2024屆四川省南充市高三下學(xué)期高考二診理數(shù)試題及答案_第1頁
2024屆四川省南充市高三下學(xué)期高考二診理數(shù)試題及答案_第2頁
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高中PAGE1高中秘密★啟封并使用完畢前【考試時間:2024年3月18日下午15:00-17:00】南充市高2024屆高考適應(yīng)性考試(二診)理科數(shù)學(xué)第Ⅰ卷(選擇題)一、選擇題:本題共12小題,每小題5分,共60分,在每小題給出的四個選項中,只有一項符合題目要求.1.已知集合,則()A.B.C.D.2.己知m,n是實數(shù),則“”是“曲線是焦點在x軸的雙曲線”的()A.充分不必要條件B.必要不充分條件C.充要條件D.既不充分也不必要條件3.己知函數(shù)的圖象如圖所示,則的解析式可能是()A.B.C.D.4.設(shè)是三條不同的直線,是兩個不同的平面,則下列說法中正確的是()A.若,則B.若,則C.若,則D.若,則5.已知函數(shù),則函數(shù)的圖象()A.關(guān)于點對稱B.關(guān)于點對稱C.關(guān)于點對稱D.關(guān)于點對稱6.若復(fù)數(shù),且z和在復(fù)平面內(nèi)所對應(yīng)的點分別為P,Q,O為坐標(biāo)原點,則()A.B.C.D.7.已知點為可行域內(nèi)任意一點,則的概率為()A.B.C.D.8.已知函數(shù).設(shè)時,取得最大值.則()A.B.C.D.9.執(zhí)行下面的程序框圖,則輸出的()A.37B.46C.48D.6010.三棱錐中,為內(nèi)都及邊界上的動點,,則點P的軌跡長度為()A.πB.C.D.11.已知函數(shù)在區(qū)間上有且僅有兩個極值點,則實數(shù)m的取值范圍為()A.B.C.D.12.已知橢圓的左右焦點分別為.過點傾斜角為的直線l與橢圓C相交于A,B兩點(A在x軸的上方),則下列說法中正確的有()個.①②③若點M與點B關(guān)于x軸對稱,則的面積為④當(dāng)時,內(nèi)切圓的面積為A.1B.2C.3D.4二.填空題:本大題共4小題,每小題5分,共20分.把答案填在答題卡上.13.已知,則__________14.已知x,y是實數(shù),,且,則的最小值為__________15.在中,a,b,c分別為內(nèi)角A,B,C的對邊.已知.則的最大值為__________16.“曼哈頓距離”是人臉識別中一種重要的測距方式.其定義如下:設(shè)是坐標(biāo)平面內(nèi)的兩點,則A,B兩點間的曼哈頓距離為.在平面直角坐標(biāo)系中中,下列說法中正確說法的序號為__________①.若,則;②.若O為坐標(biāo)原點,且動點P滿足:,則P的軌跡長度為;③.設(shè)是坐標(biāo)平面內(nèi)的定點,動點N滿足:,則N的軌跡是以點為頂點的正方形;④.設(shè),則動點構(gòu)成的平面區(qū)域的面積為10.三、解答題:共70分.解答應(yīng)寫出文字說明、證明過程或演算步驟.第17—21題必考題,每個試題考生必須作答.第22、23題為選考題,考試根據(jù)要求作答.(一)必考題:共60分.17.在數(shù)列中,是其前n項和,且.(1).求數(shù)列的通項公式;(2).若恒成立,求的取值范圍.18.如圖所示,在直四棱柱中,底面是菱形,分別為的中點.(1).求證:平面;(2).若,求與平面所成角的正弦值;19.已知某科技公司的某型號芯片的各項指標(biāo)經(jīng)過全面檢測后,分為Ⅰ級和Ⅱ級,兩種品級芯片的某項指標(biāo)的頻率分布直方圖如圖所示:若只利用該指標(biāo)制定一個標(biāo)準(zhǔn),需要確定臨界值K,按規(guī)定須將該指標(biāo)大于K的產(chǎn)品應(yīng)用于A型手機,小于或等于K的產(chǎn)品應(yīng)用于B型手機.若將Ⅰ級品中該指標(biāo)小于或等于臨界值K的芯片錯誤應(yīng)用于A型手機會導(dǎo)致芯片生產(chǎn)商每部手機損失800元;若將Ⅱ級品中該指標(biāo)大于臨界值K的芯片錯誤應(yīng)用于B型手機會導(dǎo)致芯片生產(chǎn)商每部手機損失400元;假設(shè)數(shù)據(jù)在組內(nèi)均勻分布,以事件發(fā)生的頻率作為相應(yīng)事件發(fā)生的概率.(1)設(shè)臨界值時,將2個不作該指標(biāo)檢測的Ⅰ級品芯片直接應(yīng)用于A型手機,求芯片生產(chǎn)商的損失(單位:元)的分布列及期望;(2)設(shè)且,現(xiàn)有足夠多的芯片Ⅰ級品、Ⅱ級品,分別應(yīng)用于A型手機、B型手機各1萬部的生產(chǎn):方案一:將芯片不作該指標(biāo)檢測,Ⅰ級品直接應(yīng)用于A型手機,Ⅱ級品直接應(yīng)用于B型手機;方案二:重新檢測該芯片Ⅰ級品,Ⅱ級品的該項指標(biāo),并按規(guī)定正確應(yīng)用于手機型號,會避免方案一的損失費用,但檢測費用共需要130萬元;請求出按方案一,芯片生產(chǎn)商損失費用的估計值(單位:萬元)的表達式,并從芯片生產(chǎn)商的成本考慮,選擇合理的方案.20.如圖,己知四邊形的四個頂點都在拋物線上,且A,B在第一象限,軸,拋物線在點A處的切線為l,且.(1).設(shè)直線的斜率分別為k和,求的值;(2).P為與的交點,設(shè)的面積為,的面積為,若,求的取值范圍.21.設(shè)函數(shù).(1).若函數(shù)在區(qū)間是單調(diào)函數(shù),求a的取值范圍;(2).設(shè),證明函數(shù)在區(qū)間上存在最小值A(chǔ),且(二)選考題:共10分.請考生在第22、23題中任選一題作答.如果多做,則按所做的第一題記分.22.在平面直角坐標(biāo)系中,以O(shè)為極點,x軸非負半軸為極軸建立極坐標(biāo)系.已知曲線C

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