額定電壓66kV~500kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜用半導(dǎo)電屏蔽料-征求意見稿_第1頁
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文檔簡介

1額定電壓66kV~500kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜用半導(dǎo)電屏蔽料本文件規(guī)定了額定電壓66kV~500kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜用半導(dǎo)電屏蔽料(簡稱“屏蔽料”)的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存等要求。本文件適用于以聚烯烴樹脂為基料,加入導(dǎo)電炭黑、過氧化物交聯(lián)劑和其他助劑,經(jīng)熔融塑化造粒制得的交聯(lián)型半導(dǎo)電屏蔽料。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T1033.1—2008塑料非泡沫塑料密度的測定第1部分:浸漬法、液體比重瓶法和滴定法GB/T1040.3—2006塑料拉伸性能的測定第3部分:薄膜和薄片的試驗條件GB/T2951.12—2008電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法第12部分:通用試驗方法——熱老化試驗方法GB/T2951.21—2008電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法第21部分:彈性體混合料專用試驗方法——耐臭氧試驗——熱延伸試驗——浸礦物油試驗GB/T3048.3—2007電線電纜電性能試驗方法第3部分:半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率試驗GB/T5470—2008塑料沖擊法脆化溫度的測定JB/T10738—2007額定電壓35kV及以下擠包絕緣電纜用半導(dǎo)電屏蔽料SH/T1770—2010塑料聚乙烯水分含量的測定3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。4使用特性適用的電纜導(dǎo)體長期允許最高工作溫度為90℃。25名稱代號和產(chǎn)品表示方法5.1名稱代號5.1.1系列代號半導(dǎo)電屏蔽料 P交聯(lián)聚乙烯絕緣 YJ5.1.2特征代號適用于66kV及以下電纜 66適用于110kV及以下電纜 110適用于220kV及以下電纜 220適用于330kV及以下電纜 330適用于500kV及以下電纜 5005.1.3產(chǎn)品型號組成產(chǎn)品型號由“系列代號–特征代號”組成。 特征代號 系列代號5.2產(chǎn)品表示方法產(chǎn)品用型號表示,產(chǎn)品型號及名稱如表1所示。表1產(chǎn)品型號及名稱產(chǎn)品型號產(chǎn)品名稱PYJ-66額定電壓66kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料PYJ-110額定電壓110kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料PYJ-220額定電壓220kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料PYJ-330額定電壓330kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料PYJ-500額定電壓500kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料6技術(shù)要求6.1外觀半導(dǎo)電屏蔽料呈黑色顆粒狀,尺寸約為直徑4mm、高3mm,色澤和質(zhì)地均勻,顆粒間不應(yīng)有明顯粉末狀物質(zhì)。36.2半導(dǎo)電屏蔽料的性能半導(dǎo)電屏蔽料的物理機(jī)械性能和電氣性能指標(biāo)應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2半導(dǎo)電屏蔽料的性能指標(biāo)序號試驗項目單位PYJ-66PYJ-110PYJ-220PYJ-330PYJ-5001密度,最大g/cm32水分含量,最大%0.050.050.050.040.043拉伸試驗——拉伸強(qiáng)度,最小——斷裂拉伸應(yīng)變,最小MPa%2002002002002004空氣熱老化試驗——老化條件:溫度持續(xù)時間——拉伸強(qiáng)度,最小——拉伸強(qiáng)度變化率,最大——斷裂拉伸應(yīng)變,最小——斷裂拉伸應(yīng)變變化率,最大hMPa%%%135±2200135±2200135±2200135±2200135±22005熱延伸試驗——試驗條件:溫度機(jī)械負(fù)荷負(fù)荷時間——負(fù)荷下伸長率,最大——冷卻后永久變形率,最大℃MPamin%%200±20.2200±20.2200±20.2200±20.2200±20.26體積電阻率——23℃時體積電阻率,最大——90℃時體積電阻率,最大Ω·cmΩ·cm3503505025050250502007老化后體積電阻率——試驗條件:溫度持續(xù)時間——90℃時體積電阻率,最大℃hΩ·cm135±2350135±2350135±2250135±2250135±22008沖擊脆化試驗——試驗條件:溫度——失效數(shù)/試樣數(shù),最大個/個-40-40-40-40-409表面突起物尺寸及數(shù)量——50~75μm,最大——大于75μm,最大個/m2個/m22000050006.3工藝性能若用戶要求,制造方應(yīng)提供物料的工藝參數(shù)和流變特性,如工藝溫度、熔融指數(shù)及交聯(lián)工藝參數(shù)等數(shù)據(jù)。電纜屏蔽層應(yīng)與絕緣層緊密粘接,不可剝離。47試驗方法7.1外觀檢查在自然光線下用正常目力檢查外觀。7.2試樣制備試樣制備應(yīng)按JB/T10738-2007中6.2.1的規(guī)定進(jìn)行。試樣應(yīng)保持平整光滑、厚度均勻、無氣泡,試樣厚度應(yīng)滿足各試驗項目的要求。7.3密度密度測試應(yīng)按GB/T1033.1—2008的規(guī)定進(jìn)行。7.4水分含量水分含量測試應(yīng)按SH/T1770—2010規(guī)定的卡爾·費休庫侖法進(jìn)行。7.5拉伸試驗拉伸試驗應(yīng)按GB/T1040.3—2006的規(guī)定進(jìn)行,試樣為5型試樣,厚度為(1.0±0.1)mm,試驗速度為(250±50)mm/min。7.6空氣熱老化試驗空氣熱老化試驗條件應(yīng)符合表2的規(guī)定。試樣為5型試樣,厚度為(1.0±0.1)mm,有效試樣數(shù)量應(yīng)不少于5個??諝鉄崂匣嫦鋺?yīng)采用自然通風(fēng)的電熱老化箱,應(yīng)符合GB/T2951.12—2008的要求。熱老化后拉伸強(qiáng)度和斷裂拉伸應(yīng)變試驗應(yīng)按7.5的規(guī)定進(jìn)行。試樣在溫度為(23±3)℃、相對濕度為(45~55)%的環(huán)境中待調(diào)節(jié)時間不少于17h。7.7熱延伸試驗熱延伸試驗應(yīng)按GB/T2951.21—2008的規(guī)定進(jìn)行,試樣厚度為(1.0±0.1)mm。7.8體積電阻率(23±2)℃、相對濕度為(45~55)%的環(huán)境中待調(diào)節(jié)時間不少于24h。測定90℃時體積電阻率,體積電阻率試驗應(yīng)按JB/T10738—2007中附錄A的規(guī)定進(jìn)行。5測定老化后90℃時體積電阻率,應(yīng)先進(jìn)行空氣熱老化試驗,老化溫度(135±2)℃,持續(xù)時間168h。熱老化后,90℃時體積電阻率應(yīng)在1h之內(nèi)進(jìn)行測試,試驗應(yīng)按JB/T10738—2007中附錄A的規(guī)定進(jìn)行。7.9沖擊脆化試驗沖擊脆化試驗應(yīng)按GB/T5470—2008的規(guī)定進(jìn)行,試樣為A型試樣,試驗條件應(yīng)符合表2規(guī)定。7.10表面突起物尺寸及數(shù)量表面突起物尺寸及數(shù)量試驗應(yīng)按附錄A的規(guī)定進(jìn)行。8檢驗規(guī)則8.1檢驗分類8.1.1檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。8.1.2每一批產(chǎn)品交貨時必須進(jìn)行出廠檢驗,出廠檢驗為抽檢試驗(代號S)。每一批樣品由生產(chǎn)廠檢驗部門進(jìn)行抽樣檢測合格方可出廠。8.1.3型式檢驗對質(zhì)量進(jìn)行全面考核,即對本規(guī)范規(guī)定的全部項目進(jìn)行型式試驗(代號T)。有下列情況之一時,應(yīng)進(jìn)行型式試驗:a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定;b)正式生產(chǎn)后,如材料、工藝有較大改變,可能影響產(chǎn)品性能時;c)正常生產(chǎn)時,每隔六個月;d)產(chǎn)品停產(chǎn)六個月后,恢復(fù)生產(chǎn)時;e)出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時;f)國家質(zhì)量監(jiān)督機(jī)構(gòu)或客戶提出進(jìn)行型式試驗要求時。8.1.4試驗項目和試驗類別應(yīng)符合表3的規(guī)定。8.2組批和抽樣規(guī)則產(chǎn)品的每一生產(chǎn)批為一檢驗單位,每一生產(chǎn)批為10噸,不足10噸仍然作為一批,一組試驗樣品應(yīng)從同一批量產(chǎn)品的三個包裝單位中隨機(jī)抽取,經(jīng)混合后制備試樣。8.3合格判定所有試驗項目的試驗結(jié)果均應(yīng)符合表2的規(guī)定,檢驗結(jié)果如有任何一項性能不合格,應(yīng)對不合格試驗項目進(jìn)行加倍抽樣試驗。經(jīng)復(fù)檢合格則判定該批量產(chǎn)品為合格品,如仍不合格,則判定該批量產(chǎn)品為不合格品。6表3試驗項目和類別序號試驗項目試驗類別試驗方法及要求1外觀ST7.12密度ST7.33水分含量-T7.44拉伸試驗ST7.55空氣熱老化試驗-T7.66熱延伸試驗ST7.77體積電阻率ST7.88老化后體積電阻率-T7.89沖擊脆化試驗-T7.9表面突起物尺寸及數(shù)量ST7.109包裝、標(biāo)志、運輸、貯存9.1半導(dǎo)電屏蔽料包裝內(nèi)部應(yīng)有防潮內(nèi)袋,每個包裝中半導(dǎo)電屏蔽料的凈重不允許負(fù)公差,具體包裝方式和重量由制造方和用戶雙方商定。9.2包裝表面應(yīng)標(biāo)明生產(chǎn)廠名、廠址、產(chǎn)品名稱、型號、批號、凈重、制造日期、有效使用期及防潮標(biāo)志,包裝上應(yīng)附有產(chǎn)品合格證,每批應(yīng)附有出廠檢驗報告。9.3半導(dǎo)電屏蔽料運輸過程中不應(yīng)受到日曬雨淋和浸水等不正常條件的損害。9.4半導(dǎo)電屏蔽料應(yīng)貯存在清潔、干燥的庫房內(nèi),貯存溫度應(yīng)在(5~40)℃。9.5半導(dǎo)電屏蔽料自生產(chǎn)之日起貯存期應(yīng)不超過六個月。7(規(guī)范性)表面突起物尺寸及數(shù)量測試方法本附錄規(guī)定的試驗方法適用于66kV~500kV交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜半導(dǎo)電屏蔽料的表面突起物尺寸及數(shù)量測試。A.2試驗設(shè)備本附錄規(guī)定的試驗方法是在具有高分辨相機(jī)的光學(xué)掃描設(shè)備下進(jìn)行的試驗,掃描速度(0.025~0.05)m2/min,設(shè)備掃描的最低高度為25μm,由高分辨相機(jī)掃描試樣帶表面,設(shè)備原理見圖A-1。圖A-1具有高分辨相機(jī)的光學(xué)掃描設(shè)備原理圖A.3試驗方法A.3.1試驗應(yīng)在(2

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