕和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定GB/T13760土工合成材料取樣和試樣準(zhǔn)備3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。過(guò)篩率passingrate標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料經(jīng)振篩后,通過(guò)試樣的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量與標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料總質(zhì)量之比。有效孔徑effectiveopeningsize能有效通過(guò)試樣的近似最大顆粒直徑。注:例如O表示在該值直徑下的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料經(jīng)振篩后有90%的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料不能通過(guò)試樣,過(guò)篩率為10%。4原理用土工布等土工合成材料試樣作為篩布,將一定質(zhì)量和直徑的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料放在試樣上振篩,稱量通過(guò)試樣的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量,計(jì)算出過(guò)篩率,調(diào)換不同直徑標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料進(jìn)行試驗(yàn),繪制出標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料直徑與過(guò)篩率的曲線,即為試樣的孔徑分布曲線,并求出有效孔徑O(如Og或Og?)。5儀器和材料5.1支撐網(wǎng)篩:直徑200mm。5.2標(biāo)準(zhǔn)篩振篩機(jī):橫向搖動(dòng)頻率(220±10)次/min;回轉(zhuǎn)半徑(12±1)mm。垂直振動(dòng)頻率(150±10)次/min;振幅(10±2)mm。注:注意觀察標(biāo)準(zhǔn)篩振篩機(jī)在振篩過(guò)程中是否與試驗(yàn)臺(tái)之間發(fā)生劇烈震動(dòng),若發(fā)生劇烈震動(dòng)則可能影響試驗(yàn)結(jié)果,采取與試驗(yàn)臺(tái)固定安裝等適當(dāng)?shù)姆绞奖苊獍l(fā)生劇烈震動(dòng)。25.3標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料:標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料通??蛇x用玻璃珠或球形砂粒。標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料應(yīng)潔凈,必要時(shí)需進(jìn)行洗滌烘干。標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料粒徑(mm)分組如下:0.045~0.063、0.063~0.071、0.071~0.090、0.090~6.1試樣選取根據(jù)GB/T13760選擇試樣。6.2試樣數(shù)量剪取5×n塊試樣,n為選取粒徑的組數(shù),每塊試樣不應(yīng)重復(fù)使用。試樣直徑應(yīng)大于支撐網(wǎng)篩直徑。7調(diào)濕和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣在GB/T6529規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣即溫度(20±2)℃、相對(duì)濕度(65±4)%的條件下調(diào)濕試樣并進(jìn)行試驗(yàn)。當(dāng)試樣在間隔至少2h的連續(xù)稱重中質(zhì)量變化不超過(guò)試樣質(zhì)量的0.25%時(shí),可認(rèn)為試樣達(dá)到調(diào)濕8.1試驗(yàn)前應(yīng)將標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料與試樣同時(shí)放在標(biāo)準(zhǔn)大氣下進(jìn)行調(diào)濕平衡,并驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料的粒徑。8.2對(duì)同組5塊試樣進(jìn)行測(cè)試,取其中一塊試樣,將試樣平整、無(wú)皺褶地固定在支撐網(wǎng)篩上,試樣不應(yīng)發(fā)生下凹或拉伸變形等現(xiàn)象。8.3選用較細(xì)粒徑的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料稱取(50±0.01)g,然后均勻地撒在試樣表面上。注:為增加試驗(yàn)效率,提前預(yù)估樣品有效孔徑,選取臨近直徑的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料。8.4將篩框、試樣和接收盤(pán)夾緊在振篩機(jī)上。開(kāi)動(dòng)機(jī)器,振篩試樣10min。8.5振篩結(jié)束后關(guān)閉儀器,稱量通過(guò)試樣進(jìn)入接收盤(pán)的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量,精確至0.01g,并記錄,然后更換新的試樣,測(cè)試同組剩余試樣。注1:一些標(biāo)準(zhǔn)篩振篩機(jī)能夠同時(shí)測(cè)定同組的5塊試樣,故同組5塊試樣同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。注2:試驗(yàn)前使用除靜電裝置或除靜電劑避免振篩時(shí)出現(xiàn)靜電吸附現(xiàn)象。8.6用下一組較粗粒徑標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料重復(fù)8.2~8.5的操作,直至取得不少于三組連續(xù)分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料的過(guò)篩率,并有一組的過(guò)篩率低于(100-e)%。9計(jì)算9.1按公式(1)計(jì)算過(guò)篩率,以同組粒徑5個(gè)試樣的平均值作為該組標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料的過(guò)篩率,按GB/T8170修約到小數(shù)點(diǎn)后兩位。3GB/T14799—2024式中:B——某組標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料粒徑下試樣的過(guò)篩率;m1——通過(guò)試樣的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量,單位為克(g);m——每次試驗(yàn)用的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料質(zhì)量,單位為克(g)。9.2以每組標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料粒徑的下限值作為橫坐標(biāo)(對(duì)數(shù)坐標(biāo))、相應(yīng)的平均過(guò)篩率作為縱坐標(biāo),描點(diǎn)繪制過(guò)篩率與孔徑的分布曲線,找出曲線上縱坐標(biāo)(100-e)%所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值即為O。(例如Og或O??),讀取兩位有效數(shù)字。試樣孔徑分布曲線的繪制示例見(jiàn)附錄A。10試驗(yàn)報(bào)告試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括以下信息:a)本文件編號(hào);b)試樣的描述;c)試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣;d)試驗(yàn)條件(如標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料用量、搖篩時(shí)間等);e)試驗(yàn)結(jié)果(孔徑分布曲線及O。值,如O值或Os?值);f)除靜電方式;g)任何偏離規(guī)定程序的詳細(xì)說(shuō)明4(資料性)孔徑分布曲線的繪制示例A.1曲線的繪制以每組標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料粒徑的下限值為橫坐標(biāo)、平均過(guò)篩率為縱坐標(biāo)繪制孔徑分布曲線??讖椒植记€見(jiàn)圖A.1。A.2Og值的確定標(biāo)準(zhǔn)顆粒直徑/mm圖A.1孔徑分布曲線O?表示90%的標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料留在試樣上,其過(guò)篩率(B)

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