界址點(diǎn)解析測(cè)量

界址點(diǎn)解析測(cè)量地籍與房產(chǎn)測(cè)量解析法：根據(jù)角度和距離測(cè)量結(jié)果按公式解算出界址點(diǎn)坐標(biāo)的方法叫解析法。

極坐標(biāo)法、正交法、截距法、距離交會(huì)法等圖解法。在地籍圖上量取界址點(diǎn)坐標(biāo)的方法稱圖解法。方法與解析法一樣，但數(shù)據(jù)來(lái)源不同一、極坐標(biāo)法XP=XA+Scos(

AB+)YP=YA+Ssin(AB+)

其中：xy

特點(diǎn)及適應(yīng)范圍極坐標(biāo)法的方位與距離重合,精度較高，速度較快。極坐標(biāo)法與其他定點(diǎn)方法相比,不受地形乃至場(chǎng)地的影響,應(yīng)用很廣泛。其缺點(diǎn)是對(duì)于老城區(qū)、商業(yè)密集區(qū)、街坊內(nèi)部的隱蔽界址點(diǎn),效率低,成本高。它適應(yīng)于規(guī)劃整齊,通視良好的大面積界址點(diǎn)測(cè)定,是目前城鎮(zhèn)地籍調(diào)查解析界址點(diǎn)測(cè)定的主要技術(shù)方法。二、交會(huì)法

1.角度交會(huì)法（角度前方交會(huì)法）特點(diǎn)及適應(yīng)范圍該法施測(cè)簡(jiǎn)單,不受距離限制,但外業(yè)設(shè)站多,工作量大。該法適用于對(duì)難以到達(dá)或難以量距但又通視的明顯界址點(diǎn)的測(cè)定。角度交會(huì)法公式

2.距離交會(huì)法（邊長(zhǎng)交會(huì)）特點(diǎn)及適應(yīng)范圍距離交會(huì)法施測(cè)簡(jiǎn)單,精度較高,適用于測(cè)定二類界址點(diǎn)及原界址點(diǎn)位置的檢查和恢復(fù),變更界址點(diǎn)的測(cè)定等,在控制點(diǎn)上直接交會(huì)的測(cè)站點(diǎn),也可用于一類界址點(diǎn)的測(cè)定,但應(yīng)注意交會(huì)角不能太差。三、內(nèi)外分點(diǎn)法

特點(diǎn)及適應(yīng)范圍內(nèi)外分點(diǎn)法的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡(jiǎn)單,易于操作,精度很高,但該法受地形限制,要求已知點(diǎn)的連線必須通視。它僅適用于規(guī)則建筑物外側(cè)呈線狀排列的界址點(diǎn)的測(cè)定。截距法是解析界址點(diǎn)測(cè)定的重要輔助方法。四、直角坐標(biāo)法

特點(diǎn)及適應(yīng)范圍直角坐標(biāo)法是兩次方位與距離交會(huì)的組合,施測(cè)簡(jiǎn)單,易懂易做,垂足點(diǎn)的精度不受地界和建筑物離測(cè)線相對(duì)位置的影響,精度較高。缺點(diǎn)是目標(biāo)點(diǎn)到垂足的距離受獲取的垂足點(diǎn)位置精度的限制。在大量的界址點(diǎn)測(cè)量中,它僅僅是對(duì)極坐標(biāo)法的補(bǔ)充。

以上羅列的眾多定點(diǎn)方法各自都有著自己的優(yōu)點(diǎn)和不足。極坐標(biāo)法已成為測(cè)定解析界址點(diǎn)坐標(biāo)的首選方案;定點(diǎn)方法的擇用應(yīng)根據(jù)地區(qū)情況、精度要求、技術(shù)水平、儀器設(shè)備條件綜合經(jīng)濟(jì)效益等多種因素區(qū)別對(duì)待,靈活選擇與之相適應(yīng)的技術(shù)方法,充分發(fā)揮各自的優(yōu)點(diǎn),做到取長(zhǎng)補(bǔ)短。五界址點(diǎn)測(cè)量的外業(yè)實(shí)施

一、準(zhǔn)備工作1.界址點(diǎn)位的資料準(zhǔn)備地籍調(diào)查表宗地草圖、大比例尺地圖等2.界址點(diǎn)位置野外踏勘

實(shí)地查找界址點(diǎn)位置

、圖上標(biāo)記出界址點(diǎn)的位置和權(quán)屬主的用地范圍（注意界址點(diǎn)的共用情況）。標(biāo)記權(quán)屬主的姓名和草編宗地號(hào)。3.踏勘后的資料整理草編界址點(diǎn)號(hào)和制作界址點(diǎn)觀測(cè)及面積計(jì)算草圖

二、野外界址點(diǎn)測(cè)量的實(shí)施(1)水平角借助于精度不低J6級(jí)經(jīng)緯儀方向觀測(cè)法半測(cè)回,定向邊應(yīng)長(zhǎng)于測(cè)定邊,多于3個(gè)方向時(shí)應(yīng)歸零,歸零差應(yīng)小于24″,對(duì)中誤差不大于3mm。

(2)當(dāng)界址點(diǎn)多于6個(gè)時(shí)或每測(cè)15～20個(gè)界址點(diǎn),